CN214953942U - 一种集成电路测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种集成电路测试装置，包括底座，其可摆放在操作台上，所述底座的上方左右两侧分别设置有第一竖板和第二竖板，所述第一竖板和第二竖板的内壁上均设置有限位块；测试仪本体，其安装在所述限位块之间，所述测试仪本体的下方设置有驱动电机，所述驱动电机的输出端和扇叶上的轴相连接；旋钮，其安装在所述丝杆的右端。该集成电路测试装置，第二竖板的底部设置有安装板，且安装板和丝杆之间为螺纹连接，这样在丝杆旋转时，可以带动安装板进行移动，进而通过安装板带动第二竖板一起移动，实现第二竖板和第一竖板之间间距的调节，从而适用于不同尺寸的测试仪本体进行摆放，进一步方便对集成电路的测试操作。

Description

一种集成电路测试装置

技术领域

本实用新型涉及集成电路技术领域，具体为一种集成电路测试装置。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件，通常安装在半导体上进行使用，在电路元件中起着重要作用，集成电路使用前，会对集成电路进行测试，保证后期的正常使用。

如公开号为CN209460364U，一种集成电路测试装置，包括集成电路测试装置本体和辅助散热装置，通过导液管、散热片等对集成电路测试装置的内部进行散热，但是现有的集成电路测试装置在使用过程中还是存在一些不足之处，例如不便于对不同尺寸的测试装置进行摆放，测试装置如果直接放在操作台上，使测试装置的底部与操作台接触，这样不利于散热，容易使测试装置的内部出现过热的现象，从而降低了对测试装置的使用效率，所以我们提出了一种集成电路测试装置，以便于解决上述中提出的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种集成电路测试装置，以解决上述背景技术提出的目前市场上不便于对不同尺寸的测试装置进行摆放，测试装置如果直接放在操作台上，使测试装置的底部与操作台接触，这样不利于散热，容易使测试装置的内部出现过热的现象，从而降低了对测试装置的使用效率的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种集成电路测试装置，包括：

底座，其可摆放在操作台上，所述底座的上方左右两侧分别设置有第一竖板和第二竖板，所述第一竖板和第二竖板的内壁上均设置有限位块；

测试仪本体，其安装在所述限位块之间，所述测试仪本体的下方设置有驱动电机，所述驱动电机的输出端和扇叶上的轴相连接；

安装板，其设置于所述第二竖板的底部，所述安装板的内壁和丝杆相连接，所述安装板的前后两侧均设置有连接块，且连接块通过凹槽和底座相连接，并且凹槽开设于所述底座的内壁，可以通过安装板的移动带动第二竖板一起移动，实现第二竖板和第一竖板之间间距的调节；

旋钮，其安装在所述丝杆的右端。

优选的，所述限位块设置有2个，且2个所述限位块分别与第一竖板和第二竖板之间为焊接连接，并且限位块呈“凹”字形，可以使限位块在使用时更加牢固，有效防止使用过程中出现掉落的现象。

优选的，所述限位块的内壁上设置有滚轮，且滚轮在限位块的内壁上等间距分布，并且滚轮和限位块的内壁之间为转动连接，可以通过滚轮方便对测试仪本体进行推动，便于对测试仪本体的移动。

优选的，所述安装板和第二竖板为一体式结构，且安装板和丝杆的连接方式为螺纹连接，当丝杆旋转时，可以带动安装板进行移动，通过安装板带动第二竖板一起移动。

优选的，所述连接块和安装板之间为焊接连接，且连接块通过凹槽和底座之间构成滑动结构，在连接块的作用下，可以使安装板移动的更加平稳，进而使第二竖板移动的更加稳定。

优选的，所述旋钮和底座上均开设有限位孔，且限位孔的内部螺纹连接有可以限位的锁紧杆，并且限位孔在旋钮上等角度分布，便于对旋钮进行限位，防止在测试过程中旋钮带动丝杆进行自动转动。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：该集成电路测试装置，

(1)测试仪本体的下方设置有扇叶，且扇叶和驱动电机的输出端相连接，这样在测试过程中，可以启动驱动电机，使驱动电机带动扇叶进行转动吹风，对测试仪本体进行散热降温，有效防止测试仪本体内部出现温度过高的现象，保证测试仪本体的正常使用；

(2)第二竖板的底部设置有安装板，且安装板和丝杆之间为螺纹连接，这样在丝杆旋转时，可以带动安装板进行移动，进而通过安装板带动第二竖板一起移动，实现第二竖板和第一竖板之间间距的调节，从而适用于不同尺寸的测试仪本体进行摆放，进一步方便对集成电路的测试操作。

附图说明

图1为本实用新型整体主剖结构示意图；

图2为本实用新型安装板和连接块连接侧剖结构示意图；

图3为本实用新型限位块和滚轮连接俯视结构示意图；

图4为本实用新型整体俯视结构示意图；

图5为本实用新型图1中a处放大结构示意图；

图6为本实用新型旋钮和限位孔连接右视结构示意图。

图中：1、底座；2、第一竖板；3、第二竖板；4、限位块；5、测试仪本体；6、驱动电机；7、扇叶；8、安装板；9、丝杆；10、连接块；11、凹槽；12、旋钮；13、限位孔；14、锁紧杆；15、滚轮。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1-6，本实用新型提供一种技术方案：一种集成电路测试装置，包括：

