CN216816920U - 一种瞬断时间测试仪的校准装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种瞬断时间测试仪的校准装置,涉及设备校准的技术领域,包括:主控电路,标准时间间隔产生电路和信号输出电路,其中,标准时间间隔产生电路分别于主控电路和信号输出电路相连接,信号输出电路与待校准瞬断时间测试仪相连接;主控电路,用于接收待校准瞬断时间,并控制标准时间间隔产生电路生成待校准瞬断时间对应的标准瞬断时间;信号输出电路,用于将标准瞬断时间传输给待校准瞬断时间测试仪,以使待校准瞬断时间测试仪根据待校准瞬断时间和标准瞬断时间进行校准,解决了现有技术中对瞬断时间测试仪的校准准确度较低的技术问题。
Description
技术领域
本实用新型涉及设备校准的技术领域,尤其是涉及一种瞬断时间测试仪的校准装置。
背景技术
线束及电连接器是当今电子化、信息化时代行业中发展最快,市场需求量最大,安装最为方便的产品之一。从普及的家用电器到通信设备、计算机及外部设备,以及飞机、汽车和电子仪器设备等均广泛采用线束及电连接器。由于电连接器结构相对复杂和功能的特殊性(可分离电连接)以及许多非正常因素的影响,导致其失效率难以准确量化,成了至今唯一没有划分失效率等级的电子元器件,因此,电连接器已广泛被认为是电子元器件可靠性、长寿命最难保证的元器件之一。近年来,随着系统指标要求越来越高,对其电连接器的性能及可靠性水平的要求也随之增加,电连接器可靠性技术的发展已成为电子、通信、航天等系统可靠性技术发展的瓶颈。
为保证线束及电连接器的安全可靠使用,必须按产品标准在线束及电连接器生产线上或用户使用前,对其进行严格的工艺筛选和补充筛选,以便及时发现和剔除接触不良(断路、瞬断)、装配错误(误配线)等不合格失效产品。
目前大量的连接线束及电阻连接器研究生产测试单位,大都使用精密的导通瞬断测试仪。瞬断时间测试仪是一种保证线束及连接器安全可靠使用的仪器,其用来监测连接器件在振动等动态使用环境下是否会发生瞬间断电现象的仪器,能显示最早发生瞬断的位置及瞬断时间,现已在电子、通信、计算机、交通、家电、航天、航空等行业广泛使用。
但是,现有的瞬断时间测试仪的校准装置主要存在的问题是装置输出信号精度不高,影响对瞬断时间测试仪校准的准确度。
实用新型内容
有鉴于此,本实用新型的目的在于提供一种瞬断时间测试仪的校准装置,以缓解了现有技术中对瞬断时间测试仪的校准准确度较低的技术问题。
第一方面,本实用新型实施例提供了一种瞬断时间测试仪的校准装置,包括:主控电路,标准时间间隔产生电路和信号输出电路,其中,所述标准时间间隔产生电路分别于所述主控电路和所述信号输出电路相连接,所述信号输出电路与待校准瞬断时间测试仪相连接;所述主控电路,用于接收待校准瞬断时间,并控制所述标准时间间隔产生电路生成所述待校准瞬断时间对应的标准瞬断时间;所述信号输出电路,用于将所述标准瞬断时间传输给所述待校准瞬断时间测试仪,以使所述待校准瞬断时间测试仪根据所述待校准瞬断时间和所述标准瞬断时间进行校准。
进一步地,所述主控电路包括:微控制芯片,LCD模块和键盘模块,其中,所述微控制芯片分别与所述LCD模块、所述键盘模块和所述标准时间间隔产生电路相连接。
进一步地,所述主控电路还包括:光电隔离模块,其中,所述光电隔离模块包括,第一光电隔离模块和第二光电隔离模块,其中,所述微控制芯片通过所述第一光电隔离模块与所述LCD模块相连接,所述微控制芯片通过所述第二光电隔离模块与所述键盘模块相连接。
