CN215181967U - 用于pcie接口产品功耗测试的测试夹具和测试系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，包括：PCIE接口的插槽、PCB和PCIE接口的金手指；插槽、PCB和金手指依次连接；插槽的引脚包括电源引脚和非电源引脚；插槽的电源引脚用于通过外部电源为被测样品供电；插槽的非电源引脚用于实现预设功能；金手指的引脚与插槽的引脚一一对应；PCB上设置有转换结构；转换结构与插槽的电源引脚对应；当转换结构断路时，转换结构用于支持插槽的电源引脚与外部测试设备连接；当转换结构短路时，转换结构用于支持插槽的电源引脚通过对应的金手指引脚与计算机主板连接。本申请测试夹具的测试过程简单，操作方便，且本申请测试夹具的测试结果更准确。

Description

用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具和测试系统

技术领域

本实用新型涉及PCIE接口产品功耗测试技术领域，具体涉及一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具和测试系统。

背景技术

PCI-Express(peripheral component interconnect express，PCIE)是一种高速串行计算机总线接口标准，用于对计算机系统中的CPU和其他设备进行连接，并进行数据传输。测试PCIE接口产品功耗时，需要分别测试施加在PCIE接口产品电源和地之间的电压，以及流经PCIE接口产品的电流，然后将电压和电流相乘得到的结果为PCIE接口产品在当前状态下的功耗。

由于PCIE接口产品在工作时，需要插入到计算机主板的PCIE插槽中，相关技术中，需要在计算机主板上的PCIE接口产品的供电回路中找到合适的断开点。然后通过断开点在供电回路中接入功率计，通过功率计测得PCIE接口产品对应的电压值和电流值。最后，根据电压值和电流值得到PCIE接口产品的功耗值。

然而，由于计算机主板为一种成熟的计算机组件，其电路结构精细且复杂，因此，在计算机主板上的PCIE接口产品的供电回路中找到合适的断开点，操作难度大。此外，通过计算机电源为PCIE接口产品供电时，由于计算机电源供电电压波纹较大，对测试结果产生影响，降低了测试结果准确度。

实用新型内容

有鉴于此，提供一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具和测试系统,以解决相关技术存在的PCIE接口产品功耗的测试过程繁琐，操作难度大和测试结果准确度低的技术问题。

本实用新型采用如下技术方案：

参看本申请的第一方面，本申请提供了一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，包括：PCIE接口的插槽、PCB和PCIE接口的金手指；

所述插槽、所述PCB和所述金手指依次连接；

所述插槽用于与被测样品连接；所述金手指用于与计算机主板连接；

所述插槽的引脚包括电源引脚和非电源引脚；所述插槽的电源引脚用于通过外部电源为所述被测样品供电；所述插槽的非电源引脚用于实现预设功能；

所述金手指的引脚与所述插槽的引脚一一对应；

所述PCB上设置有转换结构；所述转换结构与所述插槽的电源引脚对应；当所述转换结构断路时，所述转换结构用于支持所述插槽的电源引脚与外部测试设备连接；当所述转换结构短路时，所述转换结构用于支持所述插槽的电源引脚通过对应的金手指引脚与计算机主板连接。

