CN215868653U - 一种基于sd卡的tft测架 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种基于SD卡的TFT测架包括测试内壳，设置在测试内壳内PCB基板，安装在所述PCB基板上的MCU微处理器、与所述MCU微处理器相连的TFT液晶显示模组和SD卡模块。针对传统测架的不足，针对测试图片的烧录方式，提出一种在目前市场需求下更加普遍适用开发设计，生产测试的集成式TFT测架。具有如下特点：可用于目前液晶显示器的所有检测项目，通用性强，可兼容开发设计以及生产测试。本实用新型基于SD卡的应用，与传统方式对比。操作简易，更换便利；统一分辨率，图片不同重新配置；图片使用常规BMP格式置于SD中即可。SD卡普遍内存大，基本能满足目前市场上不同TFT种类的测试需求。特殊情况下只要更换更大内存SD卡就行，易于移植，兼容性强；只需要一种硬件接口，电路配置简单。

Description

一种基于SD卡的TFT测架

技术领域

本实用新型涉及一种基于SD卡的TFT测架，尤其涉及一种通用性强、一卡多用、一机多用的基于SD卡的TFT测架。

背景技术

随着工业化水平的提高以及液晶显示技术提高，液晶显示器已广泛应用各行各业。作为人机交互的桥梁，随着市场需求的日益提高，对液晶显示模组的种类需求也越来越多。定制化产品已成为主流，产品类型多，开发设计周期长，生产换线频繁，针对不同TFT产品，需要使用不同的测试程序以及测试图片。传统方式存在如下问题：1、操作繁琐，更换复杂；2、不同分辨率，图片需要重新配置； 3、图片需要装换成二进制格式才能烧录到Flash内部；4、如果MCU的Flash 内存不能满足测试需求，则外部需要再增加Flash模块；5、测试图片以及测试程序使用不同的测试工具以及硬件端口。测试治具太过简陋，兼容性较差，测试效率不高，不能适应现在开发，生产的需求，大大影响了效率，人力物力成本太高，不利于公司可持续发展以及市场竞争。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种基于SD卡的TFT测架，具有通用性强、一卡多用、一机多用的特点。

为解决上述技术问题，本实用新型的技术方案为：一种基于SD卡的TFT测架，其创新点在于：所述基于SD卡的TFT测架包括测试内壳，设置在测试内壳内PCB基板，安装在所述PCB基板上的MCU微处理器、与所述MCU微处理器相连的TFT液晶显示模组和SD卡模块。

优选的，所述测试内壳上设置有与所述PCB基板相连的USB供电接口，所述 PCB基板上设置有电源转换模块。

优选的，所述TFT液晶显示模组为设置在所述PCB基板上的显示器。

优选的，所述SD卡模块外置或者内置在所述测试内壳上；所述SD卡模块内置时，所述测试内壳上设置有供SD卡置入的SD卡槽。

优选的，所述测试内壳上设置有位于所述PCB基板上的开关按钮和蜂鸣器。

优选的，所述测试内壳上设置有防止PCB基板短路的保险丝。

优选的，所述SD卡模块内设置有SD卡，所述SD卡存储BGM格式图片。

优选的，所述测试内壳内设置有安装在所述PCB基板上方且与所述PCB基板数据线相连的控制副板，所述控制副板与所述PCB基板之间设置有供所述控制副板安装的锁紧座，所述锁紧座安装在测试内壳内侧壁上。

优选的，所述控制副板上设置有触屏接口、LCD接口和按键输入接口。

优选的，所述测试内壳上设置有盖合所述测试内壳的测试外壳。

本实用新型的优点在于：针对传统测架的不足，本实用新型针对测试图片的烧录方式，提出一种在目前市场需求下更加普遍适用开发设计，生产测试的集成式TFT测架。具有如下特点：1、本实用新型测试治具可用于目前液晶显示器的所有检测项目，通用性强，可兼容开发设计以及生产测试。2、本实用新型基于 SD卡的应用，与传统方式对比。操作简易，更换便利；统一分辨率，图片不同重新配置；图片使用常规BMP格式置于SD中即可。SD卡普遍内存大，基本能满足目前市场上不同TFT种类的测试需求。特殊情况下只要更换更大内存SD卡就行，易于移植，兼容性强；只需要一种硬件接口，电路配置简单。

附图说明

下面结合附图和具体实施方式对本实用新型做进一步详细的说明。

图1是传统TFT测架的结构示意图。

图2是本实用新型一种基于SD卡的TFT测架的结构示意图。

图3是本实用新型一种基于SD卡的TFT测架的示意图。

图中：1-测试内壳、2-MCU微处理器、3-TFT液晶显示模组、4-SD卡模块、 5-USB供电接口、6-电源转换模块、7-SD卡槽、8-开关按钮、9-蜂鸣器、10-保险丝、11-控制副板、12-锁紧座、13-触屏接口、14-LCD接口、15-按键输入接口、16-测试外壳、17-PCB基板。

