CN215261542U - 测量装置 - Google Patents

Abstract

一种测量装置，用于细长工件的测量，包括底座、沿纵向方向固定于所述底座表面上的第一测量座与第二测量座、固定于所述底座纵向一端的滑轨组件及固定于所述滑轨组件上的测量模块，所述第一测量座上开设有第一固定槽，所述第一固定槽的第一端设有正对所述第一固定槽的端定位块，所述第二测量座上开设有第二固定槽，所述第二固定槽中间设有限定所述工件基准中心的限位结构，所述测量模块沿所述滑轨组件在横向方向移动并位于所述第一测量座与第二测量座的第二端。本申请可有效降低设备成本，提升检测效率。

Description

测量装置

技术领域

本实用新型涉及量具领域，特别是涉及一种测量装置。

背景技术

对于细长的轴类工件，精度要求极高，需要进行精密的尺寸测量以避免品质不良。因其长度较长，常规量具无法对其进行高精度检测，比如长宽尺寸，同时还需要检测该工件的对称度。采用接触式高度仪或者图像视觉检测存在检测成本高、检测效率低的问题，接触式高度仪需要将工件一端固定，利用探针接触另一端的方式测量长度；而图像视觉检测需要采用相机结合算法等进行检测，成本较高，且效率较低。以上两种检测方案无法满足大批量的检测需求，急需研发一种高效低成本的测量装置。

实用新型内容

鉴于此，有必要提供一种用于测量细长状工件的测量装置，实现低成本、高效率测量。

为解决上述技术问题，本申请提供了一种测量装置，用于细长工件的测量，包括底座、沿纵向方向固定于所述底座表面上的第一测量座与第二测量座、固定于所述底座纵向一端的滑轨组件及固定于所述滑轨组件上的测量模块，所述第一测量座上开设有第一固定槽，所述第一固定槽的第一端设有正对所述第一固定槽的端定位块，所述第二测量座上开设有第二固定槽，所述第二固定槽中间设有限定所述工件基准中心的限位结构，所述测量模块沿所述滑轨组件在横向方向移动并位于所述第一测量座与第二测量座的第二端。

优选地，所述第一测量座的第二端面作为基准端面，所述端定位块表面到所述第一测量座的基准端面的长度无限接近标准工件的长度。

优选地，所述测量模块包括千分尺及将所述千分尺固定在所述滑轨组件上的固定板，所述千分尺包括朝向所述第一测量座与第二测量座第二端的探针，所述千分尺以所述探针接触所述基准端面为基准零，所述探针接触所述工件一端的读数加上标准工件长度即为所述工件的实际长度。

优选地，所述第一测量座的第一固定槽的内径大于所述工件的最大外径，所述工件在所述第一固定槽内不被固定，所述工件的第一端被限位在所述端定位块的表面上。

优选地，所述第一测量座中间沿横向方向开设有缺口，所述缺口中间向上凸出形成有与所述第一固定槽底面平齐的支撑凸部，所述缺口的表面低于所述支撑凸部的表面，所述支撑凸部的宽度小于所述工件的外径。

优选地，所述测量模块包括千分尺及将所述千分尺固定在所述滑轨组件上的固定板，所述千分尺包括朝向所述第一测量座与第二测量座第二端的探针，所述工件的基准中心限位并固定在所述第二固定槽内，通过180度调转所述工件，使所述工件的第一端与第二端均可朝向所述测量模块，所述探针接触所述工件第一端时作为零基准，所述探针接触所述工件第二端时的读数除以2即为所述工件的对称度。

优选地，所述第二测量座中间沿横向方向开设有缺口，所述缺口中间向上凸出形成有与所述第二固定槽底面平齐的支撑凸部，所述缺口的表面低于所述支撑凸部的表面，所述支撑凸部的宽度小于所述工件的外径。

