CN216309385U - 一种用于测试激光发散角的工装 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于激光发散角测试技术领域,公开了一种用于测试激光发散角的工装;包括测试平台;光纤调节组件,其设置在测试平台上,待测光纤固定于光纤调节组件上,光纤调节组件能够在X轴、Y轴和Z轴方向调节待测光纤的位置;光阑调节组件,其滑动地设置在测试平台上,光阑调节组件上可拆卸地设置有挡光片,挡光片上设置有光阑孔,待测光纤的激光束能够穿过光阑孔;功率计调节组件,其包括第一升降台和功率计探头,第一升降台滑动地设置在测试平台上,功率计探头设置在第一升降台上,第一升降台能够沿Z轴调节功率计探头的高度,功率计探头用于接收穿过光阑孔的激光束。其可以测试得到激光束的发散角,以便对光纤产品的光学指标进行筛选。
Description
技术领域
本实用新型属于激光发散角测试技术领域,尤其涉及一种用于测试激光发散角的工装。
背景技术
激光的光束发散角是一种评价激光器、决定激光器应用领域的重要指标,目前,对于光纤激光产品,其光纤出射光束的发散角还没有一个标准的仪器设备进行测试。其不仅无法提高测试效率,产品性能也无法量化和保证。
因此,亟需一种用于测试激光发散角的工装,以解决上述技术问题。
实用新型内容
针对现有技术存在的不足,本实用新型的目的在于提供一种用于测试激光发散角的工装,其可以得到激光束的发散角,以便对光纤产品的光学指标进行筛选,保证了同规格光纤性能一致性,满足研发及生产的质量需求,提高了产品的质量;且该工装结构简单实用。
为达此目的,本实用新型采用以下技术方案:
提供一种用于测试激光发散角的工装,包括:
测试平台;
光纤调节组件,其设置在所述测试平台上,待测光纤固定于所述光纤调节组件上,所述光纤调节组件能够在X轴、Y轴和Z轴方向调节所述待测光纤的位置;
光阑调节组件,其滑动地设置在所述测试平台上,所述光阑调节组件能够沿所述X轴移动,所述光阑调节组件上可拆卸地设置有挡光片,所述挡光片上设置有光阑孔,所述待测光纤的激光束能够穿过所述光阑孔;
功率计调节组件,其包括第一升降台和功率计探头,所述第一升降台滑动地设置在所述测试平台上,所述第一升降台能够沿所述X轴移动,所述功率计探头设置在所述第一升降台上,所述第一升降台能够沿Z轴调节所述功率计探头的高度,所述功率计探头用于接收穿过所述光阑孔的激光束;
通过所述挡光片和所述待测光纤之间的距离,以及所述光阑孔的直径计算得到所述激光束的发散角。
作为一种用于测试激光发散角的工装的优选技术方案,所述第一升降台上设置有第一调节柄,旋转所述第一调节柄能够调节所述功率计探头的高度。
作为一种用于测试激光发散角的工装的优选技术方案,还包括滑动组件,其包括滑轨、滑块、第一滑座和第二滑座,所述滑轨固定在所述测试平台上,所述滑轨沿X轴设置,所述光纤调节组件设置在所述滑轨的一端;
所述第一滑座和所述第二滑座上均设置有所述滑块,所述第一滑座靠近所述光纤调节组件的一端,所述滑块滑动地设置在所述滑轨上,所述光阑调节组件设置在所述第一滑座上,所述第一升降台设置在所述第二滑座上。
作为一种用于测试激光发散角的工装的优选技术方案,所述滑动组件包括两个间隔设置的所述滑轨,所述第一滑座和所述第二滑座上均设置有两个所述滑块,两个所述滑块分别设置在两个所述滑轨上。
作为一种用于测试激光发散角的工装的优选技术方案,所述光纤调节组件包括第二升降台、双轴微调位移台和待测台,所述第二升降台设置在所述测试平台上,所述双轴微调位移台设置在所述第二升降台上,所述第二升降台能够沿所述Z轴调节所述双轴微调位移台的高度,所述待测台设置在所述双轴微调位移台上,所述双轴微调位移台能够沿所述X轴和所述Y轴调节所述待测台的位置,所述待测光纤固定在所述待测台上。
作为一种用于测试激光发散角的工装的优选技术方案,所述双轴微调位移台上设置有第一轴向调节柄和第二轴向调节柄,旋转第一轴向调节柄能够沿所述X轴调节所述待测台的位置,旋转所述第二轴向调节柄能够沿所述Y轴调节所述待测台的位置。
作为一种用于测试激光发散角的工装的优选技术方案,所述第二升降台上设置有第二调节柄,旋转所述第二调节柄能够调节所述双轴微调位移台的高度。
作为一种用于测试激光发散角的工装的优选技术方案,所述待测台上设置有V型槽,所述待测光纤放置在所述V型槽内。
作为一种用于测试激光发散角的工装的优选技术方案,所述待测台上设置有多个所述V型槽,所有的所述V型槽的尺寸都不一致。
作为一种用于测试激光发散角的工装的优选技术方案,所述光阑调节组件包括微调位移台和连接座,所述微调位移台设置在所述第一滑座,所述连接座设置在所述微调位移台上,所述微调位移台能够沿X轴微调所述连接座的位置,所述挡光片可拆卸地设置在所述连接座上。
与现有技术相比,本实用新型具有以下有益效果:
