CN214799887U - 一种硅麦辅助测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及硅麦测试技术领域,公开了一种硅麦辅助测试装置，包括MCU主控单元、电源模块、硅麦测试接口、数模转换单元和烧录电压产生单元，硅麦测试接口包括至少一路数字硅麦测试接口和至少一路模拟硅麦测试接口，在实际使用时，模拟类型的硅麦接到模拟硅麦测试接口上，数字类型的硅麦接到数字硅麦测试接口上，模拟类型的硅麦的输出信号可以直接输入到测试仪上进行测试，数模转换单元将数字类型的硅麦的输出信号转换为模拟信号后再输入到测试仪上进行测试，因此通过本实用新型可以使用一套模拟硅麦测试仪器实现数字和模拟硅麦的混合测试和烧录修调功能。
Description
技术领域
本实用新型涉及硅麦测试技术领域，具体涉及一种硅麦辅助测试装置。
背景技术
硅麦即MEMS麦克风，广泛应用在助听器、电子耳、手机、笔记本电脑等电子产品上。硅麦生产厂家为了避免向用户提供不合格的硅麦产品，都会在硅麦生产完成后进行测试，而为了面对市场多元化的需求，硅麦生产厂家会生成不同型号、不同类别的硅麦，例如数字类型的硅麦、模拟类型的硅麦。目前在对不同类型的硅麦测试时都需要不同类型的测试仪器，例如对数字类型的硅麦进行测试时需要能测试数字信号的测试仪，在对模拟类型的硅麦进行测试时需要能测试模拟信号的测试仪，两者不能通用。
实用新型内容
鉴于背景技术的不足，本实用新型是提供了一种硅麦辅助测试装置，能够在一套测试仪上实现数字硅麦和模拟硅麦的修调测试。
为解决以上技术问题，本实用新型提供了如下技术方案：一种硅麦辅助测试装置，包括MCU主控单元、电源模块、硅麦测试接口、数模转换单元和烧录电压产生单元；
所述电源模块分别向所述MCU主控单元、数模转换单元和烧录电压产生单元供电；
所述MCU主控单元与所述烧录电压产生单元电连接，所述烧录电压产生单元的电压输出端与所述硅麦测试接口的电源端电连接；
所述MCU主控单元与所述硅麦测试接口电连接，所述MCU主控单元与硅麦测试接口的连接线路上设有控制开关，所述MCU主控单元向所述控制开关输入控制其接通断开的控制信号；
所述硅麦测试接口的信号输出端通过第三控制开关与所述数模转换单元电连接，所述硅麦测试接口的信号输出端电连接有第四控制开关，所述MCU主控单元分别向所述第三控制开关和第四控制开关输入控制其接通断开的控制信号；
作为进一步的技术方案，所述电源模块为电池或者锂电池。
作为进一步的技术方案，所述电源模块将220V交流电压转换为所述MCU主控单元、数模转换单元和烧录电压产生单元的直流供电电压。
作为进一步的技术方案，还包括通信接口，所述MCU主控单元和所述通信接口电连接。
作为进一步的技术方案，本实用新型还包括协议转换单元，所述MCU主控单元与所述协议转换单元电连接，所述协议转换单元分别通过控制开关与所述硅麦测试接口电连接。
作为进一步的技术方案，所述硅麦测试接口包括至少一路数字硅麦测试接口和至少一路模拟硅麦测试接口，所述控制开关包括第一控制开关和第二控制开关；所述烧录电压产生单元的电压输出端分别与所述数字硅麦测试接口的电源端和模拟硅麦测试接口的电源端电连接；所述MCU主控单元分别与所述数字硅麦测试接口和模拟硅麦测试接口电连接，所述第一控制开关位于所述MCU主控单元与所述数字硅麦测试接口的连接线路上，所述第二控制开关位于所述MCU主控单元与所述模拟硅麦测试接口的连接线路上，所述MCU主控单元分别向所述第一控制开关和第二控制开关输入控制其接通断开的控制信号。
作为进一步的技术方案，所述数字硅麦测试接口的信号输出端通过第三控制开关与所述数模转换单元电连接，所述模拟硅麦测试接口的信号输出端与第四控制开关的输入端电连接。