优选地，所述工件包括弧面及与所述弧面对应的异形面，所述弧面与异形面结合处形成有圆滑过渡的横向凸部，所述第二固定槽内壁面仿形所述工件的弧面，所述工件中间形成有基准段及位于所述基准段两端的限位段，所述基准段的外径大于所述限位段的外径，所述基准段与限位段结合处形成有限位台阶。

优选地，所述第二测量座位于所述缺口纵向两侧设有限位块，所述工件基准段限位于一对所述限位块之间。

优选地，所述横向凸部搭接于所述第二固定槽的上侧边缘上。

本申请测量装置在保证测量精度的同时，将长度检测与对称度检测集成在同一个设备上，通过千分尺即可测量对应的数值，设备成本低，且结构简单，易于操作，同时可极大地提升检测效率。

附图说明

图1为使用本申请测量装置测量的工件的立体图及其局部放大图；

图2为使用本申请测量装置测量的工件另一角度的立体图及其局部放大图；

图3为使用本申请测量装置测量的工件的侧视图；

图4为本申请测量装置的立体组合图；

图5为本申请测量装置的立体分解图；

图6为本申请测量装置的第一、第二测量座的立体图；

图7为沿图4所示A-A虚线的剖视图；

图8为图7所示局部放大图，其中图8A为工件置于第一测量座内的截面图；

图8B为工件置于第二测量座内的截面图；图8C为工件掉转180度后置于第二测量座内的截面图。

附图中各标号的含义为：

工件-10；第一端面-101；第二端面-102；棒体-11；弧面-12；异形面-13；横向凸部-14；基准段-15；限位段-16；测量装置-20；底座-21；固定表面-211；固定端面-212；第一测量座-22；第一座体-221；第一固定槽-222；端定位块-223；支撑凸部-224；缺口-225；基准端面-226；第二测量座-23；座体-231；第二固定槽-232；仿形槽-233；滑轨组件-24；滑轨座-241；滑槽-243；滑块-242；配合滑槽-244；测量模块-25；固定板-251；千分尺-252；探针-253。

具体实施方式

为了便于理解本实用新型，下面将参照相关附图对本实用新型进行更全面的描述。附图中给出了本实用新型的较佳实施例。但是，本实用新型可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本实用新型的公开内容的理解更加透彻全面。

需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。

除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本实用新型的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本实用新型的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本实用新型。

本申请以图4所示Y方向为左右方向的右方(横向方向)，以X方向为前后方向的前方(纵向方向)，以Z方向为垂直方向的上方。

请参阅图1至图3所示，本需要测量的工件10成细长状，需要测量所述工件10的长度及对称度等值。所述工件10包括棒体11、形成于所述棒体11一侧的弧面12、与所述弧面12相对的异形面13及在所述弧面12与所述异形面13结合处沿横向外侧凸出的横向凸部14。所述横向凸部14与所述弧面12衔接处光滑过渡。所述工件10的异形面13上加工形成有若干特定结构，但是该工件10总体呈长条状结构，且所述工件10具有在长度方向两端的第一端面101与第二端面102。所述工件10还包括位于中间部分的基准段15及自所述基准段15纵向两端延伸形成的限位段16。所述限位段16的外径小于所述基准段15的外径并以此在结合处形成有限位台阶17。

在其他实施方式中，所述工件10的基准段15也可以是出于正中间的基准面或者基准点等，即该基准中心纵向两侧部分的长度需要对称，并以此检测对称度。

请继续参阅图4至图8所示，本申请测量装置20包括底座21、沿纵向方向固定于所述底座21上的第一测量座22与第二测量座23、固定于所述底座21纵向一侧的滑轨组件24及随所述滑轨组件24沿横向方向移动的测量模块25。

所述底座21包括包括用于固定所述第一测量座22与第二测量座23的固定表面211及位于所述底座21一个纵向端面的固定端面212。所述固定端面212用于固定所述滑轨组件24。

