CN216117885U - 电平转换芯片测试电路 - Google Patents

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Abstract

本申请实施例提供一种电平转换芯片测试电路,应用于逻辑板,逻辑板上设置有目标电平转换芯片,测试电路包括:控制芯片、分压限流电路、第一开关电路、第二开关电路和报警电路;控制芯片的第一信号输出端与目标电平转换芯片的信号输入端连接;第一开关电路的使能端和第二开关电路的使能端均经由分压限流电路与目标电平转换芯片的输出端连接;第一开关电路的输出端和第二开关电路的输出端均与控制芯片的第一信号输入端连接;第一开关电路的输入端连接电源;第二开关电路的输入端接地;报警电路的使能端与控制芯片的第二信号输出端连接。本申请实施例实现了对逻辑板上的电平转换芯片的有效检测。

Description

电平转换芯片测试电路
技术领域
本申请实施例涉及电平转换芯片领域,特别是涉及一种电平转换芯片测试电路。
背景技术
TCON(Timer Control,时序控制器)板又称屏驱动板或逻辑板,是液晶电视中重要的组成部分,TCON板通过将数字板送来的LVDS(Low Voltage Differential Signaling,低压差分信号技术接口)图像数据输入信号进行处理后,转换成能驱动液晶屏的LVDS信号,再直接送往液晶屏的LVDS接收芯片。
TCON板包括主控芯片、电源管理芯片(Power Management IC,PMIC)、伽马(GAMMA)调节芯片和电平转换芯片(Level Shifer IC)。在工厂生产时,需要对TCON板上的所有芯片进行测试,通过测试拦截不良的产品,以保证产品生产的质量。一些技术中,在对TCON板进行测试时,对于主控芯片可以通过电脑成像的方式来进行判断,电源管理芯片和伽马调节芯片可以通过自动测试电压值来进行判断。在实现的过程中,发现:由于电平转换芯片输出的是高低状态不断变换的信号,因此,在进行自动化测试时,无法对电平转换芯片进行测试。
实用新型内容
为克服相关技术中存在的问题,本申请提供了一种电平转换芯片测试电路,其具有可实现对逻辑板上的电平转换芯片进行测试的优点。
根据本申请实施例的一个方面,提供一种电平转换芯片测试电路,应用于逻辑板,所述逻辑板上设置有目标电平转换芯片,所述测试电路包括:控制芯片、分压限流电路、第一开关电路、第二开关电路和报警电路;
所述控制芯片包括第一信号输出端、第二信号输出端和第一信号输入端;所述控制芯片的第一信号输出端与所述目标电平转换芯片的信号输入端连接;
所述第一开关电路的使能端和所述第二开关电路的使能端均经由所述分压限流电路与所述目标电平转换芯片的输出端连接;所述第一开关电路的输出端和所述第二开关电路的输出端均与所述控制芯片的第一信号输入端连接;所述第一开关电路的输入端连接电源;所述第二开关电路的输入端接地;
所述报警电路的使能端与所述控制芯片的第二信号输出端连接。
本申请实施例通过设置第一开关电路和第二开关电路,使所述第一开关电路的使能端和所述第二开关电路的使能端均经由所述分压限流电路与所述目标电平转换芯片的输出端连接;所述第一开关电路的输出端和所述第二开关电路的输出端均与所述控制芯片的第一信号输入端连接;所述第一开关电路的输入端连接电源;所述第二开关电路的输入端接地;所述控制芯片的第二信号输出端与所述报警电路的使能端连接,进而根据第一开关电路和第二开关电路分别导通高低变换的电平信号,通过报警电路来提示目标电平转换芯片是否发生异常,从而实现对逻辑板上电平转换芯片的有效检测,相比于将逻辑板连接液晶屏后,根据液晶屏的显示情况来间接测试电平转换芯片的方式,本申请的测试电路更加方便,更加快捷。
在一个示例性实施例中,所述控制芯片为所述逻辑板的主控芯片,进而无需额外采用其他控制芯片进行测试,节省测试成本。
在一个示例性实施例中,所述报警电路为所述逻辑板的电源管理芯片和电压采集模块,所述电源管理芯片的使能端与所述控制芯片的第二信号输出端连接,所述电压采集模块的输入端与所述电源管理芯片的输出端连接。
在一个示例性实施例中,所述分压限流电路包括第一电阻;所述第一电阻的第一连接端与所述目标电平转换芯片的输出端连接;所述第一电阻的第二连接端与所述控制芯片的第一信号输入端连接,以通过所述第一电阻对所述目标电平转换芯片输出的信号进行分压,以防止损坏所述第一开关电路和所述第二开关电路。
在一个示例性实施例中,所述分压限流电路还包括第二电阻;所述第二电阻的第一连接端与所述第一电阻的第二连接端连接;所述第二电阻的第二连接端接地,以通过所述第二电阻对所述目标电平转换芯片输出的信号进行限流,以防止损坏所述第一开关电路和所述第二开关电路。
