CN214669361U - 一种屏幕总成烧录测试盒 - Google Patents

Abstract

本实用新型提出一种屏幕总成烧录测试盒，包括触摸按键线路、2.4寸显示屏幕、过流保护线路、正负电流大小测量线路、正负电压测量线路、M0单片机控制线路、烧录电路、TFT‑GAMA值调试线路、第一烧录数据通道、DC‑DC线路、风扇线路和主控中心；本实用新型将四个功能合成一体，方便研发和生产，而且增加了风扇线路，让系统运行更加稳定；使用者能够在正负电压测量线路的辅助下使用专用的ADC线路检测，能精确测试VCI、IOVCC、VSP等的电压电流数据，能够精确到uA级，这些数据将在一个2.4寸显示屏幕上面实时显示出来，有利于测试人员的高效产出，提高生产线的生产任务进度。

Description

一种屏幕总成烧录测试盒

技术领域

本实用新型涉及屏幕测试技术领域，尤其是一种屏幕总成烧录测试盒。

背景技术

智能手机是划时代的产品，它几乎改变了现代人民的生活方式，使得人民联系紧密便捷，使得人民更快更直接的获得当下热点资讯。因此，现代人民几乎人手一台智能手机。智能手机是一个巨大的市场，那么占据一台智能手机价值三分一的手机总成屏幕也是一个巨大的市场。如此巨大的市场，屏幕制造企业竞争日益激烈，而企业屏幕的生产测试效率决定企业效益。

随着手机和其它智能设备的发展，对触控屏幕的需求越来越大，触控屏幕出厂前必需要经过程序的烧录和屏幕的测试，才能保证屏幕按客户的需求出货。触控屏幕的烧录和触控屏幕的测试都要要用到测试盒，一般工厂测试一个屏整成需要用到四个测试夹具(分别是：屏烧录测试夹具、CTP烧录测试夹具、屏测试测试夹具、CTP测试测试夹具)，为此，专利号为CN209328486U的对比文件则将这四个测试夹具集成一起。

四个测试夹具集成一起固然有好处，然而，在实际的测试过程中，由于工作人员的疏忽，在将触控屏幕与集成的测试夹具对接时经常有接反的现象发生，通电后则电流过大使得电路烧毁，同时，四个测试夹具集成一起其硬件的发热现象严重，当出现过热时，测试人员不得不暂停测试以降温，这样则不利于集成测试夹具的长期使用，不利于测试人员的高效产出，进而拖延了生产线的生产任务进度。

为此，有必要提出一种屏幕总成烧录测试盒来解决将四个测试夹具集成一起后使用时出现的上述问题。

实用新型内容

为了解决上述问题，本实用新型提出一种屏幕总成烧录测试盒来解决将四个测试夹具集成一起后使用时出现的问题。

本实用新型通过以下技术方案实现的：

本实用新型提出一种屏幕总成烧录测试盒，包括触摸按键线路、2.4寸显示屏幕、过流保护线路、正负电流大小测量线路、正负电压测量线路、M0单片机控制线路、烧录电路、TFT-GAMA值调试线路、第一烧录数据通道、DC-DC线路、风扇线路和主控中心，所述主控中心分别与所述触摸按键线路、所述风扇线路、所述DC-DC线路、所述M0单片机控制线路、所述第一烧录数据通道、所述TFT-GAMA值调试线路以及外部电脑电连接，外部12V电源与所述DC-DC线路电连接，所述DC-DC线路与所述过流保护线路电连接，所述过流保护线路分别与所述烧录电路、所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路电连接，所述M0单片机控制线路分别与所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路、所述2.4寸显示屏幕电连接。

进一步的，所述烧录电路包括电容触摸烧录线路、测试线路和第二烧录数据通道，所述第一烧录数据通道与所述第二烧录数据通道电连接，所述第二烧录数据通道与所述电容触摸烧录线路电连接，所述电容触摸烧录线路与所述测试线路电连接。

进一步的，所述过流保护线路设有第一芯片、电容C390、电容C388、电容C389、电容C387，所述第一芯片的1引脚接入12V电压，所述电容C390和所述电容C388的一端分别与所述第一芯片的1引脚电连接，所述电容C390和所述电容C388的另一端共同接地，所述第一芯片的3引脚接地，所述第一芯片的2引脚分别与所述电容C389和所述电容C387的一端电连接并输出5V电压，所述电容C389另一端和所述电容C387另一端分别接地。

