CN214583030U - 一种固体源偏振干涉仪系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开一种固体源偏振干涉仪系统，属于光学技术领域。本实用新型针对太赫兹固体源设计了多个光学镜架，多个光学镜架结构相同，均具有水平和俯仰调节旋钮，通过调节旋钮可改变太赫兹光光路方向，进而实现最佳信噪比。本实用新型在第一探测器和第二探测器侧方设置有第一聚焦镜和第二聚焦镜，让探测器更好的接收聚合后的光束，方便后续比较测量出等离子体电子密度和法拉第旋转角。
Description
技术领域
本实用新型涉及光学技术领域，具体涉及一种固体源偏振干涉仪系统。
背景技术
太赫兹偏振干涉仪系统是托卡马克聚变实验堆常用的诊断系统，也在逐渐应用于空间等离子体实验装置上，它可以为实验装置提供实时的等离子体电子密度信号，及法拉第旋转角信号，运行稳定，数据可靠。
太赫兹偏振干涉仪作为外差式的偏振干涉仪，在应用时必须产生外差探测所需要的拍频信号，目前广泛使用的是三波法偏振干涉仪系统，这种系统需要三台太赫兹光源，两两差频形成三个中频信号。但是太赫兹偏振干涉仪通常选用体积笨重，操作复杂的太赫兹激光器作为偏振干涉仪的光源系统，太赫兹激光器是一种气体激光器，其输出功率及三频信号易受外界环境影响，功率及三频信号不稳定需要经常调节，影响偏振干涉仪的整体性能。
太赫兹光源的最新技术成果是固体源太赫兹光源系统，代替传统的太赫兹激光器系统。固体源太赫兹光源系统具有体积小输出功率稳定操作简单等优点，非常适合作为偏振干涉仪的光源系统，固体源偏振干涉仪系统功率及中频信号信号稳定，操作简单测量精度及稳定性都比传统偏振干涉仪高。但与传统太赫兹激光器系统相比，固体源太赫兹光源系统目前应用不太广泛，且系统功能不太齐全。
实用新型内容
针对上述技术背景提到的不足，本实用新型的目的在于提供一种固体源偏振干涉仪系统。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案实现：
一种固体源偏振干涉仪系统，包括支架，所述支架左侧设置有三个线性分布的第一太赫兹固体源、第二太赫兹固体源和第三太赫兹固体源，三者结构相同，在第一太赫兹固体源右侧设置有第一波片，第一波片为二分之一波片，第二太赫兹固体源右侧设置有第二波片，第二波片为四分之一波片。
进一步的，所述第一波片的右侧设置有第一分光栅网、第二分光栅网、第三分光栅网、第四分光栅网、第五分光栅网，五个分光珊网结构相同。
进一步的，所述第一太赫兹固体源、第二太赫兹固体源、和第三太赫兹固体源的右侧设置有第一光学镜架、第二光学镜架、第三光学镜架、第四光学镜架、第五光学镜架、第六光学镜架、第七光学镜架、第八光学镜架、第九光学镜架，九个光学镜架结构相同，均具有水平和俯仰调节旋钮。
进一步的，所述第四分光栅网右侧设置有第一聚焦镜，第五分光栅网下方设置有第二聚焦镜，第一聚焦镜和第二聚焦镜结构相同，具有俯仰和水平的调节旋钮，第一聚焦镜的右侧上方设置有第一探测器，第二聚焦镜右侧上方设置有第二探测器，第一探测器和第二探测器结构相同。
本实用新型的有益效果：
1、本实用新型针对太赫兹固体源设计了多个光学镜架，多个光学镜架结构相同，均具有水平和俯仰调节旋钮，通过调节旋钮可改变太赫兹光光路方向，进而实现最佳信噪比。
2、本实用新型在第一探测器和第二探测器侧方设置有第一聚焦镜和第二聚焦镜，让探测器更好的接收聚合后的光束，方便后续比较测量出等离子体电子密度和法拉第旋转角。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图；
图1是本实用新型的整体结构俯视图；
图2是本实用新型的整体结构正视图。
图中标号说明：
1、第一太赫兹固体源；2、第二太赫兹固体源；3、第三太赫兹固体源；4、第一波片；5、第一光学镜架；6、第二波片；7、第二光学镜架；8、第一探测器；9、第一聚焦镜；10、第三光学镜架；11、第四光学镜架；12、第五光学镜架；13、第六光学镜架；14、第七光学镜架；15、第一分光栅网；16、第二分光栅网；17、支架；18、第三分光栅网；19、第四分光栅网；20、第八光学镜架；21、第五分光栅网；22、第二聚焦镜；23、第二探测器；24、第九光学镜架。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。
在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“开孔”、“上”、“下”、“厚度”、“顶”、“中”、“长度”、“内”、“四周”等指示方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的组件或元件必须具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。
一种固体源偏振干涉仪系统，包括支架17。如图1所示，支架17左侧设置有三个线性分布的第一太赫兹固体源1、第二太赫兹固体源2和第三太赫兹固体源3，三者结构相同。在第一太赫兹固体源1右侧设置有第一波片4，第一波片4为二分之一波片，可使光线偏振方向改变90°。第二太赫兹固体源2右侧设置有第二波片6，第二波片6为四分之一波片，可使互相垂直的线偏振光变成圆偏振光。
第一波片4的右侧设置有第一分光栅网15、第二分光栅网16、第三分光栅网18、第四分光栅网19、第五分光栅网21，五个分光珊网结构相同，可通过调节栅网线数调节太赫兹光的透反比，进而实现对太赫兹光束的分束和合束。
在第一太赫兹固体源1、第二太赫兹固体源2、和第三太赫兹固体源3的右侧设置有第一光学镜架5、第二光学镜架7、第三光学镜架10、第四光学镜架11、第五光学镜架12、第六光学镜架13、第七光学镜架14、第八光学镜架20、第九光学镜架24，九个光学镜架结构相同，均具有水平和俯仰调节旋钮，可通过调节旋钮可改变太赫兹光光路方向，进而实现最佳信噪比。
