CN215773748U - 一种新型集成电路测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种新型集成电路测试设备，包括本体，本体的正面设置有显示屏，显示屏的下方设置有旋钮开关，显示屏左右两侧的插线孔处设置有防尘组件，本体的底部设置有固定组件，本体的顶面设置有第一散热窗，本体的左右两侧对称设置有第二散热窗，第一散热窗和第二散热窗上均设置有防尘网，本体的内部设置有散热组件。本实用新型通过设置防尘组件能够在不使用时，对集成电路测试设备上的接线孔进行封闭，从而防止灰尘的进入，结构简单，使用便捷，提高了使用寿命，提高对集成电路的测试质量，通过固定组件便于对集成电路测试设备进行固定，通过散热组件能够增加散热效果，使得散热更加均匀。

Description

一种新型集成电路测试设备

技术领域

本实用新型涉及集成电路测试领域，尤其涉及一种新型集成电路测试设备。

背景技术

集成电路测试装置是对集成电路进行测试的专用装置。集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。现有技术中，集成电路测试装置的散热部件为单独的水冷散热部件或者是风冷散热部件，而单独的水冷或者风冷散热不能满足大功率集成电路板的散热需求，致使某些发热较多的器件温度一直降不下去，容易造成这类器件的损坏；集成电路测试装置无法进行固定，容易造成装置使用时位置的偏移，对集成电路进行测试时，大多都是利用导线将集成电路板上的管脚与集成电路测试装置的插线孔连接，从而对集成电路板上的集成电路进行测试，但现今使用的集成电路测试装置上的接线孔都是裸露在外的，长时间的放置后，集成电路测试装置上的接线孔容易沾染灰尘，导致导线插入时电阻过大，不仅降低对集成电路测试的质量，同时容易出现短路，降低集成电路测试装置的使用寿命。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种新型集成电路测试设备，解决现有技术中，集成电路测试装置散热效果不好，无法固定，接线孔裸露在外容易沾染灰尘的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型采用如下技术方案：

本实用新型一种新型集成电路测试设备，包括本体，所述本体的正面设置有显示屏，所述显示屏的下方设置有旋钮开关，所述显示屏左右两侧的插线孔处设置有防尘组件，所述本体的底部设置有固定组件，所述本体的顶面设置有第一散热窗，所述本体的左右两侧对称设置有第二散热窗，所述第一散热窗和第二散热窗上均设置有防尘网，所述本体的内部设置有散热组件。

进一步的，所述防尘组件包括矩形罩，所述矩形罩设置在所述本体的正面，所述矩形罩的上部开设有矩形开槽，所述矩形罩的内腔且位于所述矩形开槽处滑动设置有挡尘板，所述矩形罩内腔底端的两侧设置有限位滑杆，且两个所述限位滑杆的顶端分别与所述挡尘板的底端滑动穿插连接，所述限位滑杆的外侧套设有第一复位弹簧，且所述第一复位弹簧的两端分别与所述矩形罩内腔的底端和所述挡尘板的底端固定连接。

再进一步的，所述矩形罩的左右两侧内壁对称开设有条形滑槽，所述条形滑槽内滑动卡接有滑块，所述滑块的一端与所述挡尘板的一侧固定连接。

再进一步的，所述挡尘板的顶部开设有弧形开槽。

再进一步的，所述固定组件包括连接板，所述连接板通过螺栓连接在所述本体的底面，所述连接板的下方设置有连接块和盒体，所述连接块的正面设置有气囊，所述气囊内部的两侧均设置有第二复位弹簧，所述盒体的内部设置有两个吸盘，所述吸盘通过导管与所述气囊连通。

再进一步的，所述散热组件包括导液管，所述导液管通过U型管卡连接在所述本体顶部的内壁上，所述导液管的下部设置有若干吸热片，所述导液管的一端连接有水泵，所述水泵的输出端连接有散热管，所述导液管的另一端与所述散热管远离所述水泵的一端连接，所述导液管和所述散热管内部均设置有导热液，所述散热管的下方设置有散热片，所述散热片与所述第一散热窗相匹配，所述散热管的左右两侧均设置有散热扇，所述散热扇与第二散热窗相匹配。