应当理解的是,以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的,并不能限制本申请。
为了更好地理解和实施,下面结合附图详细说明本实用新型。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请一个实施例示出的电平转换芯片测试电路的电路图;
图2为本申请另一个实施例示出的电平转换芯片测试电路的电路图。
具体实施方式
为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本申请实施例方式作进一步地详细描述。
应当明确,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本申请保护的范围。
下面的描述涉及附图时,除非另有表示,不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。
在本申请的描述中,需要理解的是,术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序,也不能理解为指示或暗示相对重要性。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本申请中的具体含义。在本申请和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式,除非上下文清楚地表示其他含义。在此所使用的词语“如果”/“若”可以被解释成为“在……时”或“当……时”或“响应于确定”。此外,在本申请的描述中,除非另有说明,“多个”是指两个或两个以上。“和/或”,描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
为更好的了解本申请的技术方案,在此,对本申请涉及的相关名词进行说明。
TCON(Timer Control,时序控制器)板又称屏驱动板或逻辑板,是液晶电视中重要的组成部分。TCON板包括主控芯片、电源管理芯片(Power Management IC,PMIC)、伽马(GAMMA)调节芯片和电平转换芯片(Level Shifer IC)。
所述主控芯片用于将输入的LVDS图像信号转换成液晶屏的LVDS信号;所述电源管理芯片用于将12V输入电压转换成TCON板以及液晶频需要的电压,如+3.3V、VGL、VGH、VREF、VAA和VDD等电压。所述伽马调节芯片用于明暗度调节、色彩控制以及实现动态的GAMMA曲线调节;所述电平转换芯片用于将来自所述主控芯片的0V、3.3V的逻辑电压转换为液晶屏需要的20V以上开启电压和-5V以下关断电压。
请参阅图1,其是本申请一个实施例示出的电平转换芯片测试电路的电路图。本申请实施例的电平转换芯片测试电路,应用于逻辑板,所述逻辑板上设置有目标电平转换芯片60,该目标电平转换芯片60与该测试电路连接,所述测试电路包括:控制芯片10、分压限流电路20、第一开关电路30、第二开关电路40和报警电路50。
所述控制芯片10包括第一信号输出端11、第二信号输出端12和第一信号输入端13;所述控制芯片10的第一信号输出端11与目标电平转换芯片60的信号输入端62连接,以向所述目标电平转换芯片60输入高低电平变换的信号。所述第一开关电路30的使能端和所述第二开关电路40的使能端均经由所述分压限流电路20与所述目标电平转换芯片60的输出端61连接;所述第一开关电路30的输出端和所述第二开关电路40的输出端均与所述控制芯片10的第一信号输入端13连接;所述第一开关电路30的输入端连接电源DVDD;所述第二开关电路40的输入端接地;所述报警电路50的使能端与所述控制芯片10的第二信号输出端12连接。
当所述目标电平转换芯片60接收到所述控制芯片10传输的高低电平变换的信号后,将进行电平转换,并通过所述目标电平转换芯片60的输出端61和所述分压限流电路20,将转换后的高低电平输送到输出到所述第一开关电路30和第二开关电路40。进一步的,当所述目标电平转换芯片60输出为高电平时,所述第一开关电路30导通,所述第二开关电路40不导通,进而使所述控制芯片10的第一信号输入端13经由第一开关电路30与电源DVDD连接,从而使所述控制芯片10获得高电平信号;当所述目标电平转换芯片60输出为低电平时,所述第一开关电路30不导通,所述第二开关电路40导通,进而使所述控制芯片10的第一信号输入端13经由第二开关电路40接地,从而使所述控制芯片10获得低电平信号。