CN214845537U - 一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，用于低压电器的寿命计数和触头熔焊保护，包括连接端N和连接端L，所述连接端L通过保护总控接触器J与低压电器的一端电性连接，所述低压电器的另一端依次通过限流电阻R1、二极管D1和电阻R2与光电耦合器OC1的阳极电性连接。本实用新型公开的一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，其采用光电耦合器，改原有的触点信号控制为无触点信号控制，一方面适用试验电压范围宽广，另一方面克服了继电器电寿命本身电寿命给试验带来的影响。

Description

一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路

技术领域

本实用新型属于低压电器电寿命试验技术领域，具体涉及一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路。

背景技术

低压电器的电寿命试验，主要是考核低压电器触头材料及其机构的可靠性，如接触器的电寿命试验。在电寿命的试验过程中，不仅需要记录电寿命的试验次数，还需要当试品出现故障时，如触头熔焊(有人也称触头粘连)，需要断开总电源，保护试验电路，避免负载阻Z抗因长时间通电烧坏。

常规的电寿命计数和触头熔焊保护，采用继电器结构。将继电器线圈并联在阻抗两端，当继电器线圈得电1次，继电器一组常开触头闭合1次，将这组常开信号输入至PLC，实现电寿命试验次数计数。另外，当试品出现触头熔焊时，这组常开触头长时间闭合，PLC通过设定这组触头的闭合时间(如1.2s)，发出总控接触器断电信号，实现自动切断电源，起到试验安全保护作用。

常规保护电路存在问题：1)不同试验电压，需要采用不同的继电器控制线圈；2)继电器本身具有一定的寿命，当进行长寿命的试验时，需要经常更换继电器。

因此，针对上述问题，予以进一步改进。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，其采用光电耦合器，改原有的触点信号控制为无触点信号控制，一方面适用试验电压范围宽广，另一方面克服了继电器电寿命本身电寿命给试验带来的影响。

为达到以上目的，本实用新型提供一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，用于低压电器的寿命计数和触头熔焊保护，包括连接端N和连接端L，其中：

所述连接端L通过保护总控接触器J与低压电器的一端电性连接，所述低压电器的另一端依次通过限流电阻R1、二极管D1和电阻R2与光电耦合器OC1的阳极电性连接，所述光电耦合器OC1的阴极与所述连接端N电性连接，所述光电耦合器的集电极和发射极之间连接PLC程序控制器。

作为上述技术方案的进一步优选的技术方案，低压电器远离所述保护总控接触器J的一端还通过调节阻抗Z与所述连接端N电性连接(用于调节低压电器的试验电流)。

作为上述技术方案的进一步优选的技术方案，所述二极管D1的阳极与所述限流电阻R1的一端电性连接，所述二极管D1的阴极与所述电阻R2的一端电性连接，所述二极管D1的阴极还通过稳压管D2与所述连接端N电性连接。

作为上述技术方案的进一步优选的技术方案，所述二极管D2的两端并接有电容C。

作为上述技术方案的进一步优选的技术方案，所述光电耦合器的集电极和发射极之间为常开。

本实用新型的有益效果为：

1)试验电压范围覆盖常规电压范围AC120V～1500V。低压电器电寿命的试验电压，线电压试验范围包括了120V至1500V。对应的相电压为69.3～866V。本试验控制电路，基本上可以满足低压电器电寿命的所有电压范围。

2)具有超长寿命。光电耦合器属无触点信号，改变了原有继电器控制结构受继电器触点寿命的影响。

3)主电路与控制电路通过光电耦合器隔离，有利于PLC的隔离和保护。

附图说明

图1是本实用新型的一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路图。

具体实施方式

以下描述用于揭露本实用新型以使本领域技术人员能够实现本实用新型。以下描述中的优选实施例只作为举例，本领域技术人员可以想到其他显而易见的变型。在以下描述中界定的本实用新型的基本原理可以应用于其他实施方案、变形方案、改进方案、等同方案以及没有背离本实用新型的精神和范围的其他技术方案。

本实用新型公开了一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，下面结合优选实施例，对实用新型的具体实施例作进一步描述。

