CN215375644U - 一种用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头 - Google Patents
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Abstract
一种用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头，包括探头本体，所述探头本体下部外侧通过固定板上的连接轴转动连接有握把，所述握把上设有控制开关；所述探头本体上部外侧滑动设有防护罩；所述探头本体左端活动连接有漫反射板；所述探头本体右端设有显示屏；所述探头本体中部固接有检测头组件。本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头与绝缘材料接触检测时不漏光，可随时随地提供漫反射测试背景条件，测试结果准确，方便携带和使用，防护措施完善。
Description
技术领域
本实用新型涉及一种近红外光谱仪测试探头，具体涉及一种用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头。
背景技术
随着老化时间的增加，变压器的固体绝缘材料中的硅油和矿物油中的绝缘纸的DP值（聚合度值）均不断下降。在热老化的初期，绝缘纸的DP值近似呈指数式快速地下降；在老化的中期，其下降速度逐渐变慢；而在老化的后期，绝缘纸的DP值几乎不再随着老化时间的增加而继续下降，并最终趋于一稳定值。因此，可以用测试近红外光谱的方式测试固体绝缘材料的聚合度，从而判断其老化程度。
近红外光谱仪主要是由于分子振动的非谐振性使分子振动从基态向高能级跃迁时产生的，记录的主要是含氢基团X-H（X=C、N、O）振动的倍频和合频吸收，近红外光是介于可见光和中红外光之间的电磁波，ASTM定义的近红外光谱区的波长范围为780～2526nm，由于近红外光在常规光纤中有良好的传输特性，且其仪器较简单、分析速度快、非破坏性和样品制备量小、几乎适合各类样品分析、多组分多通道同时测定等特点。
但是，现有的近红外光谱仪的测试探头结构单一，由于测试探头与绝缘材料接触部分漏光以及现场测试的背景条件复杂，极大的影响了现场测试结果的准确性。另外，现有的近红外光谱仪的测试探头上的握把都是固定连接，不方便收起，使得在携带或使用近红外光谱仪测试探头时不方便，且现有的近红外光谱仪上的测试探头缺少防护措施，容易损坏。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题是，克服现有技术存在的上述缺陷，提供一种测试探头与绝缘材料接触检测时不漏光，可随时随地提供漫反射测试背景条件，测试结果准确，方便携带和使用，防护措施完善的用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头。
本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案如下：一种用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头，包括探头本体，所述探头本体下部外侧通过固定板上的连接轴转动连接有握把，所述握把上设有控制开关；所述探头本体上部外侧滑动设有防护罩；所述探头本体左端活动连接有漫反射板；所述探头本体右端设有显示屏；所述探头本体中部固接有检测头组件。
本实用新型的工作过程是：使用时，打开漫反射板，将绝缘材料置于漫反射板内侧面，再将漫反射板扣于探头本体左端，打开防护罩和握把，手持握把将探头本体的漫反射板端水平置于桌面上，打开控制开关，在显示屏上读取检测数据，检测完毕，关闭控制开关，打开漫反射板，取出绝缘材料，折叠握把。
优选地，所述探头本体两侧设有通气孔，所述通气孔的上下两侧设有第一滑轨，所述通气孔的左右两侧设有连接孔。
优选地，所述通气孔外侧面设有防护网，所述防护网上下两侧设有与第一滑轨滑动匹配的第一滑块，所述防护网左右两侧设有与连接孔对应的连接块。防护网可对通气孔起到遮挡防护作用，致使通气孔内部不容易进入灰尘等杂质，且通气孔的通气功能也不会受影响。连接块通过安装螺丝与连接孔相连接。
优选地，与所述握把折叠方向相对的所述探头本体下部外侧设有第二滑轨，第二滑轨上通过第二滑块滑动连接有卡扣。检测结束后，折叠握把后，沿第二滑轨推动卡扣，让卡扣固定在握把外侧面，使得近红外光谱仪的测试探头携带更方便，且不易误碰到控制开关。
优选地，所述漫反射板为白陶瓷板或聚四氟乙烯板。
优选地，所述漫反射板内侧固接有与探头本体左端内侧密封匹配的密封圈。使用时，将漫反射板上密封圈的外侧面扣于探头本体左端内侧，避免了漏光的发生。
优选地，所述漫反射板还设有外径与密封圈内径相匹配的活动箍环。使用时，将绝缘材料置于密封圈与活动箍环之间，在活动箍环向漫反射板推紧的过程中，绝缘材料被紧紧的夹持于密封圈的内侧面与活动箍环的外侧面之间，并平整的铺于漫反射板内侧面。可避免绝缘材料的移动，且保证绝缘材料更为平整，还避免了夹持部件对检测结果的干扰，使得检测结果更为准确。
优选地，所述漫反射板侧边设有第一连接环，所述探头本体左端上部外侧设有与第一连接环相对应的第二连接环。
优选地，所述第一连接环与第二连接环之间由连接带连接。
优选地，所述检测头组件的光源为钨灯。
本实用新型的有益效果如下：本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头在使用时，测试探头与绝缘材料接触检测时不漏光，可随时随地提供漫反射测试背景条件，测试结果准确，方便携带和使用，防护措施完善。
附图说明
图1是本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头的展开结构示意图（无防护网）；