作为进一步的技术方案，本实用新型还包括多路模拟信号测试接口，所述数模转换单元的信号输出端和所述第四控制开关的输出端分别通过连接线与所述模拟信号测试接口电连接
作为进一步的技术方案，本实用新型还包括VDC测试模块，所述VDC测试模块用于测试与所述模拟硅麦测试接口连接的硅麦的输出信号的直流电压大小，并向所述MCU主控单元输入检测信号，所述VDC测试模块的测试信号输入端与所述模拟硅麦测试接口的连接线路上设有第五控制开关，所述MCU主控单元向所述第五控制开关输入控制其接通断开的控制信号。
本实用新型在对模拟类型的硅麦进行测试时，将硅麦接入到模拟硅麦测试接口上，MCU主控单元可以通过模拟硅麦测试接口或者协议转换单元向硅麦烧录程序，烧录完成后硅麦的输出信号可以通过模拟信号测试接口输入到测试仪器上。
本实用新型在对数字类型的硅麦进行测试时，将硅麦接入到数字硅麦测试接口上，MCU主控单元可以通过模拟硅麦测试接口或者协议转换单元向硅麦烧录程序，烧录完成后硅麦的输出信号先经数模转换单元转换为模拟信号，然后通过模拟信号测试接口输入到测试仪器上进行测试。
本实用新型与现有技术相比所具有的有益效果是：本实用新型既可以对数字类型的硅麦和模拟类型的硅麦进行测试，而且通过协议转换单元，MCU主控单元可以向支持不同协议的硅麦烧录程序，能够对多种型号的硅麦进行测试，兼容性强。
附图说明
图1为本实用新型的结构示意图；
图2为本实用新型的另一种实施方式的结构示意图。
具体实施方式
现在结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此其仅显示与本实用新型有关的构成。
如图1所示，一种硅麦辅助测试装置，包括MCU主控单元1、电源模块2、硅麦测试接口、数模转换单元6和烧录电压产生单元3，硅麦测试接口包括至少一路数字硅麦测试接口4、至少一路模拟硅麦测试接口5；
具体地，MCU主控单元1可以选择单片机或者FPGA。
电源模块2分别向MCU主控单元1、数模转换单元6和烧录电压产生单元3供电；
具体地，电源模块2可以直接采用电池或者锂电池来供电，或者采用开关电源将220V交流电压转换为直流电压来向MCU主控单元1、数模转换单元6和烧录电压产生单元3供电，在实际使用时电源模块2可以采用电源适配器；
MCU主控单元1与烧录电压产生单元3电连接，烧录电压产生单元3的电压输出端分别与数字硅麦测试接口4的电源端和模拟硅麦测试接口5的电源端电连接。
在实际测试时，由于不同型号的硅麦产品需要的烧录电压不同，本实施例中，烧录电压产生单元3根据MCU主控单元1输入的烧录电压产生指令产生烧录电压，烧录电压的大小与硅麦的规定供电电压相匹配，进而确保能够向不同型号的硅麦烧录程序。可选地，烧录电压产生单元3可以采用型号为AMS1117稳压芯片，但不仅限于该稳压芯片，只需能让烧录电压产生单元3能输出与硅麦相匹配的供电电压即可。
MCU主控单元1分别与数字硅麦测试接口4和模拟硅麦测试接口5电连接，MCU主控单元1与数字硅麦测试接口4和模拟硅麦测试接口5的连接线路上分别设有第一控制开关K1和第二控制开关K2，MCU主控单元1分别向第一控制开关K1和第二控制开关K2输入控制其接通断开的控制信号；
数字硅麦测试接口4的信号输出端通过第三控制开关K3与数模转换单元6电连接，模拟硅麦测试接口5的信号输出端电连接有第四控制开关K4，MCU主控单元1分别向第三控制开关K3和第四控制开关K4输入控制其接通断开的控制信号。
作为进一步的技术方案，本实用新型还包括多路模拟信号测试接口9，数模转换单元6的信号输出端通过连接线与模拟信号测试接口9电连接。在实际使用时，测试硅麦的测试仪接到模拟信号测试接口9上。