待测光纤的激光束能够穿过光阑孔,功率计探头能够接收穿过光阑孔的激光束。调节挡光片在X轴的位置,获取理想的测试效果,通过挡光片和待测光纤之间的距离以及光阑孔的直径,计算得到激光束的发散角,以便对光纤产品的光学指标进行筛选,保证了同规格光纤性能一致性,满足研发及生产的质量需求,提高了产品的质量;且该工装结构简单实用。
附图说明
图1为本实用新型提供的结构示意图。
图2为本实用新型提供的待测台的V型槽示意图。
其中,1、测试平台;2、滑动组件;201、滑轨;202、滑块;203a、第二滑座;203b、第一滑座;204、定位销;
3、光纤调节组件;301、第二升降台;301a、第二调节柄;
302、双轴微调位移台;302a、第一轴向调节柄;302b、第二轴向调节柄;303、待测台;303a、V型槽;
4、光阑调节组件;401、微调位移台;401a、调节手柄;402、连接座;403、挡光片;403a、光阑孔;
5、功率计调节组件;501、第一升降台;501a、第一调节柄;502、功率计探头;6、待测光纤。
具体实施方式
为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。
因此,以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围,而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
在本实用新型的描述中,需要说明的是,术语“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系,仅是为了便于描述本实用新型和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本实用新型的限制。此外,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。在本实用新型的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
在本实用新型的描述中,还需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“设置”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。
在本实用新型中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触,也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。
下面详细描述本实用新型的实施例,所述实施例的示例在附图中示出,其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,仅用于解释本实用新型,而不能理解为对本实用新型的限制。
如图1和2所示,本实施例公开了一种用于测试激光发散角的工装,其包括测试平台1、滑动组件2、光纤调节组件3、光阑调节组件4和功率计调节组件5。
滑动组件2包括滑轨201、滑块202、第一滑座203b和第二滑座203a,滑轨201固定在测试平台1上,具体通过螺丝安装在测试平台1上,滑轨201沿X轴设置,第一滑座203b和第二滑座203a上均设置有滑块202,滑块202滑动地设置在滑轨201上。第一滑座203b靠近光阑调节组件4设置。具体地,滑动组件2包括两个间隔设置的滑轨201,第一滑座203b和第二滑座203a上均设置有两个滑块202,两个滑块202分别设置在两个滑轨201上。
每根滑轨201的首尾段各有一处销孔,销孔与定位销204采用间隙配合,定位销204安装于测试平台1上,两定位销204点成线,用以约束滑轨201的位置且保证其相对平行度。
两根平行的滑轨201之间的间距为100mm-150mm。本实施例优选为130mm,滑轨201的长度为600mm,可根据实际尺寸调整,滑轨201安装时可以采用其他方式定位,如销钉线接触、台阶面接触等。
光纤调节组件3设置在滑轨201的一端,光纤调节组件3设置在测试平台1上,待测光纤6固定于光纤调节组件3上,光纤调节组件3能够在X轴、Y轴和Z轴方向调节待测光纤6的位置。具体地,光纤调节组件3包括第二升降台301、双轴微调位移台302和待测台303,第二升降台301设置在测试平台1上,具体通过螺钉安装在测试平台1上。双轴微调位移台302设置在第二升降台301上,第二升降台301能够沿Z轴调节双轴微调位移台302的高度,具体地,第二升降台301上设置有第二调节柄301a,旋转第二调节柄301a能够调节双轴微调位移台302的高度。第二升降台301在垂直方向上调节行程为100mm,调节精度为0.01mm。