第四分光栅网19右侧设置有第一聚焦镜9，第五分光栅网21下方设置有第二聚焦镜22。第一聚焦镜9和第二聚焦镜22结构相同，具有俯仰和水平的调节旋钮。第一聚焦镜9的右侧上方设置有第一探测器8，第二聚焦镜22右侧上方设置有第二探测器23，第一探测器8和第二探测器23结构相同，太赫兹光通过第一聚焦镜9和第二聚焦镜22聚焦后分别被第一探测器8和第二探测器23接收，第一探测器8和第二探测器23可以响应太赫兹光波段，并且中频输出频率超过10M。
如图1、2所示，中间圆圈为被测等离子体，支架17之间的两条直线为探测光束，探测光束穿过等离子体，光束束腰在等离子体中心，参考光布置在等离子下方，距离较长时可以通过波导进行传输，参考光在探测光出射端进行合束，经第二聚焦镜22聚焦后被第二探测器23接收，对第一探测器8和第二探测器23得到的数据进行比较后得出相位差进而可以测量出等离子体电子密度和法拉第旋转角。
在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本实用新型的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。
以上显示和描述了本实用新型的基本原理、主要特征和本实用新型的优点。本行业的技术人员应该了解，本实用新型不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本实用新型的原理，在不脱离本实用新型精神和范围的前提下，本实用新型还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本实用新型范围内。
Claims (4)
1.一种固体源偏振干涉仪系统，包括支架(17)，其特征在于，所述支架(17)左侧设置有三个线性分布的第一太赫兹固体源(1)、第二太赫兹固体源(2)和第三太赫兹固体源(3)，三者结构相同，在第一太赫兹固体源(1)右侧设置有第一波片(4)，第一波片(4)为二分之一波片，第二太赫兹固体源(2)右侧设置有第二波片(6)，第二波片(6)为四分之一波片。
2.根据权利要求1所述的一种固体源偏振干涉仪系统，其特征在于，所述第一波片(4)的右侧设置有第一分光栅网(15)、第二分光栅网(16)、第三分光栅网(18)、第四分光栅网(19)、第五分光栅网(21)，五个分光珊网结构相同。
3.根据权利要求1所述的一种固体源偏振干涉仪系统，其特征在于，所述第一太赫兹固体源(1)、第二太赫兹固体源(2)、和第三太赫兹固体源(3)的右侧设置有第一光学镜架(5)、第二光学镜架(7)、第三光学镜架(10)、第四光学镜架(11)、第五光学镜架(12)、第六光学镜架(13)、第七光学镜架(14)、第八光学镜架(20)、第九光学镜架(24)，九个光学镜架结构相同，均具有水平和俯仰调节旋钮。
4.根据权利要求2所述的一种固体源偏振干涉仪系统，其特征在于，所述第四分光栅网(19)右侧设置有第一聚焦镜(9)，第五分光栅网(21)下方设置有第二聚焦镜(22)，第一聚焦镜(9)和第二聚焦镜(22)结构相同，具有俯仰和水平的调节旋钮，第一聚焦镜(9)的右侧上方设置有第一探测器(8)，第二聚焦镜(22)右侧上方设置有第二探测器(23)，第一探测器(8)和第二探测器(23)结构相同。
Priority Applications (1)
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| CN202120535661.XU CN214583030U (zh) | 2021-03-16 | 2021-03-16 | 一种固体源偏振干涉仪系统 |
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Publications (1)
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Family Applications (1)
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Country Status (1)
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| CN (1) | CN214583030U (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114739286A (zh) * | 2022-04-25 | 2022-07-12 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种双波长复合激光干涉仪系统 |
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2021
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| CN114739286A (zh) * | 2022-04-25 | 2022-07-12 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种双波长复合激光干涉仪系统 |
| CN114739286B (zh) * | 2022-04-25 | 2023-07-04 | 中国科学院合肥物质科学研究院 | 一种双波长复合激光干涉仪系统 |
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