具体实施方式

本实用新型的基于SD卡的TFT测架包括测试内壳1，设置在测试内壳内PCB 基板，安装在PCB基板17上的MCU微处理器2、与MCU微处理器相连的TFT液晶显示模组3和SD卡模块4。针对传统测架的不足，本实用新型针对测试图片的烧录方式，提出一种在目前市场需求下更加普遍适用开发设计，生产测试的集成式TFT测架。具有如下特点：本实用新型测试治具可用于目前液晶显示器的所有检测项目，通用性强，可兼容开发设计以及生产测试。本实用新型基于SD卡的应用，与传统方式对比。操作简易，更换便利；统一分辨率，图片不同重新配置；图片使用常规BMP格式置于SD中即可。SD卡普遍内存大，基本能满足目前市场上不同TFT种类的测试需求。特殊情况下只要更换更大内存SD卡就行，易于移植，兼容性强；只需要一种硬件接口，电路配置简单。

为了便于与外部电源快速连接，测试内壳上设置有与PCB基板相连的USB 供电接口5，PCB基板上设置有电源转换模块6。上述的TFT液晶显示模组为设置在所述PCB基板上的显示器。上述的SD卡模块外置或者内置在测试内壳上； SD卡模块内置时，测试内壳上设置有供SD卡置入的SD卡槽7。

为了便于控制和报警，测试内壳上设置有位于PCB基板上的开关按钮8和蜂鸣器9。上述的测试内壳上设置有防止PCB基板短路的保险丝10。

上述的SD卡模块内设置有SD卡，所述SD卡存储BGM格式图片。测试内壳内设置有安装在PCB基板上方且与PCB基板数据线相连的控制副板11，控制副板与PCB基板之间设置有供控制副板安装的锁紧座12，锁紧座安装在测试内壳内侧壁上，控制副板上设置有触屏接口13、LCD接口14和按键输入接口15。上述的测试内壳上设置有盖合测试内壳的测试外壳16。

本实用新型的技术路线为：1.SD卡中包含测试图片，测试程序，测试文件； 2.测试图片按一定规则命名，为.bmp格式；3.通过软件针对不同产品诸如分辨率，IC初始化重新配置后生成测试程序。格式为.bin格式文件，bin文件根据不同产品编号命名；4.测试文件中指定产品编号，以便MCU调用；5.测试不同产品时，需要使用不同的测试程序。一种是直接通过读卡器对SD卡测试文件中的产品编号进行更新，一种是通过外部输入模块进行更新。

最后需要说明的是，以上实施例仅用以说明本发明的技术方案而非限制性技术方案，本领域的普通技术人员应当理解，那些对本发明的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本技术方案的宗旨和范围，均应涵盖在本发明的权利要求范围当中。

Claims (10)

1.一种基于SD卡的TFT测架，其特征在于：所述基于SD卡的TFT测架包括测试内壳，设置在测试内壳内PCB基板，安装在所述PCB基板上的MCU微处理器、与所述MCU微处理器相连的TFT液晶显示模组和SD卡模块。

2.如权利要求1所述的一种基于SD卡的TFT测架，其特征在于：所述测试内壳上设置有与所述PCB基板相连的USB供电接口，所述PCB基板上设置有电源转换模块。

3.如权利要求1所述的一种基于SD卡的TFT测架，其特征在于：所述TFT液晶显示模组为设置在所述PCB基板上的显示器。

4.如权利要求1所述的一种基于SD卡的TFT测架，其特征在于：所述SD卡模块外置或者内置在所述测试内壳上；所述SD卡模块内置时，所述测试内壳上设置有供SD卡置入的SD卡槽。

5.如权利要求1所述的一种基于SD卡的TFT测架，其特征在于：所述测试内壳上设置有位于所述PCB基板上的开关按钮和蜂鸣器。

6.如权利要求1所述的一种基于SD卡的TFT测架，其特征在于：所述测试内壳上设置有防止PCB基板短路的保险丝。

7.如权利要求1所述的一种基于SD卡的TFT测架，其特征在于：所述SD卡模块内设置有SD卡，所述SD卡存储BMP格式图片。

8.如权利要求1所述的一种基于SD卡的TFT测架，其特征在于：所述测试内壳内设置有安装在所述PCB基板上方且与所述PCB基板数据线相连的控制副板，所述控制副板与所述PCB基板之间设置有供所述控制副板安装的锁紧座，所述锁紧座安装在测试内壳内侧壁上。

9.如权利要求8所述的一种基于SD卡的TFT测架，其特征在于：所述控制副板上设置有触屏接口、LCD接口和按键输入接口。

10.如权利要求1所述的一种基于SD卡的TFT测架，其特征在于：所述测试内壳上设置有盖合所述测试内壳的测试外壳。

Images