进一步的，所述过流保护线路设有设有第二芯片、电容C398、电阻R374、电阻R266、电阻R265，所述第二芯片的5引脚接入所述第一芯片的2引脚输出的5V电压，所述电容C398一端与所述第二芯片的4引脚电连接，所述电容C398另一端接地，所述电阻R374一端与所述第二芯片的3引脚电连接，所述电阻R374另一端与所述第二芯片的2引脚电连接并接地，所述第二芯片的1引脚与所述电阻R266一端电连接，所述电阻R266另一端与所述电阻R265一端电连接，所述电阻R265另一端接地。

进一步的，所述风扇线路设有电阻R307、电阻R308、二极管D15、风扇、三极管Q16、电阻R309、电阻R310，所述电阻R307一端接入VCC，所述电阻R307另一端与所述电阻R308一端电连接，所述电阻R308另一端接入正11V电压，所述二极管D15的K端分别与所述电阻R307、所述电阻R308和所述风扇的2引脚电连接，所述二极管D15的A端分别与所述三极管Q16的集电极和所述风扇的1引脚电连接，所述三极管Q16的基极分别与所述电阻R309和电阻R310的一端电连接，所述电阻R309另一端与所述三极管Q16的发射极电连接并接地。

进一步的，所述触摸按键线路设有第三芯片、电阻R338、电容C336、电容C337、电阻R333、电阻R287、电阻R337、电阻R336、电阻R334、电容C338、按键KEY1、电阻R335、电容C335、按键KEY2、电容C339，所述第三芯片的1引脚与所述电容C337一端电连接，所述电容C337另一端接地，所述第三芯片的2引脚与所述电阻R338电连接，所述第三芯片的3引脚分别与所述电容C336和所述电阻R333的一端电连接，所述电容C336另一端和所述电阻R333另一端电连接并接地，所述第三芯片的4引脚接地，所述第三芯片的8引脚与所述电阻R337电连接，所述第三芯片的7引脚与所述电阻R336一端电连接，所述电阻R336另一端与所述电阻R287电连接，所述第三芯片的6引脚与所述电阻R334一端电连接，所述电阻R334的另一端分别与所述电容C338一端和所述按键KEY1电连接，所述电容C338另一端接地，所述第三芯片的5引脚分别与所述电阻R335一端和所述电容C335一端电连接，所述电容C335另一端接地，所述电阻R335另一端分别与所述电容C339一端和按键KEY2电连接，所述电容C339另一端接地。

进一步的，所述正负电压测量线路包括VSP电压测试线路，所述VSP电压测试线路设有电容C301、电阻R281、电阻R282，所述电容C301一端接地，所述电容C301另一端分别与所述电阻R281一端和所述电阻R282一端电连接，所述电阻R281另一端接地。

进一步的，所述正负电压测量线路包括OTP电压测试线路，所述OTP电压测试线路设有电阻R306、电阻R305，所述电阻R306一端与所述电阻R305一端电连接，所述电阻R305另一端接地。

进一步的，所述正负电压测量线路包括VSN负电压测试电路，所述VSN负电压测试电路设有第四芯片、电阻R284、电容C306、电感线圈L9、二极管D22、电阻R285、可调电阻R286、电阻R288、电容C307，所述第四芯片的5引脚分别与所述电容C306的一端和所述电阻R284的一端电连接，所述电容C306的另一端接地，所述电阻R284另一端与所述第四芯片的4引脚电连接，所述电感线圈L9一端与所述第四芯片的5引脚电连接，所述电感线圈L9另一端与所述第四芯片的1引脚电连接，所述第四芯片的1引脚与所述二极管D22一端电连接，所述二极管D22另一端与所述可调电阻R286的3号接口电连接，所述可调电阻R286的2号接口分别与所述电阻R288一端和所述电容C307一端电连接并输出6V电压，所述电容C307另一端分别与所述电阻R285一端和所述第四芯片的2引脚电连接并接地，所述可调电阻R286的1号接口分别与所述第四芯片的3引脚、所述电阻R288另一端、所述电阻R285另一端电连接。

进一步的，所述VSN负电压测试电路设有电阻R280、电阻R279、电容C300，所述电阻R280一端分别与所述电阻R279一端和所述电容C300一端电连接，所述电阻R280另一端接入6V电压，所述电容C300另一端接地。

