CN214951396U - 光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置 - Google Patents

Abstract

本发明公开了光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，属于光电技术领域。它包括支撑板、横板、竖板，所述支撑板的下端安装有调节座，所述竖板的表面设置有俯仰向反射镜，所述横板的表面设置有中间基准镜与方位向反射镜，所述横板的一侧设置有右侧基准镜。本发明可达到秒级精度，该装置表征惯导轴线的准确度和校准精度更高，适应于高精度惯性测量系统，光电校准可以适用于任何角度的偏差校正，无需进行光机粗校正，既提高了惯导轴线与自准直仪光轴一致性的校正精度，也提高了工作效率。

Description

光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置

技术领域

本发明涉及光电技术领域，尤其涉及光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置。

背景技术

随着惯导技术的发展，越来越多的设备利用惯导的惯性测姿优势进行一定的姿态测量，而这种测量过程中通常将光电测量设备与惯导相结合，形成捷联式安装形式，既保证了设备的精度要求，也提高了设备的综合可靠性。

在新型的光电校靶产品中，就利用自准直仪与惯导的各自优势，发挥光电自准直仪的光学特性实现光学轴线对准，继而通过惯导获取出光学轴线的惯性姿态，继而可以实现对相应设备的空间轴线姿态测量，通过这种轴线姿态的测量方式，可以实现对相应产品的惯性测量，因此光电惯性校靶类产品就涉及到捷联惯导轴线与自准直仪光轴一致性的检校方法。

在捷联惯导与光电自准直仪结合的产品中，需要将惯导的轴线与自准直仪的光轴调校一致，使得两者的姿态关系差最小，这样的的关系差越小则可以获得越高的测姿精度。惯导为捷联式，其数字轴系是在三轴转台上通过标定建立的，对外表现为安装靠面，因此利用平晶紧靠安装靠面对自准直光轴进行校准，这种传统的光机校正属于粗略校正，由于各种原因，校正的精度很难达到系统要求，为此，我们提出光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置。

发明内容

本发明主要针对于现有技术中微光瞄准镜在恶劣环境下成像不清晰的问题，提供光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置；通过合理设置红外组件、机身组件、投影组件、夹持组件，可以提升夜间观察的探测能力，而且提高人眼对目标的反应速度、对伪装的识别能力以及对环境的适应性。

本发明的光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，包括支撑板、横板、竖板，所述支撑板的下端安装有调节座，所述竖板的表面设置有俯仰向反射镜，所述横板的表面设置有中间基准镜与方位向反射镜，所述横板的一侧设置有右侧基准镜。

优选的，所述横板、竖板均固定在支撑板的上端，且横板位于竖板的前方。

优选的，所述俯仰向反射镜为在竖板的表面呈弧形排布的七组。

优选的，所述方位向反射镜为在横板的表面呈线性排布的六组。

优选的，所述中间基准镜的两侧各设置三组方位向反射镜。

优选的，所述中间基准镜、方位向反射镜、右侧基准镜的水平中心线位于同一高度。

优选的，所述调节座安装在支撑板的下端，所述调节座为矩形阵列排布的六组。

本发明具有如下有益效果：

本发明的光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，包括支撑板、横板、竖板，所述支撑板的下端安装有调节座，所述竖板的表面设置有俯仰向反射镜，所述横板的表面设置有方位向反射镜与右侧基准镜；与传统光学平晶引出的光机校正法相比，光电校准属于精确调校，可达到秒级精度，该装置表征惯导轴线的准确度和校准精度更高，适应于高精度惯性测量系统，光电校准可以适用于任何角度的偏差校正，无需进行光机粗校正，既提高了惯导轴线与自准直仪光轴一致性的校正精度，也提高了工作效率。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施方式的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本发明的光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置的结构示意图；

图2是本发明的光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置的侧面结构示意图。

图中：1、支撑板；2、横板；3、调节座；4、竖板；5、俯仰向反射镜； 6、中间基准镜；7、方位向反射镜；8、右侧基准镜。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施方式，所述实施方式的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施方式是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下文的公开提供了许多不同的实施方式或例子用来实现本发明的不同结构。为了简化本发明的公开，下文中对特定例子的部件和设置进行描述。当然，它们仅仅为示例，并且目的不在于限制本发明。此外，本发明可以在不同例子中重复参考数字和/或参考字母，这种重复是为了简化和清楚的目的，其本身不指示所讨论各种实施方式和/或设置之间的关系。此外，本发明提供了的各种特定的工艺和材料的例子，但是本领域普通技术人员可以意识到其他工艺的应用和/或其他材料的使用。

