CN215179773U - 一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置，涉及表面缺陷测量技术领域，为解决人为用手去触摸感受，该测量方式在对表面微小的缺陷进行测量时，测量精度难以达到预期需求，测量效率不佳，不能满足使用需求的问题。所述装置底座的上方设置有防护罩，且防护罩与装置底座通过螺钉连接，所述防护罩的内部设置有光线接收屏，且光线接收屏与装置底座的内壁通过螺钉连接，所述防护罩的内壁上设置有升降滑槽，所述升降滑槽的内部设置有安装座，且安装座与防护罩滑动连接，所述安装座的一侧设置有激光测量仪，且激光测量仪设置在光线接收屏的一侧，所述装置底座的上端设置有转动槽，所述转动槽的内部设置有载物台。

Description

一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置

技术领域

本实用新型涉及表面缺陷测量技术领域，具体为一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置。

背景技术

硅胶是由硅酸凝胶适当脱水而成的颗粒大小不同的多孔物质，硅胶制品则是以硅胶为主要原材料的加工制作品，硅胶制品的表面缺陷是指硅胶制品表面存在凹凸，导致硅胶制品表面不平整，使用测量装置对硅胶制品表面缺陷进行测量可以确保硅胶制品质量。

目前，硅胶制品表面缺陷测量主要人为用手去触摸感受，该测量方式在对表面微小的缺陷进行测量时，测量精度难以达到预期需求，测量效率不佳，不能满足使用需求。因此市场上急需一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置来解决这些问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置，以解决上述背景技术中提出人为用手去触摸感受，该测量方式在对表面微小的缺陷进行测量时，测量精度难以达到预期需求，测量效率不佳，不能满足使用需求的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置，包括装置底座，所述装置底座的上方设置有防护罩，且防护罩与装置底座通过螺钉连接，所述防护罩的内部设置有光线接收屏，且光线接收屏与装置底座的内壁通过螺钉连接，所述防护罩的内壁上设置有升降滑槽，所述升降滑槽的内部设置有安装座，且安装座与防护罩滑动连接，所述安装座的一侧设置有激光测量仪，且激光测量仪设置在光线接收屏的一侧，所述装置底座的上端设置有转动槽，所述转动槽的内部设置有载物台，且载物台与装置底座转动连接。

优选的，所述载物台的上方设置有第二电动伸缩杆，第二电动伸缩杆设置有三个，且三个第二电动伸缩杆在载物台的上方依次设置，三个所述第二电动伸缩杆均与载物台通过螺钉连接，三个所述第二电动伸缩杆的一侧均设置有橡胶块，且橡胶块与第二电动伸缩杆连接为一体结构。

优选的，所述装置底座的下方设置有第一电机，且第一电机与装置底座通过螺钉连接，所述第一电机的输出端与载物台连接为一体结构。

优选的，所述第一电机的一侧设置有第二电机，且第二电机与装置底座通过螺钉连接，所述升降滑槽的内部设置有螺纹杆，且螺纹杆与第一电机的输出端通过联轴器连接，所述螺纹杆与安装座螺纹连接，且螺纹杆与防护罩转动连接。

优选的，所述防护罩的上方设置有第一电动伸缩杆，且第一电动伸缩杆与防护罩通过螺钉连接，所述第一电动伸缩杆的一端延伸至防护罩的内部，所述防护罩的内部设置有升降板，且升降板与第一电动伸缩杆通过螺钉连接，所述升降板的下端设置有滚珠，滚珠设置有若干个，且滚珠与升降板滚动连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：

1. 该实用新型装置通过激光测量仪、光线接收屏、第二电机和螺纹杆的设置，激光测量仪发射光线照射到硅胶制品上后光线投射到光线接收屏上，利用接收光线的强度来测量表面缺陷，在第二电机的作用下带动螺纹杆旋转，随着螺纹杆的旋转带动激光测量仪升降，从而可以对不同尺寸的硅胶制品进行测量。解决了采用激光在不同尺寸的硅胶制品表面缺陷进行测量时光线难以全面覆盖硅胶制品的问题。

