CN215953780U - 一种芯片设计稳定性检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片设计稳定性检测装置，属于芯片检测技术领域。一种芯片设计稳定性检测装置，包括检测箱，电机输出端穿过方形腔内壁延伸至检测箱内部并套接有转盘，检测箱内部设有检测仪主体，检测仪主体右侧上端设有挡块，限位板外壁中部固设有凸轮，限位板前侧内部开设有滑槽，结构间的紧密配合，使得该装置在工作台上使用时，只需要打开箱门，通过转盘转动，从而使得检测仪主体伸出，同时通过挡杆的作用使其接近芯片进行直接检测，整个过程不需要将检测仪主体取出，十分的便利，同时避免了反复的取用过程中难面会造成损坏的情况，延长了使用寿命。

Description

一种芯片设计稳定性检测装置

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，更具体地说，涉及一种芯片设计稳定性检测装置。

背景技术

主板上的球栅阵列封装主芯片对焊接工艺的要求很高，其对振动和跌落等损坏行为的影响更加敏感，通常需要通过检测设备检测芯片的PIN脚与焊盘之间的焊接状态。现有技术公开号为CN213023444U的文献，提供一种芯片设计稳定性检测装置，该装置通过在通过设置防护外壳、支撑腿、盖板、检测装置本体、支撑板、活动板、第一弹簧、按压板、限位孔、限位块、升降组件和固定组件的配合作用，减少灰尘落在检测装置本体上的可能，当检测装置本体不慎掉落地面时，可以对检测装置本体进行保护，减少震动对检测装置本体的影响，同时便于检测装置本体脱离防护外壳，进而方便取出检测装置本体，虽然该装置有益效果较多，但依然存在下列问题：该装置设置外箱对检测仪进行放置防护，而在使用时，需要取出使用，十分的不便，而在反复的取用过程中难面会造成损坏，鉴于此，我们提出一种芯片设计稳定性检测装置。

实用新型内容

1.要解决的技术问题

本实用新型的目的在于提供一种芯片设计稳定性检测装置，以解决上述背景技术中提出的问题。

2.技术方案

一种芯片设计稳定性检测装置，包括检测箱，其特征在于：所述检测箱前侧铰链有箱门，所述箱门外侧右端中间位置设有拉把，所述检测箱上侧中部设有提环，所述检测箱左侧内部开设有方形腔，所述方形腔内部设有电机，所述电机输出端穿过方形腔内壁延伸至检测箱内部并套接有转盘，所述转盘外壁开设有曲线槽，所述转盘外侧同轴连接有挡杆，所述检测箱内部右侧开设有梯形槽，所述检测箱内部设有检测仪主体，所述检测仪主体底面前侧设有检测头，所述检测仪主体右侧上端设有挡块，所述检测仪主体右侧后端通过销轴转动连接有限位块，所述限位块外壁中部设有梯形块，所述梯形块前侧设有限位板，所述限位板外壁中部固设有凸轮，所述限位板前侧内部开设有滑槽，所述检测仪主体左侧后端设有弹簧。

优选地，所述曲线槽呈心形结构设置，所述曲线槽与凸轮滑动连接。

优选地，所述挡杆呈偏心结构设置，所述挡杆与所述挡块底面抵触配合。

优选地，所述梯形槽与梯形块滑动连接，所述滑槽与所述转盘的转轴滑动连接。

优选地，所述弹簧上端通过挂钩与所述检测仪主体外壁后侧设置的固定柱A挂接，所述弹簧下端通过挂钩与所述检测箱内壁左侧后端设置的固定柱B挂接。

3.有益效果

相比于现有技术，本实用新型的优点在于：

1.本实用新型通过在电机输出端穿过方形腔内壁延伸至检测箱内部并套接有转盘，检测箱内部设有检测仪主体，检测仪主体右侧上端设有挡块，限位板外壁中部固设有凸轮，限位板前侧内部开设有滑槽，结构间的紧密配合，使得该装置在工作台上使用时，只需要打开箱门，通过转盘转动，从而使得检测仪主体伸出，同时通过挡杆的作用使其接近芯片进行直接检测，整个过程不需要将检测仪主体取出，十分的便利，同时避免了反复的取用过程中难面会造成损坏的情况，延长了使用寿命。

