CN215262352U - 一种滤光片透过率测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种滤光片透过率测试系统，其成本低廉、操作方便简单。该系统沿光射出的方向依次设置有光源、衰减器、第一光纤、第一准直透镜、待测滤光片、第二准直透镜、第二光纤、光谱仪；光谱仪与计算机连接；衰减器设置于光源的出光口处，第一光纤一端安装于衰减器的出光口处，另一端安装于第一固定接头，第一固定接头和第一准直透镜安装于第一安装治具上；待测滤光片插装于安装座；第二光纤一端安装于光谱仪的进光口处，另一端安装于第二固定接头，第二固定接头和第二准直透镜安装于第二安装治具上；第一固定接头、第一准直透镜、待测滤光片、第二准直透镜和第二固定接头均设置于遮光罩内部。

Description

一种滤光片透过率测试系统

技术领域

本实用新型属于滤光片测试领域，具体的涉及一种滤光片透过率测试系统。

背景技术

进入二十一世纪，随着光电行业科学技术的发展，基于激光激发-荧光光谱探测技术设计的医疗检测设备得到了充足的开发，并在越来越多的领域得到了广泛的应用，诸如DNA测试仪、流式细胞分析仪等。

在这些应用中，为正确分析待测样品产生的多种多样的荧光信号，需要使用多种多样的低通或长通或带通荧光滤光片。在仪器设备的生产和测试过程中，获知和确认这些所用荧光滤光片的光学参数（如透过率、带宽）中是至关重要的，而不仅仅相信供应商提供的出货报告。通常而言，测试这些荧光滤光片的光学参数必须使用复杂且昂贵的测试设备，如台式光学透过率测试仪，这样的设备不仅能测试滤光片透过率，又能测试其他类型的光学元件的相关参数。因此，针对基于激光激发-荧光光谱探测技术的仪器设备商开发一种低成本、操作简单方便的滤光片测试系统，用以测试滤光片透过率等光学参数，是具有非常重要的积极意义。

发明内容

为了解决现有检测设备复杂且昂贵的问题，本实用新型提供了一种滤光片透过率测试系统，其成本低廉、操作方便简单。

为了达到上述目的，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种滤光片透过率测试系统，其包括安装座，其特征在于： 该系统沿光射出的方向依次设置有光源、衰减器、第一光纤、第一准直透镜、待测滤光片、第二准直透镜、第二光纤、光谱仪；所述光谱仪与计算机连接；所述衰减器设置于所述光源的出光口处，第一光纤一端安装于所述衰减器的出光口处，另一端安装于第一固定接头，所述第一固定接头和所述第一准直透镜安装于第一安装治具上；所述待测滤光片插装于所述安装座；所述第二光纤一端安装于所述光谱仪的进光口处，另一端安装于第二固定接头，所述第二固定接头和所述第二准直透镜安装于第二安装治具上；所述第一固定接头、所述第一准直透镜、所述待测滤光片、所述第二准直透镜和所述第二固定接头均设置于遮光罩内部。

其进一步特征在于：

所述光源和光谱仪的底座各自设置一个控温模块；

所述第一安装治具、第二安装治具、安装座固定于底座上；

所述的第一光纤和所述第二光纤为相同规格型号的多模光纤，多模芯径为400微米或600微米或者800微米；

所述的第一准直透镜和所述第二准直透镜为具有相同规格的正光焦度的自聚焦透镜；

所述光源采用宽发射光谱的卤素光源；

所述衰减器为透过率可调的衰减器。

本实用新型的有益效果为： 光源发出的光通过衰减器耦合进入第一光纤一端，通过调整衰减器，实现控制进入第一光纤一端的光的强度，避免光谱仪因接收到过强的光出现过饱和现；进入第一光纤的光通过第一准直透镜得以准直后，照射到待测滤光片上，通过待测滤光片的光被第二光纤透镜聚焦后进入第二光纤内，第二光纤接光谱仪,计算机对与其相接的光谱仪接收的光进行分析处理，其成本低廉、操作方便简单。

附图说明

图1是本实用新型的整体结构示意图；

图中： 1-光源；2-衰减器；3-第一光纤；31-第一固定接头；32-第一准直透镜；33-第一安装治具；4-第二光纤；41-第二固定接头；42-第二准直透镜；43-第二安装治具；5-待测滤光片；6-安装座；7-底座；8-遮光罩；9-光谱仪；10-控温模块；11-计算机。

