CN215006617U - 检查装置及检查系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供在对设于弯曲的面板的坐标输入装置的坐标检测性能进行检查的触碰功能检查中能够输出表示更正确的位置的输出坐标的检查装置及检查系统。面板具备弯曲的保护基板、和粘贴在保护基板的背面并将静电电容的变化作为坐标输入来受理的坐标检测装置。检查装置将探头抵接于面板的保护基板的表面，对坐标检测装置的坐标检测性能进行检查。探头具有基座部和前端部，该前端部能够沿保护基板的弯曲的面进行摆动地经由万向接头而被基座部支承，并能够与保护基板的表面抵接。

Description

检查装置及检查系统

技术领域

本实用新型涉及检查装置及检查系统。

背景技术

例如，专利文献1所记载那样的静电电容式坐标检测装置(触碰面板)将静电电容的变化作为触碰位置的坐标进行检测并输出。这样的坐标检测装置的坐标检测性能例如有根据探头抵接的触碰位置的精度对贴合在坐标检测装置上的保护基板的表面进行评价的情况。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2014－32596号公报

实用新型内容

实用新型要解决的课题

在触碰功能检查中，设有探头的检查装置的位置控制装置接受来自检查控制装置的作为触碰输入位置的输入坐标数据，使导电性探头与坐标检测装置的目标位置抵接。并且，坐标检测装置检测并运算所抵接的导电性探头所引起的电容变化，输出作为触碰检测位置的触碰检测坐标。这里，专利文献1所记载的检查装置的探头具备基座部和固定在基座部上的前端部，前端部的端面是平坦面。因而，在面板弯曲的情况下，探头的前端部的端面的角部碰抵于面板的弯曲的表面。因此，有可能实际的检测坐标所表示的位置从本来的应成为检测坐标的位置偏离，不能得到正确的检查结果。

本实用新型的目的在于提供检查装置及检查系统，其在对设于弯曲的面板的坐标检测装置的坐标检测性能进行检查的触碰功能检查中，能够输出表示更正确的位置的检测坐标。

用来解决课题的手段

一技术方案的检查装置，将探头与面板的保护基板抵接，对坐标检测装置的坐标检测性能进行检查，上述面板具有弯曲的上述保护基板、和沿着上述保护基板弯曲而设置并对坐标信息进行检测的上述坐标检测装置，该检查装置具备上述探头，该探头具有：基座部；以及前端部，能够沿着上述保护基板的弯曲的面进行摆动地经由万向接头被上述基座部支承，能够与上述保护基板抵接。

在一技术方案的检查装置中，上述探头的前端部具有导电性弹性部件，上述坐标检测装置将静电电容的变化作为上述坐标信息来检测。

在一技术方案的检查系统中，上述检查装置还具备设有上述探头的位置控制装置、以及检查控制装置；将上述检查控制装置向上述位置控制装置给出指令而使上述探头抵接的上述保护基板的位置作为输入坐标，将从上述坐标检测装置输出了上述探头的抵接的位置作为检测坐标；上述检查控制装置基于多个上述检测坐标，根据该多个检测坐标对准确度进行运算，对该准确度是否是第1阈值以下进行计算并存储。

在一技术方案的检查系统中，上述检查装置还具备设有上述探头的位置控制装置、以及检查控制装置；将上述检查控制装置向上述位置控制装置给出指令而使上述探头抵接的上述保护基板的位置作为输入坐标，将从上述坐标检测装置输出了上述探头的抵接的位置作为检测坐标；上述检查控制装置基于多个上述检测坐标和上述输入坐标，对抖动进行运算，对该抖动是否是第2阈值以下进行计算并存储。

