CN215728627U - 一种半导体芯片检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体芯片检测装置，包括外壳，还包括检测机构，所述检测机构具体由检测框、检测板、弹簧杆、滑块、滑槽、按动块、挤压块、接触块、弹簧开关和复位块组成，所述外壳内壁焊接有弹簧杆，所述弹簧杆表面一侧安装有检测框，所述检测框表面安装有检测板，所述外壳表面配合滑动连接有滑块，所述滑块内壁安装有滑槽，所述滑槽表面配合滑动连接有按动块，所述按动块表面固定连接有挤压块，整体收纳性较强，可以随身携带，并且操作较为便捷，适合对精密仪器芯片进行实地检测。

Description

一种半导体芯片检测装置

技术领域

本实用新型涉及芯片检测装置技术领域，特别涉及一种半导体芯片检测装置。

背景技术

在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件，由于其表面结构较为紧密，肉眼无法直接判断芯片是否完整。

在日常针对精密仪器内芯片检测时，通常会采用将芯片取出放置于专业检测机器表面检测，在运输途中就会造成大量的时间浪费，并且也会对芯片产生一定潜在威胁。

专利号CN209084499U公布了一种半导体芯片检测用台灯，该实用新型公开了一种半导体芯片检测用台灯，包括底座，所述底座的顶部固定连接有传动箱，所述传动箱的正面活动连接有转轮，所述传动箱的顶部开设有开口。本实用新型通过转动转轮带动正反牙丝杠旋转，正反牙丝杠带动螺套向两侧移动，螺套通过活动块带动第二曲柄向两侧移动，第二曲柄以活动块为圆心旋转推动第一曲柄带动传动块向上移动，传动块通过支撑杆与限位板推动支架向上移动，从而达到调节高度的效果，解决了现有的台灯无法进行高度调节，工作人员因身高不同，从而固定高度的台灯容易遮挡使用者的视线，不便于工作人员的使用，降低了台灯的灵活性的问题，该半导体芯片检测用台灯，具备可调节高度等优点。

该一种半导体芯片检测用台灯存在以下弊端：在使用上述的一种半导体芯片检测用台灯时，整体检测效率较低，并且精准度较差，并且无法进行随身携带。为此，我们提出一种半导体芯片检测装置。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种半导体芯片检测装置，可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的，本实用新型采取的技术方案为：

一种半导体芯片检测装置，包括外壳，还包括检测机构，所述检测机构具体由检测框、检测板、弹簧杆、滑块、滑槽、按动块、挤压块、接触块、弹簧开关和复位块组成，所述外壳内壁焊接有弹簧杆，所述弹簧杆表面一侧安装有检测框，所述检测框表面安装有检测板，所述外壳表面配合滑动连接有滑块，所述滑块内壁安装有滑槽，所述滑槽表面配合滑动连接有按动块，所述按动块表面固定连接有挤压块，所述挤压块表面另一侧安装有接触块，所述滑块内壁安装有弹簧开关，所述滑块表面一侧安装有复位块。

进一步地，还包括辅助机构，所述辅助机构具体由阻尼轴承、显示器、限位杆、电池盒和开关组成；通过辅助机构让整体收纳能力更强，更便于携带。

进一步地，所述外壳表面安装有阻尼轴承，所述阻尼轴承表面安装有显示器，所述外壳表面安装有限位杆，且限位杆有两个，所述外壳内壁安装有电池盒，所述外壳表面安装有开关；阻尼转轴让显示器可以根据使用者调整固定于想要位置，电池盒给整个装置进行供电，而限位杆则在不使用时对滑块进行限位，让滑块可以长时间保持一定位置不动。

进一步地，所述限位杆和滑块相互配合插接；通过限位杆插入滑块中，从而对滑块进行位置的限定。

与现有技术相比，本实用新型具有如下有益效果：在使用时将电池盒充满电，将整个装置运输至指定地点，根据使用习惯转动显示器，让其到达想要角度，并且将限位杆从滑块表面拔出，在复位块的作用下，两个滑块依旧保持贴合状态，有效的阻挡了外界灰尘的进入，在使用时将两个滑块向外扳开，将芯片放置于检测板表面，松开滑块即可在复位块的作用下让两者重新贴合，用力按动按动块，在按动块的作用下，会带动其表面的挤压块和接触块向下移动与芯片相互接触，并且在弹簧杆弹力以及挤压块弹力共同作用下，将两者柔性接触从而降低了对芯片的损伤，并且可以让检测板和芯片牢牢的结合，并且在按动块按动时，其表面会挤压弹簧开关，通过弹簧开关启动检测板，检测板将检测数据及时上传至显示器，这样即可完成检测，整体检测较为便捷，检测效率较高，使用完毕后，将芯片取出，重新将限位杆插入滑块表面，对其进行限位，整体收纳性较强，可以随身携带，并且操作较为便捷，适合对精密仪器芯片进行实地检测。

