CN214540747U - 调试接口连接装置及网联终端设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种调试接口连接装置及网联终端设备，该调试接口连接装置包括：被测电路板、设置于被测电路板的M个导电孔及调试插头，M个导电孔中的连续或者不连续的N个导电孔被配置为调试孔，M、N为大于等于5的正整数，且M大于N；调试孔的第一端与被测电路板的调试电路电连接，调试孔的第二端与调试插头的第一端电连接；调试插头的第二端与外部调试设备电连接。本实用新型实施例的调试接口连接装置通过设置多个随机、离散的调试孔实现电路调试，有利于提高调试接口的混淆程度，降低直接攻击的风险。

Description

调试接口连接装置及网联终端设备

技术领域

本实用新型涉及调试控制技术领域，尤其涉及一种调试接口连接装置及网联终端设备。

背景技术

随着无线网络技术的发展，具备网联功能的终端设备在各行业得到了广泛应用，典型地，车载网联终端设备包括T-Box(Telematics BOX，远程信息处理器)和ECU(Electronic Control Unit，电子控制单元)。

具备网联功能的终端需要面临的一个最严重的挑战就是信息安全问题，目前，已知的网联化终端最大的风险在于调试接口，现有产品的调试接口均采用标准接口，其存在的问题在于，标准接口很容易被识别，导致网联化终端被攻击、被渗透的风险较大，容易发生数据被恶意篡改的事故，信息安全性低。

实用新型内容

本实用新型提供一种调试接口连接装置，设计随机、离散的调试接口布局方案，解决了标准调试接口容易被识别造成信息泄露的问题，提升接口破解难度。

第一方面，本实用新型实施例提供了一种调试接口连接装置，包括：被测电路板、设置于所述被测电路板的M个导电孔及调试插头，所述M个导电孔中的连续或者不连续的N个导电孔被配置为N个调试孔，其中，M、N为大于等于5的正整数，且M大于N；所述调试孔的第一端与所述被测电路板的调试电路电连接，所述调试孔的第二端与所述调试插头的第一端电连接；所述调试插头的第二端与外部调试设备电连接。

可选地，所述N个调试孔的序号与预设数组中的自定义序号一一对应，所述自定义序号n满足：1≤n≤M。

可选地，所述调试孔设有焊盘或者焊点，所述焊盘或者所述焊点通过导电线缆与所述调试插头的第一端电连接。

可选地，所述调试孔包括：数据信号孔、时钟信号孔及接地信号孔，所述数据信号孔用于实现所述调试电路与所述外部调试设备之间的数据信号传输，所述时钟信号引脚用于实现所述调试电路与所述外部调试设备之间的时钟信号传输。

可选地，所述调试孔还包括：供电连接孔及复位连接孔，所述供电连接孔用于传输供电电压，所述复位连接孔用于传输调试电路复位信号。

可选地，所述调试插头设有插针，所述插针的数量为大于或者等于N的正整数。

可选地，所述调试插头包括JTAG接口或者SWD接口。

可选地，所述M个导电孔随机分布设置于所述被测电路板的任意位置。

可选地，所述被测电路板设有远程通讯单元，所述调试电路用于对所述远程通讯单元进行调试。

第二方面，本实用新型实施例还提供了一种网联终端设备，包括上述调试接口连接装置。

本实用新型实施例提供的网联终端设备，设置调试接口连接装置，该连接装置设置被测电路板、设置于被测电路板的M个导电孔及调试插头，M个导电孔中的连续或者不连续的N个导电孔被配置为调试孔，调试孔的第一端与被测电路板的调试电路电连接，调试孔的第二端通过调试插头与外部调试设备电连接，通过设计随机、离散的调试接口布局方案，解决了标准调试接口容易被识别造成信息泄露的问题，有利于提升调试接口的混淆程度，提高接口破解难度，降低调试接口被攻击、被渗透的风险，增强信息安全性。

附图说明

图1是本实用新型实施例一提供的一种调试接口连接装置的结构示意图；

图2是本实用新型实施例一提供的另一种调试接口连接装置的结构示意图；

图3是本实用新型实施实施例二提供的一种网联终端设备的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本实用新型，而非对本实用新型的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本实用新型相关的部分而非全部结构。

实施例一

图1是本实用新型实施例一提供的一种调试接口连接装置的结构示意图，本实施例可适用于通过改进接口布局方式对网联终端设备的调试接口进行优化的应用场景。

如图1所示，该调试接口连接装置100包括：被测电路板10、设置于被测电路板的M个导电孔20及调试插头30，M个导电孔20中的连续或者不连续的N个导电孔20被配置为N个调试孔20I，其中，M、N为大于等于5的正整数，且M大于N；调试孔20I的第一端与被测电路板10的调试电路电连接，调试孔20I的第二端与调试插头30的第一端电连接；调试插头30的第二端与外部调试设备电连接，其中，外部调试设备可为用于对被测电路板10传输测试信号，对被测电路板10进行功能测试的设备。