本实用新型的有益效果：

本实用新型提出一种屏幕总成烧录测试盒，包括触摸按键线路、2.4寸显示屏幕、过流保护线路、正负电流大小测量线路、正负电压测量线路、M0单片机控制线路、烧录电路、TFT-GAMA值调试线路、第一烧录数据通道、DC-DC线路、风扇线路和主控中心，所述主控中心分别与所述触摸按键线路、所述风扇线路、所述DC-DC线路、所述M0单片机控制线路、所述第一烧录数据通道、所述TFT-GAMA值调试线路以及外部电脑电连接，外部12V电源与所述DC-DC线路电连接，所述DC-DC线路与所述过流保护线路电连接，所述过流保护线路分别与所述烧录电路、所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路电连接，所述M0单片机控制线路分别与所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路、所述2.4寸显示屏幕电连接；当外接待测试的模组因为不正确连接而造成电流(可以设置电流大小的阈值)过大的时候，过流保护线路则将电压断开，以免照成元器件损坏；解决了以前产线和研发测试一个触控屏幕时需要2个烧录夹具和2个测试夹具的弊端；本实用新型将四个功能合成一体，极大的方便了研发和生产；因为测试是需要长期供电长期操作，为了解决长期测试所产生的发热问题，本实用新型增加了风扇线路，让系统运行更加稳定；使用者能够在正负电压测量线路的辅助下使用专用的ADC线路检测，能精确测试VCI、IOVCC、VSP等的电压电流数据，能够精确到uA级，这些数据将在一个2.4寸显示屏幕上面实时显示出来。

附图说明

图1为本实用新型提出的屏幕总成烧录测试盒的功能模块图；

图2为本实用新型提出的屏幕总成烧录测试盒的烧录电路的模块连接图；

图3为本实用新型提出的屏幕总成烧录测试盒的过流保护线路的电路图；

图4为本实用新型提出的屏幕总成烧录测试盒的风扇线路的电路图；

图5为本实用新型提出的屏幕总成烧录测试盒的触摸按键线路的电路图；

图6为本实用新型提出的屏幕总成烧录测试盒的VSP电压测试线路的电路图；

图7为本实用新型提出的屏幕总成烧录测试盒的VSN负电压测试电路的电路图；

图8为本实用新型提出的屏幕总成烧录测试盒的OTP电压测试线路的电路图。

具体实施方式

为了更加清楚、完整的说明本实用新型的技术方案，下面结合附图对本实用新型作进一步说明。

请参考图1-8，本实用新型提出一种屏幕总成烧录测试盒，包括触摸按键线路、2.4寸显示屏幕、过流保护线路、正负电流大小测量线路、正负电压测量线路、M0单片机控制线路、烧录电路、TFT-GAMA值调试线路、第一烧录数据通道、DC-DC线路、风扇线路和主控中心，主控中心分别与触摸按键线路、风扇线路、DC-DC线路、M0单片机控制线路、第一烧录数据通道、TFT-GAMA值调试线路以及外部电脑电连接，外部12V电源与DC-DC线路电连接，DC-DC线路与过流保护线路电连接，过流保护线路分别与烧录电路、正负电流大小测量线路、正负电压测量线路电连接，M0单片机控制线路分别与正负电流大小测量线路、正负电压测量线路、2.4寸显示屏幕电连接。

在本实施方式中：

触摸按键线路用于传达测试人员的指令，其原理为：用两个芯邦CBM6002C实现4个触摸功能按键，直接用手指点触金手指焊盘(传统机械按键在按键次数多的或者用力不当的情况会容易损坏)，按键灵敏度可以通过芯片K1的下地电容来调整；

2.4寸显示屏幕用于实时显示测量整成的电压电流大小，能够准确到uA级；

过流保护线路用于为供电线路做过流保护，其原理为：用型号为SY6280AAC的芯片来给整成测试的供电线路做过流保护，电流的大小可以通过芯片第3PIN的电阻来设置；当整成测试部分因为不良操作或者其它原因导致电流过大超过设置电流时，芯片会让第1PIN的电压输出迅速减小，此时通过M0单片机控制线路的ADC检测到这个电压减小后，立即让主控中心(RK3288)断开整成的供电线路，同时，电路板上的蜂鸣器将发出报警声，提醒操作员注意，这样就有效的保护了测试系统和测试的屏；