所述第一测量座22用于测量所述工件10的整体长度，包括沿纵向延伸并固定于所述固定表面211上的第一座体221、开设于所述第一座体221上表面用于限位所述工件10的第一固定槽222及位于所述第一固定槽222纵向第一端的端定位块223。所述第一座体221的第二端面朝向所述测量模块25，且所述第二端面作为基准端面226。所述第一固定槽222的内径大于所述工件10的最大外径，所述工件10的异形面13一侧向下放置于所述第一固定槽222内。所述第一座体221中间部分的横向两侧切除形成有缺口225，所述缺口225的中间对应所述第一固定槽222底面处向上凸出形成有支撑凸部224，所述支撑凸部224的表面与所述第一固定槽222的底面平齐。所述缺口225的表面低于所述支撑凸部224的表面。

所述支撑凸部224用于支撑位于所述第一固定槽222内的工件10，避免所述工件10部分悬空而造成测量误差或损坏工件10。所述支撑凸部224两侧的缺口225的作用在于方便所述工件10取下。

所述第二测量座23包括第二座体231及开设于所述第二座体231上表面的第二固定槽232。所述第二固定槽232在纵向方向上贯通所述第二座体231的表面，且所述第二固定槽232的槽结构为所述工件10的弧面12的仿形面233。同所述第一测量座22一样，所述第二固定槽232的中间部分形成有支撑凸部234与缺口235，其作用于所述第一测量座22一致，同时所述支撑凸部234与所述缺口235纵向两侧还形成由限位块236，一对所述限位块236的纵向长度等于所述工件10的基准段15的长度，使所述基准段15两侧的限位台阶17限位于一对所述限位块236之间事先基准定位。

在其他实施例中，可依据工件的形状结构进行优化设计，只要实现对所述工件10的纵向中心实现定位即可。如，若工件10在中心位置设有孔结构时，可通过设置定位柱的方式进行定位等。

所述滑轨组件24包括固定于所述底座21的固定端面212上的滑轨座241及可于所述滑轨座241上沿横向方向移动的滑块242。所述滑轨座241余所述滑块242上分别设有相互齿合滑动的滑槽243余配合滑槽244。所述测量模块25包括与所述滑块242固定为一体的固定板251及沿纵向方向固定于所述固定板251上的千分尺252。所述千分尺252设有朝向所述第一、第二测量座22,23第二端的探针253。

以下，将详细介绍本申请测量装置对工件10的长度及对称度的检测原理与流程：

首先，本申请测量装置对所述工件10的长度的检测利用到所述第一测量座22，将所述工件10的异形面13朝向放置于所述第一固定槽222内，所述工件10的第一端面101被所述端定位块223所限位。所述端定位块223到所述第一座体221的基准端面226的长度L与所述工件10的长度L’一致，但是所述工件10长度的正负公差要求为+-0.05mm，而所述端定位块223到所述第一座体221的基准端面的长度的公差为+-0.005mm。检测时，先将所述千分尺252的探针移动对准抵持所述第一座体221的基准端面226，此时，将千分尺归零；而后，沿横向方向移动所述千分尺252使所述探针253抵持在所述工件10的第二端面102，此时读出所述千分尺的读数即为所述工件10的长度误差。

其次，本申请测量装置对所述工件10的对称度检测利用到所述第二测量座23。将所述工件10的弧面12置放于所述第二固定槽232内，此时，所述第二固定槽232内的一对限位块236之间定位所述工件10的纵向方向的中心位置，此时，移动所述千分尺252并使所述探针253抵持于所述工件10的第一端面101上，并同时归零所述千分尺252；再将所述工件10调转180度，使所述第二端面102朝向所述千分尺，此时，所述工件10的中心位置同样被限位，此时所述千分尺抵持所述工件10的第二端面102上的读数除以2即为所述工件10的对称度读数。