在本实施例中，被测电路板10可为终端设备的印制电路板，被测电路板10上集成设置走线层及辅助器件，电路连通形成调试电路及终端设备的功能电路。

具体地，在现有的印制电路板上，设置M个导电孔20，从M个导电孔20中随机选择N个连续或者不连续的导电孔20，将选择出来的N个导电孔20设置为调试孔20I，N个调试孔20I的布局位置为离散、随机设置的，调试孔20I的第一端通过被测电路板10上的走线层与被测电路板10的调试电路电连接，调试孔20I的第二端通过线缆与调试插头30电连接，在进行调试时，外部调试设备通过线束连接调试插头30，并通过调试插头30及调试孔20I将信号传输至被测电路板10；在不进行调试时，离散分布的N个调试孔20I的具体序号并非固定的，会增大接口破解难度，通过设计随机、离散的调试接口布局方案，解决了标准调试接口容易被识别造成信息泄露的问题，有利于提升调试接口的混淆程度，降低调试接口被攻击、被渗透的风险，增强信息安全性。

可选地，N个调试孔20I的序号与预设数组中的自定义序号一一对应，自定义序号n满足：1≤n≤M。

在本实施例中，可将M个导电孔20的编号定义为1至M，调试孔20I的序号是指的调试孔20I在M个导电孔20中的编号，预设数组是指用户自定义的序号数组，预设数组可用于表示用户自定义的N个调试孔20I在M个导电孔20中的具体位置。

示例性地，以M等于20，N等于5为例，若设置预设数组为{1,3,5,7,9}，该预设数组中的自定义序号为1、3、5、7及9，此时，自定义设置的N个调试孔20I包括M个导电孔20中的第一个导电孔、第三个导电孔、第五个导电孔、第七个导电孔及第九个导电孔；若设置预设数组为{2,4,6,8,10}，该预设数组中的自定义序号为2、4、6、8及10，此时，自定义设置的N个调试孔20I包括M个导电孔20中的第二个导电孔、第四个导电孔、第六个导电孔、第八个导电孔及第十个导电孔。

需要说明的是，可设置多个预设数组，每隔预设间隔时间(例如，预设间隔时间可为一个月)选定一组预设数组，在设计调试接口连接装置时，根据选定的预设数组设置调试孔20I，在被测电路板被封装需要现场调试时，开发人员可根据时间推算出N个调试孔20I的序号，将调试针脚引出进行调试。

图2是本实用新型实施例一提供的另一种调试接口连接装置的结构示意图。

可选地，如图2所示，调试孔20I设有焊盘或者焊点，焊盘或者焊点通过导电线缆与调试插头30的第一端电连接。

具体地，可将导电线缆的一端与调试孔20I表面的焊盘或者焊点焊接连接，将导电线缆的另一端压接或者焊接连接至调试插头30的第一端，以使调试孔20I通过调试插头30接收外部调试设备发出的测试信号，便于实现调试接口的自定义连接设置。

可选地，如图2所示，调试孔20I包括：数据信号孔SWDIO、时钟信号孔SWCLK及接地信号孔GND，数据信号孔SWDIO用于实现调试电路与外部调试设备之间的数据信号传输，时钟信号引脚SWCLK用于实现调试电路与外部调试设备之间的时钟信号传输，接地信号孔GND接地连接。

可选地，继续如图2所示，调试孔20I还包括：供电连接孔VCC及复位连接孔RESET，供电连接孔用于传输供电电压，复位连接孔RESET用于传输调试电路复位信号。

具体地，数据信号孔SWDIO、时钟信号孔SWCLK、接地信号孔GND、供电连接孔VCC及复位连接孔RESET在M个导电孔20中的编号由用户自定义的预设数组决定，数据信号孔SWDIO、时钟信号孔SWCLK、接地信号孔GND、供电连接孔VCC及复位连接孔RESET的先后顺序可由开发人员按照预设规则定义，对此不作限制。

可选地，调试插头30设有插针，插针的数量为大于或者等于N的正整数。

在本实施例中，调试插头30可采用常规的插针型结构，在现场调试时，将每个插针一一对应连接一个调试孔20I，可设置调试插头30的插针数量大于或者等于被测电路板10上的调试孔20I的数量N，通过设置备用引脚，便于现场测试连接。

可选地，调试插头30包括JTAG接口或者SWD接口。

在本实施例中，可采用标准型号的JTAG接口或者SWD接口与调试孔20I电连接，通过标准插头将测试信号传输至调试孔20I，并通过调试孔20I将测试信号传输至被测电路板10的调试电路，通过标准化插头与自定义调试孔的组合，避免自定义设置增加现场调试的难度，提高使用便利性。

