CN215219124U - 一种基于ds1286的加电控制测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种基于DS1286的加电控制测试装置，包括：信号发生模块、信号接收模块、连接模块和显示操控模块。连接模块分别与信号发生模块和信号接收模块信号连接，信号发生模块用于产生准秒脉冲信号，并经连接模块输出至外部待测设备。信号接收模块用于接收从外部待测设备返回并经连接模块输入的反馈脉冲信号。显示操控模块与信号接收模块信号连接，用于根据反馈脉冲信号得到测试结果。本实用新型设置利用DS1286实现脉冲信号的产生，利用MAX490将RS422信号转换为TTL信号，并通过LED显示测试结果，优化调试能力，提高调试效率。

Description

一种基于DS1286的加电控制测试装置

技术领域

本实用新型属于电子产品测试领域，尤其涉及一种基于DS1286的加电控制测试装置。

背景技术

加电控制测试设备是一种用于调试加电控制屏的装置，现有加电控制屏的调试一直使用导线来完成芯线导通和秒脉冲的测试。由于加电控制屏插座插针密集，触点面积小，容易误触插针，短接插针等缺点，影响到测量的效率和测量的结果。针对目前存在的问题，需要开发一套可以目视化的加电控制测试设备，可以将所有测试结果以点灯的形式完成。

实用新型内容

本实用新型的技术目的是提供一种基于DS1286的加电控制测试装置，包括：信号发生模块、信号接收模块、连接模块和显示操控模块。

连接模块分别与信号发生模块和信号接收模块信号连接，信号发生模块用于产生准秒脉冲信号，并经连接模块输出至外部待测设备。信号接收模块用于接收从外部待测设备返回并经连接模块输入的反馈脉冲信号。显示操控模块与信号接收模块信号连接，用于根据反馈脉冲信号得到测试结果。

其中，信号发生模块包括时钟单元、控制单元和波形整形单元。

控制单元与时钟单元信号连接，时钟单元受控于控制单元产生基础脉冲信号。时钟单元还与波形整形单元信号连接，波形整形单元用于对基础脉冲信号进行波形整形后输出，得到准秒脉冲信号。

具体地，时钟单元为DS1286时钟芯片，DS1286时钟芯片用于产生周期为1s的方波。

具体地，控制单元为C8051f040单片机，C8051f040单片机用于对时钟单元的寄存器进行读取与写入，控制时钟单元产生基础脉冲信号。

具体地，波形整形单元为SN54LS123芯片，SN54LS123芯片用于对基础脉冲信号进行波形整形后输出，得到周期1s，脉宽小于30ms，上升沿小于0.1us的准秒脉冲信号。

其中，连接模块包括供电插座和若干信号传输插座。供电插座用于连接外部电源，用于为加电控制测试装置提供电力支持。若干信号传输插座与外部待测设备信号连接，用于传递准秒脉冲信号和反馈脉冲信号。

其中，信号接收模块包括MAX490芯片和保护二极管。MAX490芯片用于接收反馈脉冲信号转换为TTL信号。保护二极管用于保护MAX490芯片。

其中，显示操控模块包括AC/DC转换单元、操控单元和显示单元。AC/DC转换单元为+5V/5A直流电源的线性直流电源。操控单元用于控制信号发生模块输出，加电信号或断电信号。显示单元用于接收TTL信号，获取测试结果。

本实用新型由于采用以上技术方案，使其与现有技术相比具有以下的优点和积极效果：

本实用新型设置利用DS1286实现脉冲信号的产生，利用MAX490将RS422信号转换为TTL信号，并通过显示单元即LED显示测试结果，优化调试能力，提高调试效率。

附图说明

通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本实用新型的限制。

图1为本实用新型的一种基于DS1286的加电控制测试装置的原理示意图；

图2为本实用新型的一种基于DS1286的加电控制测试装置的正面示意图；

图3为本实用新型的一种基于DS1286的加电控制测试装置的背面示意图；

图4为本实用新型的一种基于DS1286的加电控制测试装置的俯视示意图。

附图标记说明

1：显示单元；2：操控单元；3：电源插座；4：第一插座；5：第二插座；6：第三插座；7：第四插座；8：PCB板；9：AC/DC转换单元；10：信号发射模块；11、信号接收模块。

具体实施方式

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对照附图说明本实用新型的具体实施方式。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图，并获得其他的实施方式。

为使图面简洁，各图中只示意性地表示出了与本实用新型相关的部分，它们并不代表其作为产品的实际结构。另外，以使图面简洁便于理解，在有些图中具有相同结构或功能的部件，仅示意性地绘示了其中的一个，或仅标出了其中的一个。在本文中，“一个”不仅表示“仅此一个”，也可以表示“多于一个”的情形。

