CN216388754U - 一种具有自检功能的固态硬盘及存储设备 - Google Patents
一种具有自检功能的固态硬盘及存储设备 Download PDFInfo
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Abstract
本实用新型适用于数据存储技术领域,提供了一种具有自检功能的固态硬盘及存储设备,其中,所述具有自检功能的固态硬盘包括存储主控芯片、微控制单元、缓存芯片、多个存储颗粒以及连接器,所述微控制单元、所述缓存芯片、多个所述存储颗粒以及所述连接器均与所述存储主控芯片电连接。本实用新型可以通过微控制单元对固态硬盘的电压以及功耗进行自动化检测,以提高固态硬盘的检测效率,便于在生产检测的过程中及时发现问题并进行维修。
Description
技术领域
本实用新型属于数据存储技术领域,尤其涉及一种具有自检功能的固态硬盘及存储设备。
背景技术
固态硬盘由于具有读写快、性能稳定且低噪低功耗的优势,现已在大数据时代得到了广泛的应用,继而对于其检测的效率也提出了更高的要求。
现有的固态硬盘主要由三部分构成,依次是存储主控、缓存芯片DDR和存储颗粒FLASH,其在工作过程中,主机通过存储主控,配合缓存芯片DDR,将相应的数据存储至存储颗粒FLASH中。
而对于生产测试的过程中,固态硬盘的各项指标参数都会影响到固态硬盘的读写速率以及数据的准确性,因此,现有的固态硬盘在进行生产检测时,均需要手动检测固态硬盘的每个状态点信息,以获取固态硬盘的健康状态,这种检测方法导致了固态硬盘的检测效率较低。
实用新型内容
本实用新型实施例提供了一种具有自检功能的固态硬盘,旨在解决现有固态硬盘的检测方法效率较低问题。
本实用新型实施例提供了一种具有自检功能的固态硬盘,包括存储主控芯片、微控制单元、缓存芯片、多个存储颗粒以及连接器,所述微控制单元、所述缓存芯片、多个所述存储颗粒以及所述连接器均与所述存储主控芯片电连接。
更进一步地,所述存储主控芯片的型号为SM2246EN。
更进一步地,所述微控制单元包括型号为STC8H1K17-36I-QFN20的芯片。
更进一步地,所述微控制单元还包括8MHz晶振、电压检测配置电阻以及功率检测芯片。
更进一步地,所述8MHz晶振的型号为X32258MSB4SI。
更进一步地,所述功率检测芯片的型号为INA226AIDGSR。
更进一步地,所述缓存芯片的型号为NT5CC256M16DP-DI。
更进一步地,所述存储颗粒的型号为TH58TFT1DFLBA8P。
更进一步地,所述具有自检功能的固态硬盘还包括与所述存储主控芯片电连接的LED指示灯。
本实用新型实施例还提供了一种存储设备,所述存储设备包括外壳以及收容于所述外壳内的如上述的具有自检功能的固态硬盘。
本实用新型所达到的有益效果:通过增设与存储主控芯片连接的微控制单元,从而可以通过微控制单元对固态硬盘的电压以及功耗进行自动化检测,以提高固态硬盘的检测效率,便于在生产检测的过程中及时发现问题并进行维修。
附图说明
图1是本实用新型实施例提供的一种具有自检功能的固态硬盘的框架示意图;
图2是本实用新型实施例提供的一种具有自检功能的固态硬盘中微控制单元的电路结构示意图。
图3是本实用新型实施例提供的一种具有自检功能的固态硬盘的检测流程图。
图4是本实用新型实施例提供的一种存储设备的外部结构示意图。
其中,1、存储主控芯片;2、微控制单元;3、缓存芯片;4、存储颗粒;5、连接器;6、LED指示灯;7、外壳。
具体实施方式
为了使本实用新型的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本实用新型,并不用于限定本实用新型。
实施例一
本实施例提供了一种具有自检功能的固态硬盘,如附图1所示,包括存储主控芯片1、微控制单元2、缓存芯片3、多个存储颗粒4以及连接器5,所述微控制单元2、所述缓存芯片3、多个所述存储颗粒4以及所述连接器5均与所述存储主控芯片1电连接。
其中,所述存储主控芯片1用于通过SATA协议与用户端进行数据的读写操作,相应的,所述连接器5则为SATA连接器,用于提供与用户端连接的接口。当然,根据实际需求,所述存储主控芯片1还可以通过其它协议与用户端进行数据的读写操作。
所述微控制单元2用于对所述具有自检功能的固态硬盘(简称固态硬盘)的电压以及功耗进行自动化检测。
所述缓存芯片3用于保存所述固态硬盘的数据链表,并提升所述固态硬盘的读写速率。
所述存储颗粒4作为数据的存储介质,用于保存数据。
本实施例中,所述存储主控芯片1的型号为SM2246EN,具体为慧荣科技的SM2246EN。当然,根据实际需求,也可以选用其它型号。
本实施例中,结合附图2所示,所述微控制单元2包括型号为STC8H1K17-36I-QFN20的芯片,具体为STC系列的STC8H1K17-36I-QFN20。当然,根据实际需求,也可以选用其它型号。
