CN216926645U - 一种放大倍数可调无损检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种放大倍数可调无损检测装置，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间且与两个立柱排列在一条直线上的载物台，其中一个立柱上设置有探测器，另一立柱上设置有射线源，所述基座上设置有平行所述直线的水平滑轨和丝杆，所述载物台可滑动安装在所述水平滑轨上，并通过其上设置的与所述丝杆相配合的螺母实现由所述丝杆驱动其沿所述直线方向滑动，以调节其与所述射线源的间距。本实用新型通过将载物台可滑动设置，使得载物台与射线源的间距可调，相应地，使辐射成像时的放大倍数可调，不仅使得小尺寸的被成像物能够有效成像，还能够对被成像物的局部进行放大成像，因而，增加了检测装置对被成像尺寸的适用范围，提高了检查装置的辐射成像能力。

Description

一种放大倍数可调无损检测装置

技术领域

本实用新型涉及一种无损检测装置，尤其是放大倍数可调的无损检测装置。

背景技术

无论是由X光机作为射线源还是由γ射线源作为射线源的辐射成像系统，均是将被成像物放置在射线源和探测器之间的载物台上，射线穿过被检物后由探测器接收而形成辐射成像，实现对被成像物的无损检测。现有无损检测装置中的载物台虽然有的可绕其垂直轴旋转，有的还进一步能够沿其垂直轴上下移动，但通常在水平方向固定设置，而由于被成像物与射线源之间的距离关系到辐射成像时的放大倍数，因而将载物台水平方向固定设置的无损检测装置存在被检物的尺寸适用范围窄的问题。

实用新型内容

针对现有技术存在的不足，本实用新型的目的在于提供一种放大倍数可调无损检测装置。

为实现上述目的，本实用新型技术方案如下：

一种放大倍数可调无损检测装置，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间且与两个立柱排列在一条直线上的载物台，其中一个立柱上设置有探测器，另一立柱上设置有射线源，所述基座上设置有平行所述直线的水平滑轨和丝杆，所述载物台可滑动安装在所述水平滑轨上，并通过其上设置的与所述丝杆相配合的螺母实现由所述丝杆驱动其沿所述直线方向滑动，以调节其与所述射线源的间距。

进一步，所述水平滑轨为间隔设置的两根，所述丝杆位于两根滑轨之间，所述载物台上设置有与所述水平滑轨滑动连接的滑块。

进一步，所述丝杆一端连接有驱动电机。

进一步，所述水平滑轨、丝杆、驱动电机均位于所述两个立柱之间。

进一步，所述丝杆一端延伸到其中一个所述立柱的外侧，并在该端设置有操作手轮。

进一步，所述载物台两侧设置有覆盖所述水平滑轨和所述丝杆的柔性伸缩罩。

进一步，所述载物台能够沿其垂直轴旋转。

进一步，所述载物台能够沿垂直方向升降。

进一步，所述基座上表面为水平平面。

本实用新型通过将载物台可滑动设置，使得载物台与射线源的间距可调，相应地，使辐射成像时的放大倍数可调，不仅使得小尺寸的被成像物能够有效成像，还能够对被成像物的局部进行放大成像，因而，增加了检测装置对被成像尺寸的适用范围，提高了检查装置的辐射成像能力。

附图说明

图1为本实用新型整体结构示意图；

图2为水平滑轨和丝杆的第一种实施方式结构示意图；

图3为水平滑轨和丝杆的另一种实施方式结构示意图；

图4为滑块和滑轨断面配合结构示意图。

图中：1.基座，2.左立柱，3.右立柱，4.载物台，5.面阵探测器，6.X光机，7.滑轨，8.滑块，9.螺母，10.手轮，11.丝杆，12.驱动电机，13.柔性伸缩罩。

具体实施方式

为清楚地说明本实用新型的技术方案，下面结合实施例及其附图做详细说明。

图1、图2、图4所示为本实用新型的一个优选实施例。

如图中所示，该实施例中的放大倍数可调无损检测装置，包括基座1，设置在基座1上的左立柱2、右立柱3，位于左、右立柱之间且与两个立柱排列在一条直线上的载物台4，其中，左立柱2上设置有探测器5，该探测器为面阵探测器，右立柱3上设置有射线源6，该射线源为X光机，基座1的上表面为水平平面，其上设置有平行左、右立柱所排列直线的两根水平滑轨7和位于两根滑轨之间的一根丝杆11，载物台4通过其上安装的滑块8可滑动安装在水平滑轨7上，载物台4上安装有与丝杆11相配合的螺母9，丝杆11的左端穿过左立柱2并在端部安装有手轮10，基座1上在载物台4的两侧设置有覆盖水平滑轨7和丝杆11的柔性伸缩罩13。