附图说明

图1是用来说明本实施方式的检查装置及检查系统的结构的说明图。

图2是表示图1的检查装置的探头的立体图。

图3是表示图2的探头的立体图。

图4是表示图2的探头的侧视图。

图5是表示图2的探头的仰视图。

图6是表示弯曲的面板和探头的示意图。

图7是表示将本实施方式的检查装置的探头抵接于弯曲的面板的状态的示意图。

图8是表示将比较例的检查装置的探头抵接于弯曲的面板的状态的示意图。

图9是表示作为输入坐标的重心的示意图。

图10是表示变形例的探头的侧视图。

图11是表示触碰性能检查的步骤的流程图。

标号说明

10 面板(显示面板、触碰面板)

11 弯曲保护基板

11a 表面

12 坐标检测装置

100 检查系统

217 位置控制装置

220 探头

222 大径部(基座部)

223 前端部

234 导电性弹性部件

300 检查控制装置

具体实施方式

参照附图对用来实施本实用新型的形态(实施方式)详细地进行说明。本实用新型不由以下实施方式所记载的内容限定。此外，在以下记载的构成要素中，包含本领域技术人员能够容易地想到的构成要素、实质上相同的构成要素。进而，以下记载的构成要素能够适当组合。另外，公开内容只不过是一例，关于本领域技术人员对于保持着公开的主旨的适当变更能够容易地想到的要素，当然包含在本实用新型的范围中。此外，附图为了使说明更明确，有与实际形态相比对各部的宽度、厚度、形状等示意地表示的情况，但只不过是一例，并不限定本实用新型的解释。此外，在本说明书和各图中，有时对关于已有的附图描述过的要素同样的要素赋予相同的标号而适当省略详细的说明。

[检查系统]

图1是用来说明本实施方式的检查装置及检查系统的结构的说明图。检查系统100具备检查装置单元200和检查控制装置300。

检查装置单元200具备检查台240和位置控制装置217。检查台240在下表面设有多个腿部241。腿部241被载置在工作台210之上。在检查台240之上载置弯曲的面板10。弯曲的面板10例如是具备坐标检测装置12的触碰面板或显示装置。

位置控制装置217具有从工作台210向上方延伸的第1腿部211和从第1腿部211的上端在水平方向上延伸的第2腿部212。在第2腿部212的侧面，滑动轨道213沿水平方向延伸。在滑动轨道213，可滑动地保持着移动体214。在移动体214的下端部设有延伸部215，在延伸部215，固定着朝向下方延伸的安装工具216。在安装工具216的下部，固定着探头220。通过用探头220的前端将面板10抵接(触碰)，带来面板10的基准坐标下的抵接。关于探头220及触碰性能检查在后面叙述。另外，面板10的表面的一个方向被设为Dx方向，与Dx方向正交的方向被设为Dy方向。

检查控制装置300是所谓的计算机，具备CPU(中央运算处理装置：CentralProcessing Unit)301、RAM(Random Access Memory)302、ROM(Read Only Memory)303和硬盘驱动器(HDD：Hard Disc Drive)等内部存储装置304。位置控制装置217及面板10与检查控制装置300连接。

在ROM303中，存储有BIOS(Basic Input Output System)等程序。

RAM302是能够进行程序及数据的记录及读出的主存储器。RAM302提供工作区，保存有用来对位置控制装置217进行控制的多个程序。

CPU301将保存在RAM302中的程序读出并执行，进行后述的加权平均及准确度(Accuracy)、抖动(Jitter)等的运算，将运算结果向内部存储装置304等输出。CPU301与未图示的输入设备连接。通过输入设备，输入由探头220将面板10进行触碰时的输入坐标等。

[位置控制装置的探头]

图2是表示设于图1的位置控制装置的探头的立体图。图3是表示图2的探头的立体图。图4是表示图2的探头的侧视图。图5是表示图2的探头的仰视图。

如图2至图5所示，探头220具有小径部221、大径部222(基座部)和前端部223。小径部221具有圆筒形状的侧面，在侧面的上端部具有一对缺口部226。当向安装工具216装配小径部221的上端部时，缺口部226具有小径部221的旋转阻止的作用。此外，在小径部221的上表面224，设有插通孔225。与探头220相连的配线(未图示)经由插通孔225穿过安装工具216内。大径部222固定在小径部221的下端部。具体而言，通过将在周向上配置的多个螺栓227拧紧，能够将大径部222固定到小径部221。大径部222具有圆筒状的侧面233和随着从侧面233的下端朝向下方而直径变小的倾斜面232。