若所述控制芯片10接收的高低电平变换信号和所述控制芯片10发送的高低电平变换信号相同,所述控制芯片10将通过所述第二信号输出端12向所述报警电路50的使能端输送使能信号,使所述报警电路50正常工作,以提示所述目标电平转换芯片60正常。例如,当所述控制芯片10向所述目标电平转换芯片60发送高电平信号时,所述控制芯片10可对应接收到所述目标电平转换芯片60传输的高电平信号,或当所述控制芯片10向所述目标电平转换芯片60发送低电平信号时,所述控制芯片10可对应接收到所述目标电平转换芯片60传输的低电平信号,则确定所述控制芯片10接收的高低电平变换信号和所述控制芯片10发送的高低电平变换信号相同。若所述控制芯片10接收的高低电平变换信号和所述控制芯片10发送的高低电平变换信号不同,例如当所述控制芯片10向所述目标电平转换芯片60发送低电平信号时,所述控制芯片10对应接收到所述目标电平转换芯片60传输的低电平信号,但是,当所述控制芯片10向所述目标电平转换芯片60发送高电平信号时,所述控制芯片10对应接收到的却仍然是低电平信号,即所述控制芯片10接收到的是持续的低电平信号,确定所述控制芯片10接收的高低电平变换信号和所述控制芯片10发送的高低电平变换信号不相同,则所述控制芯片10将不向所述报警电路50的使能端输送使能信号,此时,所述报警电路50不能正常工作,进而提示所述目标电平转换芯片60发生异常。
本申请实施例通过设置第一开关电路30和第二开关电路40,使所述第一开关电路30的使能端和所述第二开关电路40的使能端均经由所述分压限流电路20与所述目标电平转换芯片60的输出端61连接;所述第一开关电路30的输出端和所述第二开关电路40的输出端均与所述控制芯片10的第一信号输入端13连接;所述第一开关电路30的输入端连接电源DVDD;所述第二开关电路40的输入端接地;所述控制芯片10的第二信号输出端12与所述报警电路50的使能端连接,进而根据第一开关电路30和第二开关电路40分别导通高低变换的电平信号,通过报警电路50来提示目标电平转换芯片60是否发生异常,从而实现对逻辑板上电平转换芯片的有效检测,相比于将逻辑板连接液晶屏后,根据液晶屏的显示情况来间接测试电平转换芯片的方式,本申请的测试电路更加方便,更加快捷。
所述控制芯片10可为任何可实现本申请技术方案的器件,其可以包括一个或者多个处理核心,例如其可以采用微控制器MCU等器件来实现,具体的类型、型号,本申请不加以限制。在一个示例性实施例中,所述控制芯片10为所述逻辑板的主控芯片,进而无需额外采用其他控制芯片10进行测试,节省测试成本。
在一个示例性实施例中,所述报警电路50可以为蜂鸣器或者LED灯等提示设备。在本申请实施例中,所述报警电路50包括所述逻辑板上的电源管理芯片和电压采集模块,所述电源管理芯片的使能端与所述控制芯片10的第二信号输出端12连接,所述电压采集模块的输入端与所述电源管理芯片的输出端连接,其中,所述电压采集模块可以为生产检测中的电压采集设备。当所述电源管理芯片接收到所述控制芯片10的使能信号时,所述电源管理芯片将输出电压,此时,所述电压采集模块将采集获得对应的电压信号。当所述电源管理芯片没接收到所述控制芯片10的使能信号时,所述电源管理芯片将不输出电压,此时,所述电压采集模块将不能采集获得电压信号,进而可通过电压采集模块是否采集到电源管理芯片的输出电压情况就,可以判断出目标电平转换芯片是否发生异常,无需额外采用其他报警器件或者设计其他报警电路50进行测试,可节省成本。进一步地,通过所述逻辑板上的主控芯片作为本申请测试电路的控制芯片,通过所述逻辑板上的电源管理芯片和测试用的电压采集模块作为报警电路,可以自动地确定目标电平转换芯片是否发生异常,同时,结合通过电脑成像的方式自动测试主控芯片以及通过自动测试电压电源管理芯片和伽马调节芯片来判断其他芯片是否异常的方法,可以实现对所述逻辑板各个主要芯片的自动化测试,实现有效拦截异常的逻辑板。
请参阅图2,在一个示例性实施例中,所述分压限流电路20包括第一电阻R1;所述第一电阻R1的第一连接端与所述目标电平转换芯片60的输出端61连接;所述第一电阻R1的第二连接端与所述控制芯片10的第一信号输入端13连接,以通过所述第一电阻R1对所述目标电平转换芯片60输出的信号进行分压,以防止损坏所述第一开关电路30和所述第二开关电路40。
请继续参阅图2,在一个示例性实施例中,所述分压限流电路20还包括第二电阻R2;所述第二电阻R2的第一连接端与所述第一电阻R1的第二连接端连接;所述第二电阻R2的第二连接端接地,以通过所述第二电阻R2对所述目标电平转换芯片60输出的信号进行限流,以防止损坏所述第一开关电路30和所述第二开关电路40。