优选的，所述转换结构包括第一通孔和第二通孔；

所述第一通孔与所述插槽的电源引脚连接；

所述第二通孔与和所述插槽的电源引脚对应的金手指引脚连接。

优选的，所述插槽的电源引脚包括第一插槽电源引脚、第二插槽电源引脚和第三插槽电源引脚；

所述第一插槽电源引脚用于通过外部电源为所述被测样品提供电压为+12V的工作电源；所述工作电源用于为所述被测样品提供工作电流；

所述第二插槽电源引脚用于通过外部电源为所述被测样品提供电压为+3.3V的工作电源；

所述第三插槽电源引脚用于通过外部电源为所述被测样品提供电压为+3.3V的辅助电源，所述辅助电源用于唤醒休眠的被测样品。

优选的，所述转换结构包括第一转换结构、第二转换结构和第三转换结构；

所述第一插槽电源引脚的数量为3个；每个所述第一插槽电源引脚均对应所述第一转换结构；

所述第二插槽电源引脚的数量为1个，与所述第二转换结构对应；

所述第三插槽电源引脚的数量为1个，与所述第三转换结构对应。

优选的，所述插槽的非电源引脚的数量至少为1个。

优选的，各所述插槽的非电源引脚与对应的金手指引脚之间的数据线等长。

优选的，所述PCB上还设置有去耦电容；

所述去耦电容用于支持所述插槽的电源引脚提供稳定电源。

参看本申请的第二方面，本申请提供了一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试系统，包括：本申请第一方面所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具、计算机主板、功率测试装置和电源；

所述测试夹具通过预设插槽与被测样品的金手指连接，以及通过预设金手指与计算机主板的插槽连接；

所述功率测试装置分别与所述电源和所述测试夹具的目标电源引脚连接。

优选的，所述功率测试装置包括：电压测试子装置和电流测试子装置；

所述电压测试子装置与所述电源并联；

所述电源的正极与所述电流测试子装置的正极连接；所述电流测试子装置的负极与所述测试夹具的目标电源引脚连接。

优选的，所述电源为直流电源。

本实用新型采用以上技术方案，一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，包括：PCIE接口的插槽、PCB和PCIE接口的金手指。插槽、PCB和金手指依次连接；插槽用于与被测样品连接；金手指用于与计算机主板连接；插槽的引脚包括电源引脚和非电源引脚；插槽的电源引脚用于通过外部电源为被测样品供电；插槽的非电源引脚用于实现预设功能；金手指的引脚与插槽的引脚一一对应；PCB上设置有转换结构；转换结构与插槽的电源引脚对应；当转换结构断路时，转换结构用于支持插槽的电源引脚与外部测试设备连接；当转换结构短路时，转换结构用于支持插槽的电源引脚通过对应的金手指引脚与计算机主板连接。基于此，本申请的测试夹具能够与外部测试设备相配合来测试PCIE接口产品的功耗，测试过程简单，操作方便，且外部测试设备可以包括直流电源，其相比于计算机电源，直流电源的电压稳定，使得本申请的测试夹具的测试结果更准确。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例提供的一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具的结构示意图。

图2是本实用新型实施例提供的一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具的测试原理示意图。

图3是本实用新型实施例提供的另一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具的结构示意图。

图4是本实用新型实施例提供的一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试系统的结构示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本实用新型的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本实用新型所保护的范围。

图1是本实用新型实施例提供的一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具的结构示意图。如图1所示，本实施例的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具包括：PCIE接口的插槽11、PCB 12和PCIE接口的金手指13。

其中，插槽11、PCB 12和金手指13依次连接。插槽11用于与被测样品连接；金手指13用于与计算机主板连接。插槽的引脚包括电源引脚和非电源引脚；插槽的电源引脚用于通过外部电源为被测样品供电；插槽的非电源引脚用于实现预设功能；金手指的引脚与插槽的引脚一一对应。

PCB 12上设置有转换结构；转换结构与插槽的电源引脚对应；当转换结构断路时，转换结构用于支持插槽的电源引脚与外部测试设备连接；当转换结构短路时，转换结构用于支持插槽的电源引脚通过对应的金手指引脚与计算机主板连接。

图2是本实用新型实施例提供的一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具的测试原理示意图。如图2所示，在具体的应用过程中，被测样品的金手指插入插槽11中，使得被测样品与插槽11连接。金手指13插入计算机主板的PCIE接口的插槽中，使得金手指13与计算机主板连接。被测样品通过测试夹具与计算机主板进行正常的数据交换。被测样品可以由外部电源供电，具体的，可以由外部直流电源供电，由于计算机主板供电时，电压波纹较大，而直流电源能够提供稳定的电压，使得本申请的测试结果更加准确。具体的，可以根据被测样品的电压需求选择对应电压值的外部直流电源。例如，当被测样品需要12V的测试电压时，可以选取输出电压为12V的直流电源；当被测样品需要3.3V的测试电压是，可以选取输出电压为3.3V的直流电源。