再进一步的，所述散热片的左右两端均通过第一连接柱连接在所述本体顶部的内壁上，所述散热扇通过第二连接柱连接在所述本体顶部的内壁上。

再进一步的，所述本体的左右两侧外壁上均设置有凸柱，所述凸柱上连接有提手。

与现有技术相比，本实用新型的有益技术效果：

本实用新型一种新型集成电路测试设备，包括本体，本体的正面设置有显示屏，显示屏的下方设置有旋钮开关，显示屏左右两侧的插线孔处设置有防尘组件，本体的底部设置有固定组件，本体的顶面设置有第一散热窗，本体的左右两侧对称设置有第二散热窗，第一散热窗和第二散热窗上均设置有防尘网，本体的内部设置有散热组件；本实用新型通过设置防尘组件能够在不使用时，对集成电路测试设备上的接线孔进行封闭，从而防止灰尘的进入，同时结构简单，使用便捷，提高了集成电路测试设备的使用寿命，提高对集成电路的测试质量，通过固定组件便于对集成电路测试设备进行固定，通过散热组件能够大大的增加集成电路测试设备内部的散热效果，使得散热更加均匀，对于某些发热较多的器件也能够有效的帮助其散热，避免了这类器件的损坏，通过设置防尘网，能够防止灰尘从第一散热窗和第二散热窗进入到集成电路测试设备的内部，避免灰尘吸附在电子元器件的表面阻碍其散热。

附图说明

下面结合附图说明对本实用新型作进一步说明。

图1为本实用新型新型集成电路测试设备主视图；

图2为本实用新型新型集成电路测试设备内部结构示意图；

图3为本实用新型散热管、散热片、散热扇和本体顶部内壁的连接关系示意图；

图4为本实用新型防尘组件内部结构示意图；

图5为本实用新型固定组件内部结构示意图；

附图标记说明：1、本体；2、矩形罩；201、矩形开槽；202、条形滑槽；3、挡尘板；301、弧形开槽；4、限位滑杆；5、第一复位弹簧；6、滑块；7、显示屏；8、旋钮开关；9、连接板；10、连接块；11、盒体；12、气囊；13、第二复位弹簧；14、导管；15、吸盘；16、第一散热窗；17、第二散热窗；18、导液管；19、散热管；20、U型管卡；21、吸热片；22、水泵；23、散热片；24、第一连接柱；25、散热扇；26、第二连接柱；27、凸柱；28、提手。

具体实施方式

如图1-5所示，一种新型集成电路测试设备，包括本体1，所述本体1的正面设置有显示屏7，所述显示屏7的下方设置有旋钮开关8，所述显示屏7左右两侧的插线孔处设置有防尘组件，所述本体1的底部设置有固定组件，所述本体1的顶面设置有第一散热窗16，所述本体1的左右两侧对称设置有第二散热窗17，所述第一散热窗16和第二散热窗17上均设置有防尘网，所述本体1的内部设置有散热组件；本实用新型通过设置防尘组件能够在不使用时，对集成电路测试设备上的接线孔进行封闭，从而防止灰尘的进入，同时结构简单，使用便捷，提高了集成电路测试设备的使用寿命，提高对集成电路的测试质量，通过固定组件便于对集成电路测试设备进行固定，通过散热组件能够大大的增加集成电路测试设备内部的散热效果，使得散热更加均匀，对于某些发热较多的器件也能够有效的帮助其散热，避免了这类器件的损坏，通过设置防尘网，能够防止灰尘从第一散热窗和第二散热窗进入到集成电路测试设备的内部，避免灰尘吸附在电子元器件的表面阻碍其散热。

具体来说，如图4所示，所述防尘组件包括矩形罩2，所述矩形罩2连接在所述本体1的正面，所述矩形罩2的上部开设有矩形开槽201，所述矩形罩2的内腔且位于所述矩形开槽201处滑动设置有挡尘板3，所述矩形罩2内腔底端的两侧设置有限位滑杆4，且两个所述限位滑杆4的顶端分别与所述挡尘板3的底端滑动穿插连接，所述限位滑杆4的外侧套设有第一复位弹簧5，且所述第一复位弹簧5的两端分别与所述矩形罩2内腔的底端和所述挡尘板3的底端固定连接；矩形罩2起到承载固定的作用，便于挡尘板3的安装；矩形开槽201与本体1上的接线孔位置对应，使矩形罩2不会将接线孔封闭；挡尘板3对矩形开槽201处露出的接线孔进行封闭；限位滑杆4起到限位的作用，便于挡尘板3的竖直升降；第一复位弹簧5起到自动复位的作用，提高挡尘板3对接线孔封闭操作的便捷性。

