CN216595300U - 一种dob高压模组绝缘阻抗治具测试电路 - Google Patents

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陆鹏军
张路华
蔡广明
李邵军
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Abstract

本实用新型公开了一种DOB高压模组绝缘阻抗治具测试电路,它涉及绝缘阻抗测试技术领域。它包括绝缘阻抗测试机、第一点触复位开关、第二点触复位开关和负载电阻,绝缘阻抗测试机的L端依次连接第一点触复位开关、阻焊层、线路层、绝缘介质层、金属层、第二点触复位开关至绝缘阻抗测试机的E端,第一点触复位开关与负载电阻的一端相连,负载电阻的另一端连接氧化层G2、G3、G4至金属层。本实用新型能够对产品绝缘性能进行更好的测试,测试时间短,测试效率高,测试安全性好,有效解决误判、漏测问题,能更好把控产品安全性能,且测试成本低,应用前景广阔。

Description

一种DOB高压模组绝缘阻抗治具测试电路
技术领域
本实用新型涉及的是绝缘阻抗测试技术领域,具体涉及一种DOB高压模组绝缘阻抗治具测试电路。
背景技术
目前,现有的DOB高压模组的绝缘阻抗测试有很多种,其中常用的为以下两种:一种是在金属铝基板没有做成DOB高压模组前,使用高压测试仪器用固定的电流、固定的电压测试金属铝基板是否超漏,通过固定测试金属铝基板铜箔层对金属氧化层间的电压和漏电流,可通过R=U/I算出绝缘电阻值;另一种是做DOB高压模组后,使用缘缘阻抗机设定固定电压值,测试DOB高压模组的铜箔层(线路层)对金属氧化层间的阻抗值,即DOB高压模组的绝缘阻抗值。具体地:
(1)使用高压测试仪测试绝缘阻抗方式:通过设定高压测试仪器的电压和电流,在一定的时间内金属铝基板铜箔层(线路层)与铝板(金属层)所能承受的电压值,设定完成后高压测试按下启动按钮后,电压通过测试仪器作用于铜箔(线路层)与氧化层之间,测出漏电流,使用欧母定律R=U/I即可得出绝缘阻抗。
该方案存在以下缺点:①只能测试金属铝板,测试后产品无法使用生产;②测试后的产品存在损坏风险;③无法做到整批量全部测试;④测试人员不安全,存在触电风险;⑤测试的产品不能使用,浪费成本;⑥接触不良,会出现漏测的风险;⑦结果算法复杂。
(2)绝缘阻抗机直接测试方式:设定绝缘阻抗仪器电压,时间测试DOB高压模组的绝缘阻抗,通过设定绝缘阻抗仪器两端的电压,测试时间,启动设备后,绝缘阻抗仪器两端的电压直接作用于铜箔层对氧化层之间,得出绝缘阻抗。
该方案存在以下缺点:①测试人员安全无法保障,存在触电风险;②接触不良,会出现漏测的风险;③产品安全性能不法把控;④操作方式复杂,需手动锁铝片且需焊线后测试;⑤测试时间久;⑥氧化层是不导电的,作用氧化层会有很大机率测不到金属层,有误判风险。
为了解决上述问题,开发一种DOB高压模组绝缘阻抗治具测试电路尤为必要。
发明内容
针对现有技术上存在的不足,本实用新型目的是在于提供一种DOB高压模组绝缘阻抗治具测试电路,结构简单,设计合理,制作方便,能够对产品绝缘性能进行更好的测试,提高测试效率,安全性高,且成本低,实用性强,易于推广使用。
为了实现上述目的,本实用新型是通过如下的技术方案来实现:一种DOB高压模组绝缘阻抗治具测试电路,包括绝缘阻抗测试机、第一点触复位开关、第二点触复位开关和负载电阻,绝缘阻抗测试机的L 端依次连接第一点触复位开关、阻焊层、线路层、绝缘介质层、金属层、第二点触复位开关至绝缘阻抗测试机的E端,第一点触复位开关与负载电阻的一端相连,负载电阻的另一端连接氧化层G2、G3、G4至金属层。
作为优选,所述的负载电阻的电阻值在50-1000MΩ之间。
本实用新型的有益效果:本线路制作方便,能够对产品绝缘性能进行更好的测试,测试时间短,提高测试效率,测试安全性高,同时也能保护被测产品不被损伤,同时解决误判、漏测问题,且测试成本低,应用前景广阔。
附图说明
下面结合附图和具体实施方式来详细说明本实用新型;
图1为本实用新型DOB高压模组测试线路图;
图2为本实用新型的电路框图。
具体实施方式
为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本实用新型。
参照图1-2,本具体实施方式采用以下技术方案:一种DOB高压模组绝缘阻抗治具测试电路,包括绝缘阻抗测试机1、第一点触复位开关SW1、第二点触复位开关SW2和负载电阻RL,绝缘阻抗测试机1的L 端依次连接第一点触复位开关SW1、阻焊层2、线路层3、绝缘介质层4、金属层5、第二点触复位开关SW2至绝缘阻抗测试机1的E端,第一点触复位开关SW1与负载电阻RL的一端相连,负载电阻RL的另一端连接氧化层G2、G3、G4至金属层5。当第一点触复位开关SW1、第二点触复位开关SW2导通时,按下绝缘阻抗测试机1的机台启动按键后,绝缘阻抗机台会发生出一个当时设定的电压电流,电压电流通过图2所示的流向测出绝缘阻抗。
