CN216248083U - 一种用于集成电路测试的探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于集成电路测试的探针，涉及电路检测装置技术领域。本实用新型包括针管、针轴和安装板，针管内部开设有缓冲槽，针轴安装于缓冲槽内部，针管一端固定连接有固定板，固定板右侧壁固定连接有若干插柱，安装板一侧壁开设有若干插槽，插柱与插槽卡装配合，插槽一表面开设有弹簧槽，弹簧槽内表面连接有记忆弹簧，记忆弹簧一端连接有卡块，卡块与卡槽卡装配合。本实用新型通过设置安装板、固定板、插柱、卡槽和卡块，让该探针可以轻松组装，极大地提升了组装效率和后期维护的效率。

Description

一种用于集成电路测试的探针

技术领域

本实用新型属于电路检测装置技术领域，特别是涉及一种用于集成电路测试的探针。

背景技术

探针是电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件。探针卡为半导体工艺中常使用于检测电路的元件，其内排列设置有多个探针，探针的排列位置与此探针卡欲检测的待测电路板上的电路配置相对应。探针卡通常设置在一检测机台之上，待测电路板以一工具夹持并且压制于探针上,使得各探针导通待测电路板上的电路，用探针来检测待测电路板上的电路是否正常运作。

现有的探针为微小的元件，其结构复杂,零件制作及组装效率低，因此，提出一种用于集成电路测试的探针。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于集成电路测试的探针，解决现有的探针为微小的元件，其结构复杂,零件制作及组装效率低的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

本实用新型为一种用于集成电路测试的探针，包括针管、针轴和安装板，所述针管内部开设有缓冲槽，所述针轴安装于缓冲槽内部，所述针管一端固定连接有固定板，所述固定板右侧壁固定连接有若干插柱，所述安装板一侧壁开设有若干插槽，所述插柱与插槽卡装配合，所述插槽一表面开设有弹簧槽，所述弹簧槽内表面连接有记忆弹簧，所述记忆弹簧一端连接有卡块，所述卡块与卡槽卡装配合，取下安装板可以对针轴金属球和缓冲弹簧进行组装，再将安装板盖合，即可完成组装；插柱插入插槽中，卡块受到挤压，被收缩至弹簧槽中，当弹簧槽位置与卡槽对齐时，记忆弹簧将卡块弹出，卡块卡入卡槽中，从而使安装板被锁紧，让该探针可以轻松组装，极大地提升了组装效率。

所述弹簧槽内表面开设有通孔，所述卡块上表面固定连接有拉柱，所述拉柱贯穿通孔；当针轴长时间使用接触不良需要更换时，拉动拉柱，拉柱带动卡块至弹簧槽中，从而取下安装板，对针轴轻松更换，提升了该探针后期维护的效率。

所述针轴一端开设有安装槽，所述安装槽内部安装有滚珠，滚珠避免针头磨损电路板，提升电路测试过程中的稳定性，有效地保护电路板。

所述缓冲槽内部安装有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧与针轴之间设置有金属球，缓冲弹簧让针轴有良好的缓冲效果，金属球减少针轴的磨损，让针轴更耐用。

所述针轴周侧面安装有限位套。

所述安装板内侧壁安装有导电片。

所述导电片一侧壁固定连接有限位柱，所述限位柱位于缓冲弹簧内侧，限位柱对缓冲弹簧进行限位，避免缓冲弹簧错位。

本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型通过设置安装板、固定板、插柱、卡槽和卡块，让该探针可以轻松组装，极大地提升了组装效率；通过设置通孔和拉柱，当针轴长时间使用接触不良需要更换时，拉动拉柱，拉柱带动卡块至弹簧槽中，从而取下安装板，对针轴轻松更换，提升了该探针后期维护的效率；通过设置滚珠，避免针头磨损电路板，提升电路测试过程中的稳定性，有效地保护电路板；通过设置金属球，减少针轴的磨损，让针轴更耐用。

当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为一种用于集成电路测试的探针的等轴侧立体结构示意图；

图2为一种用于集成电路测试的探针的上视结构示意图；

图3为图2中A-A剖面结构示意图；

图4为图3中B部分局部放大图；

图5为一种用于集成电路测试的探针的右侧立体结构示意图。

附图中，各标号所代表的部件列表如下：1、针管；2、缓冲槽；3、针轴；4、安装槽；5、滚珠；6、限位套；7、固定板；8、安装板；9、缓冲弹簧；10、金属球；11、限位柱；12、导电片；13、插柱；14、插槽；15、卡槽；16、弹簧槽；17、记忆弹簧；18、卡块；19、通孔；20、拉柱。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“上”、“中”、“外”、“内”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