正负电流大小测量线路用于测量触控屏幕测试时使用的电流大小，其原理为：IOVCC,VCI,VSP三个整成需要测试的正电流是使用圣邦微SGM8199A1芯片使用精密的电流检测电阻来测量屏模组测试时使用的电流；VSN负电流的测试是使用AD620加一个负电压产生芯片XL7660，AD620必须在有负电压输入的时候才能测量负电流大小；

正负电压测量线路以及M0单片机控制线路协同配合，其原理为：IOVCC,VCI,VSP，OTP正电压的测试主要是通过电阻分压直接输入到M0单片的精准ADC口，直接读出电压值；VSN是通过产生一个比VSN稍大的正电压分别接在两个相同阻值串联电阻的两端来让两电阻中间的电压值是正值，这样M0单片机控制线路的ADC口就可以通过算法来解析VSN负电压的大小；

烧录电路用于烧录程序，其原理为：电容烧录和触摸是通过主控中心(RK3288)的I2C和SPI实现的，而MIPI和RGB屏也是通过主控中心(RK3288)的点屏数据通道，驱动芯片和初始化代码则能够实现点亮市面上大部分MIP和RGB屏；

TFT-GAMA值调试线路通过主控中心(RK3288)的SPI数据通道来用软件实现；

第一烧录数据通道用于将烧录的数据上传至烧录电路中；

DC-DC线路通过使用MPS的MP1584这个DCDC芯片将外入12V电压转换成5V，再经过一些DCDC和LDO分别转换成3.3V，1.8V等不同的电压供给线路使用；

风扇线路的原理为：用一个大功率的MOS管来控制分扇的转停，因为环境的不同，还给分扇提供了两个电压，可选择不同的风速；

主控中心为本屏幕总成烧录测试盒的主控电路，用于接收外部电脑所下达的指令，同时，也下达相应的指令至风扇线路上，同时也将烧录的程序转换后传输至第一烧录数据通道上；

具体的，当外接待测试的模组因为不正确连接而造成电流(可以设置电流大小的阈值)过大的时候，过流保护线路则将电压断开，以免造成元器件损坏；解决了以前产线和研发测试一个触控屏幕时需要2个烧录夹具和2个测试夹具的弊端；本实用新型将四个功能合成一体，极大的方便了研发和生产；因为测试是需要长期供电长期操作，为了解决长期测试所产生的发热问题，本实用新型增加了风扇线路，让系统运行更加稳定；使用者能够在正负电压测量线路的辅助下使用专用的ADC线路检测，能精确测试VCI、IOVCC、VSP等的电压电流数据，能够精确到uA级，这些数据将在一个2.4寸显示屏幕上面实时显示出来。

进一步的，烧录电路包括电容触摸烧录线路、测试线路和第二烧录数据通道，第一烧录数据通道与第二烧录数据通道电连接，第二烧录数据通道与电容触摸烧录线路电连接，电容触摸烧录线路与测试线路电连接。

进一步的，过流保护线路设有第一芯片、电容C390、电容C388、电容C389、电容C387，第一芯片的1引脚接入12V电压，电容C390和电容C388的一端分别与第一芯片的1引脚电连接，电容C390和电容C388的另一端共同接地，第一芯片的3引脚接地，第一芯片的2引脚分别与电容C389和电容C387的一端电连接并输出5V电压，电容C389另一端和电容C387另一端分别接地。

进一步的，过流保护线路设有设有第二芯片、电容C398、电阻R374、电阻R266、电阻R265，第二芯片的5引脚接入第一芯片的2引脚输出的5V电压，电容C398一端与第二芯片的4引脚电连接，电容C398另一端接地，电阻R374一端与第二芯片的3引脚电连接，电阻R374另一端与第二芯片的2引脚电连接并接地，第二芯片的1引脚与电阻R266一端电连接，电阻R266另一端与电阻R265一端电连接，电阻R265另一端接地。

进一步的，风扇线路设有电阻R307、电阻R308、二极管D15、风扇、三极管Q16、电阻R309、电阻R310，电阻R307一端接入VCC，电阻R307另一端与电阻R308一端电连接，电阻R308另一端接入正11V电压，二极管D15的K端分别与电阻R307、电阻R308和风扇的2引脚电连接，二极管D15的A端分别与三极管Q16的集电极和风扇的1引脚电连接，三极管Q16的基极分别与电阻R309和电阻R310的一端电连接，电阻R309另一端与三极管Q16的发射极电连接并接地。