外部测试设备可以是现有技术的功率计。测试时，被测样品、测试夹具、计算机主板、外部电源和功率计的连接方式如图2所示。测试过程中，电流的走向为：电源正极-功率计-测试夹具-被测样品-测试夹具-计算机主板-计算机主板电源地线-地-电源地线-电源负极。

具体的，插槽的电源引脚包括第一插槽电源引脚、第二插槽电源引脚和第三插槽电源引脚；第一插槽电源引脚用于通过外部电源为被测样品提供电压为+12V的工作电源；工作电源用于为被测样品提供工作电流；第二插槽电源引脚用于通过外部电源为被测样品提供电压为+3.3V的工作电源；第三插槽电源引脚用于通过外部电源为被测样品提供电压为+3.3V的辅助电源，辅助电源用于唤醒休眠的被测样品。

转换结构的种类可以是多种，能够实现本申请即可。例如，转换结构可以是有多个相互隔离的金属通孔组成的。插槽电源引脚和与插槽电源引脚对应的金手指引脚分别与预设金属通孔连接。将金属线连接在任意两个通孔之间，使得该两个通孔连接，如此，通过控制各通孔之间的连接状态来控制各插槽电源引脚和对应金手指的连接状态，满足用户在测试过程中，需要给被测样品施加不同的电压的需求。

转换结构还可以是由多个相互隔离的金属凸起结构组成的。插槽电源引脚和与插槽电源引脚对应的金手指引脚分别与预设金属凸起结构连接。将金属线连接在任意两个金属凸起结构之间，使得该两个金属凸起结构连接，如此，通过控制各金属凸起结构之间的连接状态来控制各插槽电源引脚和对应金手指的连接状态，满足用户在测试过程中，需要给被测样品施加不同的电压的需求。

在一个具体的例子中，如图1所示，转换结构包括第一通孔111和第二通孔112。第一通孔111的数量为3个，第一插槽电源引脚113、第二插槽电源引脚114和第三插槽电源引脚115分别与对应的第一通孔111连接，相应的，第二通孔112与和插槽的电源引脚对应的金手指引脚连接。

本实施例采用以上技术方案，一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，包括：PCIE接口的插槽、PCB和PCIE接口的金手指。插槽、PCB和金手指依次连接；插槽用于与被测样品连接；金手指用于与计算机主板连接；插槽的引脚包括电源引脚和非电源引脚；插槽的电源引脚用于通过外部电源为被测样品供电；插槽的非电源引脚用于实现预设功能；金手指的引脚与插槽的引脚一一对应；PCB上设置有转换结构；转换结构与插槽的电源引脚对应；当转换结构断路时，转换结构用于支持插槽的电源引脚与外部测试设备连接；当转换结构短路时，转换结构用于支持插槽的电源引脚通过对应的金手指引脚与计算机主板连接。基于此，本申请的测试夹具能够与外部测试设备相配合来测试PCIE接口产品的功耗，测试过程简单，操作方便，且外部测试设备可以包括直流电源，其相比于计算机电源，直流电源的电压稳定，使得本申请的测试夹具的测试结果更准确。

优选的，转换结构包括第一转换结构、第二转换结构和第三转换结构；第一插槽电源引脚的数量可以是多个，每个第一插槽电源引脚均对应第一转换结构；第二插槽电源引脚的数量可以是多个，每个第二插槽电源引脚均对应第二转换结构；第三插槽电源引脚的数量可以是多个，每个第三插槽电源引脚均对应第三转换结构。本领域技术人员可以根据实际需求设置各电源引脚的数量。

