CN216816482U - 一种光谱测量与成像探测集成的设备 - Google Patents

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洪志坤
钟凡
洪浩
欧昌东
郑增强
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Abstract

本实用新型公开了一种光谱测量与成像探测集成的设备,其包括壳体,所述壳体上包括至少一个进光口;所述壳体内设置有至少一个分束器,用于将入射光束的光束路径分成至少两个部分光束路径;至少一个光谱探头,至少位于所述部分光束路径的一个中;至少一个光学传感器,至少位于所述部分光束路径的一个中。本实用新型能够在同一工位上实现对显示面板实现光谱检测和瑕疵缺陷检测,且结构简单。

Description

一种光谱测量与成像探测集成的设备
技术领域
本实用新型公开了一种光谱测量与成像探测设备,属于显示面板检测设备技术领域,具体公开了一种光谱测量与成像探测集成的设备。
背景技术
随着技术发展,显示面板或发光体的特性评估对产品的特性越来越重要。常见的发光体及其显示面板包括LED、MicroLED、MiniLED、LD等,其组成的产品包括但不限于消费电子产品、手机屏幕、电视显示器。
对于配备了发光体及其显示面板的显示产品,其发光特性的评估对于产品的质量评价很重要。上述质量评价指标中最重要的参数包括发光光谱以及该显示产品在显示区内是否存在瑕疵和缺陷。
当显示产品需要进行光谱和瑕疵缺陷检测时,通常需要分立的光谱仪和工业相机成像,在这种情况下,则需要两个工位实现上述检测,或者通过移动机构带动显示产品在两个不同工位之间切换,分时进行工作。比如,第一时刻在第一工位进行光谱测量,测量完毕后,基于移动机构将显示产品移动到相机下,基于相机在第二时刻和第二工位对显示产品进行成像检测;上述两种技术方案存在以下技术问题:1.检测系统复杂度高,即需要两个检测工位分别完成光谱测量和缺陷检测;2.检测耗时长,特别是当同一个产品需要进行多个不同显示画面的光谱测量和缺陷检测时,需要耗费两倍的检测时间。
实用新型内容
针对现有技术中存在的技术问题,本实用新型提供了一种光谱测量与成像探测集成的设备,其能够在同一工位上实现对显示面板的光谱检测和瑕疵缺陷检测,且结构简单。
本实用新型公开了一种光谱测量与成像探测集成的设备,其包括壳体,所述壳体上包括至少一个进光口;所述壳体内设置有至少一个分束器,用于将入射光束的光束路径分成至少两个部分光束路径;至少一个光谱探头,至少位于所述部分光束路径的一个中;至少一个光学传感器,至少所述部分光束路径的一个中。
在本实用新型的一种优选实施方案中,每个进光口处设置有一个分束器。
在本实用新型的一种优选实施方案中,所述分束器位于所述光学传感器和所述进光口之间。
在本实用新型的一种优选实施方案中,所述光谱探头设置于所述分束器的侧方。
在本实用新型的一种优选实施方案中,所述壳体内或所述壳体外设置有光谱处理模块,所述光谱处理模块与所述光谱探头连接。
在本实用新型的一种优选实施方案中,所述光谱探头与所述光学传感器的中心点相对于所述分束器共轭布置或非共轭布置。
在本实用新型的一种优选实施方案中,所述光学传感器包括但不限于黑白相机传感器芯片、彩色相机传感器芯片。
在本实用新型的一种优选实施方案中,所述光学传感器连接外部计算机。
在本实用新型的一种优选实施方案中,所述进光口处设置有镜头。
在本实用新型的一种优选实施方案中,所述分束器包括分束镜或平板分束镜。
在本实用新型的一种优选实施方案中,所述分束器的分光比例包括1:9或2:8或3:7或4:6或5:5。
本实用新型的有益效果是:本实用新型具有结构简单、测量耗时短的优点,其通过将分束器、光谱探头和光学传感器集成于相机壳体内,并通过分束器将入射光线一分为二分别传输至光谱探头和光学传感器,从而能够在同一工位上实现对显示面板的光谱检测和瑕疵缺陷检测;
进一步的,本实用新型通过设置多个进光口可以适用于大面积显示面板的检测;
进一步的,本实用新型通过将分束器3设置于光学传感器5和进光口2之间,能够在不改变现有相机内光学传感器内布置位置的情况下实现成像检测,降低了设备的制造难度;
进一步的,本实用新型通过设置一个或多个并排布置的光谱探头,可以实现显示产品多个点的光谱测量;
进一步的,本实用新型通过光谱探头与光学传感器的中心点相对于分束器共轭布置或非共轭布置,可以实现对视野内的任意一点进行光谱测量;
进一步的,本实用新型的光学传感器可以是黑白相机传感器芯片,也可以彩色相机传感器芯片,具有兼容性高的优点,其可以用于做画面AOI检测,实现画面AOI和光谱的同时测量;
进一步的,本实用新型的分束器的分光比例可以选用1:9或2:8或3:7或4:6或5:5,其具有良好的兼容性,适用于各种类型显示面板的检测。
附图说明
图1是本实用新型一种光谱测量与成像探测集成的设备的示意图(内置光谱处理模块);
图2是本实用新型一种光谱测量与成像探测集成的设备的示意图(外置光谱处理模块)
图3是本实用新型一种光谱测量与成像探测集成的设备的示意图(非共轭态);
图中:1-壳体,2-进光口,3-分束器,4-光谱探头,5-光学传感器,6-入射光束,7-部分光束路径,8-镜头,9-待测产品,10-光谱处理模块。
具体实施方式