值得注意的是,所述的负载电阻RL的电阻值在50-1000MΩ之间。
本具体实施方式绝缘阻抗测试机1使用前需进行参数设定方法,其设定方法为:
(1)通过测试机“设定”键选择“测试时间,可设定“测量范围:0.3-999.9s”中任意一值做为测试时间,一般选择3-60S按“确定”键,即可完成测度时间设定;
(2)按“设定”键选择“低分辨率”,设定“低分辨率:100KΩ-9.999GΩ”中任意一值做为下限报警阻抗,一般选择2-10MΩ按“确定”键,即可完成下限报警阻抗的设定;
(3)按设“设定”键选择“自动量程,设定“测量范围:《ON》”,按“确认”键,测试读取参数,打开电脑软件,读取到阻抗仪参数;
(4)按“设定”键,选择“测试电压”,测试电压有100V、250V、500V、1000V四个档柆,可从上述档位电压中选取一档作为测试电压,按“确认”键;
(5)按“退出”键退出,完成参数设置。
本具体实施方式有效解决了误判问题,第一点触复位开关SW1、第二点触复位开关SW2闭合时,负载电阻RL经氧化层G2、G3、G4,并接于第一点触复位开关SW1与金属层5之间。当DOB高压模组正常没有漏电时,阻焊层2 L1/N到金属层5的阻抗接近无穷大,绝缘阻抗测试机1无法显出其DOB模组的阻抗值,而电路开路或接触不良也是显示出阻抗是无穷大,两者阻抗相近,无法判断DOB高压模组绝缘阻抗是否正常,并且接上负载电阻RL,因负载电阻RL的阻值在50-1000MΩ,其阻值总比DOB高压模组小,所以测出来的DOB绝缘阻抗值总比选取的负载电阻RL的阻值大。当测出高压DOB模组值小于或等于负载电阻RL的阻值,高压DOB模组漏电流大,可判定产品不合格;当测出高压DOB模组阻抗等于0,可判定高压DOB模组已击穿无法使用;当测出高压DOB模组阻抗无阻值显示,可判定线路接触不良或高压DOB模组没放置好,这样测试出来的产DOB模组就不会有误判风险。
本具体实施方式的技术优势在于:
①测试安全高:第一点触复位开关SW1、第二点触复位开关SW2断开时,在测试人工误操作绝缘阻抗仪的启动按键,电压电流也会不流经测试端L1与G1之间,从而保护测试者在测试产品时的人身安全,避免电击危险,做到预防意外发生,同时也保护被测产品不被损伤。
②绝缘阻抗测试机1的E端经第二点触复位开关SW2后直接接入G1,G1端没金属氧化层,而G2、G3、G4接触位有金属氧化层,如若G2、G3、G4点直接接入绝缘阻抗测试机1的E端,就会出现触不良测出绝缘阻抗不准确现象;而本线路不仅避免了连接金属氧化层产生的不良,而且从接触方式上大大改善因接触不良产生绝缘阻抗,预防不良产品流入到市场。
③测试方法简单,实施简便,测试时间短,易操作,能进一步提高测试效率,对产品绝缘性能进行更好地测试,简化生产,节省测试成本。
④能更好把控产品安全性能,使用此测试电路方案,能保证100%的DOB高压模组都能测试到,且可以设定设备自动报警,超上限阻抗或下限阻抗设备就会报警提示作业人员,这样测试产品就不会被漏测。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解,本实用新型不受上述实施例的限制,上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理,在不脱离本实用新型精神和范围的前提下,本实用新型还会有各种变化和改进,这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (2)

1.一种DOB高压模组绝缘阻抗治具测试电路,其特征在于,包括绝缘阻抗测试机(1)、第一点触复位开关(SW1)、第二点触复位开关(SW2)和负载电阻(RL),绝缘阻抗测试机(1)的L端依次连接第一点触复位开关(SW1)、阻焊层(2)、线路层(3)、绝缘介质层(4)、金属层(5)、第二点触复位开关(SW2)至绝缘阻抗测试机(1)的E端,第一点触复位开关(SW1)与负载电阻(RL)的一端相连,负载电阻(RL)的另一端连接氧化层G2、G3、G4至金属层(5)。
2.根据权利要求1所述的一种DOB高压模组绝缘阻抗治具测试电路,其特征在于,所述的负载电阻(RL)的电阻值在50-1000MΩ之间。
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