以下结合附图和具体实施例对本实用新型提出的一种基于DS1286的加电控制测试装置作进一步详细说明。根据下面说明和权利要求书，本实用新型的优点和特征将更清楚。

实施例

参看图1和图4，本实施例提供一种基于DS1286的加电控制测试装置，包括：信号发生模块10、信号接收模块11、连接模块和显示操控模块，上述各模块均设置于PCB板8上。显示操作模块提供测试所需的输入指令，以及接收回告指令并点亮相对应指令的指示灯信号，即点亮内部的显示单元1，其中，指示灯信号为一共15个LED发光二极管，获取测试信息。因此，显示操作模块不仅与信号接收模块11信号连接，还与信号发生模块10信号连接。信号发生模块10用于产生准秒脉冲信号，该准秒脉冲信号的周期为1s，脉宽小于30ms，上升沿小于0.1us，信号发生模块10输出准秒脉冲信号经连接模块至外连的待测设备。待测设备接收准秒脉冲信号后会执行相对应的操作，并得到反馈脉冲信号。信号接收模块11会接收从外部待测设备返回并经连接模块的反馈脉冲信号，并进行信号处理，接着输入至显示操控模块，根据经信号处理后的反馈脉冲信号得到测试结果。

具体地，参看图1，在本实施例中，信号发生模块10包括时钟单元、控制单元和波形整形单元。控制单元、时钟单元和波形整形单元依次信号连接。时钟单元采用一块DS1286时钟芯片，DS1286时钟芯片能够产生周期为1s的方波。控制单元包括C8051f040单片机，以及C8051f040单片机外围电路和滤波电路。C8051f040单片机可对DS1286时钟芯片的寄存器进行读取与写入，控制时钟单元产生基础脉冲信号。波形整形单元为SN54LS123芯片，SN54LS123芯片可对时钟单元产生的基础脉冲信号进行波形整形后输出到连接模块，以此得到周期1s，脉宽小于30ms，上升沿小于0.1us的准秒脉冲信号。

参看图1和图3，连接模块包括供电插座和若干信号传输插座，在本实施例中，共有4个信号传输插座。供电插座用于连接外部电源，用于为本实施例提供电力支持。4个信号传输插座与外部待测设备信号连接，用于传递准秒脉冲信号和准秒脉冲信号。当然，连接模块还包括与信号发生模块10和信号接收模块11信号连接的端口，具体通过RS422总线实现连接模块与信号发生模块10和信号接收模块11的信号连接。连接模块采用YMA系列的航空插头作为与待测产品连接的接口，选取与真实设备一样的插头型号，尽量贴近待测产品状态。

参看图1，在本实施例中，信号接收模块11包括一块MAX490芯片和保护二极管组成。MAX490芯片从连接模块处接收反馈脉冲信号并转换为TTL信号后输出至显示操控模块的显示单元1。保护二极管则起到保护MAX490芯片的作用。

参看图2和图4，在本实施例中，显示操控模块包括AC/DC转换单元9、操控单元2和显示单元1。其中，AC/DC转换单元9为+5V/5A直流电源组成的线性直流电源。操控单元2可控制信号发生模块10输出，即准秒脉冲信号可模拟待测产品的加电信号以及断电信号。当输出加电信号，本实施例的相应指示灯点亮，当输出断电信号，本实施例的相应指示灯熄灭。该操控单元2由9个操控按键组成。显示单元1则由15个LED二极管组成，用于接收TTL信号，向操作人员显示测试结果。

现从本实施例具体实施进行说明

加电控制测试设备主要用于加电控制屏，包括辅助制导设备加断电复位信号测试、照射设备加断电复位信号测试、垂直发射设备加断电复位信号测试和准秒脉冲信号测试。

准秒脉冲信号测试：

参看图2至图4，本实施例共有3路准秒脉冲信号，分别为辅助设备准秒脉冲信号、照射设备准秒脉冲信号、垂直发射设备准秒脉冲信号。使用调试电缆将测试设备通过本实施例的第四插座7与待测产品中的准秒脉冲信号接口相连，电源插座3连接电源，打开本实施例的电源开关，接通电源，待本实施例正常启动后，信号发生模块10产生准秒脉冲信号，发送到待测产品，待测产品将收到的准秒脉冲信号分成三路转发回测试设备，本实施例的显示单元1中三个准秒脉冲信号灯会同时以1S为周期闪烁即为正常。

辅助制导设备加断电复位信号测试：

参看图2和图3，辅助制导设备加断电复位信号共有3种，分别为辅助制导设备本控加电信号、辅助制导设备遥控加电信号、辅助制导设备遥控复位信号。使用调试电缆将测试设备通过本实施例的第一插座4与待测产品中的辅助制导设备接口相连，电源插座3连接电源，打开本实施例的电源开关，接通电源，闭合操控单元2中所有辅助制导设备本控加电开关，待测产品中相应的辅助制导设备加电信号灯应点亮。依次闭合待测产品中辅助制导设备遥控加电开关，辅助制导设备遥控复位开关，本实施例的显示单元1中相应的辅助制导设备状态灯应点亮。