在实际使用时，MCU主控单元1可以通过数字硅麦测试接口4和模拟硅麦测试接口5分别向数字类型的硅麦和模拟类型的硅麦烧录程序。另外通过第一控制开关K1和第三控制开关K3，MCU主控单元1可以将与数字硅麦测试接口4连接的硅麦的工作模式在烧录模式和测试模式之间切换，当硅麦处于烧录模式时，第一控制开关K1导通，第三控制开关K3断开；通过第二控制开关K2和第四控制开关K4，MCU主控单元1可以将与模拟硅麦测试接口5连接的硅麦的工作模式在烧录模式和测试模块之间切换，当硅麦处于烧录模式时，第二控制开关K2导通，第四控制开关K4断开；另外本实施例中所说的烧录模式是指MCU主控单元1向硅麦烧录程序，本实施例中所说的测试模式是指硅麦的输出信号通过模拟信号测试接口9输入到测试仪中进行测试。
作为进一步的技术方案，本实用新型还包括VDC测试模块10，VDC测试模块10用于测试与模拟硅麦测试接口5连接的硅麦的输出信号的直流电压大小，并向MCU主控单元1输入检测信号，VDC测试模块10的测试信号输入端与模拟硅麦测试接口5的连接线路上设有第五控制开关K5，MCU主控单元向第五控制开关输入控制其接通断开的控制信号。当VDC测试模块10进行测试时，MCU主控单元1控制第四控制开关K4断开，控制第五控制开关闭合。
另外本实施例中的第一控制开关K1、第二控制开关K2、第三控制开关K3、第四控制开关K4和第五控制开关K5可以是继电器、MOS管、三极管、由MOS管构成的开关电路或者由三极管构成的开关电路。
作为进一步的技术方案，本实用新型还包括通信接口7，MCU主控单元1和通信接口7电连接。MCU主控单元1通过通信接口7与上位机进行通信，上位机可以是PC、测试仪软件或者其它上位机软件，通信接口7可以是USB接口、RJ45接口、总线接口、232接口或者485接口。
作为进一步的技术方案，本实用新型还包括协议转换单元8，MCU主控单元1与协议转换单元8电连接，协议转换单元8分别通过第一控制开关K1和第二控制开关K2与数字硅麦测试接口4和模拟硅麦测试接口5电连接。在实际测试时，不同硅麦的烧录修调协议并不相同，MCU主控单元1对于某些型号的硅麦不能直接烧录程序，因此MCU主控单元1通过协议转换单元8来改变信号高低电平的占空比，实现烧录修调协议转换，进而能够向不同型号硅麦烧录程序。
另外在实际使用时，当本实用新型包括一路数字硅麦测试接口4和一路数字硅麦测试接口5时，数字硅麦测试接口4和数字硅麦测试接口5可以共用一路物理接口，此时MCU主控单元1可以通过第一控制开关K1与该物理接口电连接，协议转换单元8通过第一控制开关K1与该物理接口电连接，该物理接口通过第三控制开关K3与数模转换单元6电连接，该物理接口通过第四控制开关K4接到模拟信号测试接口9上，具体可参照图2。
本实用新型的工作流程如下：首先将待测试的硅麦接到数字硅麦测试接口4或者模拟硅麦测试接口上，然后MCU主控单元通过数字硅麦测试接口4和模拟硅麦测试接口5烧录程序，对于不能直接烧录程序的硅麦，MCU主控单元1通过协议转换单元8向硅麦烧录程序。硅麦程序烧录完成后，MCU主控单元1断开第一控制开关K1或者第二控制开关K2，闭合第三控制开关K3或者第四控制开关K4，根据硅麦的类型来决定。如果待测试的硅麦是模拟类型，则硅麦的输出信号直接通过模拟信号测试接口9输入到测试仪中进行测试，另外需要测试模拟类型的硅麦的输出信号的电压大小时，MCU主控单元1使第四控制开关K4断开、使第五控制开关K5闭合，然后VDC测试模块10对硅麦的输出信号的电压大小进行测试，测试完成后MCU主控单元1使第四控制开关K4闭合、第五控制开关K5断开。如果测试的硅麦是数字类型，则数模转换单元6先将硅麦输出的数字信号转换为模拟信号，然后转换后的模拟信号再通过模拟信号测试接口9输入到测试仪中进行测试。