2. 该实用新型装置通过第一电机、第一电动伸缩杆和第二电动伸缩杆的设置，在第二电动伸缩杆的作用下可以将硅胶制品夹持固定在载物台上，在第一电机的作用下带动载物台转动，随着硅胶制品的转动可以全面的进行测量，而第一电动伸缩杆的作用下带动升降板升降，借助升降板和滚珠可以对转动的硅胶制品起到限位的作用，确保了硅胶制品转动的稳定性。解决了难以一次对硅胶制品的表面全面进行测量的问题。

附图说明

图1为本实用新型的整体结构示意图；

图2为本实用新型的剖视图；

图3为本实用新型的载物台的俯视图。

图中：1、装置底座；2、第一电机；3、减震支撑架；4、第二电机；5、防护罩；6、显示屏；7、载物台；8、光线接收屏；9、升降板；10、第一电动伸缩杆；11、滚珠；12、转动槽；13、升降滑槽；14、螺纹杆；15、安装座；16、激光测量仪；17、螺纹孔；18、第二电动伸缩杆；19、橡胶块；20、防滑垫。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

请参阅图1-3，本实用新型提供的一种实施例：一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置，包括装置底座1，装置底座1的两端均设置有减震支撑架3，且减震支撑架3与装置底座1通过螺钉连接，减震支撑架3可以起到支撑减震的作用，装置底座1的上方设置有防护罩5，且防护罩5与装置底座1通过螺钉连接，防护罩5的内部设置有光线接收屏8，且光线接收屏8与装置底座1的内壁通过螺钉连接，光线接收屏8可以接受透过硅胶制品的光线，防护罩5的内壁上设置有升降滑槽13，升降滑槽13的内部设置有安装座15，且安装座15与防护罩5滑动连接，安装座15的一侧设置有激光测量仪16，且激光测量仪16与安装座15连接为一体结构，激光测量仪16设置在光线接收屏8的一侧，激光测量仪16发出光线照射到硅胶制品上，装置底座1的上端设置有转动槽12，转动槽12的内部设置有载物台7，且载物台7与装置底座1转动连接，防护罩5的一侧设置有显示屏6，且显示屏6与防护罩5通过螺钉连接，显示屏6与光线接收屏8和激光测量仪16均电性连接，显示屏6可以将测量的结果进行显示。

进一步，载物台7的上端设置有防滑垫20，且防滑垫20与载物台7贴合连接，载物台7的上方设置有第二电动伸缩杆18，第二电动伸缩杆18设置有三个，且三个第二电动伸缩杆18在载物台7的上方依次设置，三个第二电动伸缩杆18均与载物台7通过螺钉连接，三个第二电动伸缩杆18的一侧均设置有橡胶块19，且橡胶块19与第二电动伸缩杆18连接为一体结构。通过第二电动伸缩杆18带动橡胶块19移动，借助橡胶块19可以将硅胶制品夹持固定在载物台7上。

进一步，装置底座1的下方设置有第一电机2，且第一电机2与装置底座1通过螺钉连接，第一电机2的输出端与载物台7连接为一体结构。通过第一电机2带动载物台7旋转，随着载物台7的旋转带动硅胶制品转动，从而可以对硅胶制品的表面全面的进行测量，提高了测量效率。

进一步，第一电机2的一侧设置有第二电机4，且第二电机4与装置底座1通过螺钉连接，安装座15上设置有螺纹孔17，升降滑槽13的内部设置有螺纹杆14，且螺纹杆14与第一电机2的输出端通过联轴器连接，螺纹杆14与安装座15螺纹连接，且螺纹杆14与防护罩5转动连接。通过第二电机4带动螺纹杆14旋转，随着螺纹杆14的旋转带动安装座15沿着升降滑槽13升降滑动，从而调节激光测量仪16的高度，便于对不同高度的硅胶制品进行测量。

