CN215492827U - 基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具 - Google Patents

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韦忠飞
吴梦瑶
苏琛尧
李宗柯
冯世豪
刘雯雯
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Abstract

本实用新型公开了基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具,涉及一种拉伸夹具,在下连接杆的顶端固定连接有夹具底座,在上连接杆的底端固定连接有拉杆,拉杆整体呈“U”字形结构,且该芯片拉伸试验夹具还包括设置在夹具底座和拉杆之间的粘接件,在粘接件的顶部贯穿开设有通槽,在通槽的内部顶端固定连接有接触件,接触件底部的接触面为半球形结构,拉杆的下半部分穿插在通槽的内部,该芯片拉伸试验夹具优化了拉杆的稳定性,在实际使用过程中受力更加可靠,拉杆凹面与粘接构件金属球形工具的配合也更加便捷,使实验更加顺利高效,能够在芯片拉脱试验中得到更强有力的可靠数据,从而为评价焊缝的可靠性提供了高可信度的数据。

Description

基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具
技术领域
本实用新型涉及一种拉伸夹具,具体为基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具。
背景技术
在倒装芯片拉脱试验中,传统刚性卡式施力,测试施力方向要求高,控制困难,测试值与真实值之间存在很大的偏差,影响统计数据分析的准确性。当芯片面积比较小时,显然施力垂直度对施加力的均匀性影响不大;但当芯片面积大(如 10mm×10 mm 甚至更大时),会出现某侧边凸点的应力集中现象,使凸点先被撕裂,导致芯片测试值与真实值之间的误差增大。
现有所使用的芯片拉伸试验夹具,结构如图1、图2所示,该夹具在实际使用时,首先将芯片放置在夹具底座5上的芯片放置区6中,万能试验机通过第一连接杆1与拉杆3连接在一起,拉杆3的下方通过限位槽5和球形结构的接触件9连接有粘接件7,粘接件7与芯片盖板粘接在一起,万能试验机拉动拉杆3,拉杆3施加拉力,借助粘接件7对芯片盖板进行拉伸;
但是在图中,所使用的拉杆3整体呈“L”字形结构,L形拉杆容易变形,并且使用过程中L形拉杆不易与粘接件7结合,由于拉脱的临界力较大,即使拉杆下端的力臂较短,也可以对L上端产生很大的弯矩,导致拉钩变形。在对一些拉脱应力较小的芯片实验时,对拉脱钩的影响不大,但是如果应力过大则拉钩无法第二次使用。并且该夹具主要是与万能试验机配合使用,在进行芯片拉脱实验时,要先将拉杆和底座分别固定在万能试验机上,此时拉杆底部处于粘接构件上方空隙处,但并未与其球形工具接触。在万能试验机慢速上升的过程中使拉杆凹面慢慢与球形工具接触,操作十分不便,需要多次调试万能试验机,并且施力为垂直芯片表面方向的准确性有所降低,为此,本领域的技术人员提出了基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具。
实用新型内容
针对现有技术的不足,本实用新型提供了基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具,该芯片拉伸试验夹具是基于L形构件受力容易变形且不易操作的缺陷,在不改变球形接触方式的前提下,更改拉杆结构。
为实现以上目的,本实用新型通过以下技术方案予以实现:基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具,包括均固定安装在万能试验机上的上连接杆和下连接杆,所述下连接杆的顶端固定连接有夹具底座,在所述上连接杆的底端固定连接有拉杆,所述拉杆整体呈“U”字形结构;
还包括设置在夹具底座和拉杆之间的粘接件,在所述粘接件的顶部贯穿开设有通槽,在所述通槽的内部顶端固定连接有接触件,所述接触件底部的接触面为半球形结构,所述拉杆的下半部分穿插在通槽的内部。
进一步的,在“U”形结构所述拉杆的开口处,铰接有一块尺寸相适配的活动挡板,所述活动挡板的顶端与拉杆的一端铰接在一起,所述活动挡板的底端与拉杆的另一端之间通过销轴杆形成限位连接结构。
进一步的,在所述拉杆的内部底端开设有限位槽,所述接触件和限位槽的位置相对应,尺寸相适配。
进一步的,在所述夹具底座的顶部且位于粘接件的正下方位置设置有芯片放置区。
进一步的,在所述上连接杆和下连接杆的内部均开设有用于连接的孔。
有益效果
本实用新型提供了基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具。与现有技术相比具备以下有益效果:
基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具,通过将芯片拉伸试验夹具中常用的L型拉杆结构更改为U型拉杆结构,大大增加了受力面积,同时U型结构的左右两边还可以保证结构的稳定性,并且,该结构融合了现有拉脱夹具的球形接触模式,保证施力能垂直于芯片表面,对芯片盖板进行垂直拉伸,优化了拉杆的稳定性,在实际使用过程中受力更加可靠,拉杆凹面与粘接构件金属球形工具的配合也更加便捷,使实验更加顺利高效,能够在芯片拉脱试验中得到更强有力的可靠数据,从而为评价焊缝的可靠性提供了高可信度的数据。
附图说明
图1为现有芯片拉伸试验夹具的装配结构示意图;
图2为现有芯片拉伸试验夹具的分解结构示意图;
图3为本实用新型的装配结构示意图;
图4为本实用新型的分解结构示意图;
图5为本实用新型图3中A-A断面的剖视图。
图中:1、上连接杆;2、下连接杆;3、拉杆;4、夹具底座;5、限位槽;6、芯片放置区;7、粘接件;8、通槽;9、接触件;10、销轴杆;11、活动挡板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图3-5,本实用新型提供一种技术方案:基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具,包括均固定安装在万能试验机上的上连接杆1和下连接杆2,在上连接杆1和下连接杆2的内部均开设有用于连接的孔,下连接杆2的顶端固定连接有夹具底座4,在夹具底座4的顶部且位于粘接件7的正下方位置设置有芯片放置区6,在上连接杆1的底端固定连接有拉杆3,拉杆3整体呈“U”字形结构,在拉杆3的内部底端开设有限位槽5,接触件9和限位槽5的位置相对应,尺寸相适配,在“U”形结构拉杆3的开口处,铰接有一块尺寸相适配的活动挡板11,活动挡板11的顶端与拉杆3的一端铰接在一起,活动挡板11的底端与拉杆3的另一端之间通过销轴杆10形成限位连接结构,拔掉销轴杆10后,解除对活动挡板11底端的限制,从而让活动挡板11以拉杆3的顶端为旋转中心进行旋转,促使U型拉杆结构被打开,更便于粘接件7的放入,省时省力。
另外,该芯片拉伸试验夹具,还包括设置在夹具底座4和拉杆3之间的粘接件7,在粘接件7的顶部贯穿开设有通槽8,在通槽8的内部顶端固定连接有接触件9,接触件9底部的接触面为半球形结构,拉杆3的下半部分穿插在通槽8的内部。
使用时,将芯片放置在夹具底座5上的芯片放置区6中,万能试验机通过第一连接杆1与拉杆3连接在一起,拉杆3的下方通过限位槽5和球形结构的接触件9连接有粘接件7,粘接件7与芯片盖板粘接在一起,万能试验机拉动拉杆3,拉杆3施加拉力,借助粘接件7对芯片盖板进行拉伸,在该芯片拉伸试验夹具的结构中,将芯片拉伸试验夹具中常用的L型拉杆结构更改为U型拉杆结构,大大增加了受力面积,同时U型结构的左右两边还可以保证结构的稳定性,并且,该结构融合了现有拉脱夹具的球形接触模式,保证施力能垂直于芯片表面,对芯片盖板进行垂直拉伸,优化了拉杆的稳定性,在实际使用过程中受力更加可靠,拉杆凹面与粘接构件金属球形工具的配合也更加便捷,使实验更加顺利高效,能够在芯片拉脱试验中得到更强有力的可靠数据,从而为评价焊缝的可靠性提供了高可信度的数据。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具,包括均固定安装在万能试验机上的上连接杆(1)和下连接杆(2),所述下连接杆(2)的顶端固定连接有夹具底座(4),其特征在于,在所述上连接杆(1)的底端固定连接有拉杆(3),所述拉杆(3)整体呈“U”字形结构;
还包括设置在夹具底座(4)和拉杆(3)之间的粘接件(7),在所述粘接件(7)的顶部贯穿开设有通槽(8),在所述通槽(8)的内部顶端固定连接有接触件(9),所述接触件(9)底部的接触面为半球形结构,所述拉杆(3)的下半部分穿插在通槽(8)的内部。
2.根据权利要求1所述的基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具,其特征在于,在“U”形结构所述拉杆(3)的开口处,铰接有一块尺寸相适配的活动挡板(11),所述活动挡板(11)的顶端与拉杆(3)的一端铰接在一起,所述活动挡板(11)的底端与拉杆(3)的另一端之间通过销轴杆(10)形成限位连接结构。
3.根据权利要求1所述的基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具,其特征在于,在所述拉杆(3)的内部底端开设有限位槽(5),所述接触件(9)和限位槽(5)的位置相对应,尺寸相适配。
4.根据权利要求1所述的基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具,其特征在于,在所述夹具底座(4)的顶部且位于粘接件(7)的正下方位置设置有芯片放置区(6)。
5.根据权利要求1所述的基于球形接触方式的垂直拉伸性更优的芯片拉伸试验夹具,其特征在于,在所述上连接杆(1)和下连接杆(2)的内部均开设有用于连接的孔。
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