请参阅图1～图2，本发明实施方式提供光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，包括支撑板1、横板2、竖板4，支撑板1的下端安装有调节座3，竖板4的表面设置有俯仰向反射镜5，横板2的表面设置有中间基准镜6与方位向反射镜7，横板2的一侧设置有右侧基准镜8。

横板2、竖板4均固定在支撑板1的上端，且横板2位于竖板4的前方，通过横板2、竖板4可以对间基准镜6、方位向反射镜7、右侧基准镜 8进行固定。

俯仰向反射镜5为在竖板4的表面呈弧形排布的七组。

方位向反射镜7为在横板2的表面呈线性排布的六组。

中间基准镜6的两侧各设置三组方位向反射镜7。

中间基准镜6、方位向反射镜7、右侧基准镜8的水平中心线位于同一高度。

调节座3安装在支撑板1的下端，调节座3为矩形阵列排布的六组，通过调节座3可以调节支撑板1的角度。

使用时，通过调节座3调节支撑板1的位置，以中间基准镜6的法线和右侧基准镜8的法线达到水平状态为准，然后采用T3经纬仪标定，精度为2″，将方位向反射镜7法线相对于中间基准镜6法线的方位向夹角调整，分别为±7°±0.5°，±13°±0.5°，±19.5°±0.5°，俯仰向夹角小于15″，表征惯导轴线的方位，俯仰向反射镜5同方位向反射镜7安装方式和标定方法一样，表征惯导轴线的俯仰，在横板2右侧安装右侧基准镜8，右侧基准镜8法线方位与中间基准镜6夹角为90°±15〞，俯仰向夹角小于15〞，表征惯导轴线的横滚，将惯导组件上电，利用惯导上自准直仪对该装置中间基准镜6和右侧基准镜8光学自准，获取基准轴，然后分别对俯仰向反射镜5、方位向反射镜7光学自准，测量得到10组数据，根据这些数据采用最小二乘法对偏差角度进行迭代计算，为了确保计算结果正确，可以再次测量一组数据，将迭代结果代入计算，检查误差是否满足要求，经过计算与验证，得到惯导轴与自准直光轴之间的偏差为：方位-0.01°，俯仰-0.70°，再利用该偏差对惯导数据进行修正，得到修正后的数据偏差，详细数据见表1。

表1试验数据表

在上文中结合具体的示例性实施例详细描述了本发明。但是，应当理解，可在不脱离由所附权利要求限定的本发明的范围的情况下进行各种修改和变型。详细的描述和附图应仅被认为是说明性的，而不是限制性的，如果存在任何这样的修改和变型，那么它们都将落入在此描述的本发明的范围内。此外，背景技术旨在为了说明本技术的研发现状和意义，并不旨在限制本发明或本申请和本发明的应用领域。

更具体地，尽管在此已经描述了本发明的示例性实施例，但是本发明并不局限于这些实施例，而是包括本领域技术人员根据前面的详细描述可认识到的经过修改、省略、例如各个实施例之间的组合、适应性改变和/或替换的任何和全部实施例。权利要求中的限定可根据权利要求中使用的语言而进行广泛的解释，且不限于在前述详细描述中或在实施该申请期间描述的示例，这些示例应被认为是非排他性的。在任何方法或过程权利要求中列举的任何步骤可以以任何顺序执行并且不限于权利要求中提出的顺序。因此，本发明的范围应当仅由所附权利要求及其合法等同物来确定，而不是由上文给出的说明和示例来确定。

Claims (7)

1.光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，包括支撑板(1)、横板(2)、竖板(4)，其特征在于，所述支撑板(1)的下端安装有调节座(3)，所述竖板(4)的表面设置有俯仰向反射镜(5)，所述横板(2)的表面设置有中间基准镜(6)与方位向反射镜(7)，所述横板(2)的一侧设置有右侧基准镜(8)。

2.根据权利要求1所述的光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，其特征在于，所述横板(2)、竖板(4)均固定在支撑板(1)的上端，且横板(2)位于竖板(4)的前方。

3.根据权利要求1所述的光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，其特征在于，所述俯仰向反射镜(5)为在竖板(4)的表面呈弧形排布的七组。

4.根据权利要求1所述的光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，其特征在于，所述方位向反射镜(7)为在横板(2)的表面呈线性排布的六组。

5.根据权利要求1所述的光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，其特征在于，所述中间基准镜(6)的两侧各设置三组方位向反射镜(7)。

6.根据权利要求1所述的光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，其特征在于，所述中间基准镜(6)、方位向反射镜(7)、右侧基准镜(8)的水平中心线位于同一高度。

7.根据权利要求1所述的光电校靶中捷联惯导轴与自准直仪轴一致性的检校装置，其特征在于，所述调节座(3)安装在支撑板(1)的下端，所述调节座(3)为矩形阵列排布的六组。

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