CN216122421U - 误码测试模块 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种误码测试模块，包括与外部连接的金手指、通过金手指与外部收发信号的收发芯片和与收发芯片连接的控制模块；收发芯片产生伪随机码序列通过通信接口输出，收发芯片接收通过金手指输入的待比较信号；控制模块控制收发芯片对伪随机码序列和待比较信号进行比较；所述误码测试模块不使用同轴电缆连接；通过简单的电气元件实现误码测试的功能，实现误码测试设备的小型化，便携化，应用场景多样化，采用金手指能够有效将误码测试模块小型化，缩小尺寸，并大幅度降低误码测试的成本，降低误码测试设备的可维护性和更换成本。

Description

误码测试模块

技术领域

本实用新型涉及数字通信系统的技术领域，特别涉及一种误码测试模块。

背景技术

随着信息技术的迅猛发展，信息传递已成为日常生活中重要的一部分，信息传递的可靠性显得原来越重要。数字通信因其通信质量不受距离的影响、通信保密性好、抗干扰能力强等特点而成为传递信息的首选，得到广泛应用和迅速发展。因为误码直接破坏了信息传递的正确性，所以误码是影响数字通信系统的最重要因素，误码仪作为评估数据传输通道质量的重要工具被广泛地应用，特别是近年来，随着信息传输速率的不断提高，误码仪速率已从原来的几百兆到现在的几百吉。但目前国内的误码仪产品品种少，国内高端误码仪市场多被国外产品所垄断。目前专用的误码仪设备都是通过高频电缆把误码仪和测试夹具相联，进行光模块误码测试。在现有的技术方案下，专用的误码测试系统为专用设备，不便于携带，且成本非常高，特别是针对200Gbps、400Gbps、800Gbps及以上速率的高速光模块测试设备，价格更是高昂。测试设备的核心为误码测试模块，与设备一体设置，不仅成本高，而且设备本身的检修不方便。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服现有技术的不足，提供一种结构简单的误码测试模块。

本实用新型采用以下技术方案：误码测试模块，包括与外部连接的金手指、通过金手指与外部收发信号的收发芯片和与收发芯片连接的控制模块；

收发芯片产生伪随机码序列通过金手指输出，收发芯片接收通过金手指输入的待比较信号；控制模块控制收发芯片对伪随机码序列和待比较信号进行比较；

所述误码测试模块不使用同轴电缆连接。

同轴电缆连接包括同轴电缆和同轴连接器的连接。

进一步，还包括外壳；

收发芯片和控制模块通过PCB板电气连接，金手指与PCB板一体设置，金手指在PCB板一端；所述外壳至少设置一端开口，收发芯片、控制模块设置在外壳内部，金手指设置在外壳开口一侧。

进一步，还包括参考时钟，所述参考时钟与收发芯片连接。

进一步，所述外壳呈长方体状，外壳开口侧的尺寸大小与待测光模块尺寸一致。

进一步，所述收发芯片为高速收发芯片。

本实用新型的有益效果为：通过简单的电路设计实现误码测试的功能，实现误码测试设备的小型化，便携化，应用场景多样化，采用金手指能够有效将误码测试模块小型化，缩小尺寸，并大幅度降低误码测试的成本，降低误码测试设备的可维护性和更换成本。

进一步的，将收发芯片、控制模块等封装在外壳之内，可以保护芯片、控制模块，同时也便于携带误码测试模块。

进一步的，参考时钟可以提供误码测试模块眼图测试功能，丰富误码测试设备的功能。

进一步的，外壳的开口侧的截面与光模块尺寸一致，可以将误码测试模块与光模块插座连接，现实接口的尺寸标准化和误码测试模块的小型化。

进一步的，采用高速收发芯片，能够将高速光模块的测试设备用小巧、便携的误码测试模块替代，大幅度降低误码测试成本。高速收发模块采用10G高速收发芯片或40G高速收发芯片或100G或400G或800G高速收发芯片，能否对相应速率的高速光模块进行误码测试。而且使用不同速率的高速收发芯片的误码测试模块，通过金手指能够简单快速的进行更换，方便对不同速率的光模块进行测试。

附图说明

图1是本实用新型误码测试模块的原理结构示意图；

图2是本实用新型误码测试模块的一种实施例的结构示意图；

图3是本实用新型误码测试模块的另一种实施例的结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的具体实施例做详细说明。

图1、图2示出了本实用新型一种误码测试模块，包括与外部连接的金手指1、通过金手指1与外部收发信号的收发芯片2和与收发芯片连接控制模块3。所述收发芯片2能够产生伪随机码序列，收发芯片2能够接收通过金手指1送达的待比较信号，且收发芯片2在控制模块3的控制下能够对伪随机码序列和待比较信号进行比较。

本实用新型在实施时，如图2所示，金手指1、收发芯片2和控制模块3通过PCB板实现电气连接，金手指1和PCB一体设置，金手指1设置PCB的一端，金手指1通过PCB板与收发芯片2实现电气连接，收发芯片2与控制模块3通过PCB板实现电气连接。误码测试模块的各个电气元件之间，以及误码测试模块与外部连接均不采用同轴线缆、同轴连接器的方式连接。

