CN215639772U

CN215639772U - 一种用于高照度校准的标准装置

Info

Publication number: CN215639772U
Application number: CN202122457732.1U
Authority: CN
Inventors: 汤坤; 刘宏欣; 刘玉龙; 刘美
Original assignee: Suzhou Institute Of Metrology
Current assignee: Suzhou Institute Of Metrology
Priority date: 2021-10-13
Filing date: 2021-10-13
Publication date: 2022-01-25
Anticipated expiration: 2031-10-13

Abstract

本实用新型提供一种用于高照度校准的标准装置，涉及照度校准技术领域。该装置包括：发光二极管面光源、光阑、衰减片、测量平台、标准照度计、光轨；面光源设置在光轨左端，测量平台设置在光轨右端，光阑和衰减片设置在面光源与测量平台之间；面光源、光阑、衰减片及测量平台均能够在光轨上移动；面光源的最大照度为5×10⁵lx以上；标准照度计作为测量照度时比对用的标准器；标准装置的照度测量范围为1×10⁴lx～5×10⁵lx。该装置采用照度为5×10⁵lx以上的面光源，能够实现高照度校准，利用标准照度计，采用比对法进行照度校准，可提高校准结果的准确度，选用衰减片进行衰减，可避免光谱响应对测量结果带来的误差。

Description

一种用于高照度校准的标准装置

技术领域

本实用新型涉及照度校准技术领域，具体涉及一种用于高照度校准的标准装置。

背景技术

随着我国军工、航天航空和航海等领域的快速发展，照度计的高照度值溯源需求越来越大，目前常规的光照度标准装置已无法满足对高照度的溯源需求，目前发光强度标准灯加光轨是用于校准常规照度计的标准装置，该装置具有操控性强、稳定性好、可靠性高等优势，但是现有的照度计标准装置存在以下问题：(1)一般测量范围较小，通常小于10000lx，难以满足高照度照度计的溯源需求；(2)光轨、标准电阻、电源等配套标准器较多，调试使用过程较为繁琐；(3)电流使用不当时，易造成标准灯损坏；(4)发光强度标准灯无法做到很大的发光强度，难以实现高照度的溯源需求。

因此，为了解决市面上对高照度值的溯源需求，急需提供一款高照度标准装置。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，针对上述现有技术的不足，提供一种用于高照度校准的标准装置，以解决高照度的校准溯源问题。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案如下：本实用新型提供了一种用于高照度校准的标准装置，该标准装置包括：发光二极管面光源、光阑、衰减片、测量平台、标准照度计、光轨；

发光二极管面光源设置在光轨的左端，测量平台设置在光轨的右端，光阑和衰减片设置在发光二极管面光源与测量平台之间；

发光二极管面光源、光阑、衰减片以及测量平台均能够在光轨上移动；

发光二极管面光源上设置有开关以及调节旋钮，调节旋钮用于调节发光二极管面光源的光源强弱，发光二极管面光源的最大照度为5×10⁵lx以上；

标准照度计作为测量照度时比对用的标准器，标准照度计的测量范围为1mlx～60000lx；

标准装置的照度测量范围为1×10⁴lx～5×10⁵lx。

可选地，光阑包括第一光阑和第二光阑，第一光阑位于靠近发光二极管面光源一侧，第二光阑位于靠近测量平台一侧，衰减片设置在第二光阑上。

可选地，发光二极管面光源为长方体光源，长方体光源的内部为电源、光源和可调电阻的集成体，长方体光源的正面为出光口，出光口处覆盖有漫射白板。

可选地，发光二极管面光源的光源不均匀性≤2％，并且发光二极管面光源的光源强弱能够连续调节。

可选地，衰减片的测量范围为1％～50％。

可选地，发光二极管面光源的最大亮度为1×10⁶cd/m²以上，标准装置还包括标准亮度计，标准亮度计作为测量亮度时比对用的标准器，标准亮度计的测量范围为0～30000cd/m²。

可选地，标准装置的亮度测量范围为3×10⁴cd/m²～1×10⁶cd/m²。

可选地，光轨长度为2m以上。

可选地，光轨上的刻度精度为0.1mm。

本实用新型的有益效果包括：

本实用新型提供的用于高照度校准的标准装置包括：发光二极管面光源、光阑、衰减片、测量平台、标准照度计、光轨；发光二极管面光源设置在光轨的左端，测量平台设置在光轨的右端，光阑和衰减片设置在发光二极管面光源与测量平台之间；发光二极管面光源、光阑、衰减片以及测量平台均能够在光轨上移动；发光二极管面光源上设置有开关以及调节旋钮，调节旋钮用于调节发光二极管面光源的光源强弱，发光二极管面光源的最大照度为5×10⁵lx以上；标准照度计作为测量照度时比对用的标准器，标准照度计的测量范围为1mlx～60000lx；标准装置的照度测量范围为1×10⁴lx～5×10⁵lx。该标准装置采用照度为5×10⁵lx以上的发光二极管面光源，能够实现照度测量范围为1×10⁴lx～5×10⁵lx的高照度校准，通过利用标准照度计，采用比对法进行照度校准，可有效提高校准结果的准确度，选用物理衰减片对高照度进行衰减，不改变光谱形状，可避免光谱响应对测量结果带来的误差。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1示出了本实用新型一实施例提供的用于高照度校准的标准装置的结构示意图；