照射设备加断电复位信号测试：

参看图2和图3，照射设备加断电复位信号共有3种，分别为照射设备本控加电信号、照射设备遥控加电信号、照射设备遥控复位信号。使用调试电缆将测试设备通过本实施例的第二插座5与待测产品中的照射设备接口相连，电源插座3连接电源，打开本实施例电源开关接通电源，闭合操控单元2中所有照射设备本控加电开关，待测产品中相应的照射设备加电信号灯应点亮。依次闭合待测产品中照射设备遥控加电开关，照射设备遥控复位开关，本实施例的显示单元1中相应的照射设备状态灯应点亮。

垂直发射设备加断电复位信号测试：

参看图2和图3，垂直发射设备加断电复位信号共有3种，分别为垂直发射本控加电信号、垂直发射设备遥控加电信号、垂直发射设备遥控复位信号。使用调试电缆将测试设备通过本实施例的第三插座6与待测产品中的垂直发射设备接口相连，电源插座3连接电源，打开本实施例的电源开关，接通电源，闭合操控单元2中所有垂直发射设备本控加电开关，待测产品中相应的垂直发射设备加电信号灯应点亮。依次闭合待测产品中垂直发射设备遥控加电开关，垂直发射设备遥控复位开关，本实施例的显示单元1中相应的照射设备状态灯应点亮。

上面结合附图对本实用新型的实施方式作了详细说明，但是本实用新型并不限于上述实施方式。即使对本实用新型作出各种变化，倘若这些变化属于本实用新型权利要求及其等同技术的范围之内，则仍落入在本实用新型的保护范围之中。

Claims (8)

1.一种基于DS1286的加电控制测试装置，其特征在于，包括：信号发生模块、信号接收模块、连接模块和显示操控模块；

所述连接模块分别与所述信号发生模块和所述信号接收模块信号连接，所述信号发生模块用于产生准秒脉冲信号，并经所述连接模块输出至外部待测设备；所述信号接收模块用于接收从外部待测设备返回并经所述连接模块输入的反馈脉冲信号；所述显示操控模块与所述信号接收模块信号连接，用于根据所述反馈脉冲信号得到测试结果。

2.根据权利要求1所述的基于DS1286的加电控制测试装置，其特征在于，所述信号发生模块包括时钟单元、控制单元和波形整形单元；

所述控制单元与所述时钟单元信号连接，所述时钟单元受控于所述控制单元产生基础脉冲信号；

所述时钟单元还与所述波形整形单元信号连接，所述波形整形单元用于对所述基础脉冲信号进行波形整形后输出，得到所述准秒脉冲信号。

3.根据权利要求2所述的基于DS1286的加电控制测试装置，其特征在于，所述时钟单元为DS1286时钟芯片，所述DS1286时钟芯片用于产生周期为1s的方波。

4.根据权利要求2或3所述的基于DS1286的加电控制测试装置，其特征在于，所述控制单元为C8051f040单片机，所述C8051f040单片机用于对所述时钟单元的寄存器进行读取与写入，控制所述时钟单元产生所述基础脉冲信号。

5.根据权利要求4所述的基于DS1286的加电控制测试装置，其特征在于，所述波形整形单元为SN54LS123芯片，所述SN54LS123芯片用于对所述基础脉冲信号进行波形整形后输出，得到周期1s，脉宽小于30ms，上升沿小于0.1us的所述准秒脉冲信号。

6.根据权利要求1所述的基于DS1286的加电控制测试装置，其特征在于，所述连接模块包括供电插座和若干信号传输插座；

所述供电插座用于连接外部电源，用于为所述加电控制测试装置提供电力支持；

若干所述信号传输插座与外部待测设备信号连接，用于传递所述准秒脉冲信号和所述反馈脉冲信号。

7.根据权利要求1所述的基于DS1286的加电控制测试装置，其特征在于，所述信号接收模块包括MAX490芯片和保护二极管；所述MAX490芯片用于接收所述反馈脉冲信号转换为TTL信号；所述保护二极管用于保护所述MAX490芯片。

8.根据权利要求7所述的基于DS1286的加电控制测试装置，其特征在于，所述显示操控模块包括AC/DC转换单元、操控单元和显示单元；

所述AC/DC转换单元为+5V/5A直流电源的线性直流电源；

所述操控单元用于控制所述信号发生模块输出，加电信号或断电信号；

所述显示单元用于接收所述TTL信号，获取测试结果。

Images