可选地，M个导电孔20随机分布设置于被测电路板10的任意位置。

具体地，M个导电孔20可集中设置在被测电路板10的特定区域，或者，可将M个导电孔20分散布置在被测电路板10的边缘区域，M个导电孔20的具体位置可根据被测电路板10的布线需求进行调整，对此不作限制。

可选地，被测电路板10设有远程通讯单元，调试电路用于对远程通讯单元进行调试。

在本实施例中，被测电路板10集成设置远程通讯单元，以使终端设备具备网联功能，在对被测电路板进行调试时，外部调试设备通过调试插头30及离散设置的调试孔20I将信号传输至被测电路板10，通过测试电路对远程通讯单元传输测试信号，实现远程通信功能的测试。

由此，本实用新型实施例提供的调试接口连接装置，设置被测电路板、设置于被测电路板的M个导电孔及调试插头，M个导电孔中的连续或者不连续的N个导电孔被配置为调试孔，调试孔的第一端与被测电路板的调试电路电连接，调试孔的第二端通过调试插头与外部调试设备电连接，通过设计随机、离散的调试接口布局方案，解决了网联终端设备采用标准调试接口容易被识别造成信息泄露的问题，有利于提升调试接口的混淆程度，提高接口破解难度，降低调试接口被攻击、被渗透的风险，增强信息安全性。

实施例二

基于上述实施例，本实用新型实施例二提供了一种网联终端设备，图3是本实用新型实施实施例二提供的一种网联终端设备的结构示意图。

如图3所示，该网联终端设备200包括上述调试接口连接装置100。

在本实施例中，网联终端设备200可为车载网联终端设备，典型地，车载网联终端设备包括T-Box(Telematics BOX，远程信息处理器)和ECU(Electronic Control Unit，电子控制单元)。

本实用新型实施例提供的网联终端设备，设置调试接口连接装置，该连接装置设置被测电路板、设置于被测电路板的M个导电孔及调试插头，M个导电孔中的连续或者不连续的N个导电孔被配置为调试孔，调试孔的第一端与被测电路板的调试电路电连接，调试孔的第二端通过调试插头与外部调试设备电连接，通过设计随机、离散的调试接口布局方案，解决了标准调试接口容易被识别造成信息泄露的问题，有利于提升调试接口的混淆程度，提高接口破解难度，降低调试接口被攻击、被渗透的风险，增强信息安全性。

注意，上述仅为本实用新型的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本实用新型不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本实用新型的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本实用新型进行了较为详细的说明，但是本实用新型不仅仅限于以上实施例，在不脱离本实用新型构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本实用新型的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种调试接口连接装置，其特征在于，包括：被测电路板、设置于所述被测电路板的M个导电孔及调试插头，所述M个导电孔中的连续或者不连续的N个导电孔被配置为调试孔，其中，M、N为大于等于5的正整数，且M大于N；

所述调试孔的第一端与所述被测电路板的调试电路电连接，所述调试孔的第二端与所述调试插头的第一端电连接；

所述调试插头的第二端与外部调试设备电连接。

2.根据权利要求1所述的调试接口连接装置，其特征在于，所述N个调试孔的序号与预设数组中的自定义序号一一对应，所述自定义序号n满足：1≤n≤M。

3.根据权利要求1所述的调试接口连接装置，其特征在于，所述调试孔设有焊盘或者焊点，所述焊盘或者所述焊点通过导电线缆与所述调试插头的第一端电连接。

4.根据权利要求1所述的调试接口连接装置，其特征在于，所述调试孔包括：数据信号孔、时钟信号孔及接地信号孔，所述数据信号孔用于实现所述调试电路与所述外部调试设备之间的数据信号传输，所述时钟信号引脚用于实现所述调试电路与所述外部调试设备之间的时钟信号传输。

5.根据权利要求4所述的调试接口连接装置，其特征在于，所述调试孔还包括：供电连接孔及复位连接孔，所述供电连接孔用于传输供电电压，所述复位连接孔用于传输调试电路复位信号。

6.根据权利要求1-5中任一项所述的调试接口连接装置，其特征在于，所述调试插头设有插针，所述插针的数量为大于或者等于N的正整数。

7.根据权利要求6所述的调试接口连接装置，其特征在于，所述调试插头包括JTAG接口或者SWD接口。

8.根据权利要求1-5中任一项所述的调试接口连接装置，其特征在于，所述M个导电孔随机分布设置于所述被测电路板的任意位置。

9.根据权利要求1-5中任一项所述的调试接口连接装置，其特征在于，所述被测电路板设有远程通讯单元，所述调试电路用于对所述远程通讯单元进行调试。

10.一种网联终端设备，其特征在于，包括权利要求1-9中任一项所述的调试接口连接装置。

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