进一步地,所述标准时间间隔产生电路包括:第一电阻,第一场效应管,光耦合器,第二电阻,场效应管驱动芯片,第三电阻,第一电容,第四电阻,第二场效应管和第五电阻,其中,所述微控制芯片分别与所述第一电阻和所述第一场效应管相连接,所述第一场效应管分别与所述第一电阻和所述光耦合器相连接,所述光耦合器分别与所述第二电阻、所述第三电阻和所述场效应管驱动芯片相连接,所述第一电容分别与所述场效应管驱动芯片、所述第四电阻和所述第二场效应管相连接,第二场效应管分别与所述第四电阻相连接。
进一步地,所述信号输出电路包括:第六电阻,瞬态二极管,第三场效应管,第四场效应管和第七电阻,其中,所述第六电阻与所述瞬态二极管并联连接,且所述第六电阻与所述瞬态二极管均与所述第三场效应管相连接,所述第三场效应管分别与所述第七电阻和所述第三场效应管相连接。
进一步地,所述瞬断时间测试仪的校准装置还包括:电源电路,其中,所述电源电路与所述主控电路相连接;所述电源电路,用于接入外部电源,以对所述主控电路供电。
进一步地,所述电源电路包括:电源插头,滤波模块,变压器和稳压电路,其中,所述电源插头、所述滤波模块、所述变压器和所述稳压电路依次连接。
进一步地,所述稳压电路包括:桥式整流电路和三端稳压芯片,其中,所述桥式整流电路与所述三端稳压芯片耦合。
进一步地,所述滤波模块为EMI滤波器。
进一步地,所述变压器为R型隔离变压器。
在本实用新型实施例中,瞬断时间测试仪的校准装置包括:主控电路,标准时间间隔产生电路和信号输出电路,其中,所述标准时间间隔产生电路分别于所述主控电路和所述信号输出电路相连接,所述信号输出电路与待校准瞬断时间测试仪相连接;所述主控电路,用于接收待校准瞬断时间,并控制所述标准时间间隔产生电路生成所述待校准瞬断时间对应的标准瞬断时间;所述信号输出电路,用于将所述标准瞬断时间传输给所述待校准瞬断时间测试仪,以使所述待校准瞬断时间测试仪根据所述待校准瞬断时间和所述标准瞬断时间进行校准,通过标准时间间隔产生电路提供标准瞬断时间,这样可以有效地提高瞬断时间的准确性,以及通过信号输出电路能够输出稳定的校准信号,达到了对瞬断时间测试仪进行精准校正的目的,进而解决了现有技术中对瞬断时间测试仪的校准准确度较低的技术问题,从而实现了提高了瞬断时间测试仪测试准确度的技术效果。
本实用新型的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本实用新型而了解。本实用新型的目的和其他优点在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
为使本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂,下文特举较佳实施例,并配合所附附图,作详细说明如下。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型具体实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图是本实用新型的一些实施方式,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型实施例提供的一种瞬断时间测试仪的校准装置的示意图;
图2为本实用新型实施例提供的主控电路的示意图;
图3为本实用新型实施例提供的标准时间间隔产生电路的电路图;
图4为本实用新型实施例提供的信号输出电路的电路图;
图5为本实用新型实施例提供的另一种瞬断时间测试仪的校准装置的示意图;
图6为本实用新型实施例提供的电源电路的示意图。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
实施例一:
根据本实用新型实施例,提供了一种瞬断时间测试仪的校准装置的实施例,图1是根据本实用新型实施例的一种瞬断时间测试仪的校准装置的示意图,如图1所示,该瞬断时间测试仪的校准装置包括:主控电路10,标准时间间隔产生电路20和信号输出电路30,其中,所述标准时间间隔产生电路分别于所述主控电路和所述信号输出电路相连接,所述信号输出电路与待校准瞬断时间测试仪相连接;