进一步，防护罩5的上方设置有第一电动伸缩杆10，且第一电动伸缩杆10与防护罩5通过螺钉连接，第一电动伸缩杆10的一端延伸至防护罩5的内部，防护罩5的内部设置有升降板9，且升降板9与第一电动伸缩杆10通过螺钉连接，升降板9的下端设置有滚珠11，滚珠11设置有若干个，且滚珠11与升降板9滚动连接。通过第一电动伸缩杆10可以带动升降板9升降，滚珠11随着硅胶制品的转动相应的滚动，从而可以对转动的硅胶制品起到限位的作用，提高了硅胶制品转动的稳定性。

工作原理：使用时，将硅胶制品放置在载物台7上，驱动第二电动伸缩杆18带动橡胶块19移动，借助橡胶块19可以将硅胶制品夹持固定在载物台7上，开启第二电机4带动螺纹杆14旋转，随着螺纹杆14的旋转间接的带动激光测量仪16升降，将激光测量仪16调节到适宜的高度处，打开激光测量仪16发出光线照射到硅胶制品上，开启第一电机2带动载物台7旋转，从而带动硅胶制品转动，光线照射到硅胶制品表面缺陷上，光线就会透过缺陷投射到光线接收屏8上，从而实现表面缺陷的测量。

对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。

Claims (5)

1.一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置，包括装置底座（1），其特征在于：所述装置底座（1）的上方设置有防护罩（5），且防护罩（5）与装置底座（1）通过螺钉连接，所述防护罩（5）的内部设置有光线接收屏（8），且光线接收屏（8）与装置底座（1）的内壁通过螺钉连接，所述防护罩（5）的内壁上设置有升降滑槽（13），所述升降滑槽（13）的内部设置有安装座（15），且安装座（15）与防护罩（5）滑动连接，所述安装座（15）的一侧设置有激光测量仪（16），且激光测量仪（16）设置在光线接收屏（8）的一侧，所述装置底座（1）的上端设置有转动槽（12），所述转动槽（12）的内部设置有载物台（7），且载物台（7）与装置底座（1）转动连接。

2.根据权利要求1所述的一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置，其特征在于：所述载物台（7）的上方设置有第二电动伸缩杆（18），第二电动伸缩杆（18）设置有三个，且三个第二电动伸缩杆（18）在载物台（7）的上方依次设置，三个所述第二电动伸缩杆（18）均与载物台（7）通过螺钉连接，三个所述第二电动伸缩杆（18）的一侧均设置有橡胶块（19），且橡胶块（19）与第二电动伸缩杆（18）连接为一体结构。

3.根据权利要求1所述的一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置，其特征在于：所述装置底座（1）的下方设置有第一电机（2），且第一电机（2）与装置底座（1）通过螺钉连接，所述第一电机（2）的输出端与载物台（7）连接为一体结构。

4.根据权利要求3所述的一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置，其特征在于：所述第一电机（2）的一侧设置有第二电机（4），且第二电机（4）与装置底座（1）通过螺钉连接，所述升降滑槽（13）的内部设置有螺纹杆（14），且螺纹杆（14）与第一电机（2）的输出端通过联轴器连接，所述螺纹杆（14）与安装座（15）螺纹连接，且螺纹杆（14）与防护罩（5）转动连接。

5.根据权利要求1所述的一种用于检测硅胶制品表面缺陷的测量装置，其特征在于：所述防护罩（5）的上方设置有第一电动伸缩杆（10），且第一电动伸缩杆（10）与防护罩（5）通过螺钉连接，所述第一电动伸缩杆（10）的一端延伸至防护罩（5）的内部，所述防护罩（5）的内部设置有升降板（9），且升降板（9）与第一电动伸缩杆（10）通过螺钉连接，所述升降板（9）的下端设置有滚珠（11），滚珠（11）设置有若干个，且滚珠（11）与升降板（9）滚动连接。

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