具体实施方式

为了加深对本实用新型的理解，下面将结合附图和实施例对本实用新型做进一步详细描述，该实施例仅用于解释本实用新型，并不对本实用新型的保护范围构成限定。

一种滤光片透过率测试系统，其包括安装座6，该系统沿光射出的方向依次设置有光源1、衰减器2、第一光纤3、第一准直透镜32、待测滤光片5、第二准直透镜42、第二光纤4、光谱仪9；所述光谱仪9与计算机11连接；所述衰减器2设置于所述光源1的出光口处，第一光纤3一端安装于所述衰减器2的出光口处，另一端安装于第一固定接头31，所述第一固定接头31和所述第一准直透镜32安装于第一安装治具33上；所述待测滤光片5插装于所述安装座6；所述第二光纤4一端安装于所述光谱仪9的进光口处，另一端安装于第二固定接头41，所述第二固定接头41和所述第二准直透镜42安装于第二安装治具43上；所述第一固定接头31、所述第一准直透镜32、所述待测滤光片5、所述第二准直透镜42和所述第二固定接头41均设置于遮光罩8内部，避免测试时室内的环境光对测试结果的干扰和影响。

所述光源1和光谱仪9的底座7各自设置一个控温模块10，用以控制光源1和光谱仪9的工作温度，保证测试时，光源1发射光的光谱和强度的稳定性，光谱仪9内部光学器件的稳定性，降低外界环境温度温差对测试结果的影响；所述第一安装治具33、第二安装治具43、安装座6固定于底座7上；所述的第一光纤3和所述第二光纤4为相同规格型号的多模光纤，多模芯径为400微米或600微米或者800微米；所述的第一准直透镜32和所述第二准直透镜42为具有相同规格的正光焦度的自聚焦透镜；所述光源1采用宽发射光谱的卤素光源1；所述衰减器2为透过率可调的衰减器2；

本实用新型的有益效果为： 光源1发出的光通过衰减器2耦合进入第一光纤3一端，通过调整衰减器2，实现控制进入第一光纤3一端的光的强度，避免光谱仪9因接收到过强的光出现过饱和现；进入第一光纤3的光通过第一准直透镜32得以准直后，照射到待测滤光片5上，通过待测滤光片5的光被第二光纤4透镜聚焦后进入第二光纤4内，第二光纤4接光谱仪9,计算机11对与其相接的光谱仪9接收的光进行分析处理，其成本低廉、操作方便简单。

使用时，首先，未安装待测滤光片5且未打开光源1，罩上遮光罩8，光谱仪9接收遮光罩8内部背景光，计算机11对所测背景光进行分析及归零化处理；之后，打开光源1，继续罩上遮光罩8，光谱仪9接收到光源1发射的光，调整衰减器2，避免光谱仪9出现过饱和现象，计算机11将此时光谱仪9接收的光设定为标准光；最后，将待测滤光片5置于安装座6上，罩上遮光罩8，打开光源1，此时光谱仪9接收的光为信号光；计算机11将上述所测的背景光、标准光及信号光做一系列计算和处理，即可得到待测滤光片5的透过率等参数。

Claims (7)

1.一种滤光片透过率测试系统，其包括安装座，其特征在于： 该系统沿光射出的方向依次设置有光源、衰减器、第一光纤、第一准直透镜、待测滤光片、第二准直透镜、第二光纤、光谱仪；所述光谱仪与计算机连接；所述衰减器设置于所述光源的出光口处，第一光纤一端安装于所述衰减器的出光口处，另一端安装于第一固定接头，所述第一固定接头和所述第一准直透镜安装于第一安装治具上；所述待测滤光片插装于所述安装座；所述第二光纤一端安装于所述光谱仪的进光口处，另一端安装于第二固定接头，所述第二固定接头和所述第二准直透镜安装于第二安装治具上；所述第一固定接头、所述第一准直透镜、所述待测滤光片、所述第二准直透镜和所述第二固定接头均设置于遮光罩内部。

2.根据权利要求1所述的一种滤光片透过率测试系统，其特征在于：所述光源和光谱仪的底座各自设置一个控温模块。

3.根据权利要求2所述的一种滤光片透过率测试系统，其特征在于：所述第一安装治具、第二安装治具、安装座固定于底座上。

4.根据权利要求3所述的一种滤光片透过率测试系统，其特征在于：所述的第一光纤和所述第二光纤为相同规格型号的多模光纤，多模芯径为400微米或600微米或者800微米。

5.根据权利要求4所述的一种滤光片透过率测试系统，其特征在于：所述的第一准直透镜和所述第二准直透镜为具有相同规格的正光焦度的自聚焦透镜。

6.根据权利要求5所述的一种滤光片透过率测试系统，其特征在于：所述光源采用宽发射光谱的卤素光源。

7.根据权利要求6所述的一种滤光片透过率测试系统，其特征在于：所述衰减器为透过率可调的衰减器。

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