本实施例中，金手指1与外部接口连接，通过金手指1实现对误码测试模块进行供电，通过控制模块3控制收发芯片2产生伪随机码序列，伪随机码序列通过金手指1向外发送并到达光模块，伪随机码序列经光电转换后转换成光信号并通过光纤接口输出，经过光纤会回路后，光信号输入到光纤输入接口，光信号经过光模块在光电转换成待比较信号的电信号，待比较信号经过金手指1输送至收发芯片2，收发芯片2接收到待比较信号并在控制模块3的作用下将伪随机码序列与待比较信号进行比较，对比较结果进行计算，即出错的位数与传输信号的中位数的比值为误码率。

作为一种具体的实施方式，收发芯片2为高速收发芯片。收发芯片2的速率与待测光模块的速率一致，即当测试100G光模块时，采用的收发芯片2的速率为100G。

作为一种具体的实施方案，控制模块可以是单片机模块，具体的可以是DSP嵌入式单片机模块或者ARM构架的单片机模块或者其他类型单片机。

通过将收发芯片2、控制模块3设置在PCB板，以及将误码测试模块对外接口采用金手指1，极大地缩小了误码测试模块的体积，简化了误码测试模块，降低误码测试模块的成本。在实际使用中，误码测试模块通过专用的外围电路，将对光模块进行测试的设备小型化，便携化，扩展光模块测试的场景，为光模块测试提供便利。例如，可以使用带有误码测试模块的测试设备在实验室对光模块进行测试，也可以在现场对光模块进行测试；而且误码测试模块结构简单，制造成本低，通过金手指1的连接方式，将误码测试功能进行模块化，通过更换不同速率的误码测试模块即可对不同速率的光模块进行测量；即便于误码测试模块的检修、更换，更提高误码测试设备的使用灵活性。

作为一种具体的实施方式，还包括外壳4，收发芯片2、控制模块3设置在外壳4内部；外壳4至少一端开口，外壳4的开口处设置在金手指1处，金手指1可与外部电路进行连接。

如图2所示，所述外壳4呈长方体，在外壳4的左侧设置开口，开口处可以使金手指1与外部电路连接。

本实施例在具体实施时，如图2所示，外壳分为上下两部分，通过上下两部分组合成一体，该结构设计便于制造和安装。采用长方体外状的外壳4能够保护外壳内部的芯片收到灰尘的干扰；且具有外壳4的误码测试模块便于安装和携带，可以携带至需要各个工作环境使用。

作为一种具体的实施方式，误码测试模块可以使用经过检验合格的光模块替代。

本实施例在使用时，经过检验的光模块代替误码测试模块使用，光模块的光纤结构不接入光纤使用。本实施例能够就地取材，且降低生成成本。此时误码测试模块的接口及尺寸均与待测试光模块一致。

作为一种具体的实施方式，如图3所示，还包括参考时钟5，所述参考时钟5与收发芯片2电气连接。

本实施在使用时，参考时钟5和伪随机码序列信号及待比较信号同步，实现眼图的测试。

作为一种具体的实施方式，所述参考时钟5集成在收发芯片2中，能够简化电路设置，精简机构。

本实用新型的误码测试模块可用于光模块的测试。本申请旨在涵盖本实用新型的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本实用新型的一般性原理并包括本实用新型未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。说明书和实施例仅被视为示例性的，本实用新型的保护范围由权利要求所指出。

应当理解的是，本实用新型并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本实用新型的范围仅由所附的权利要求来限制。

Claims (5)

1.误码测试模块，其特征在于，包括与外部连接的金手指(1)、通过金手指(1)与外部收发信号的收发芯片(2)和与收发芯片连接的控制模块(3)；

收发芯片(2)产生伪随机码序列通过金手指(1)输出，收发芯片(2)接收通过金手指(1)输入的待比较信号；控制模块(3)控制收发芯片(2)对伪随机码序列和待比较信号进行比较；

所述误码测试模块不使用同轴电缆连接。

2.根据权利要求1所述的误码测试模块，其特征在于，还包括外壳(4)；

收发芯片(2)和控制模块(3)通过PCB板电气连接，金手指(1)与PCB板一体设置，金手指(1)在PCB板一端；所述外壳(4)至少设置一端开口，收发芯片(2)、控制模块设置在外壳(4)内部，金手指设置在外壳(4)开口一侧。

3.根据权利要求2所述的误码测试模块，其特征在于，还包括参考时钟(5)，所述参考时钟(5)与收发芯片(2)电气连接。

4.根据权利要求2或3所述的误码测试模块，其特征在于，所述外壳(4)呈长方体状，外壳(4)开口侧的尺寸大小与待测光模块尺寸一致。

5.根据权利要求1或2或3所述的误码测试模块，其特征在于，所述收发芯片(2)为高速收发芯片。

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