2.本实用新型通过在弹簧上端通过挂钩与检测仪主体外壁后侧设置的固定柱A挂接，弹簧下端通过挂钩与检测箱内壁左侧后端设置的固定柱B挂接，通过弹簧的设计，使得检测仪主体在收回后，通过弹簧的拉动进行竖直方向的复位；挡杆呈偏心结构设置，挡杆与挡块底面抵触配合。通过挡杆呈偏心结构的设置，使其通过挡杆与挡块底面抵触配合，从而使得检测仪主体的前端可以接近工作台，提高了检测的精确性，保证了芯片的质量，而检测仪主体下侧不接触检测箱底面，从而减少了对本身的冲击，提高了保护的效率。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的整体结构展开图；

图3为本实用新型的检测仪主体外壁结构示意图；

图中标号说明：1、检测箱；101、方形腔；102、电机；103、转盘；104、曲线槽；105、挡杆；106、梯形槽；2、箱门；3、拉把；4、提环；5、检测仪主体；501、挡块；502、限位块；503、梯形块；504、限位板；505、凸轮；506、滑槽；6、弹簧；601、挂钩；602、固定柱A；603、固定柱B。

具体实施方式

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“套设/接”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

请参阅图1-3,本实用新型提供一种技术方案：

一种芯片设计稳定性检测装置，包括检测箱1，其特征在于：检测箱1前侧铰链有箱门2，箱门2外侧右端中间位置设有拉把3，检测箱1上侧中部设有提环4，检测箱1左侧内部开设有方形腔101，方形腔101内部设有电机102，电机102输出端穿过方形腔101内壁延伸至检测箱1内部并套接有转盘103，转盘103外壁开设有曲线槽104，转盘103外侧同轴连接有挡杆105，检测箱1内部右侧开设有梯形槽106，检测箱1内部设有检测仪主体5，检测仪主体5底面前侧设有检测头，检测仪主体5右侧上端设有挡块501，检测仪主体5右侧后端通过销轴转动连接有限位块502，限位块502外壁中部设有梯形块503，梯形块503前侧设有限位板504，限位板504外壁中部固设有凸轮505，限位板504前侧内部开设有滑槽506，检测仪主体5左侧后端设有弹簧6。结构间的紧密配合，使得该装置在工作台上使用时，只需要打开箱门2，通过转盘103转动，从而使得检测仪主体5伸出，同时通过挡杆105的作用使其接近芯片进行直接检测，整个过程不需要将检测仪主体5取出，十分的便利，同时避免了反复的取用过程中难面会造成损坏的情况，延长了使用寿命。

具体的，曲线槽104呈心形结构设置，曲线槽104与凸轮505滑动连接。通过曲线槽104呈心形结构的设置，使其可以通过凸轮505的限位，实现检测仪主体5的前后移动。

进一步的，挡杆105呈偏心结构设置，挡杆105与挡块501底面抵触配合。通过挡杆105呈偏心结构的设置，使其通过挡杆105与挡块501底面抵触配合，从而使得检测仪主体5的前端可以接近工作台，提高了检测的精确性，保证了芯片的质量。

再进一步的，梯形槽106与梯形块503滑动连接，使其进行前后的运动轨迹；滑槽506与转盘103的转轴滑动连接。通过滑槽506的限位，使得限位板504可以适应跟随前后运动。

更进一步的，弹簧6上端通过挂钩601与检测仪主体5外壁后侧设置的固定柱A602挂接，弹簧6下端通过挂钩601与检测箱1内壁左侧后端设置的固定柱B603挂接。通过弹簧6的设计，使得检测仪主体5在收回后，通过弹簧5的拉动进行竖直方向的复位。