在一个具体的例子中，第一插槽电源引脚的数量为3个；每个第一插槽电源引脚均对应第一转换结构；第二插槽电源引脚的数量为1个，与第二转换结构对应；第三插槽电源引脚的数量为1个，与第三转换结构对应。本实施中，功能相同的电源引脚分别对应同一个转换结构，有利于减少转换结构的数量，使得测试夹具结构简单，容易操作。

优选的，插槽的非电源引脚的数量至少为1个。

具体的，本领域技术人员可以根据需要设置多个预设功能的插槽的非电源引脚。示例性的，插槽的非电源引脚可以包括7插槽非电源引脚。具体的，包括两个接地引脚、一个WAKE#引脚、一个SMCLK引脚、一个SMDAT引脚、一个JTAG1引脚和一个RSVD引脚。使得本实施例的测试夹具满足不同用户的测试需求，扩大了本实施的测试夹具的应用范围。

优选的，各插槽的非电源引脚与对应的金手指引脚之间的数据线等长。

详细的，各插槽的非电源引脚与对应的金手指引脚之间的数据线等长，保证了通过测试夹具的信号不受数据线的影响，保证了信号的质量。

优选的，PCB上还设置有去耦电容；去耦电容用于支持插槽的电源引脚提供稳定电源。

具体的，去耦电容的数量可以是多个，本领域技术人员可以根据实际需要在PCB上设置多个去耦电容。在一个具体的例子中，图3是本实用新型实施例提供的另一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具的结构示意图。如图3所示，本实施例的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具相比于上述实施例的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，还包括：第一去耦电容31、第二去耦电容32、第三去耦电容33、第四去耦电容34和第五去耦电容35。

其中，第一去耦电容31和第二去耦电容32的电容值可以相同，以使当其中一个去耦电容损坏时，用户可以使用另一个去耦电容，方便用户使用。第一去耦电容31和第二去耦电容32的电容值也可以不同，使得用户可以根据需要选择不同电容值的去耦电容。同理，第三去耦电容33和第四去耦电容34的电容值可以相同，也可以不同。

第一去耦电容31与第一子通孔311对应，当第一子通孔311与第二子通孔312连接时，外部电源通过第一去耦电容31。第二去耦电容32与第三子通孔313连接时，当第三子通孔313与第四子通孔314连接时，外部电源通过第二去耦电容32。第三去耦电容33与第五子通孔315对应，当第五子通孔315与第六子通孔316连接时，外部电源通过第三去耦电容33。第四去耦电容34与第七子通孔317对应，当第七子通孔317与第八子通孔318连接时，外部电源通过第四去耦电容34。第五去耦电容35与第九子通孔319对应，当第九子通孔319与第十子通孔320连接时，外部电源通过第五去耦电容35。

图4是本实用新型实施例提供的一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试系统的结构示意图。如图4所示，本实施例的用于PCIE接口产品功耗测试的测试系统，包括：上述实施例所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具41、计算机主板42、功率测试装置43和电源44。

其中，测试夹具41通过预设插槽与被测样品的金手指连接，以及通过预设金手指与计算机主板的插槽连接；功率测试装置43分别与电源和测试夹具的目标电源引脚连接。

具体的，计算机主板42为现有技术。电源44为现有技术。功率测试装置43可以是现有技术的功率计，也可以由现有技术的电压表和电流表组成，还可以是现有技术中的其他能够实现本申请的功率测试装置。当功率测试装置43为现有技术的功率计时，测试夹具41、计算机主板42、功率测试装置43和电源44的连接方式可以参考图2。当功率测试装置43由现有技术的电压表和电流表组成时，电压表与电源并联，电源的正极与电流表的正极连接，电流表的负极与测试夹具的相关电源引脚连接。其他元件的连接方式依然参照图2。