该无损检测装置工作时，射线源6与探测器5组成辐射成像系统，被检测物放置在载物台4上，射线源6发出的射线穿过被检测物后由探测器5接收并成像。因射线源6的射线输出窗口通常小于探测器5的面积，因而射线源6发出的射线通常为锥束，辐射成像时被检测物上被射线穿过的区域相比探测器5上所对应的射线投射区域会被放大，即：被放大成像，而随着被检测物上射线穿过区域与射线发出窗口距离的不同，所成像的放大比例也将随之不同，因此，将载物台4可滑动设置，能够通过改变载物台上被检测物与射线源的距离而获得不同放大倍数的辐射成像，从而使得整个被检测物或其上的局部区域能够得到更清晰的显示，提高无损检测的能力。

上述实施例中，滑轨7和滑块8的断面形状如图4中所示，采用这种结构的滑轨、滑块，在实现滑块滑动功能的同时，还能够很好地将滑块连接在滑轨上，保持滑动连接结构的稳定。

另外，上述实施例中采用的是X光机射线源和面阵探测器，将其替换成γ射线源和线阵探测器也将具有同样的技术效果。

图3为本实用新型的另一种优选实施例。

如图中所示，与前述实施例所不同的是，该实施例中的丝杆11的转动由驱动电机12驱动，采用电机驱动可方便地将水平滑轨7、丝杆11、驱动电机12均设置在左、右立柱之间的基座，从而使得整个无损检测装置的结构更加紧凑，操作也更加方便。

另外，还需要说明的是，上述两个实施例中的载物台4可采用能够沿其垂直轴旋转的载物台，并且，还可使载物台能够沿垂直方向升降，这样能够进一步丰富辐射成像功能，进一步提高无损检测装置的检测能力。

上述两个实施例的附图中所示的射线源6是X光机，探测器5是面阵探测器，当然，射线源也可以是γ射线源，探测器也可以是线阵探测器，即：上述无损检测装置中可以采用由X光机和面阵探测器组成的辐射成像系统，或者，由X光机和线阵探测器组成的辐射成像系统，或者，由γ射线源和面阵探测器组成的辐射成像系统，或者，由γ射线源和线阵探测器组成的辐射成像系统。

因采用γ射线源和线阵探测器的各种实施方式本领域技术人员根据上述说明即可实施，故，在此不再以实施例的形式一一描述。

最后需要指出的是，除了上述实施例之外，本实用新型所保护的技术方案还可以有本领域技术人员能够做出的多种其它具体实施方式，上述实施例只是用于说明而不限定本实用新型的保护范围。

Claims (9)

1.一种放大倍数可调无损检测装置，其特征在于，包括基座、设置在基座上的两个立柱和位于两个立柱之间且与两个立柱排列在一条直线上的载物台，其中一个立柱上设置有探测器，另一立柱上设置有射线源，所述基座上设置有平行所述直线的水平滑轨和丝杆，所述载物台可滑动安装在所述水平滑轨上，并通过其上设置的与所述丝杆相配合的螺母实现由所述丝杆驱动其沿所述直线方向滑动，以调节其与所述射线源的间距。

2.如权利要求1所述的放大倍数可调无损检测装置，其特征在于，所述水平滑轨为间隔设置的两根，所述丝杆位于两根滑轨之间，所述载物台上设置有与所述水平滑轨滑动连接的滑块。

3.如权利要求2所述的放大倍数可调无损检测装置，其特征在于，所述丝杆一端连接有驱动电机。

4.如权利要求3所述的放大倍数可调无损检测装置，其特征在于，所述水平滑轨、丝杆、驱动电机均位于所述两个立柱之间。

5.如权利要求2所述的放大倍数可调无损检测装置，其特征在于，所述丝杆一端延伸到其中一个所述立柱的外侧，并在该端设置有操作手轮。

6.如权利要求1所述的放大倍数可调无损检测装置，其特征在于，所述载物台两侧设置有覆盖所述水平滑轨和所述丝杆的柔性伸缩罩。

7.如权利要求1所述的放大倍数可调无损检测装置，其特征在于，所述载物台能够沿其垂直轴旋转。

8.如权利要求1所述的放大倍数可调无损检测装置，其特征在于，所述载物台能够沿垂直方向升降。

9.如权利要求1所述的放大倍数可调无损检测装置，其特征在于，所述基座上表面为水平平面。

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