待测台303设置在双轴微调位移台302上,具体地,待测台303通过螺钉安装于双轴微调位移台302上。具体可以根据测试需要对待测台303进行更换。使该工装的应用范围增加。双轴微调位移台302能够沿X轴和Y轴调节待测台303的位置,待测光纤6固定在待测台303上。具体地,双轴微调位移台302上设置有第一轴向调节柄302a和第二轴向调节柄302b,旋转第一轴向调节柄302a能够沿X轴调节待测台303的位置,旋转第二轴向调节柄302b能够沿Y轴调节待测台303的位置。双轴微调位移台302的移动类型为分厘卡式驱动结构,在X轴方向与Y轴方向调节行程均为13mm,调节精度为0.01mm。
待测台303上设置有V型槽303A,待测光纤6放置在V型槽303A内。待测台303上设置有多个V型槽303A,所有的V型槽303A的尺寸都不一致,即可以使该待测台303适用于不同型号的待测光纤6。本实施例中,待测台303上有三种V型槽303A,槽深分别为:0.2mm、0.6mm、1mm。
光阑调节组件4设置在第一滑座203b上,光阑调节组件4滑动地设置在测试平台1上,光阑调节组件4能够沿X轴移动,光阑调节组件4上可拆卸地设置有挡光片403,挡光片403上设置有光阑孔403a,待测光纤6的激光束能够穿过光阑孔403a。具体地,光阑调节组件4包括微调位移台401和连接座402,微调位移台401设置在第一滑座203b上,连接座402设置在微调位移台401上,具体通过螺钉固定在微调位移台401的台面上。微调位移台401能够沿X轴微调连接座402的位置,挡光片403可拆卸地设置在连接座402上。具体地,在微调位移台401上设置有调节手柄401a,可通过旋拧调节手柄401a对挡光片403在X轴方向上做细微调整。微调位移台401的移动类型为螺杆线性传导结构,在X轴方向的调节行程为50mm,调节精度为0.01mm。通过第二升降台301和双轴微调位移台302的调节,使待测光纤6的激光束与光阑孔403a同轴,以使待测光纤6的激光束能够穿过光阑孔403a。
连接座402上设置有限位台阶,可以实现挡光片403的快速定位与切换。挡光片403的光阑孔403a有五种孔径,设计孔径分别:φ30、φ20、φ10、φ5、φ3,可根据实际需求设计多种孔径型号的挡光片403,挡光片403的光阑孔403a型号应与待测光纤6出射光束的光斑规格适配。
功率计调节组件5包括第一升降台501和功率计探头502,第一升降台501滑动地设置在测试平台1上,第一升降台501能够沿X轴移动,具体地,第一升降台501设置在第二滑座203a上。功率计探头502设置在第一升降台501上,第一升降台501能够沿Z轴调节功率计探头502的高度,具体地,第一升降台501上设置有第一调节柄501a,旋转第一调节柄501a能够调节功率计探头502的高度,目的是可以使功率计探头502与挡光片403的光阑孔403a同轴,以使功率计探头502能够接收穿过光阑孔403a的激光束。
根据待测光纤6的型号选取相对应的挡光片403,将挡光片403安装在连接座402上。挡光片403的光阑孔403a的高度固定,且整体只允许在X轴向移动,先根据光阑孔403a的位置对待测台303在X轴、Y轴及Z轴进行微调,使得待测台303上的待测光纤6射出的激光束与光阑孔403a同轴。然后调节功率计探头502的高度,使之与光阑孔403a同轴。调整完毕后,待测台303上的V型槽303A坐标即设为参照点,光阑调节组件4及功率计调节组件5在X轴向上的位置均以此点为参照进行调节。
待测光纤6射出的激光束光斑需在功率计探头502有效的接收范围内,当出光功率达到100%,即可大致确定功率计探头502在X轴、Y轴Z轴方向的位置。插入与待测光纤6规格相对应的挡光片403,平移光阑调节组件4初步确定挡光片403的位置,使功率计探头502所获得光束的出光功率在85%-88%区间内,通过旋拧调节手柄401a对挡光片403的位置进行微调,当功率计显示出光功率达到86.5%时,此时可以有效地获取理想的测试效果,从而可以通过计算公式测出该激光束的发散角。近似发散角θ=D/2△L,D为光阑孔403a的直径,△L为挡光片403到待测光纤的距离。通过上述方式可以测试激光束的发散角,以便对光纤产品的光学指标进行筛选,保证了同规格光纤性能一致性,满足研发及生产的质量需求,提高了产品的质量;且该工装结构简单实用。
显然,本实用新型的上述实施例仅仅是为了清楚说明本实用新型所作的举例,而并非是对本实用新型的实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说,在上述说明的基础上还可以做出其它不同形式的变化或变动。这里无需也无法对所有的实施方式予以穷举。凡在本实用新型的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本实用新型权利要求的保护范围之内。
Claims (10)
1.一种用于测试激光发散角的工装,其特征在于,包括:
测试平台(1);