在一个示例性实施例中,所述第一开关电路30包括第一MOS管Q1;所述第一开关电路30的使能端为所述第一MOS管Q1的栅极;所述第一开关电路30的输入端为所述第一MOS管Q1的漏极;所述第一开关电路30的输出端为所述第一MOS管Q1的源极。示例性的,所述第一MOS管Q1为NMOS管。
在另一个示例性实施例中,所述第一开关电路30包括第一三极管;所述第一开关电路30的使能端为所述第一三极管的基极;所述第一开关电路30的输入端为所述第一三极管的集电极;所述第一开关电路30的输出端为所述第一MOS管Q1的发射极。示例性的,所述第一三极管为PNP三极管。
在一个示例性实施例中,所述第二开关电路40包括第二MOS管Q2;所述第二开关电路40的使能端为所述第二MOS管Q2的栅极;所述第二开关电路40的输入端为所述第二MOS管Q2的漏极;所述第二开关电路40的输出端为所述第二MOS管Q2的源极。示例性的,所述第二MOS管Q2为PMOS管。
在另一个示例性实施例中,所述第二开关电路40包括第二三极管;所述第二开关电路40的使能端为所述第二三极管的基极;所述第二开关电路40的输入端为所述第二三极管的集电极;所述第二开关电路40的输出端为所述第二三极管的发射极。示例性的,所述第二三极管为NPN三极管。
还需要说明的是,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上仅为本申请的实施例而已,并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的权利要求范围之内。

Claims (10)

1.一种电平转换芯片测试电路,应用于逻辑板,所述逻辑板上设置有目标电平转换芯片,其特征在于,所述测试电路包括:控制芯片、分压限流电路、第一开关电路、第二开关电路和报警电路;
所述控制芯片包括第一信号输出端、第二信号输出端和第一信号输入端;所述控制芯片的第一信号输出端与所述目标电平转换芯片的信号输入端连接;
所述第一开关电路的使能端和所述第二开关电路的使能端均经由所述分压限流电路与所述目标电平转换芯片的输出端连接;所述第一开关电路的输出端和所述第二开关电路的输出端均与所述控制芯片的第一信号输入端连接;所述第一开关电路的输入端连接电源;所述第二开关电路的输入端接地;
所述报警电路的使能端与所述控制芯片的第二信号输出端连接。
2.根据权利要求1所述的电平转换芯片测试电路,其特征在于,
所述控制芯片为所述逻辑板的主控芯片。
3.根据权利要求1所述的电平转换芯片测试电路,其特征在于,
所述报警电路为所述逻辑板的电源管理芯片和电压采集模块,所述电源管理芯片的使能端与所述控制芯片的第二信号输出端连接,所述电压采集模块的输入端与所述电源管理芯片的输出端连接。
4.根据权利要求1所述的电平转换芯片测试电路,其特征在于,
所述分压限流电路包括第一电阻;所述第一电阻的第一连接端与所述目标电平转换芯片的输出端连接;所述第一电阻的第二连接端与所述控制芯片的第一信号输入端连接。
5.根据权利要求4所述的电平转换芯片测试电路,其特征在于,
所述分压限流电路还包括第二电阻;所述第二电阻的第一连接端与所述第一电阻的第二连接端连接;所述第二电阻的第二连接端接地。
6.根据权利要求1至5中任一权利要求所述的电平转换芯片测试电路,其特征在于,
所述第一开关电路包括第一MOS管;所述第一开关电路的使能端为所述第一MOS管的栅极;所述第一开关电路的输入端为所述第一MOS管的漏极;所述第一开关电路的输出端为所述第一MOS管的源极。
7.根据权利要求6所述的电平转换芯片测试电路,其特征在于,
所述第二开关电路包括第二MOS管;所述第二开关电路的使能端为所述第二MOS管的栅极;所述第二开关电路的输入端为所述第二MOS管的漏极;所述第二开关电路的输出端为所述第二MOS管的源极。
8.根据权利要求7所述的电平转换芯片测试电路,其特征在于,
所述第一MOS管为NMOS管;所述第二MOS管为PMOS管。
9.根据权利要求1至5中任一权利要求所述的电平转换芯片测试电路,其特征在于,
所述第一开关电路包括第一三极管;所述第一开关电路的使能端为所述第一三极管的基极;所述第一开关电路的输入端为所述第一三极管的集电极;所述第一开关电路的输出端为所述第一三极管的发射极。
10.根据权利要求9所述的电平转换芯片测试电路,其特征在于,
所述第二开关电路包括第二三极管;所述第二开关电路的使能端为所述第二三极管的基极;所述第二开关电路的输入端为所述第二三极管的集电极;所述第二开关电路的输出端为所述第二三极管的发射极。
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