前端部223具有端面229、侧面231和倾斜面230。端面229是平坦面，与面板10接触。倾斜面230具有球面状的形状，与在大径部222的下部设置的凹面部(未图示)嵌合且能够滑动。前端部223经由未图示的万向接头(universal joint)而被大径部222(基座部)可摆动地支承。

图6是表示弯曲的面板和探头的示意图。如图6所示，面板10具备弯曲保护基板11和坐标检测装置12。

弯曲保护基板11具有向图6的下侧凸出地弯曲的弯曲形状。因而，在弯曲保护基板11的表面11a中，Dx方向的中央部11C位于比Dx方向的侧部11E1、11E2靠+Dz侧(图6的下侧)。弯曲保护基板11例如是玻璃基板或塑料基板等，也可以表现为玻璃罩或前罩等。

坐标检测装置12可以是将静电电容型触碰传感器内置并与显示装置一体化的带触碰检测功能的显示装置。该情况下，带触碰检测功能的显示装置对图像进行显示，并且根据当导电体抵接或接近时的静电电容的变化，将抵接位置作为坐标信息而输出检测坐标。所谓将静电电容型触碰传感器内置并一体化，例如包括将显示用的基板及电极等一部分部件、和用作触碰传感器的基板及电极等一部分部件兼用的情况。或者，坐标检测装置12例如也可以是将静电电容型触碰传感器重叠安装于显示装置的所谓on-cell型带触碰检测功能的显示装置。此外，坐标检测装置12也可以没有显示装置，而仅是将当导电体抵接或接近时的静电电容的变化作为坐标输入来受理的触碰传感器(触碰面板)。这样，坐标检测装置12是内置有触碰检测功能的显示面板、重叠有触碰传感器的显示面板、或触碰面板单体的哪种都可以。本实用新型不由坐标检测装置12的形态限定。因而，坐标检测装置12当探头220的前端部223与弯曲保护基板11的表面11a抵接或接近时，将静电电容的变化作为相对于输入坐标的检测坐标来输出。

坐标检测装置12比弯曲保护基板11刚性低，经由粘接剂而固定于弯曲保护基板11的背面11b。因此，坐标检测装置12与弯曲保护基板11同样，具有向图6的下侧凸出地弯曲的弯曲形状。

这里，图6的第1位置P1是与弯曲保护基板11的Dx方向的中央部11C对应的位置。第2位置P2是与弯曲保护基板11的Dx方向的侧部11E1对应的位置。第3位置P3是与弯曲保护基板11的Dx方向的侧部11E2对应的位置。在第1位置P1，如果使探头220下降，则前端部223的端面229抵接于弯曲保护基板11的表面11a，进行触碰性能检查。如图6所示，在第1位置P1，由于前端部223的端面229相对于轴心Ax正交，所以前端部223不摆动。

此外，在第2位置P2，如果使探头220下降，则前端部223的端面229与弯曲保护基板11的表面11a的弯曲部分接触，进行触碰性能检查。如图6所示，在第2位置P2，前端部223摆动，端面229以角度θ1倾斜。同样，在第3位置P3，如果使探头220下降，则前端部223的端面229与弯曲保护基板11的表面11a的弯曲部分接触，进行触碰性能检查。如图6所示，在第3位置P3，前端部223摆动，端面229以角度θ2向与第2位置P2的情况的相反侧倾斜。角度θ1和角度θ2可以是相同的角度，也可以是分别不同的角度，成为与包括弯曲保护基板11及弯曲的坐标检测装置12的弯曲的面板10的形状有关的角度。