进一步的，触摸按键线路设有第三芯片、电阻R338、电容C336、电容C337、电阻R333、电阻R287、电阻R337、电阻R336、电阻R334、电容C338、按键KEY1、电阻R335、电容C335、按键KEY2、电容C339，第三芯片的1引脚与电容C337一端电连接，电容C337另一端接地，第三芯片的2引脚与电阻R338电连接，第三芯片的3引脚分别与电容C336和电阻R333的一端电连接，电容C336另一端和电阻R333另一端电连接并接地，第三芯片的4引脚接地，第三芯片的8引脚与电阻R337电连接，第三芯片的7引脚与电阻R336一端电连接，电阻R336另一端与电阻R287电连接，第三芯片的6引脚与电阻R334一端电连接，电阻R334的另一端分别与电容C338一端和按键KEY1电连接，电容C338另一端接地，第三芯片的5引脚分别与电阻R335一端和电容C335一端电连接，电容C335另一端接地，电阻R335另一端分别与电容C339一端和按键KEY2电连接，电容C339另一端接地。

进一步的，正负电压测量线路包括VSP电压测试线路，VSP电压测试线路设有电容C301、电阻R281、电阻R282，电容C301一端接地，电容C301另一端分别与电阻R281一端和电阻R282一端电连接，电阻R281另一端接地。

进一步的，正负电压测量线路包括OTP电压测试线路，OTP电压测试线路设有电阻R306、电阻R305，电阻R306一端与电阻R305一端电连接，电阻R305另一端接地。

进一步的，正负电压测量线路包括VSN负电压测试电路，VSN负电压测试电路设有第四芯片、电阻R284、电容C306、电感线圈L9、二极管D22、电阻R285、可调电阻R286、电阻R288、电容C307，第四芯片的5引脚分别与电容C306的一端和电阻R284的一端电连接，电容C306的另一端接地，电阻R284另一端与第四芯片的4引脚电连接，电感线圈L9一端与第四芯片的5引脚电连接，电感线圈L9另一端与第四芯片的1引脚电连接，第四芯片的1引脚与二极管D22一端电连接，二极管D22另一端与可调电阻R286的3号接口电连接，可调电阻R286的2号接口分别与电阻R288一端和电容C307一端电连接并输出6V电压，电容C307另一端分别与电阻R285一端和第四芯片的2引脚电连接并接地，可调电阻R286的1号接口分别与第四芯片的3引脚、电阻R288另一端、电阻R285另一端电连接。

进一步的，VSN负电压测试电路设有电阻R280、电阻R279、电容C300，电阻R280一端分别与电阻R279一端和电容C300一端电连接，电阻R280另一端接入6V电压，电容C300另一端接地。

当然，本实用新型还可有其它多种实施方式，基于本实施方式，本领域的普通技术人员在没有做出任何创造性劳动的前提下所获得其他实施方式，都属于本实用新型所保护的范围。

Claims (10)

1.一种屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，包括触摸按键线路、2.4寸显示屏幕、过流保护线路、正负电流大小测量线路、正负电压测量线路、M0单片机控制线路、烧录电路、TFT-GAMA值调试线路、第一烧录数据通道、DC-DC线路、风扇线路和主控中心，所述主控中心分别与所述触摸按键线路、所述风扇线路、所述DC-DC线路、所述M0单片机控制线路、所述第一烧录数据通道、所述TFT-GAMA值调试线路以及外部电脑电连接，外部12V电源与所述DC-DC线路电连接，所述DC-DC线路与所述过流保护线路电连接，所述过流保护线路分别与所述烧录电路、所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路电连接，所述M0单片机控制线路分别与所述正负电流大小测量线路、所述正负电压测量线路、所述2.4寸显示屏幕电连接。

2.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述烧录电路包括电容触摸烧录线路、测试线路和第二烧录数据通道，所述第一烧录数据通道与所述第二烧录数据通道电连接，所述第二烧录数据通道与所述电容触摸烧录线路电连接，所述电容触摸烧录线路与所述测试线路电连接。

3.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述过流保护线路设有第一芯片、电容C390、电容C388、电容C389、电容C387，所述第一芯片的1引脚接入12V电压，所述电容C390和所述电容C388的一端分别与所述第一芯片的1引脚电连接，所述电容C390和所述电容C388的另一端共同接地，所述第一芯片的3引脚接地，所述第一芯片的2引脚分别与所述电容C389和所述电容C387的一端电连接并输出5V电压，所述电容C389另一端和所述电容C387另一端分别接地。