综上，本实用新型通过烧录电压产生单元3和协议转换单元可以对支持不同修调协议的硅麦烧录程序，通过数模转换单元可以将数字类型的硅麦的输出信号转换为模拟信号后进行测试，即可以在一套测试仪上实现数字硅麦和模拟硅麦的修调测试。
上述依据本实用新型为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项实用新型技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项实用新型的技术性范围并不局限于说明书上的内容，必须要根据权利要求范围来确定其技术性范围。
Claims (9)
1.一种硅麦辅助测试装置，其特征在于：包括MCU主控单元、电源模块、硅麦测试接口、数模转换单元和烧录电压产生单元；
所述电源模块分别向所述MCU主控单元、数模转换单元和烧录电压产生单元供电；
所述MCU主控单元与所述烧录电压产生单元电连接，所述烧录电压产生单元的电压输出端与所述硅麦测试接口的电源端电连接；
所述MCU主控单元与所述硅麦测试接口电连接，所述MCU主控单元与硅麦测试接口的连接线路上设有控制开关，所述MCU主控单元向所述控制开关输入控制其接通断开的控制信号；
所述硅麦测试接口的信号输出端通过第三控制开关与所述数模转换单元电连接，所述硅麦测试接口的信号输出端电连接有第四控制开关，所述MCU主控单元分别向所述第三控制开关和第四控制开关输入控制其接通断开的控制信号。
2.根据权利要求1所述的一种硅麦辅助测试装置，其特征在于：所述电源模块为电池或者锂电池。
3.根据权利要求1所述的一种硅麦辅助测试装置，其特征在于：所述电源模块将220V交流电压转换为所述MCU主控单元、数模转换单元和烧录电压产生单元的直流供电电压。
4.根据权利要求1所述的一种硅麦辅助测试装置，其特征在于：还包括通信接口，所述MCU主控单元和所述通信接口电连接。
5.根据权利要求1所述的一种硅麦辅助测试装置，其特征在于：还包括协议转换单元，所述MCU主控单元与所述协议转换单元电连接，所述协议转换单元分别通过控制开关与所述硅麦测试接口电连接。
6.根据权利要求1所述的一种硅麦辅助测试装置，其特征在于：所述硅麦测试接口包括至少一路数字硅麦测试接口和至少一路模拟硅麦测试接口，所述控制开关包括第一控制开关和第二控制开关；所述烧录电压产生单元的电压输出端分别与所述数字硅麦测试接口的电源端和模拟硅麦测试接口的电源端电连接；所述MCU主控单元分别与所述数字硅麦测试接口和模拟硅麦测试接口电连接，所述第一控制开关位于所述MCU主控单元与所述数字硅麦测试接口的连接线路上，所述第二控制开关位于所述MCU主控单元与所述模拟硅麦测试接口的连接线路上，所述MCU主控单元分别向所述第一控制开关和第二控制开关输入控制其接通断开的控制信号。
7.根据权利要求6所述的一种硅麦辅助测试装置，其特征在于：所述数字硅麦测试接口的信号输出端通过第三控制开关与所述数模转换单元电连接，所述模拟硅麦测试接口的信号输出端与第四控制开关的输入端电连接。
8.根据权利要求7所述的一种硅麦辅助测试装置，其特征在于：还包括多路模拟信号测试接口，所述数模转换单元的信号输出端和所述第四控制开关的输出端分别通过连接线与所述模拟信号测试接口电连接。
9.根据权利要求6所述的一种硅麦辅助测试装置，其特征在于：还包括VDC测试模块，所述VDC测试模块用于测试与所述模拟硅麦测试接口连接的硅麦的输出信号的直流电压大小，并向所述MCU主控单元输入检测信号，所述VDC测试模块的测试信号输入端与所述模拟硅麦测试接口的连接线路上设有第五控制开关，所述MCU主控单元向所述第五控制开关输入控制其接通断开的控制信号。
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