底座1，其可摆放在操作台上，底座1的上方左右两侧分别设置有第一竖板2和第二竖板3，第一竖板2和第二竖板3的内壁上均设置有限位块4；

测试仪本体5，其安装在限位块4之间，测试仪本体5的下方设置有驱动电机6，驱动电机6的输出端和扇叶7上的轴相连接；

安装板8，其设置于第二竖板3的底部，安装板8的内壁和丝杆9相连接，安装板8的前后两侧均设置有连接块10，且连接块10通过凹槽11和底座1相连接，并且凹槽11开设于底座1的内壁，可以通过安装板8的移动带动第二竖板3一起移动，实现第二竖板3和第一竖板2之间间距的调节；

旋钮12，其安装在丝杆9的右端。

限位块4设置有2个，且2个限位块4分别与第一竖板2和第二竖板3之间为焊接连接，并且限位块4呈“凹”字形。限位块4的内壁上设置有滚轮15，且滚轮15在限位块4的内壁上等间距分布，并且滚轮15和限位块4的内壁之间为转动连接。

工作人员可以对测试仪本体5进行推动，使测试仪本体5移动至合适位置，之后操作测试仪本体5，对内部安装的集成电路进行测试工作，在测试过程中，工作人员可以启动驱动电机6，使驱动电机6带动扇叶7进行转动吹风，因扇叶7设置于测试仪本体5的下方，所以可以对测试仪本体5进行吹风散热，加快测试仪本体5的散热进度，进而有效防止测试仪本体5在测试过程中出现内部温度过高的现象。

安装板8和第二竖板3为一体式结构，且安装板8和丝杆9的连接方式为螺纹连接。连接块10和安装板8之间为焊接连接，且连接块10通过凹槽11和底座1之间构成滑动结构。旋钮12和底座1上均开设有限位孔13，且限位孔13的内部螺纹连接有可以限位的锁紧杆14，并且限位孔13在旋钮12上等角度分布。

当第一竖板2和第二竖板3之间的间距过大时，工作人员先将锁紧杆14从限位孔13中旋转出，然后顺时针方向拧动旋钮12，使旋钮12带动丝杆9一起转动，因丝杆9和安装板8之间为螺纹连接，所以可以带动安装板8向左移动，从而通过安装板8带动第二竖板3一起左移，这样便使第二竖板3和第一竖板2之间的间距逐渐减小，然后工作人员将测试仪本体5放在2个“凹”形的限位块4之间即可。

工作原理：在使用该集成电路测试装置时，如图1-6所示，首先工作人员将底座1摆放在相应位置，接着根据测试仪本体5的尺寸对第一竖板2和第二竖板3之间的间距进行调节，工作人员可以拧动旋钮12，使旋钮12带动丝杆9一起转动，因丝杆9和安装板8之间为螺纹连接，所以可以带动安装板8进行移动，对第二竖板3和第一竖板2之间的间距进行调节，安装板8移动过程中，安装板8前后两侧的连接块10会沿着凹槽11进行滑动，这样可以使安装板8移动的更加平稳，当第二竖板3和第一竖板2之间的间距调节合适后，工作人员将锁紧杆14旋转进限位孔13中，对旋钮12进行限位固定，防止在后期测试时旋钮12出现自行转动的现象，然后工作人员将测试仪本体5放在2个“凹”形的限位块4之间，之后操作测试仪本体5，对内部安装的集成电路进行测试工作，以上便是整个装置的工作过程，本说明书中未作详细描述的内容均属于本领域专业技术人员公知的现有技术。

尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种集成电路测试装置，其特征在于，包括：

底座(1)，其可摆放在操作台上，所述底座(1)的上方左右两侧分别设置有第一竖板(2)和第二竖板(3)，所述第一竖板(2)和第二竖板(3)的内壁上均设置有限位块(4)；

测试仪本体(5)，其安装在所述限位块(4)之间，所述测试仪本体(5)的下方设置有驱动电机(6)，所述驱动电机(6)的输出端和扇叶(7)上的轴相连接；

安装板(8)，其设置于所述第二竖板(3)的底部，所述安装板(8)的内壁和丝杆(9)相连接，所述安装板(8)的前后两侧均设置有连接块(10)，且连接块(10)通过凹槽(11)和底座(1)相连接，并且凹槽(11)开设于所述底座(1)的内壁，可以通过安装板(8)的移动带动第二竖板(3)一起移动，实现第二竖板(3)和第一竖板(2)之间间距的调节；

旋钮(12)，其安装在所述丝杆(9)的右端。

2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述限位块(4)设置有2个，且2个所述限位块(4)分别与第一竖板(2)和第二竖板(3)之间为焊接连接，并且限位块(4)呈“凹”字形。

3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述限位块(4)的内壁上设置有滚轮(15)，且滚轮(15)在限位块(4)的内壁上等间距分布，并且滚轮(15)和限位块(4)的内壁之间为转动连接。

4.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述安装板(8)和第二竖板(3)为一体式结构，且安装板(8)和丝杆(9)的连接方式为螺纹连接。

5.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述连接块(10)和安装板(8)之间为焊接连接，且连接块(10)通过凹槽(11)和底座(1)之间构成滑动结构。

6.根据权利要求1所述的一种集成电路测试装置，其特征在于：所述旋钮(12)和底座(1)上均开设有限位孔(13)，且限位孔(13)的内部螺纹连接有可以限位的锁紧杆(14)，并且限位孔(13)在旋钮(12)上等角度分布。

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