图7是表示将本实施方式的检查装置的探头抵接于弯曲的保护基板的状态的示意图。图8是表示将比较例的检查装置的探头抵接于弯曲的保护基板的状态的示意图。如图7所示，由于本实施方式的探头220的前端部223相对于大径部222以能够摆动的方式被用万向接头连接，所以前端部223的端面229沿着弯曲保护基板11的表面11a的弯曲部分倾斜。因而，弯曲保护基板11的表面11a与前端部223的端面229之间的间隙G1变小。相对于此，在图8所示的比较例中，探头220A被固定在大径部222。因而，如果前端部223抵接于弯曲保护基板11的表面11a，则与探头220A的端面229A之间的间隙G2比间隙G1大。在本实施方式中，即使前端部223暂时地如比较例的图8那样产生了间隙G2，探头220也下降，结果从图8的状态如图7所示那样前端部223沿着弯曲的部分倾斜。由此，弯曲保护基板11的表面11a与探头220的前端部223的端面229之间的间隙G2变小，如后述那样，在对弯曲的面板10的坐标检测装置12的坐标检测性能进行检查的触碰功能检查中，进行表示更正确的位置的输出，触碰检查时的评价的精度提高。

图9是表示作为输入坐标的重心的示意图。在图9中，多个传送器(Txi－2、Txi－1、Txi、Txi+1、Txi+2)的层在图9的横向(与图1的Dx方向对应)上延伸，多个接收器(Rxj－2、Rxj－1、Rxj、Rxj+1、Rxj+2)的层在图9的纵向(与图1的Dy方向对应)上延伸。因而，传送器与接收器的交点设有多个。此外，图9的圆C表示探头220的触碰范围。圆C包括传送器与接收器的多个交点。这样，探头220的触碰位置(输入坐标)跨传送器与接收器的多个交点，所以运算多个触碰位置的重心Gr，将该重心Gr作为触碰位置(输入坐标)。

此外，作为触碰性能评价指标，例如，通常已知有准确度(accuracy)、抖动(jitter)及直线性(linearity)等。接着，简单地说明这些评价指标的内容。

[准确度]

准确度(accuracy)是测定点(输入坐标)与最远离测定点的检测坐标之间的距离。以下，详细叙述其内容。

首先，将触碰评价的测定区域分为画面的中央部和边缘部。接着，对于中央部及边缘部分别设定多个测定点。具体而言，将在Dx方向(参照图1)上延伸且在Dy方向(参照图1)上等间隔地配置的直线与在Dy方向上延伸且在Dx方向上相互等间隔地配置的直线相交叉的交点作为测定点。如果使探头220向各测定点触碰规定次数，则测定点与检测坐标的距离通过运算而得到规定数量。在该测定点与检测坐标的距离中，通过运算求出最大的值。在中央部及边缘部的各自的测定点进行该作业，在中央部，通过运算求出测定点与检测坐标的距离的最大值即中央部的准确度，在边缘部，通过运算求出测定点与检测坐标的距离的最大值即边缘部的准确度。另外，中央部的准确度的第1阈值例如是0.6mm，边缘部的准确度的第1阈值例如是1.2mm。

[抖动]

抖动(jitter)是多个检测坐标的偏差范围的中心与检测坐标的最大值之间的距离。以下，详细叙述其内容。

首先，与准确度同样地，将触碰评价的测定区域分为画面的中央部和边缘部，对中央部及边缘部分别设定多个测定点。如果使探头220向各测定点触碰规定次数，则也得到规定数量的检测坐标。按每个测定点通过运算求出这些多个检测坐标的平均值、以及该检测坐标的平均值与各检测坐标的距离的最大值。在中央部及边缘部的各自的测定点进行该作业，在中央部，每个测定点的最大值中的最大的距离成为中央部的抖动，在边缘部，每个测定点的最大值中的最大的距离成为边缘部的抖动。另外，中央部的抖动的第2阈值例如是0.15mm，边缘部的抖动的第2阈值例如是0.3mm。

[直线性]