所述主控电路,用于接收待校准瞬断时间,并控制所述标准时间间隔产生电路生成所述待校准瞬断时间对应的标准瞬断时间;
所述信号输出电路,用于将所述标准瞬断时间传输给所述待校准瞬断时间测试仪,以使所述待校准瞬断时间测试仪根据所述待校准瞬断时间和所述标准瞬断时间进行校准。
在本实用新型实施例中,瞬断时间测试仪的校准装置包括:主控电路,标准时间间隔产生电路和信号输出电路,其中,所述标准时间间隔产生电路分别于所述主控电路和所述信号输出电路相连接,所述信号输出电路与待校准瞬断时间测试仪相连接;所述主控电路,用于接收待校准瞬断时间,并控制所述标准时间间隔产生电路生成所述待校准瞬断时间对应的标准瞬断时间;所述信号输出电路,用于将所述标准瞬断时间传输给所述待校准瞬断时间测试仪,以使所述待校准瞬断时间测试仪根据所述待校准瞬断时间和所述标准瞬断时间进行校准,通过标准时间间隔产生电路提供标准瞬断时间,这样可以有效地提高瞬断时间的准确性,以及通过信号输出电路能够输出稳定的校准信号,达到了对瞬断时间测试仪进行精准校正的目的,进而解决了现有技术中对瞬断时间测试仪的校准准确度较低的技术问题,从而实现了提高了瞬断时间测试仪测试准确度的技术效果。
结合图1对上述瞬断时间测试仪的校准装置的工作流程进行说明:
在对瞬断时间测试仪进行校准时,首先将校准装置的信号输出电路与被测瞬断时间测试仪的输入接口进行物理连接,然后将被测瞬断时间测试仪开机,校准操作人员将所要校准的瞬断时间输入到校准装置的主控电路中,主控电路会根据所要校准的瞬断时间自动改变标准时间间隔产生电路产生标准的瞬断时间,然后再将标准的瞬断时间通过电路耦合的方式传导到信号输出电路,最终通过信号输出电路将标准的瞬断时间输入到被校准的瞬断时间测试仪。通过将被校准的瞬断时间测试仪测量的瞬断时间与校准装置输出标准瞬断时间进行比较,最终完成对瞬断时间测试仪的校准工作。
在本实用新型实施例中,如图2所示,所述主控电路包括:微控制芯片101,LCD模块102和键盘模块103,其中,所述微控制芯片分别与所述LCD模块、所述键盘模块和所述标准时间间隔产生电路相连接。
所述主控电路还包括:光电隔离模块,其中,所述光电隔离模块包括,第一光电隔离模块104和第二光电隔离模块105,其中,所述微控制芯片通过所述第一光电隔离模块与所述LCD模块相连接,所述微控制芯片通过所述第二光电隔离模块与所述键盘模块相连接。
在本实用新型实施例中,优选的,微控制芯片可以为STM32F103RET6型单片机。微控制芯片的普通GPIO接口通过光电隔离模块与键盘模块8耦合,微控制芯片的普通GPIO接口通过光电隔离模块与LCD显示模块7耦合。此外,微控制芯片的普通GPIO接口与标准时间间隔产生电路耦合。
键盘模块用于校准操作人员可通过键盘模块输入控制指令。具体的,键盘模块为带控制芯片的键盘,其控制芯片为BC7281,键盘模块能够通过光电隔离模块与微控制芯片耦合。
显示模块用于显示校准装置的当前状态、测试结果等信息。具体的,显示模块为:12864型LCD液晶屏。显示模块能够通过光电隔离模块与微控制芯片耦合。
光电隔离模块用于微控制芯片与键盘模块和LCD显示模块建立耦合连接。起到电气隔离作用,即保障了装置的安全,又保护了操作人员的人生安全。优选的,光电隔离模块由PC817芯片构成。