本实施例在上述实施例的基础上实现，具备相应的执行过程和有益效果，在此不再赘述。

优选的，电源可以是直流电源。由于直流电源电压稳定，使得本实施可以为被测样品提供稳定的电源，有利于提高测试结果准确性。

可以理解的是，上述各实施例中相同或相似部分可以相互参考，在一些实施例中未详细说明的内容可以参见其他实施例中相同或相似的内容。

需要说明的是，在本实用新型的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。此外，在本实用新型的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是指至少两个。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管上面已经示出和描述了本实用新型的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本实用新型的限制，本领域的普通技术人员在本实用新型的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，其特征在于，包括：PCIE接口的插槽、PCB和PCIE接口的金手指；

所述插槽、所述PCB和所述金手指依次连接；

所述插槽用于与被测样品连接；所述金手指用于与计算机主板连接；

所述插槽的引脚包括电源引脚和非电源引脚；所述插槽的电源引脚用于通过外部电源为所述被测样品供电；所述插槽的非电源引脚用于实现预设功能；

所述金手指的引脚与所述插槽的引脚一一对应；

所述PCB上设置有转换结构；所述转换结构与所述插槽的电源引脚对应；当所述转换结构断路时，所述转换结构用于支持所述插槽的电源引脚与外部测试设备连接；当所述转换结构短路时，所述转换结构用于支持所述插槽的电源引脚通过对应的金手指引脚与计算机主板连接。

2.根据权利要求1所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，其特征在于，所述转换结构包括第一通孔和第二通孔；

所述第一通孔与所述插槽的电源引脚连接；

所述第二通孔与和所述插槽的电源引脚对应的金手指引脚连接。

3.根据权利要求1所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，其特征在于，所述插槽的电源引脚包括第一插槽电源引脚、第二插槽电源引脚和第三插槽电源引脚；

所述第一插槽电源引脚用于通过外部电源为所述被测样品提供电压为+12V的工作电源；所述工作电源用于为所述被测样品提供工作电流；

所述第二插槽电源引脚用于通过外部电源为所述被测样品提供电压为+3.3V的工作电源；

所述第三插槽电源引脚用于通过外部电源为所述被测样品提供电压为+3.3V的辅助电源，所述辅助电源用于唤醒休眠的被测样品。

4.根据权利要求3所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，其特征在于，所述转换结构包括第一转换结构、第二转换结构和第三转换结构；

所述第一插槽电源引脚的数量为3个；每个所述第一插槽电源引脚均对应所述第一转换结构；

所述第二插槽电源引脚的数量为1个，与所述第二转换结构对应；

所述第三插槽电源引脚的数量为1个，与所述第三转换结构对应。

5.根据权利要求1所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，其特征在于，所述插槽的非电源引脚的数量至少为1个。

6.根据权利要求1所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，其特征在于，各所述插槽的非电源引脚与对应的金手指引脚之间的数据线等长。

7.根据权利要求1所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具，其特征在于，所述PCB上还设置有去耦电容；

所述去耦电容用于支持所述插槽的电源引脚提供稳定电源。

8.一种用于PCIE接口产品功耗测试的测试系统，其特征在于，包括：如权利要求1-7中任意一项所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试夹具、计算机主板、功率测试装置和电源；

所述测试夹具通过预设插槽与被测样品的金手指连接，以及通过预设金手指与计算机主板的插槽连接；

所述功率测试装置分别与所述电源和所述测试夹具的目标电源引脚连接。

9.根据权利要求8所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试系统，其特征在于，所述功率测试装置包括：电压测试子装置和电流测试子装置；

所述电压测试子装置与所述电源并联；

所述电源的正极与所述电流测试子装置的正极连接；所述电流测试子装置的负极与所述测试夹具的目标电源引脚连接。

10.根据权利要求8所述的用于PCIE接口产品功耗测试的测试系统，其特征在于，所述电源为直流电源。

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