直线性(linearity)是距由探头描绘的直线(轨跡)的误差范围。以下，详细叙述其内容。

首先，使探头220从画面的一方的端部朝向另一方的端部沿直线移动。在探头220的轨跡中，有与Dx方向平行的直线、与Dy方向平行的直线、相对于Dx方向及Dy方向倾斜延伸的直线。有时相对于成为探头220的轨跡的轨跡直线而言、实际在画面上显示的显示线从轨跡直线偏离。设想经过显示线上的各部位中的距轨跡直线最远的点且与轨跡直线平行的直线。关于与该设想直线接近的多个测定点的每一个，分别通过运算求出距轨跡直线的距离的最大值(第1最大值)和距设想直线的距离的最大值(第2最大值)。分为画面的中央部和边缘部求出这些第1最大值及第2最大值。

[变形例]

接着，对变形例的探头进行说明。图10是表示变形例的探头的侧视图。变形例的探头220A与实施方式的探头220相比，在前端部223A的前端固定有导电性弹性部件234。具体而言，变形例的探头220A在实施方式的探头220的端面229上经由粘接剂粘接着导电性弹性部件234。

因而，由于导电性弹性部件234较软，所以如果探头220A的前端部223A的导电性弹性部件234与弯曲保护基板11的弯曲部分抵接，则导电性弹性部件234弹性变形，以更大的范围与弯曲保护基板11的弯曲部分抵接。由此，与没有设置导电性弹性部件的前端部223相比，能得到更正确的检查结果。另外，导电性弹性部件234例如是导电性发泡体(导电性海绵)、导电性橡胶及导电性纤维集合体等，能够广泛地应用在施加了载荷的情况下变形、在将载荷去除的情况下复原为原形状的材质。

[触碰性能检查的检查方法]

图11是表示触碰性能检查的步骤的流程图。参照图11说明触碰性能检查的步骤。

首先，在第1步骤ST1中，进行检查对象物的准备。在本实施方式中，检查对象物是弯曲的面板10。面板10具备弯曲保护基板11和坐标检测装置12。

接着，在第2步骤ST2中，进行检查对象物的设置。具体而言，如图1所示，在检查台240之上载置面板10。

接着，在第3步骤ST3中，进行触碰功能检查。在本实施方式中，如上述那样，用探头220的前端部223的端面229，将面板10的同一位置触碰10次。具体而言，在本实施方式中，例如，如果将坐标(0，0)作为输入检查坐标400来输入，则输入检查坐标400的信息被传送至CPU301，被存储到内部存储装置304中。并且，检查控制装置300的CPU301对位置控制装置217给出指令，使探头220向面板10的与输入检查坐标400对应的位置抵接10次。此外，抵接的次数是一例，不是限于10次的数字。

当探头220抵接于面板10，则在第4步骤ST4中，作为探头220所抵接的面板10的位置的输出坐标410至460被从坐标检测装置12向检查控制装置300的CPU301输出，被存储到内部存储装置304中。

接着，在第5步骤ST5中，在检查控制装置300的CPU301中，利用输出坐标410至输出坐标460进行运算。具体而言，进行准确度测试(Accuracy Test)、抖动测试(Jitter Test)及直线性测试(Linearity Test)等运算。准确度等的运算方法及结果如上述那样。

接着，在第6步骤ST6中，对运算结果是否是阈值以下进行计算。例如，对准确度是否是第1阈值以下进行计算。此外，对抖动是否是第2阈值以下进行计算。在准确度等的运算结果是阈值以下的情况下，如第7步骤ST7那样向下个工序前进。相对于此，在准确度等的某个运算结果比阈值大的情况下，如第8步骤ST8那样向废弃工序前进。

如以上说明那样，本实施方式的检查装置，将探头220抵接于弯曲的面板10的弯曲保护基板11，对坐标检测装置12的坐标检测性能进行检查。探头220具有大径部222(基座部)、和经由万向接头可摆动地被大径部222(基座部)支承并能够与弯曲保护基板11的表面11a抵接的前端部223。