在本实用新型实施例中,如图3所示,所述标准时间间隔产生电路20包括:第一电阻201,第一场效应管202,光耦合器203,第二电阻204,场效应管驱动芯片205,第三电阻206,第一电容207,第四电阻208,第二场效应管209和第五电阻210,其中,所述微控制芯片分别与所述第一电阻和所述第一场效应管相连接,所述第一场效应管分别与所述第一电阻和所述光耦合器相连接,所述光耦合器分别与所述第二电阻、所述第三电阻和所述场效应管驱动芯片相连接,所述第一电容分别与所述场效应管驱动芯片、所述第四电阻和所述第二场效应管相连接,第二场效应管分别与所述第四电阻相连接。
在本实用新型实施例中,优选的,上述的第一场效应管和第二场效应管的型号为BS170。
微控制芯片输出的电压信号通过物理连接进入标准时间间隔产生电路,控制场效应管BS170和场效应管IRF740开启和关闭,从而产生标准的时间间隔信号,然后将标准的时间间隔信号传导到下一级信号输出电路。
在本实用新型实施例中,如图4所示,所述信号输出电路30包括:第六电阻301,瞬态二极管302,第三场效应管303,第四场效应管304和第七电阻305,其中,所述第六电阻与所述瞬态二极管并联连接,且所述第六电阻与所述瞬态二极管均与所述第三场效应管相连接,所述第三场效应管分别与所述第七电阻和所述第三场效应管相连接。
在本实用新型实施例中,信号输出电路作为校准装置的输出模块,将上一级标准时间间隔产生电路传导过来的标准时间间隔信号转换为可被瞬断时间测试仪测量的通断时间信号,最终通过物理连接把通断时间信号输入到待测试瞬断时间测试仪内。
在本实用新型实施例中,如图5所示,所述瞬断时间测试仪的校准装置还包括:电源电路40,其中,所述电源电路与所述主控电路相连接。
具体的,如图6所示,所述电源电路40包括:电源插头401,滤波模块402,变压器403和稳压电路404,其中,所述电源插头、所述滤波模块、所述变压器和所述稳压电路依次连接。
在本实用新型实施例中,电源插头可以为标准三端电源插头,电源插头通过插入耦合到外部的插座中,以获取外部电源的电信号。电源插头通过电源线与EMI滤波模块的耦合。优选的,滤波模块为EMI滤波模块为了防止外部电源中干扰信号对校准装置的正常工作产生影响,EMI滤波模块采用EMI(Electromagnetic Interference)滤波器,通过自身的串联电抗器和并联电容器,能够将电信号中的高频干扰信号滤除以将由外部电源获取的电信号输出至变压器。变压器用于将获取的电信号进行降压后输出。优选的,变压器可以为R型隔离变压器,变压器的一次侧绕组为220V(带屏蔽线),二次侧绕组为15V/30W(带中间抽头)。变压器11通过一次侧绕组和二次侧绕组的电磁耦合关系,能够将该电信号降压后,由二次侧绕组与稳压电路进行耦合。稳压电路可以包括:桥式整流电路和三端稳压芯片,桥式整流电路和三端稳压芯片耦合,优选的,三端稳压芯片可以为LM7805、LM7815、LM2937。稳压电路12通过自身的整流桥、三端稳压芯片能够将获取交流的电信号整流为15V、5V和3.3V直流的电信号后,输出至主控电路为其供电。
需要说明的是,微控制芯片的电源接口能够与电源电路耦合。
另外,在本实用新型实施例的描述中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统、装置和方法,可以通过其它的方式实现。以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,又例如,多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些通信接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本实用新型各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
