CN214670347U - 一种改善sas4.0测试的治具卡 - Google Patents
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Abstract
本实用新型提供了一种改善SAS4.0测试的治具卡，属于串行SCSI技术领域。其技术方案为：一种改善SAS.测试的治具卡,包括转接治具板，所述转接治具板中心设置有通孔，所述通孔处设置有SAS4.0卡，所述转接治具板一侧设置有金手指，所述金手指与PCIE连接器连接，靠近所述金手指处的所述转接治具板上设置有连接器A，所述SAS4.0卡上设置有连接器B，所述连接器B与所述连接器A连接。本实用新型的有益效果为：将SAS4.0安装在转接治具板上，避免重复插拔SAS4.0卡造成主板损坏。
Description
技术领域
本实用新型涉及串行SCSI技术领域，尤其涉及一种改善SAS4.0测试的治具卡。
背景技术
SAS(Serial Attached SCSI)即串行SCSI技术，是一种磁盘连接技术，它综合了并行SCSI和串行连接技术优势，以串行通讯协议为协议基础架构，采用SCSI-3扩展指令集，并兼容SATA设备，是多层次的存储设备连接协议栈。SAS的交换构架支持多个设备的扩展，一个SAS域理论上最多可接16128个设备，同时SAS设备支持24×7的多线程设计，可满足多任务的应用；SAS设备基于目前存储领域最成熟的SCSI技术，可兼容SATA，这使得SAS通道技术具备广泛的适用范围和良好兼容性。
目前最新的SAS 4.0 card已开始导入各个领先项目中，未来进入量产后，产线的测试单位对于SAS 4.0 Card的需求将会提升，不管是选用Right angle还是StraddleMount type，频繁的插拔测试将会对SAS 4.0 card的金手指造成冲击，甚至损坏而需额外添购新卡，导致整体测试成本的提升。
工厂打完SAS4.0板出货前，必须要在FVS(Function Verification Station)验证SAS 4.0功能有无问题，测试方式是将SAS 4.0 card插入主板测试。进入量产之后，在FVS会重复插拔SAS 4.0 card来验证功能，这将会造成主板和卡片连接的连接器的损坏，进而必须替换主板，提高测试成本。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种改善SAS4.0测试的治具卡，以解决在FVS重复插拔SAS 4.0 card来验证功能，会造成主板和卡片连接的连接器的损坏，进而必须替换主板，提高测试成本的技术问题。
本实用新型是通过如下措施实现的：
一种改善SAS.测试的治具卡,包括转接治具板，所述转接治具板中心设置有通孔，所述通孔处设置有SAS4.0卡，所述转接治具板一侧设置有金手指，所述金手指与PCIE连接器连接，靠近所述金手指处的所述转接治具板上设置有连接器A，所述SAS4.0卡上设置有连接器B，所述连接器B与所述连接器A连接。
所述转接治具板为方形，所述转接治具板的中心位置设置所述通孔，所述通孔为十字通孔，所述通孔包括拐角A，拐角B，拐角C以及拐角D，所述拐角A与拐角C处设置有销钉，所述拐角B与所述拐角D处设置有螺母。
所述SAS4.0卡包括方形部以及条形部，所述方形部其中一组对角处设置有插孔，所述插孔内设置所述销钉，所述方形部的另外一组对角处设置有螺栓，所述螺栓与所述螺母连接，所述条形部背部设置所述连接器B，所述连接器B与所述连接器A插接。
本实用新型的有益效果为：
1、将SAS4.0安装在转接治具板上，避免重复插拔SAS4.0卡造成主板损坏。
2、减少SAS4.0卡在工厂FVS测试损坏产生的额外费用。
附图说明
图1为本实用新型安装SAS4.0卡的结构示意图。
图2为转接治具板的结构示意图。
图3为SAS4.0卡的结构示意图。
其中，附图标记为：1、转接治具板；11、通孔；12、金手指；2、SAS4.0卡；21、方形部；211、插孔；212、螺栓；22、条形部；3、连接器A；4、连接器B；5、销钉；6、螺母；。
具体实施方式
为能清楚说明本方案的技术特点，下面通过具体实施方式，对本方案进行阐述。
参见图1至图3，本实用新型是一种改善SAS4.0测试的治具卡,包括转接治具板1，转接治具板1中心设置有通孔11，通孔11处设置有SAS4.0卡2，转接治具板1一侧设置有金手指12，金手指12与PCIE连接器连接，靠近金手指12处的转接治具板1上设置有连接器A3，SAS4.0卡2上设置有连接器B4，连接器B4与连接器A3连接。
转接治具板1为方形，转接治具板1的中心位置设置通孔11，通孔11为十字通孔，通孔11包括拐角A，拐角B，拐角C以及拐角D，拐角A与拐角C处设置有销钉5，拐角B与拐角D处设置有螺母6。
SAS4.0卡2包括方形部21以及条形部22，方形部21其中一组对角处设置有插孔211，插孔211内设置销钉5，方形部21的另外一组对角处设置有螺栓212，螺栓212与螺母6连接，条形部22背部设置连接器B4，连接器B4与连接器A3插接。
本实用新型中的SAS4.0卡上跟主板连接的连接器是OCP2.0，并非标准的PCIE连接器，为了能在标准的PCIE slot测试，设计了本实用新型的SAS4.0转接治具板，将SAS4.0卡安装在该转接治具板上，通过转接治具板上的金手指直接插接在PCIE slot测试。
本实用新型的使用步骤：
步骤一：在工厂端FVS先把SAS4.0卡插在转接治具板上；
步骤二：通过转接治具板上的金手指与PCIE slot连接器测试；
步骤三：将该SAS4.0卡从转接治具板上拆卸下来对下一片SAS4.0板进行测试。
本实用新型未经描述的技术特征可以通过或采用现有技术实现，在此不再赘述，当然，上述说明并非是对本实用新型的限制，本实用新型也并不仅限于上述举例，本技术领域的普通技术人员在本实用新型的实质范围内所做出的变化、改型、添加或替换，也应属于本实用新型的保护范围。
Claims (3)
1.一种改善SAS4.0测试的治具卡,其特征在于，包括转接治具板(1)，所述转接治具板(1)中心设置有通孔(11)，所述通孔(11)处设置有SAS4.0卡(2)，所述转接治具板(1)一侧设置有金手指(12)，所述金手指(12)与PCIE连接器连接，靠近所述金手指(12)处的所述转接治具板(1)上设置有连接器A(3)，所述SAS4.0卡(2)上设置有连接器B(4)，所述连接器B(4)与所述连接器A(3)连接。
2.根据权利要求1所述的改善SAS4.0测试的治具卡，其特征在于，所述转接治具板(1)为方形，所述转接治具板(1)的中心位置设置所述通孔(11)，所述通孔(11)为十字通孔，所述通孔(11)包括拐角A，拐角B，拐角C以及拐角D，所述拐角A与拐角C处设置有销钉(5)，所述拐角B与所述拐角D处设置有螺母(6)。
3.根据权利要求2所述的改善SAS4.0测试的治具卡，其特征在于，所述SAS4.0卡(2)包括方形部(21)以及条形部(22)，所述方形部(21)其中一组对角处设置有插孔(211)，所述插孔(211)内设置所述销钉(5)，所述方形部(21)的另外一组对角处设置有螺栓(212)，所述螺栓(212)与所述螺母(6)连接，所述条形部(22)背部设置所述连接器B(4)，所述连接器B(4)与所述连接器A(3)插接。
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