图2是本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头的折叠结构示意图；
图3是本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头的左视结构示意图；
图4是本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头的右视结构示意图；
图5是本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头的探头本体的横截面结构示意图；
图6是本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头的漫反射板内侧的结构示意图；
图7是本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头的漫反射板的纵截面结构示意图；
图8是本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头的防护网的侧视图（安装时）；
图9是本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头的第二滑轨的横截面结构示意图；
图10是本实用新型用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头的卡扣结构示意图。
具体实施方式
下面结合实施例和附图对本实用新型作进一步说明。
实施例
如图1～10所示，一种用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头，包括探头本体1，所述探头本体1下部外侧通过固定板1-1上的连接轴1-1-1转动连接有握把2，所述握把2上设有控制开关2-1；所述探头本体1上部外侧滑动设有防护罩3；所述探头本体1左端活动连接有漫反射板4；所述探头本体1右端设有显示屏5；所述探头本体1中部固接有检测头组件6；所述探头本体1两侧设有通气孔1-2，所述通气孔1-2的上下两侧设有第一滑轨1-2-1，所述通气孔1-2的左右两侧设有连接孔1-3；所述通气孔1-2外侧面设有防护网7，所述防护网7上下两侧设有与第一滑轨1-2-1滑动匹配的第一滑块7-1，所述防护网7左右两侧设有与连接孔1-3对应的连接块7-2，连接块7-2通过安装螺丝7-2-1与连接孔1-3相连接；与所述握把2折叠方向相对的所述探头本体1下部外侧设有第二滑轨1-4，第二滑轨1-4上通过第二滑块8-1滑动连接有卡扣8；所述漫反射板4为白陶瓷板；所述漫反射板4内侧固接有与探头本体1左端内侧密封匹配的密封圈4-1；所述漫反射板4还设有外径与密封圈4-1内径相匹配的活动箍环4-2；所述漫反射板4侧边设有第一连接环4-3，所述探头本体1左端上部外侧设有与第一连接环4-3相对应的第二连接环1-5；所述第一连接环4-3与第二连接环1-5之间由连接带1-5-1连接；所述检测头组件6的光源为钨灯。
本实用新型的工作过程是：使用时，打开漫反射板4，将绝缘材料置于密封圈4-1与活动箍环4-2之间，在活动箍环4-2向漫反射板4推紧的过程中，绝缘材料被紧紧的夹持于密封圈4-1的内侧面与活动箍环4-2的外侧面之间，并平整的铺于漫反射板4内侧面，再将漫反射板4上密封圈4-1的外侧面扣于探头本体1左端内侧，打开防护罩3和握把2，手持握把2将探头本体1的漫反射板4端水平置于桌面上，打开控制开关2-1，在显示屏5上读取检测数据，检测完毕，关闭控制开关2-1，打开漫反射板4，取出绝缘材料，折叠握把2，沿第二滑轨1-4推动卡扣8，让卡扣8固定在握把2外侧面。
Claims (5)
1.一种用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头，包括探头本体，其特征在于：所述探头本体下部外侧通过固定板上的连接轴转动连接有握把，所述握把上设有控制开关；所述探头本体上部外侧滑动设有防护罩；所述探头本体左端活动连接有漫反射板；所述探头本体右端设有显示屏；所述探头本体中部固接有检测头组件。
2.根据权利要求1所述用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头，其特征在于：所述探头本体两侧设有通气孔，所述通气孔的上下两侧设有第一滑轨，所述通气孔的左右两侧设有连接孔；所述通气孔外侧面设有防护网，所述防护网上下两侧设有与第一滑轨滑动匹配的第一滑块，所述防护网左右两侧设有与连接孔对应的连接块。
3.根据权利要求1或2所述用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头，其特征在于：与所述握把折叠方向相对的所述探头本体下部外侧设有第二滑轨，第二滑轨上通过第二滑块滑动连接有卡扣。
4.根据权利要求1或2所述用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头，其特征在于：所述漫反射板为白陶瓷板或聚四氟乙烯板；所述漫反射板内侧固接有与探头本体左端内侧密封匹配的密封圈；所述漫反射板还设有外径与密封圈内径相匹配的活动箍环；所述漫反射板侧边设有第一连接环，所述探头本体左端上部外侧设有与第一连接环相对应的第二连接环；所述第一连接环与第二连接环之间由连接带连接；所述检测头组件的光源为钨灯。
5.根据权利要求3所述用于绝缘材料测试的近红外光谱仪测试探头，其特征在于：所述漫反射板为白陶瓷板或聚四氟乙烯板；所述漫反射板内侧固接有与探头本体左端内侧密封匹配的密封圈；所述漫反射板还设有外径与密封圈内径相匹配的活动箍环；所述漫反射板侧边设有第一连接环，所述探头本体左端上部外侧设有与第一连接环相对应的第二连接环；所述第一连接环与第二连接环之间由连接带连接；所述检测头组件的光源为钨灯。
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