光纤调节组件(3),其设置在所述测试平台(1)上,待测光纤(6)固定于所述光纤调节组件(3)上,所述光纤调节组件(3)能够在X轴、Y轴和Z轴方向调节所述待测光纤(6)的位置;
光阑调节组件(4),其滑动地设置在所述测试平台(1)上,所述光阑调节组件(4)能够沿所述X轴移动,所述光阑调节组件(4)上可拆卸地设置有挡光片(403),所述挡光片(403)上设置有光阑孔(403a),所述待测光纤(6)的激光束能够穿过所述光阑孔(403a);
功率计调节组件(5),其包括第一升降台(501)和功率计探头(502),所述第一升降台(501)滑动地设置在所述测试平台(1)上,所述第一升降台(501)能够沿所述X轴移动,所述功率计探头(502)设置在所述第一升降台(501)上,所述第一升降台(501)能够沿Z轴调节所述功率计探头(502)的高度,所述功率计探头(502)用于接收穿过所述光阑孔(403a)的激光束;
通过所述挡光片(403)和所述待测光纤(6)之间的距离,以及所述光阑孔的直径计算得到所述激光束的发散角。
2.根据权利要求1所述的用于测试激光发散角的工装,其特征在于,所述第一升降台(501)上设置有第一调节柄(501a),旋转所述第一调节柄(501a)能够调节所述功率计探头(502)的高度。
3.根据权利要求1所述的用于测试激光发散角的工装,其特征在于,还包括滑动组件(2),其包括滑轨(201)、滑块(202)、第一滑座(203b)和第二滑座(203a),所述滑轨(201)固定在所述测试平台(1)上,所述滑轨(201)沿X轴设置,所述光纤调节组件(3)设置在所述滑轨(201)的一端;
所述第一滑座(203b)和所述第二滑座(203a)上均设置有所述滑块(202),所述第一滑座(203b)靠近所述光纤调节组件(3)的一端,所述滑块(202)滑动地设置在所述滑轨(201)上,所述光阑调节组件(4)设置在所述第一滑座(203b)上,所述第一升降台(501)设置在所述第二滑座(203a)上。
4.根据权利要求3所述的用于测试激光发散角的工装,其特征在于,所述滑动组件(2)包括两个间隔设置的所述滑轨(201),所述第一滑座(203b)和所述第二滑座(203a)上均设置有两个所述滑块(202),两个所述滑块(202)分别设置在两个所述滑轨(201)上。
5.根据权利要求1所述的用于测试激光发散角的工装,其特征在于,所述光纤调节组件(3)包括第二升降台(301)、双轴微调位移台(302)和待测台(303),所述第二升降台(301)设置在所述测试平台(1)上,所述双轴微调位移台(302)设置在所述第二升降台(301)上,所述第二升降台(301)能够沿所述Z轴调节所述双轴微调位移台(302)的高度,所述待测台(303)设置在所述双轴微调位移台(302)上,所述双轴微调位移台(302)能够沿所述X轴和所述Y轴调节所述待测台(303)的位置,所述待测光纤(6)固定在所述待测台(303)上。
6.根据权利要求5所述的用于测试激光发散角的工装,其特征在于,所述双轴微调位移台(302)上设置有第一轴向调节柄(302a)和第二轴向调节柄(302b),旋转第一轴向调节柄(302a)能够沿所述X轴调节所述待测台(303)的位置,旋转所述第二轴向调节柄(302b)能够沿所述Y轴调节所述待测台(303)的位置。
7.根据权利要求6所述的用于测试激光发散角的工装,其特征在于,所述第二升降台(301)上设置有第二调节柄(301a),旋转所述第二调节柄(301a)能够调节所述双轴微调位移台(302)的高度。
8.根据权利要求5所述的用于测试激光发散角的工装,其特征在于,所述待测台(303)上设置有V型槽(303A),所述待测光纤(6)放置在所述V型槽(303A)内。
9.根据权利要求8所述的用于测试激光发散角的工装,其特征在于,所述待测台(303)上设置有多个所述V型槽(303A),所有的所述V型槽(303A)的尺寸都不一致。
10.根据权利要求3所述的用于测试激光发散角的工装,其特征在于,所述光阑调节组件(4)包括微调位移台(401)和连接座(402),所述微调位移台(401)设置在所述第一滑座(203b),所述连接座(402)设置在所述微调位移台(401)上,所述微调位移台(401)能够沿X轴微调所述连接座(402)的位置,所述挡光片(403)可拆卸地设置在所述连接座(402)上。
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CN202121588860.3U CN216309385U (zh) | 2021-07-13 | 2021-07-13 | 一种用于测试激光发散角的工装 |
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GR01 | Patent grant | ||
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