所述矩形罩2的左右两侧内壁对称开设有条形滑槽202，所述条形滑槽202内滑动卡接有滑块6，所述滑块6的一端与所述挡尘板3的一侧固定连接；通过设置条形滑槽202和滑块6，能够便于挡尘板3在矩形罩2内的滑动，提高挡尘板3滑动的效率。

所述挡尘板3的顶部开设有弧形开槽301，便于放置导线。

如图5所示，所述固定组件包括连接板9，所述连接板9通过螺栓连接在所述本体1的底面，所述连接板9的下方连接有连接块10和盒体11，所述连接块10的正面设置有气囊12，所述气囊12内部的两侧均固定连接有第二复位弹簧13，所述盒体11的内部固定连接有两个吸盘15，所述吸盘15通过导管14与所述气囊12连通；具体的，第二复位弹簧13的中心设置有伸缩柱，伸缩柱随着第二复位弹簧13的压缩伸长而进行收缩伸长，保证第二复位弹簧13沿竖直方向运动，使用时，首先通过按压气囊12使其内部的第二复位弹簧13受力缩短长度，从而使气囊12内部的空气从吸盘15的内部排出，在将吸盘15移动到合适的位置，松开气囊12即可将本体1进行固定，操作方便。

如图2所示，所述散热组件包括导液管18，所述导液管18通过U型管卡20连接在所述本体1顶部的内壁上，便于导液管18的拆装，所述导液管18的下部设置有若干吸热片21，所述导液管18的一端连接有水泵22，所述水泵22的输出端连接有散热管19，所述导液管18的另一端与所述散热管19远离所述水泵22的一端连接，所述导液管18和所述散热管19内部均设置有导热液，所述散热管19的下方设置有散热片23，所述散热片23与所述第一散热窗16相匹配，所述散热管19的左右两侧均设置有散热扇25，所述散热扇25与第二散热窗17相匹配；通过设置散热组件能够大大的增加集成电路测试设备内部的散热效果，使得散热更加均匀，对于某些发热较多的器件也能够有效的帮助其散热，避免了这类器件的损坏。

如图3所示，所述散热片23的左右两端均通过第一连接柱24连接在所述本体1顶部的内壁上，所述散热扇25通过第二连接柱26连接在所述本体1顶部的内壁上。

所述本体1的左右两侧外壁上均设置有凸柱27，所述凸柱27上连接有提手28，具体的，提手28设置为U字形，提手28的两端焊接有圆柱形空心管，圆柱形空心管套设在凸柱27外侧，凸柱27的外端通过销钉固定，使得提手28可以围绕凸柱27旋转，使用者可以通过提手28移动本体1，操作方便，不需要移动时可以将提手28转动到适当位置。

本实用新型的使用过程如下：

首先，通过按压气囊12使其内部的第二复位弹簧13受力缩短长度，从而使气囊12内部的空气从吸盘15的内部排出，在将吸盘15移动到合适的位置，松开气囊12即可将本体1进行固定；

然后，将连接集成电路板的导线的一端放置在挡尘板3的弧形开槽301内，并向下按压，挡尘板3受到按压后向下移动，第一复位弹簧5压缩，从而将挡尘板3缩入矩形罩2的内腔中，将本体1上的接线孔露出，然后手动推动导线的插接端，使得导线的插接端与接线孔进行电性连接，同时第一复位弹簧5压缩产生的弹性回复力能够对挡尘板3起到一个反向的推力作用，使得挡尘板3能够对导线起到一个压紧固定的作用，在拆卸时，只需直接拔出导线，挡尘板3在第一复位弹簧5的弹性回复力的作用下自动伸出矩形罩2，从而自动将本体1正面的接线孔进行封闭，操作简单，使用方便；