请参阅图1-5所示，本实用新型为一种用于集成电路测试的探针，包括针管1、针轴3和安装板8，针管1内部开设有缓冲槽2，针轴3安装于缓冲槽2内部，针管1一端固定连接有固定板7，固定板7右侧壁固定连接有若干插柱13，安装板8一侧壁开设有若干插槽14，插柱13与插槽14卡装配合，插槽14一表面开设有弹簧槽16，弹簧槽16内表面连接有记忆弹簧17，记忆弹簧17一端连接有卡块18，卡块18与卡槽15卡装配合，取下安装板8可以对针轴3金属球10和缓冲弹簧9进行组装，再将安装板8盖合，即可完成组装；插柱13插入插槽14中，卡块18受到挤压，被收缩至弹簧槽16中，当弹簧槽16位置与卡槽15对齐时，记忆弹簧17将卡块18弹出，卡块18卡入卡槽15中，从而使安装板8被锁紧，让该探针可以轻松组装，极大地提升了组装效率。

弹簧槽16内表面开设有通孔19，卡块18上表面固定连接有拉柱20，拉柱20贯穿通孔19；当针轴3长时间使用接触不良需要更换时，拉动拉柱20，拉柱20带动卡块18至弹簧槽16中，从而取下安装板8，对针轴3轻松更换，提升了该探针后期维护的效率。

针轴3一端开设有安装槽4，安装槽4内部安装有滚珠5，滚珠5避免针头磨损电路板，提升电路测试过程中的稳定性，有效地保护电路板。

缓冲槽2内部安装有缓冲弹簧9，缓冲弹簧9与针轴3之间设置有金属球10，缓冲弹簧9让针轴3有良好的缓冲效果，金属球10减少针轴3的磨损，让针轴3更耐用。

针轴3周侧面安装有限位套6。

安装板8内侧壁安装有导电片12。

导电片12一侧壁固定连接有限位柱11，限位柱11位于缓冲弹簧9内侧，限位柱11对缓冲弹簧9进行限位，避免缓冲弹簧9错位。

如图1-5所示本实施例为一种用于集成电路测试的探针的使用方法：取下安装板8可以对针轴3金属球10和缓冲弹簧9进行组装，再将安装板8盖合，即可完成组装；插柱13插入插槽14中，卡块18受到挤压，被收缩至弹簧槽16中，当弹簧槽16位置与卡槽15对齐时，记忆弹簧17将卡块18弹出，卡块18卡入卡槽15中，从而使安装板8被锁紧，让该探针可以轻松组装；当针轴3长时间使用接触不良需要更换时，拉动拉柱20，拉柱20带动卡块18至弹簧槽16中，从而取下安装板8，对针轴3轻松更换；滚珠5避免针头磨损电路板，提升电路测试过程中的稳定性，有效地保护电路板，缓冲弹簧9让针轴3有良好的缓冲效果，金属球10减少针轴3的磨损，让针轴3更耐用，限位柱11对缓冲弹簧9进行限位，避免缓冲弹簧9错位。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

以上公开的本实用新型优选实施例只是用于帮助阐述本实用新型。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该实用新型仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本实用新型的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本实用新型。本实用新型仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (7)

1.一种用于集成电路测试的探针，包括针管(1)、针轴(3)和安装板(8)，其特征在于：所述针管(1)内部开设有缓冲槽(2)，所述针轴(3)安装于缓冲槽(2)内部，所述针管(1)一端固定连接有固定板(7)，所述固定板(7)右侧壁固定连接有若干插柱(13)，所述安装板(8)一侧壁开设有若干插槽(14)，所述插柱(13)与插槽(14)卡装配合，所述插槽(14)一表面开设有弹簧槽(16)，所述弹簧槽(16)内表面连接有记忆弹簧(17)，所述记忆弹簧(17)一端连接有卡块(18)，所述卡块(18)与卡槽(15)卡装配合。

2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的探针，其特征在于，所述弹簧槽(16)内表面开设有通孔(19)，所述卡块(18)上表面固定连接有拉柱(20)，所述拉柱(20)贯穿通孔(19)。

3.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的探针，其特征在于，所述针轴(3)一端开设有安装槽(4)，所述安装槽(4)内部安装有滚珠(5)。

4.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的探针，其特征在于，所述缓冲槽(2)内部安装有缓冲弹簧(9)，所述缓冲弹簧(9)与针轴(3)之间设置有金属球(10)。

5.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的探针，其特征在于，所述针轴(3)周侧面安装有限位套(6)。

6.根据权利要求1所述的一种用于集成电路测试的探针，其特征在于，所述安装板(8)内侧壁安装有导电片(12)。

7.根据权利要求6所述的一种用于集成电路测试的探针，其特征在于，所述导电片(12)一侧壁固定连接有限位柱(11)，所述限位柱(11)位于缓冲弹簧(9)内侧。

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