附图说明

图1为本实用新型一种半导体芯片检测装置的整体结构示意图。

图2为本实用新型一种半导体芯片检测装置的检测框结构示意图。

图3为本实用新型一种半导体芯片检测装置的滑块结构示意图。

图中：1、外壳；2、检测机构；201、检测框；202、检测板；203、弹簧杆；204、滑块；205、滑槽；206、按动块；207、挤压块；208、接触块；209、弹簧开关；210、复位块；3、辅助机构；301、阻尼轴承；302、显示器；303、限位杆；304、电池盒；305、开关。

具体实施方式

为使本实用新型实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施方式，进一步阐述本实用新型。

如图1-3所示，一种半导体芯片检测装置，包括外壳1，还包括检测机构2，所述检测机构2具体由检测框201、检测板202、弹簧杆203、滑块204、滑槽205、按动块206、挤压块207、接触块208、弹簧开关209和复位块210组成，所述外壳1内壁焊接有弹簧杆203，所述弹簧杆203表面一侧安装有检测框201，所述检测框201表面安装有检测板202，所述外壳1表面配合滑动连接有滑块204，所述滑块204内壁安装有滑槽205，所述滑槽205表面配合滑动连接有按动块206，所述按动块206表面固定连接有挤压块207，所述挤压块207表面另一侧安装有接触块208，所述滑块204内壁安装有弹簧开关209，所述滑块204表面一侧安装有复位块210。

其中，还包括辅助机构3，所述辅助机构3具体由阻尼轴承301、显示器302、限位杆303、电池盒304和开关305组成；通过辅助机构3让整体收纳能力更强，更便于携带。

其中，所述外壳1表面安装有阻尼轴承301，所述阻尼轴承301表面安装有显示器302，所述外壳1表面安装有限位杆303，且限位杆303有两个，所述外壳1内壁安装有电池盒304，所述外壳1表面安装有开关305；阻尼转轴301让显示器302可以根据使用者调整固定于想要位置，电池盒304给整个装置进行供电，而限位杆303则在不使用时对滑块204进行限位，让滑块204可以长时间保持一定位置不动。

其中，所述限位杆303和滑块204相互配合插接；通过限位杆303插入滑块204中，从而对滑块204进行位置的限定。

需要说明的是，本实用新型为一种半导体芯片检测装置，在使用时将电池盒304充满电，将整个装置运输至指定地点，根据使用习惯转动显示器302，让其到达想要角度，并且将限位杆303从滑块204表面拔出，在复位块210的作用下，两个滑块204依旧保持贴合状态，有效的阻挡了外界灰尘的进入，在使用时将两个滑块204向外扳开，将芯片放置于检测板202表面，松开滑块204即可在复位块210的作用下让两者重新贴合，用力按动按动块206，在按动块206的作用下，会带动其表面的挤压块207和接触块208向下移动与芯片相互接触，并且在弹簧杆203弹力以及挤压块207弹力共同作用下，将两者柔性接触从而降低了对芯片的损伤，并且可以让检测板202和芯片牢牢的结合，并且在按动块206按动时，其表面会挤压弹簧开关207，通过弹簧开关207启动检测板202，检测板202将检测数据及时上传至显示器302，这样即可完成检测，整体检测较为便捷，检测效率较高，使用完毕后，将芯片取出，重新将限位杆303插入滑块204表面，对其进行限位，整体收纳性较强，可以随身携带，并且操作较为便捷，适合对精密仪器芯片进行实地检测。

以上显示和描述了本实用新型的基本原理和主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。本实用新型要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。

Claims (4)

1.一种半导体芯片检测装置，包括外壳(1)，其特征在于，还包括检测机构(2)，所述检测机构(2)具体由检测框(201)、检测板(202)、弹簧杆(203)、滑块(204)、滑槽(205)、按动块(206)、挤压块(207)、接触块(208)、弹簧开关(209)和复位块(210)组成，所述外壳(1)内壁焊接有弹簧杆(203)，所述弹簧杆(203)表面一侧安装有检测框(201)，所述检测框(201)表面安装有检测板(202)，所述外壳(1)表面配合滑动连接有滑块(204)，所述滑块(204)内壁安装有滑槽(205)，所述滑槽(205)表面配合滑动连接有按动块(206)，所述按动块(206)表面固定连接有挤压块(207)，所述挤压块(207)表面另一侧安装有接触块(208)，所述滑块(204)内壁安装有弹簧开关(209)，所述滑块(204)表面一侧安装有复位块(210)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体芯片检测装置，其特征在于：还包括辅助机构(3)，所述辅助机构(3)具体由阻尼轴承(301)、显示器(302)、限位杆(303)、电池盒(304)和开关(305)组成。

3.根据权利要求2所述的一种半导体芯片检测装置，其特征在于：所述外壳(1)表面安装有阻尼轴承(301)，所述阻尼轴承(301)表面安装有显示器(302)，所述外壳(1)表面安装有限位杆(303)，且限位杆(303)有两个，所述外壳(1)内壁安装有电池盒(304)，所述外壳(1)表面安装有开关(305)。

4.根据权利要求2所述的一种半导体芯片检测装置，其特征在于：所述限位杆(303)和滑块(204)相互配合插接。

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