参见附图的图1，图1是本实用新型的一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路图。

在本实用新型的实施例中，本领域技术人员注意，本实用新型涉及的低压电器、PLC程序控制器、连接端L和连接端N等可被视为现有技术。

优选实施例。

本实用新型公开了一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，用于低压电器的寿命计数和触头熔焊保护，包括连接端N和连接端L，其中：

所述连接端L通过保护总控接触器J与低压电器的一端电性连接，所述低压电器的另一端依次通过限流电阻R1、二极管D1和电阻R2与光电耦合器OC1的阳极电性连接，所述光电耦合器OC1的阴极与所述连接端N电性连接，所述光电耦合器的集电极和发射极之间连接PLC程序控制器。

具体的是，低压电器远离所述保护总控接触器J的一端还通过调节阻抗Z与所述连接端N电性连接(用于调节低压电器的试验电流)。

更具体的是，所述二极管D1的阳极与所述限流电阻R1的一端电性连接，所述二极管D1的阴极与所述电阻R2的一端电性连接，所述二极管D1的阴极还通过稳压管D2与所述连接端N电性连接。

进一步的是，所述二极管D2的两端并接有电容C。

更进一步的是，所述光电耦合器的集电极和发射极之间为常开。

优选地，图1为单相控制电路图，三相控制电路图为独立的三个单相电路图。

优选地，本实用新型的工作原理为：由保护总控接触器J、限流电阻R1、整流二极管D1、稳压管D2、滤波电容器C组成一个的直流电源，通过限流电阻R2，向光电耦合器OC1的①和②供电。光电耦合器OC1的③和④是一个常开状态，③和④输入至PLC程序控制器。实现以下功能：

a)电寿命计数。当电寿命试验时，随着试品触头的接通与分断，负载阻抗断续通电(例如：1s通电，29s断电)，光电耦合器OC1的③和④在通电1s内，由常开状态变为常闭状态，状态变化1次，PLC控制器增加1次计数，实现电寿命的计数。

b)触头熔焊保护。若试验过程中，当试品触头发生熔焊(或称触头粘连)时，光电耦合器OC1的①和②长期获电，③和④变为连续的常闭状态。PLC控制器通过设定③和④闭合时间限制时间，如设定1.2s，向总控接触器J发出断电信号，由总控制接触器切断电源，实现触头熔焊时试验电路的保护。

本实用新型的优点为：

1)试验电压范围覆盖常规电压范围AC120V～1500V。低压电器电寿命的试验电压，线电压试验范围包括了120V至1500V。对应的相电压为69.3～866V。本试验控制电路，基本上可以满足低压电器电寿命的所有电压范围。

2)具有超长寿命。光电耦合器属无触点信号，改变了原有继电器控制结构受继电器触点寿命的影响。

3)主电路与控制电路通过光电耦合器隔离，有利于PLC的隔离和保护。

值得一提的是，本实用新型专利申请涉及的低压电器、PLC程序控制器、连接端L和连接端N等技术特征应被视为现有技术，这些技术特征的具体结构、工作原理以及可能涉及到的控制方式、空间布置方式采用本领域的常规选择即可，不应被视为本实用新型专利的发明点所在，本实用新型专利不做进一步具体展开详述。

对于本领域的技术人员而言，依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围。

Claims (5)

1.一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，用于低压电器的寿命计数和触头熔焊保护，其特征在于，包括连接端N和连接端L，其中：

所述连接端L通过保护总控接触器J与低压电器的一端电性连接，所述低压电器的另一端依次通过限流电阻R1、二极管D1和电阻R2与光电耦合器OC1的阳极电性连接，所述光电耦合器OC1的阴极与所述连接端N电性连接，所述光电耦合器的集电极和发射极之间连接PLC程序控制器。

2.根据权利要求1所述的一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，其特征在于，低压电器远离所述保护总控接触器J的一端还通过调节阻抗Z与所述连接端N电性连接。

3.根据权利要求2所述的一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，其特征在于，所述二极管D1的阳极与所述限流电阻R1的一端电性连接，所述二极管D1的阴极与所述电阻R2的一端电性连接，所述二极管D1的阴极还通过稳压管D2与所述连接端N电性连接。

4.根据权利要求3所述的一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，其特征在于，所述二极管D2的两端并接有电容C。

5.根据权利要求4所述的一种低压电器电寿命计数及触头熔焊保护控制电路，其特征在于，所述光电耦合器的集电极和发射极之间为常开。

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