下表1是本申请的检测装置(检具)与影像测量仪(OMM)分别对10组样品进行测量获得的测量数据，从表1(单位mm)数据可以看出，本申请测量装置与影像测量仪的检测数据差异在0.01mm内，能满足高精度测量要求。且通过统计，使用影像测量仪测量每个工件需要用时320秒，而使用本测量装置仅需要20秒，可以大大提升测量速度与效率。

表1

本申请测量装置在保证测量精度的同时，将长度检测与对称度检测集成在同一个设备上，通过千分尺即可测量对应的数值，设备成本低，且结构简单，易于操作，同时可极大地提升检测效率。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本实用新型的优选的实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对实用新型专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本实用新型的保护范围。因此，本实用新型专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种测量装置，用于细长工件的测量，其特征在于，包括底座、沿纵向方向固定于所述底座表面上的第一测量座与第二测量座、固定于所述底座纵向一端的滑轨组件及固定于所述滑轨组件上的测量模块，所述第一测量座上开设有第一固定槽，所述第一固定槽的第一端设有正对所述第一固定槽的端定位块，所述第二测量座上开设有第二固定槽，所述第二固定槽中间设有限定所述工件基准中心的限位结构，所述测量模块沿所述滑轨组件在横向方向移动并位于所述第一测量座与第二测量座的第二端。

2.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述第一测量座的第二端面作为基准端面，所述端定位块表面到所述第一测量座的基准端面的长度无限接近标准工件的长度。

3.如权利要求2所述的测量装置，其特征在于，所述测量模块包括千分尺及将所述千分尺固定在所述滑轨组件上的固定板，所述千分尺包括朝向所述第一测量座与第二测量座第二端的探针，所述千分尺以所述探针接触所述基准端面为基准零，所述探针接触所述工件一端的读数加上标准工件长度即为所述工件的实际长度。

4.如权利要求3所述的测量装置，其特征在于，所述第一测量座的第一固定槽的内径大于所述工件的最大外径，所述工件在所述第一固定槽内不被固定，所述工件的第一端被限位在所述端定位块的表面上。

5.如权利要求4所述的测量装置，其特征在于，所述第一测量座中间沿横向方向开设有缺口，所述缺口中间向上凸出形成有与所述第一固定槽底面平齐的支撑凸部，所述缺口的表面低于所述支撑凸部的表面，所述支撑凸部的宽度小于所述工件的外径。

6.如权利要求1所述的测量装置，其特征在于，所述测量模块包括千分尺及将所述千分尺固定在所述滑轨组件上的固定板，所述千分尺包括朝向所述第一测量座与第二测量座第二端的探针，所述工件的基准中心限位并固定在所述第二固定槽内，通过180度调转所述工件，使所述工件的第一端与第二端均可朝向所述测量模块，所述探针接触所述工件第一端时作为零基准，所述探针接触所述工件第二端时的读数除以2即为所述工件的对称度。

7.如权利要求6所述的测量装置，其特征在于，所述第二测量座中间沿横向方向开设有缺口，所述缺口中间向上凸出形成有与所述第二固定槽底面平齐的支撑凸部，所述缺口的表面低于所述支撑凸部的表面，所述支撑凸部的宽度小于所述工件的外径。

8.如权利要求7所述的测量装置，其特征在于，所述工件包括弧面及与所述弧面对应的异形面，所述弧面与异形面结合处形成有圆滑过渡的横向凸部，所述第二固定槽内壁面仿形所述工件的弧面，所述工件中间形成有基准段及位于所述基准段两端的限位段，所述基准段的外径大于所述限位段的外径，所述基准段与限位段结合处形成有限位台阶。

9.如权利要求8所述的测量装置，其特征在于，所述第二测量座位于所述缺口纵向两侧设有限位块，所述工件基准段限位于一对所述限位块之间。

10.如权利要求8所述的测量装置，其特征在于，所述横向凸部搭接于所述第二固定槽的上侧边缘上。

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