CN216747370U - 一种多波长分光光度检测系统 - Google Patents

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Abstract

本实用新型公开了一种多波长分光光度检测系统,包括通过光纤连接的光波发生组件和光波检测组件,光波发生组件包括暗箱底座,暗箱底座由上方的竖直部和下方的水平部组成,暗箱底座竖直部的两侧分别设有扣合部,暗箱底座通过扣合部与U形箱壁连接;所述暗箱底座的竖直部上安装有水平设置的电机,电机的输出轴上依次安装有导电滑环和光源驱动盘,导电滑环与光源驱动盘电连接,光源驱动盘上设有多个呈圆周分布的单波长光源;所述光波检测组件包括检测腔座,检测腔座内部设有检测腔,检测腔由中间的柱形腔和两侧的矩形腔组成。本实用新型可以根据检测需要对光源进行灵活切换,使检测过程全面精确,显著提高检测效率。

Description

一种多波长分光光度检测系统
技术领域
本实用新型涉及一种多波长分光光度检测系统,属于分光光度检测技术领域。
背景技术
分光光度法是通过测定被测物质在特定波长处或一定波长范围内光的吸光度或发光强度,对该物质进行定性和定量分析的方法。在分光光度检测过程中,通过将不同波长的光连续地照射到一定浓度的样品溶液时,便可得到与不同波长相对应的吸收强度。
目前市场上的分光光度检测系统,光源较为单一,不便于根据检测需要进行灵活切换,导致检测过程不全面,当检测需要其他光源时,只能更换其他设备进行检验,增加检测的成本,且还可以使检测效率大大降低。
综上可知,现有技术在实际使用上显然存在不便与缺陷,所以有必要加以改进。
实用新型内容
本实用新型针对背景技术中的不足,提供一种多波长分光光度检测系统,可以根据检测需要对光源进行灵活切换,使检测过程全面精确,显著提高检测效率。
为解决以上技术问题,本实用新型采用以下技术方案:
一种多波长分光光度检测系统,包括通过光纤连接的光波发生组件和光波检测组件;
所述光波发生组件包括暗箱底座,暗箱底座由上方的竖直部和下方的水平部组成,暗箱底座竖直部的两侧分别设有扣合部, 暗箱底座通过扣合部与U形箱壁连接;
所述暗箱底座的竖直部上安装有水平设置的电机,电机的输出轴上依次安装有导电滑环和光源驱动盘,导电滑环与光源驱动盘电连接,光源驱动盘上设有多个呈圆周分布的单波长光源;
所述光波检测组件包括检测腔座,检测腔座的主体上方设有检测室;所述检测腔座内部设有检测腔,检测腔由中间的柱形腔和两侧的矩形腔组成。
一种优化方案,所述U形箱壁的U形开口朝暗箱底座竖直部设置,U形箱壁的顶端设有滑槽, U形箱壁通过滑槽安装有盖板。
进一步地,所述盖板、U形箱壁与暗箱底座之间形成密闭空间;所述导电滑环和光源驱动盘位于盖板、U形箱壁与暗箱底座形成的密闭空间内。
进一步地,所述暗箱底座的竖直部上开设有圆形穿孔;所述暗箱底座竖直部靠近U形箱壁的一侧设有三个固定柱,三个固定柱呈圆周分别在圆形穿孔的周围;所述导电滑环固接于固定柱上。
进一步地,所述U形箱壁远离暗箱底座竖直部的侧壁上开设有安装孔,安装孔内设有光纤耦合器。
进一步地,所述光纤耦合器通过U形箱壁外部的第一安装板进行固定。
进一步地,所述柱形腔的侧壁上设有两个相对设置的夹紧部。
进一步地,所述检测腔沿其长度方向的一端设有光纤聚焦镜,另一端设有波长接收器 。
进一步地,所述光纤聚焦镜通过第二安装板固定,光纤聚焦镜与光纤耦合器之间设有光纤。
进一步地,所述检测室的底部设有用于安装检测腔座的矩形贯穿孔。
本实用新型采用以上技术方案后,与现有技术相比,具有以下优点:
本实用新型中通过电机驱动光源驱动盘旋转实现对单波长光源位置的切换,便于根据检测需要选取合适的单波长光源,不仅能够使检测过程更加全面精确,还可以使检测效率大大提高。