因而，在将探头220抵接于弯曲保护基板11的情况下，前端部223沿着弯曲保护基板11的弯曲部分摆动。由此，与如以往的探头那样前端部被固定到基座部的情况相比，由于探头220的前端部223的端面229与弯曲保护基板11的表面11a之间的距离总为一定的间隙G1，所以能够输出稳定的坐标，实际的输出坐标所表示的位置接近于应成为本来的输出坐标的位置，能得到更正确的检查结果。

检查系统100具备位置控制装置217和对位置控制装置217进行控制的检查控制装置300。检查控制装置300向位置控制装置217给出指令，将探头220抵接于弯曲保护基板11，将从坐标检测装置12检测到探头220抵接的位置作为检测坐标。检查控制装置300基于多个检测坐标，运算将多个输出坐标平均的平均坐标(Xt，Yt)，对输入坐标与平均坐标(Xt，Yt)的距离是否是第1阈值以下进行计算并存储。这样，将输入坐标与平均坐标(Xt，Yt)的距离作为准确度来输出，是否是第1阈值以下成为实现检查对象物的坐标检测装置的坐标检测性能的判断材料，能够得到检查精度更高的检查系统100。

检查控制装置300基于多个检测坐标和输入坐标，对抖动进行运算，对抖动是否是第2阈值以下进行计算并存储。这样，抖动是否是第2阈值以下成为实现检查对象物的坐标检测装置的坐标检测性能的判断材料，能够得到检查精度更高的检查系统100。

本实施方式的检查方法，包括：设置在弯曲保护基板11的背面11b粘贴有坐标检测装置12的面板10的步骤；检查控制装置300对具备探头220的位置控制装置217给出指令、使探头220向弯曲保护基板11的表面11a上的输入坐标的位置多次抵接的步骤，上述探头220具有可摆动地被大径部(基座部)222支承的前端部223；位置控制装置217将检测坐标向检查控制装置300输出的步骤；检查控制装置300利用检测坐标进行准确度及抖动的运算的步骤；以及检查控制装置300对运算的结果是否是阈值以下进行计算的步骤。这样，在将探头220抵接于弯曲保护基板11的情况下，前端部223沿着弯曲保护基板11的弯曲部分摆动，所以能得到更正确的检查结果。此外，准确度及抖动成为实现坐标检测装置的坐标检测性能的判断材料，能够得到检查精度更高的检查系统100。

Claims (4)

1.一种检查装置，将探头与面板的保护基板抵接，对坐标检测装置的坐标检测性能进行检查，上述面板具有弯曲的上述保护基板、和沿着上述保护基板弯曲而设置并对坐标信息进行检测的上述坐标检测装置，

该检查装置的特征在于，

具备上述探头，该探头具有：

基座部；以及

前端部，能够沿着上述保护基板的弯曲的面进行摆动地经由万向接头被上述基座部支承，能够与上述保护基板抵接。

2.如权利要求1所述的检查装置，其特征在于，

上述探头的前端部具有导电性弹性部件；

上述坐标检测装置将静电电容的变化作为上述坐标信息来检测。

3.一种检查系统，其特征在于，

权利要求1或2所述的检查装置还具备设有上述探头的位置控制装置、以及检查控制装置；

将上述检查控制装置向上述位置控制装置给出指令而使上述探头抵接的上述保护基板的位置作为输入坐标，将从上述坐标检测装置输出了上述探头的抵接的位置作为检测坐标；

上述检查控制装置基于多个上述检测坐标，根据该多个检测坐标对准确度进行运算，对该准确度是否是第1阈值以下进行计算并存储。

4.一种检查系统，其特征在于，

权利要求1或2所述的检查装置还具备设有上述探头的位置控制装置、以及检查控制装置；

将上述检查控制装置向上述位置控制装置给出指令而使上述探头抵接的上述保护基板的位置作为输入坐标，将从上述坐标检测装置输出了上述探头的抵接的位置作为检测坐标；

上述检查控制装置基于多个上述检测坐标和上述输入坐标，对抖动进行运算，对该抖动是否是第2阈值以下进行计算并存储。

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