最后应说明的是:以上所述实施例,仅为本实用新型的具体实施方式,用以说明本实用新型的技术方案,而非对其限制,本实用新型的保护范围并不局限于此,尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明,本领域的普通技术人员应当理解:任何熟悉本技术领域的技术人员在本实用新型揭露的技术范围内,其依然可以对前述实施例所记载的技术方案进行修改或可轻易想到变化,或者对其中部分技术特征进行等同替换;而这些修改、变化或者替换,并不使相应技术方案的本质脱离本实用新型实施例技术方案的精神和范围,都应涵盖在本实用新型的保护范围之内。因此,本实用新型的保护范围应所述以权利要求的保护范围为准。
Claims (10)
1.一种瞬断时间测试仪的校准装置,其特征在于,包括:主控电路,标准时间间隔产生电路和信号输出电路,其中,所述标准时间间隔产生电路分别于所述主控电路和所述信号输出电路相连接,所述信号输出电路与待校准瞬断时间测试仪相连接;
所述主控电路,用于接收待校准瞬断时间,并控制所述标准时间间隔产生电路生成所述待校准瞬断时间对应的标准瞬断时间;
所述信号输出电路,用于将所述标准瞬断时间传输给所述待校准瞬断时间测试仪,以使所述待校准瞬断时间测试仪根据所述待校准瞬断时间和所述标准瞬断时间进行校准。
2.根据权利要求1所述的瞬断时间测试仪的校准装置,其特征在于,所述主控电路包括:微控制芯片,LCD模块和键盘模块,其中,所述微控制芯片分别与所述LCD模块、所述键盘模块和所述标准时间间隔产生电路相连接。
3.根据权利要求2所述的瞬断时间测试仪的校准装置,其特征在于,所述主控电路还包括:光电隔离模块,其中,所述光电隔离模块包括,第一光电隔离模块和第二光电隔离模块,其中,所述微控制芯片通过所述第一光电隔离模块与所述LCD模块相连接,所述微控制芯片通过所述第二光电隔离模块与所述键盘模块相连接。
4.根据权利要求2所述的瞬断时间测试仪的校准装置,其特征在于,所述标准时间间隔产生电路包括:第一电阻,第一场效应管,光耦合器,第二电阻,场效应管驱动芯片,第三电阻,第一电容,第四电阻,第二场效应管和第五电阻,其中,所述微控制芯片分别与所述第一电阻和所述第一场效应管相连接,所述第一场效应管分别与所述第一电阻和所述光耦合器相连接,所述光耦合器分别与所述第二电阻、所述第三电阻和所述场效应管驱动芯片相连接,所述第一电容分别与所述场效应管驱动芯片、所述第四电阻和所述第二场效应管相连接,第二场效应管分别与所述第四电阻相连接。
5.根据权利要求4所述的瞬断时间测试仪的校准装置,其特征在于,所述信号输出电路包括:第六电阻,瞬态二极管,第三场效应管,第四场效应管和第七电阻,其中,所述第六电阻与所述瞬态二极管并联连接,且所述第六电阻与所述瞬态二极管均与所述第三场效应管相连接,所述第三场效应管分别与所述第七电阻和所述第三场效应管相连接。
6.根据权利要求1所述的瞬断时间测试仪的校准装置,其特征在于,所述瞬断时间测试仪的校准装置还包括:电源电路,其中,所述电源电路与所述主控电路相连接;
所述电源电路,用于接入外部电源,以对所述主控电路供电。
7.根据权利要求6所述的瞬断时间测试仪的校准装置,其特征在于,所述电源电路包括:电源插头,滤波模块,变压器和稳压电路,其中,所述电源插头、所述滤波模块、所述变压器和所述稳压电路依次连接。
8.根据权利要求7所述的瞬断时间测试仪的校准装置,其特征在于,所述稳压电路包括:桥式整流电路和三端稳压芯片,其中,所述桥式整流电路与所述三端稳压芯片耦合。
9.根据权利要求7所述的瞬断时间测试仪的校准装置,其特征在于,
所述滤波模块为EMI滤波器。
10.根据权利要求7所述的瞬断时间测试仪的校准装置,其特征在于,
所述变压器为R型隔离变压器。
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