最后，当集成电路测试设备工作时，吸热片21能够吸收本体1内部的热量，并将热量传递给导液管18内的导热液，水泵22工作使导热液在导液管18和散热管19之间循环流动，当导热液流到散热管19内时，散热片23能够吸收导热液的热量，散热片23将温度传递给周围的空气，散热扇25将本体1内部的热空气从第二散热窗17吹出，外部的空气在压强的作用下从第一散热窗16进入到本体1内部，持续的对散热管8和散热片9散热，大大的增加本体1内部的散热效果，使得散热更加均匀。

本实用新型中涉及的本体、限位滑杆、第一复位弹簧、显示屏、旋钮开关、连接板、连接块、盒体、气囊、第二复位弹簧、导管、吸盘、第一散热窗、第二散热窗、导液管、散热管、U型管卡、吸热片、水泵、散热片、第一连接柱、散热扇、第二连接柱、凸柱、提手等均属于现有技术，在此不再详述。

以上所述的实施例仅是对本实用新型的优选方式进行描述，并非对本实用新型的范围进行限定，在不脱离本实用新型设计精神的前提下，本领域普通技术人员对本实用新型的技术方案做出的各种变形和改进，均应落入本实用新型权利要求书确定的保护范围内。

Claims (8)

1.一种新型集成电路测试设备，其特征在于：包括本体，所述本体的正面设置有显示屏，所述显示屏的下方设置有旋钮开关，所述显示屏左右两侧的插线孔处设置有防尘组件，所述本体的底部设置有固定组件，所述本体的顶面设置有第一散热窗，所述本体的左右两侧对称设置有第二散热窗，所述第一散热窗和第二散热窗上均设置有防尘网，所述本体的内部设置有散热组件。

2.根据权利要求1所述的新型集成电路测试设备，其特征在于：所述防尘组件包括矩形罩，所述矩形罩设置在所述本体的正面，所述矩形罩的上部开设有矩形开槽，所述矩形罩的内腔且位于所述矩形开槽处滑动设置有挡尘板，所述矩形罩内腔底端的两侧设置有限位滑杆，且两个所述限位滑杆的顶端分别与所述挡尘板的底端滑动穿插连接，所述限位滑杆的外侧套设有第一复位弹簧，且所述第一复位弹簧的两端分别与所述矩形罩内腔的底端和所述挡尘板的底端固定连接。

3.根据权利要求2所述的新型集成电路测试设备，其特征在于：所述矩形罩的左右两侧内壁对称开设有条形滑槽，所述条形滑槽内滑动卡接有滑块，所述滑块的一端与所述挡尘板的一侧固定连接。

4.根据权利要求2所述的新型集成电路测试设备，其特征在于：所述挡尘板的顶部开设有弧形开槽。

5.根据权利要求1所述的新型集成电路测试设备，其特征在于：所述固定组件包括连接板，所述连接板通过螺栓连接在所述本体的底面，所述连接板的下方设置有连接块和盒体，所述连接块的正面设置有气囊，所述气囊内部的两侧均设置有第二复位弹簧，所述盒体的内部设置有两个吸盘，所述吸盘通过导管与所述气囊连通。

6.根据权利要求1所述的新型集成电路测试设备，其特征在于：所述散热组件包括导液管，所述导液管通过U型管卡连接在所述本体顶部的内壁上，所述导液管的下部设置有若干吸热片，所述导液管的一端连接有水泵，所述水泵的输出端连接有散热管，所述导液管的另一端与所述散热管远离所述水泵的一端连接，所述导液管和所述散热管内部均设置有导热液，所述散热管的下方设置有散热片，所述散热片与所述第一散热窗相匹配，所述散热管的左右两侧均设置有散热扇，所述散热扇与第二散热窗相匹配。

7.根据权利要求6所述的新型集成电路测试设备，其特征在于：所述散热片的左右两端均通过第一连接柱连接在所述本体顶部的内壁上，所述散热扇通过第二连接柱连接在所述本体顶部的内壁上。

8.根据权利要求1所述的新型集成电路测试设备，其特征在于：所述本体的左右两侧外壁上均设置有凸柱，所述凸柱上连接有提手。

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