本实施例中,结合附图2所示,所述微控制单元2还包括8MHz晶振、电压检测配置电阻以及功率检测芯片。当然,根据实际需求,所述微控制单元2还包含其它的器件。
其中,所述8MHz晶振的型号为X32258MSB4SI,具体为杨兴科技的X32258MSB4SI。所述功率检测芯片的型号为INA226AIDGSR。当然,根据实际需求,所述8MHz晶振和所述功率检测芯片还可以选用其它的型号。
本实施例中,所述固体硬盘还包括电源转换芯片,所述电源转换芯片直接整合在存储主控芯片1上,即在所述存储主控芯片1上形成电源转换电路。当然,根据实际需求,也可以单独设置。
所述固态硬盘的输入电压为5V,经其内部所述电源转换芯片分别转换为3.3V、1.8V、1.5V、1.2V,所述微控制单元2将对这些电压信号进行检测管控,当某路出现不稳定或不正常时,将进行上报或报警,检测人员便可以立即确定有问题的固态硬盘,并通过MCU打印串口打印出实时检测信息,即可对固态硬盘进行精确问题定位。
本实施例中,所述缓存芯片3的型号为NT5CC256M16DP-DI,具体为南亚科技的NT5CC256M16DP-DI。当然,根据实际需求,所述缓存芯片3还可以选用其它的型号。
本实施例中,所述存储颗粒4的型号为TH58TFT1DFLBA8P,具体为东芝的TH58TFT1DFLBA8P。当然,根据实际需求,所述存储颗粒4还可以选用其它的型号。
本实施例中,所述具有自检功能的固态硬盘还包括与所述存储主控芯片1电连接的LED指示灯6。这样可以在所述微控制单元2检测到异常情况时,通过所述LED指示灯6进行故障报警。
结合附图3所示,在进行所述固态硬盘的检测时,先上电启动,然后进行降压工作,并通过所述微控制单元2进行电压以及功耗的检测:若出现异常情况,则控制所述LED指示灯6亮起,并打印微控制单元2串口确定问题所在,继而进行下一步维修,维修完成后再次进行检测,直至不再出现异常情况,则认为该固态硬盘为正常状态,结束该次检测;若没有出现异常情况,则控制所述LED指示灯6不亮,并认定该固态硬盘为正常状态,结束该次检测。
本实施例通过增设与存储主控芯片1连接的微控制单元2,从而可以通过微控制单元2对固态硬盘的电压以及功耗进行自动化检测,以提高固态硬盘的检测效率,便于在生产检测的过程中及时发现问题并进行维修。
本实用新型中,微控制单元2实现电压以及功耗检测的原理为现有技术,本实用新型的技术改进在于所述微控制单元、所述缓存芯片、多个所述存储颗粒以及所述连接器均与所述存储主控芯片电连接的连接关系,以使各个元件组成自检功能的固态硬盘,从而实现本实用新型的目的。
实施例二
本实施例提供了一种存储设备,结合附图1至4所示,所述存储设备包括外壳7以及收容于所述外壳7内的如实施例一中的具有自检功能的固态硬盘。
其中,所述固态硬盘中的所述LED指示灯6露出所述外壳7,以便于观察所述LED指示灯6是否亮起。
由于,本实施例中的存储设备包含了实施例一中具有自检功能的固态硬盘,因此,本实施例中的存储设备也能达到实施例一中固态硬盘所能达到的技术效果,在此不作赘述。
以上仅为本实用新型的较佳实施例而已,并不用以限制本实用新型,凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种具有自检功能的固态硬盘,其特征在于,包括存储主控芯片、微控制单元、缓存芯片、多个存储颗粒以及连接器,所述微控制单元、所述缓存芯片、多个所述存储颗粒以及所述连接器均与所述存储主控芯片电连接。
2.如权利要求1所述的具有自检功能的固态硬盘,其特征在于,所述存储主控芯片的型号为SM2246EN。
3.如权利要求1所述的具有自检功能的固态硬盘,其特征在于,所述微控制单元包括型号为STC8H1K17-36I-QFN20的芯片。
4.如权利要求3所述的具有自检功能的固态硬盘,其特征在于,所述微控制单元还包括8MHz晶振、电压检测配置电阻以及功率检测芯片。
5.如权利要求4所述的具有自检功能的固态硬盘,其特征在于,所述8MHz晶振的型号为X32258MSB4SI。
6.如权利要求4所述的具有自检功能的固态硬盘,其特征在于,所述功率检测芯片的型号为INA226AIDGSR。
7.如权利要求1所述的具有自检功能的固态硬盘,其特征在于,所述缓存芯片的型号为NT5CC256M16DP-DI。
8.如权利要求1所述的具有自检功能的固态硬盘,其特征在于,所述存储颗粒的型号为TH58TFT1DFLBA8P。
9.如权利要求1所述的具有自检功能的固态硬盘,其特征在于,所述具有自检功能的固态硬盘还包括与所述存储主控芯片电连接的LED指示灯。
10.一种存储设备,其特征在于,所述存储设备包括外壳以及收容于所述外壳内的如权利要求1至9任意一项所述的具有自检功能的固态硬盘。
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