图2示出了本实用新型另一实施例提供的用于高照度校准的标准装置的结构示意图。

附图标记：1-LED面光源；2-光阑；3-衰减片；4-测量平台；5-标准照度计；6-光轨；7-标准亮度计。

具体实施方式

为使本实用新型实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本实用新型实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是该实用新型产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本实用新型的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

现有的照度计标准装置存在以下问题：(1)一般测量范围较小，通常小于10000lx，难以满足高照度照度计的溯源需求；(2)光轨、标准电阻、电源等配套标准器较多，调试使用过程较为繁琐；(3)电流使用不当时，易造成标准灯损坏；(4)发光强度标准灯无法做到很大的发光强度，难以实现高照度的溯源需求。因此，为了解决市面上对高照度值的溯源需求，急需提供一款高照度标准装置。

图1示出了本实用新型一实施例提供的用于高照度校准的标准装置的结构示意图，如图1所示，本实用新型实施例提供的用于高照度校准的标准装置包括：发光二极管(LED)面光源1、光阑2、衰减片3、测量平台4、标准照度计5、光轨6；发光二极管面光源1设置在光轨6的左端，测量平台4设置在光轨6的右端，光阑2和衰减片3设置在发光二极管面光源1与测量平台4之间；发光二极管面光源1、光阑2、衰减片3以及测量平台4均能够在光轨6上移动；发光二极管面光源1上设置有开关以及调节旋钮，调节旋钮用于调节发光二极管面光源1的光源强弱，发光二极管面光源1的最大照度为5×10⁵lx以上；标准照度计5作为测量照度时比对用的标准器，标准照度计5的测量范围为1mlx～60000lx；标准装置的照度测量范围为1×10⁴lx～5×10⁵lx。

该标准装置采用照度为5×10⁵lx以上的发光二极管面光源，能够实现照度测量范围为1×10⁴lx～5×10⁵lx的高照度校准，通过利用标准照度计，采用比对法进行照度校准，可有效提高校准结果的准确度，选用物理衰减片对高照度进行衰减，不改变光谱形状，可避免光谱响应对测量结果带来的误差。

可选地，光阑2包括第一光阑和第二光阑，第一光阑位于靠近发光二极管面光源1一侧，第二光阑位于靠近测量平台4一侧，衰减片3设置在第二光阑上。

可选地，发光二极管面光源1为长方体光源，厚度较薄，长方体光源的内部为电源、光源和可调电阻的集成体，长方体光源的正面为出光口，出光口处覆盖有漫射白板。

可选地，发光二极管面光源1的光源不均匀性≤2％，并且发光二极管面光源1的光源强弱能够连续调节。可选地，衰减片3的测量范围为1％～50％。

可选地，光轨6长度为2m以上。可选地，光轨6上的刻度精度为0.1mm。可选地，发光二极管面光源1的最大亮度为1×10⁶cd/m²以上，如图2所示，标准装置还包括标准亮度计7，标准亮度计7作为测量亮度时比对用的标准器，标准亮度计7的测量范围为0～30000cd/m²。该标准装置不但可以满足高照度值的溯源，同时还可以对高亮度值进行溯源，标准装置的亮度测量范围为3×10⁴cd/m²～1×10⁶cd/m²。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims

1.一种用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述标准装置包括：发光二极管面光源、光阑、衰减片、测量平台、标准照度计、光轨；

所述发光二极管面光源设置在所述光轨的左端，所述测量平台设置在所述光轨的右端，所述光阑和所述衰减片设置在所述发光二极管面光源与所述测量平台之间；

所述发光二极管面光源、所述光阑、所述衰减片以及所述测量平台均能够在所述光轨上移动；

所述发光二极管面光源上设置有开关以及调节旋钮，所述调节旋钮用于调节所述发光二极管面光源的光源强弱，所述发光二极管面光源的最大照度为5×10⁵lx以上；

所述标准照度计作为测量照度时比对用的标准器，所述标准照度计的测量范围为1mlx～60000lx；

所述标准装置的照度测量范围为1×10⁴lx～5×10⁵lx。

2.根据权利要求1所述的用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述光阑包括第一光阑和第二光阑，所述第一光阑位于靠近所述发光二极管面光源一侧，所述第二光阑位于靠近所述测量平台一侧，所述衰减片设置在所述第二光阑上。

3.根据权利要求1所述的用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述发光二极管面光源为长方体光源，所述长方体光源的内部为电源、光源和可调电阻的集成体，所述长方体光源的正面为出光口，所述出光口处覆盖有漫射白板。

4.根据权利要求3所述的用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述发光二极管面光源的光源不均匀性≤2％，并且所述发光二极管面光源的光源强弱能够连续调节。

5.根据权利要求4所述的用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述衰减片的测量范围为1％～50％。

6.根据权利要求5所述的用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述发光二极管面光源的最大亮度为1×10⁶cd/m²以上，所述标准装置还包括标准亮度计，所述标准亮度计作为测量亮度时比对用的标准器，所述标准亮度计的测量范围为0～30000cd/m²。

7.根据权利要求6所述的用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述标准装置的亮度测量范围为3×10⁴cd/m²～1×10⁶cd/m²。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述光轨长度为2m以上。

9.根据权利要求8所述的用于高照度校准的标准装置，其特征在于，所述光轨上的刻度精度为0.1mm。