本实用新型通过导电滑环与光源驱动盘电连接,防止光源驱动盘在旋转过程中出现线路缠绕的问题。
本实用新型提供的检测系统结构紧凑合理,制作成本较低。
下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细说明。
附图说明
图1是本实用新型的结构示意图;
图2是本实用新型在去掉盖板和检测室后的结构示意图;
图3是光波发生装置的结构示意图;
图4是光波发生装置的内部结构示意图;
图5是图4的俯视图;
图6是暗箱底座的结构示意图;
图7是U形箱壁的结构示意图;
图8是检测腔座的结构示意图;
图9是检测室的结构示意图。
图中,1-暗箱底座,101-扣合部,102-圆形穿孔,103-固定柱;2-U形箱壁,201-安装孔,202-滑槽;3-盖板;4-光源驱动盘;5-电机;6-导电滑环;7-单波长光源;8-光纤耦合器;9-第一安装板;10-检测腔座;11-检测腔;12-夹紧部;13-光纤聚焦镜;14-第二安装板;15-光纤;16-检测室,1601-矩形贯穿孔。
具体实施方式
为了对本实用新型的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解,现对照附图说明本实用新型的具体实施方式。
如图1-图9共同所示,本实用新型提供一种多波长分光光度检测系统,包括通过光纤15连接的光波发生组件和光波检测组件。
所述光波发生组件包括暗箱底座1,暗箱底座1由上方的竖直部和下方的水平部组成, 水平部上设有多个螺栓孔,方便将暗箱底座1实现固定。
所述暗箱底座1竖直部的两侧分别设有扣合部101, 暗箱底座1通过扣合部101与U形箱壁2连接;所述扣合部101与U形箱壁2通过螺栓连接。
所述U形箱壁2的U形开口朝暗箱底座1竖直部设置,U形箱壁2的顶端设有滑槽202,U形箱壁2通过滑槽202安装有盖板3,方便盖板3实现滑动开启。
所述盖板3、U形箱壁2与暗箱底座1之间形成密闭空间。
所述暗箱底座1的竖直部上开设有圆形穿孔102,暗箱底座1竖直部靠近U形箱壁2的一侧设有三个固定柱103,三个固定柱103呈圆周分别在圆形穿孔102的周围。
所述暗箱底座1的竖直部上安装有水平设置的电机5,电机5的输出轴横穿圆形穿孔102,电机5的输出轴上依次安装有导电滑环6和光源驱动盘4,导电滑环6与光源驱动盘4电连接,通过导电滑环6防止光源驱动盘4在旋转过程中出现线路缠绕的问题。
所述导电滑环6和光源驱动盘4位于盖板3、U形箱壁2与暗箱底座1形成的密闭空间内。
所述导电滑环6固接于固定柱103上。
所述光源驱动盘4由电机5驱动旋转;所述光源驱动盘4上设有多个呈圆周分布的单波长光源7;电机5通过驱动光源驱动盘4旋转实现对单波长光源7位置的切换,便于根据检测需要选取合适的单波长光源7。
所述U形箱壁2远离暗箱底座1竖直部的侧壁上开设有安装孔201,安装孔201内设有光纤耦合器8;所述光纤耦合器8通过U形箱壁2外部的第一安装板9进行固定。
所述光波检测组件包括检测腔座10,检测腔座10的主体上方设有检测室16。
所述检测腔座10内部设有检测腔11,检测腔11由中间的柱形腔和两侧的矩形腔组成,柱形腔内用于放置检测用的比色管,矩形腔用于放置检测用的比色皿。
所述柱形腔的侧壁上设有两个相对设置的夹紧部12,夹紧部12用于将比色管牢靠固定,防止侧倾。
所述检测腔11沿其长度方向的一端设有光纤聚焦镜13,另一端设有波长接收器。
所述光纤聚焦镜13通过第二安装板14固定,光纤聚焦镜13与光纤耦合器8之间设有光纤15。
所述检测室16的底部设有用于安装检测腔座10的矩形贯穿孔1601。
本实用新型的具体工作原理:
将装有试剂的比色皿(管)置于检测腔11内,然后单波长光源7发出光束,光束依次经过光纤耦合器8、光纤15、光纤聚焦镜13后照射比色皿比色皿(管)内的试剂,试剂内的物料对不同的波长产生不同的变化,波长接收器对波长的变化进行接收,并通过一定的比对、算法,检测出试剂内各物质的含量。
本实用新型中的电机5通过驱动光源驱动盘4旋转实现对单波长光源7位置的切换,便于根据检测需要选取合适的单波长光源7,不仅能够使检测过程更加全面精确,还可以使检测效率大大提高。
以上所述为本实用新型最佳实施方式的举例,其中未详细述及的部分均为本领域普通技术人员的公知常识。本实用新型的保护范围以权利要求的内容为准,任何基于本实用新型的技术启示而进行的等效变换,也在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种多波长分光光度检测系统,其特征在于:包括通过光纤(15)连接的光波发生组件和光波检测组件;
所述光波发生组件包括暗箱底座(1),暗箱底座(1)由上方的竖直部和下方的水平部组成,暗箱底座(1)竖直部的两侧分别设有扣合部(101), 暗箱底座(1)通过扣合部(101)与U形箱壁(2)连接;
所述暗箱底座(1)的竖直部上安装有水平设置的电机(5),电机(5)的输出轴上依次安装有导电滑环(6)和光源驱动盘(4),导电滑环(6)与光源驱动盘(4)电连接,光源驱动盘(4)上设有多个呈圆周分布的单波长光源(7);
所述光波检测组件包括检测腔座(10),检测腔座(10)的主体上方设有检测室(16);所述检测腔座(10)内部设有检测腔(11),检测腔(11)由中间的柱形腔和两侧的矩形腔组成。
2.如权利要求1所述的一种多波长分光光度检测系统,其特征在于:所述U形箱壁(2)的U形开口朝暗箱底座(1)竖直部设置,U形箱壁(2)的顶端设有滑槽(202), U形箱壁(2)通过滑槽(202)安装有盖板(3)。
3.如权利要求2所述的一种多波长分光光度检测系统,其特征在于:所述盖板(3)、U形箱壁(2)与暗箱底座(1)之间形成密闭空间;所述导电滑环(6)和光源驱动盘(4)位于盖板(3)、U形箱壁(2)与暗箱底座(1)形成的密闭空间内。
4.如权利要求1所述的一种多波长分光光度检测系统,其特征在于:所述暗箱底座(1)的竖直部上开设有圆形穿孔(102);所述暗箱底座(1)竖直部靠近U形箱壁(2)的一侧设有三个固定柱(103),三个固定柱(103)呈圆周分别在圆形穿孔(102)的周围;所述导电滑环(6)固接于固定柱(103)上。
5.如权利要求1所述的一种多波长分光光度检测系统,其特征在于:所述U形箱壁(2)远离暗箱底座(1)竖直部的侧壁上开设有安装孔(201),安装孔(201)内设有光纤耦合器(8)。
6.如权利要求5所述的一种多波长分光光度检测系统,其特征在于:所述光纤耦合器(8)通过U形箱壁(2)外部的第一安装板(9)进行固定。
7.如权利要求1所述的一种多波长分光光度检测系统,其特征在于:所述柱形腔的侧壁上设有两个相对设置的夹紧部(12)。
8.如权利要求6所述的一种多波长分光光度检测系统,其特征在于:所述检测腔(11)沿其长度方向的一端设有光纤聚焦镜(13),另一端设有波长接收器 。
9.如权利要求8所述的一种多波长分光光度检测系统,其特征在于:所述光纤聚焦镜(13)通过第二安装板(14)固定,光纤聚焦镜(13)与光纤耦合器(8)之间设有光纤(15)。
10.如权利要求1所述的一种多波长分光光度检测系统,其特征在于:所述检测室(16)的底部设有用于安装检测腔座(10)的矩形贯穿孔(1601)。
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