4.根据权利要求3所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述过流保护线路设有设有第二芯片、电容C398、电阻R374、电阻R266、电阻R265，所述第二芯片的5引脚接入所述第一芯片的2引脚输出的5V电压，所述电容C398一端与所述第二芯片的4引脚电连接，所述电容C398另一端接地，所述电阻R374一端与所述第二芯片的3引脚电连接，所述电阻R374另一端与所述第二芯片的2引脚电连接并接地，所述第二芯片的1引脚与所述电阻R266一端电连接，所述电阻R266另一端与所述电阻R265一端电连接，所述电阻R265另一端接地。

5.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述风扇线路设有电阻R307、电阻R308、二极管D15、风扇、三极管Q16、电阻R309、电阻R310，所述电阻R307一端接入VCC，所述电阻R307另一端与所述电阻R308一端电连接，所述电阻R308另一端接入正11V电压，所述二极管D15的K端分别与所述电阻R307、所述电阻R308和所述风扇的2引脚电连接，所述二极管D15的A端分别与所述三极管Q16的集电极和所述风扇的1引脚电连接，所述三极管Q16的基极分别与所述电阻R309和电阻R310的一端电连接，所述电阻R309另一端与所述三极管Q16的发射极电连接并接地。

6.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述触摸按键线路设有第三芯片、电阻R338、电容C336、电容C337、电阻R333、电阻R287、电阻R337、电阻R336、电阻R334、电容C338、按键KEY1、电阻R335、电容C335、按键KEY2、电容C339，所述第三芯片的1引脚与所述电容C337一端电连接，所述电容C337另一端接地，所述第三芯片的2引脚与所述电阻R338电连接，所述第三芯片的3引脚分别与所述电容C336和所述电阻R333的一端电连接，所述电容C336另一端和所述电阻R333另一端电连接并接地，所述第三芯片的4引脚接地，所述第三芯片的8引脚与所述电阻R337电连接，所述第三芯片的7引脚与所述电阻R336一端电连接，所述电阻R336另一端与所述电阻R287电连接，所述第三芯片的6引脚与所述电阻R334一端电连接，所述电阻R334的另一端分别与所述电容C338一端和所述按键KEY1电连接，所述电容C338另一端接地，所述第三芯片的5引脚分别与所述电阻R335一端和所述电容C335一端电连接，所述电容C335另一端接地，所述电阻R335另一端分别与所述电容C339一端和按键KEY2电连接，所述电容C339另一端接地。

7.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述正负电压测量线路包括VSP电压测试线路，所述VSP电压测试线路设有电容C301、电阻R281、电阻R282，所述电容C301一端接地，所述电容C301另一端分别与所述电阻R281一端和所述电阻R282一端电连接，所述电阻R281另一端接地。

8.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述正负电压测量线路包括OTP电压测试线路，所述OTP电压测试线路设有电阻R306、电阻R305，所述电阻R306一端与所述电阻R305一端电连接，所述电阻R305另一端接地。

9.根据权利要求1所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述正负电压测量线路包括VSN负电压测试电路，所述VSN负电压测试电路设有第四芯片、电阻R284、电容C306、电感线圈L9、二极管D22、电阻R285、可调电阻R286、电阻R288、电容C307，所述第四芯片的5引脚分别与所述电容C306的一端和所述电阻R284的一端电连接，所述电容C306的另一端接地，所述电阻R284另一端与所述第四芯片的4引脚电连接，所述电感线圈L9一端与所述第四芯片的5引脚电连接，所述电感线圈L9另一端与所述第四芯片的1引脚电连接，所述第四芯片的1引脚与所述二极管D22一端电连接，所述二极管D22另一端与所述可调电阻R286的3号接口电连接，所述可调电阻R286的2号接口分别与所述电阻R288一端和所述电容C307一端电连接并输出6V电压，所述电容C307另一端分别与所述电阻R285一端和所述第四芯片的2引脚电连接并接地，所述可调电阻R286的1号接口分别与所述第四芯片的3引脚、所述电阻R288另一端、所述电阻R285另一端电连接。

10.根据权利要求9所述的屏幕总成烧录测试盒，其特征在于，所述VSN负电压测试电路设有电阻R280、电阻R279、电容C300，所述电阻R280一端分别与所述电阻R279一端和所述电容C300一端电连接，所述电阻R280另一端接入6V电压，所述电容C300另一端接地。

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