下面通过附图以及列举本实用新型的一些可选实施例的方式,对本实用新型的技术方案(包括优选技术方案)做进一步的详细描述。显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型的一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型公开了一种光谱测量与成像探测集成的设备,如图1所示,其包括壳体1,壳体1上包括一个进光口2;壳体1内设置有一个分束器3,用于将入射光束6的光束路径分成两个部分光束路径7,一个部分光束路径7与入射光束6同轴布置,另一个部分光束路径7与入射光束6垂直布置;与入射光束6同轴布置的部分光束路径7上设置有一个光谱探头4,与入射光束6垂直布置的部分光束路径7上设置有一个光学传感器5。
在本实用新型的一种优选实施方案中,分束器3位于光学传感器5和进光口2之间。
在本实用新型的一种优选实施方案中,光谱探头4设置于分束器3的侧方。
在本实用新型的一种优选实施方案中,如图1所示,壳体1内外设置有光谱处理模块10,光谱处理模块10与光谱探头4直接连接,即光谱处理模块10+光谱探头4=光谱仪,此种情况适用于大尺寸相机,从而可以将光谱仪直接集成于相机壳体内。
在本实用新型的一种优选实施方案中,如图2所示,壳体1外设置有光谱处理模块10,光谱处理模块10与光谱探头4通过光线连接,此种情况适用于小尺寸相机,相机壳体内的空间不足以存放光谱仪,故可以用光线将光谱探头4的信号引出至外置光谱仪。
在本实用新型的一种优选实施方案中,如图3所示,光谱探头4与光学传感器5的中心点相对于分束器3共轭布置,光谱探头4不一定与芯片中心点共轭,也可以放置于其他视野的共轭点,这样就可以实现对视野内的任意一点进行光谱测量。
在本实用新型的一种优选实施方案中,光学传感器5包括但不限于黑白相机传感器芯片、彩色相机传感器芯片。
在本实用新型的一种优选实施方案中,光学传感器5连接外部计算机。
在本实用新型的一种优选实施方案中,进光口2处设置有镜头8。
在本实用新型的一种优选实施方案中,分束器3包括分束镜或平板分束镜。
在本实用新型的一种优选实施方案中,分束器3的分光比例包括1:9或2:8或3:7或4:6或5:5。
在本实用新型的一种优选实施方案中,壳体1上可以设置多个进光口2,每个进光口2对应设置有一个分束器3。
在本实用新型的一种优选实施方案中,光谱探头4可以为一个,也可以并排布置的多个,根据显示产品待测点的需要选取。
在本实用新型的一种优选实施方案中,光谱探头4可以为光谱探头。
本实用新型的工作原理如下:
待测产品9发出的入射光束6通过镜头8成像收集后,一部分光线入射到光学传感器5上,对产品进行成像,从而能够基于计算机对待测产品9进行缺陷检测或其他分析;另外一部分光线被反射到光谱探头4的光谱探头上,其中光谱探头的前端点,即对待测产品9的物表面发出的光进行收集,输出到内置或外置光谱处理模块10中,实现光谱测量的功能。
所属技术领域的技术人员容易理解,以上仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则下所做的任何修改、组合、替换、改进等均包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种光谱测量与成像探测集成的设备,其特征在于:包括壳体(1),所述壳体(1)上包括至少一个进光口(2);
所述壳体(1)内设置有
至少一个分束器(3),用于将入射光束(6)的光束路径分成至少两个部分光束路径(7);
至少一个光谱探头(4),至少位于所述部分光束路径(7)的一个中;
至少一个光学传感器(5),至少位于所述部分光束路径(7)的一个中。
2.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备,其特征在于:每个进光口(2)处设置有一个分束器(3)。
3.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备,其特征在于:所述分束器(3)位于所述光学传感器(5)和所述进光口(2)之间。
4.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备,其特征在于:所述光谱探头(4)设置于所述分束器(3)的侧方。
5.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备,其特征在于:所述壳体(1)内或所述壳体(1)外设置有光谱处理模块(10),所述光谱处理模块(10)与所述光谱探头(4)连接。
6.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备,其特征在于:所述光谱探头(4)与所述光学传感器(5)的中心点相对于所述分束器(3)共轭布置或非共轭布置。
7.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备,其特征在于:所述光学传感器(5)包括黑白相机传感器芯片。
8.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备,其特征在于:所述光学传感器(5)包括彩色相机传感器芯片。
9.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备,其特征在于:所述分束器(3)包括分束镜或平板分束镜。
10.根据权利要求1所述的光谱测量与成像探测集成的设备,其特征在于:所述分束器(3)的分光比例包括1:9或2:8或3:7或4:6或5:5。
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