工作原理：当需要该芯片设计稳定性检测装置时，首先，将其放置到工作台，通过检测箱1内部右侧嵌设的蓄电池的供电，通过控制器使得电机102输出轴转动，由于电机102输出端穿过方形腔101内壁延伸至检测箱1内部并套接有转盘103，转盘103外壁开设有曲线槽104，而曲线槽104呈心形结构设置，曲线槽104与凸轮505滑动连接，通过转盘103转动，使得通过曲线槽104转动，而曲线槽104呈心形结构的设置，使其可以通过凸轮505的限位，实现检测仪主体5的前后移动，而梯形槽106与梯形块503滑动连接，使其进行前后的运动轨迹，滑槽506与转盘103的转轴滑动连接，通过滑槽506的限位，使得限位板504可以适应跟随前后运动，同时，配合挡杆105呈偏心结构设置，挡杆105与挡块501底面抵触配合，通过转盘103转动带动挡杆105转动，而挡杆105呈偏心结构的设置，使其通过挡杆105与挡块501底面抵触配合，从而使得检测仪主体5的前端可以接近工作台，提高了检测的精确性，保证了芯片的质量，而检测仪主体5左侧后端设有弹簧6，弹簧6上端通过挂钩601与检测仪主体5外壁后侧设置的固定柱A602挂接，弹簧6下端通过挂钩601与检测箱1内壁左侧后端设置的固定柱B603挂接。通过弹簧6的设计，使得检测仪主体5在收回后，通过弹簧5的拉动进行竖直方向的复位。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的仅为本实用新型的优选例，并不用来限制本实用新型，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (5)

1.一种芯片设计稳定性检测装置，包括检测箱(1)，其特征在于：所述检测箱(1)前侧铰链有箱门(2)，所述箱门(2)外侧右端中间位置设有拉把(3)，所述检测箱(1)上侧中部设有提环(4)，所述检测箱(1)左侧内部开设有方形腔(101)，所述方形腔(101)内部设有电机(102)，所述电机(102)输出端穿过方形腔(101)内壁延伸至检测箱(1)内部并套接有转盘(103)，所述转盘(103)外壁开设有曲线槽(104)，所述转盘(103)外侧同轴连接有挡杆(105)，所述检测箱(1)内部右侧开设有梯形槽(106)，所述检测箱(1)内部设有检测仪主体(5)，所述检测仪主体(5)底面前侧设有检测头，所述检测仪主体(5)右侧上端设有挡块(501)，所述检测仪主体(5)右侧后端通过销轴转动连接有限位块(502)，所述限位块(502)外壁中部设有梯形块(503)，所述梯形块(503)前侧设有限位板(504)，所述限位板(504)外壁中部固设有凸轮(505)，所述限位板(504)前侧内部开设有滑槽(506)，所述检测仪主体(5)左侧后端设有弹簧(6)。

2.根据权利要求1所述的一种芯片设计稳定性检测装置，其特征在于：所述曲线槽(104)呈心形结构设置，所述曲线槽(104)与凸轮(505)滑动连接。

3.根据权利要求1所述的一种芯片设计稳定性检测装置，其特征在于：所述挡杆(105)呈偏心结构设置，所述挡杆(105)与所述挡块(501)底面抵触配合。

4.根据权利要求1所述的一种芯片设计稳定性检测装置，其特征在于：所述梯形槽(106)与梯形块(503)滑动连接，所述滑槽(506)与所述转盘(103)的转轴滑动连接。

5.根据权利要求1所述的一种芯片设计稳定性检测装置，其特征在于：所述弹簧(6)上端通过挂钩(601)与所述检测仪主体(5)外壁后侧设置的固定柱A(602)挂接，所述弹簧(6)下端通过挂钩(601)与所述检测箱(1)内壁左侧后端设置的固定柱B(603)挂接。

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