CN213120618U - 传感器测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种传感器测试装置，包括测试终端与控制板；控制板上设有第一控制模块与第二控制模块，第一控制模块连接测试终端，第二控制模块连接第一控制模块，第二控制模块还用于连接待测试的传感器；当对传感器进行测试时，处于开启状态的第一控制模块为第二控制模块供电，开启后的第二控制模块为传感器供电，开启后的传感器通过第二控制模块及第一控制模块将传感器的参数数据传送至处于开启状态的测试终端。与现有技术相比，有益效果在于：通过在控制板上设置用于读取数据的第二控制模块，使得测试终端在测试可以始终保持在开启状态，从而测试时可以省略测试终端的重启时间，缩短了测试时间，可以有效提高测试效率。

Description

传感器测试装置

【技术领域】

本实用新型涉及传感器测试技术领域，具体的涉及一种传感器测试装置。

【背景技术】

随着科技的进步与技术的发展，诸如手机、平板电脑、智能穿戴等电子设备的发展越来越快，且该类电子设备配置的传感器越来越多，使得其性能也越来越强大。在现有技术中，传感器在安装到电子设备中前，需要通过测试来获取它的性能参数，以方便集成到电子设备中，然而目前的传感器测试比较耗时间，大大影响了电子设备的生产效率。

鉴于此，实有必要提供一种传感器测试装置以克服现有技术的不足。

【实用新型内容】

本实用新型的目的是提供一种传感器测试装置，旨在缩短传感器的测试时间。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种传感器测试装置，包括测试终端与控制板；所述控制板上设有第一控制模块与第二控制模块，所述第一控制模块连接所述测试终端，所述第二控制模块连接所述第一控制模块，所述第二控制模块还用于连接待测试的传感器；

当对所述传感器进行测试时，所述传感器接入所述控制板且连接所述第二控制模块，处于开启状态的第一控制模块为所述第二控制模块供电且开启所述第二控制模块，开启后的第二控制模块为所述传感器供电并开启所述传感器，开启后的传感器通过所述第二控制模块及所述第一控制模块将所述传感器的参数数据传送至处于开启状态的测试终端，所述测试终端通过读取所述参数数据以测试所述传感器的性能。

作为本实用新型传感器测试装置的一种改进，所述第一控制模块与所述第二控制模块之间通过串口通讯连接。

作为本实用新型传感器测试装置的一种改进，所述第一控制模块与所述测试终端之间及所述第二控制模块与所述传感器之间均通过I2C总线通讯连接。

作为本实用新型传感器测试装置的一种改进，所述第二控制模块的数量为两个或者两个以上。

作为本实用新型传感器测试装置的一种改进，所述第一控制模块与所述第二控制模块均为单片机。

作为本实用新型传感器测试装置的一种改进，所述第一控制模块与所述第二控制模块均为单片机。

作为本实用新型传感器测试装置的一种改进，所述测试终端为手机。

与现有技术相比，本实用新型传感器测试装置的有益效果在于：通过在控制板上设置用于接收数据的第一控制模块及用于读取数据的第二控制模块，且第二控制模块在与传感器连接后才被导通，使得测试终端在测试可以始终保持在开启状态，从而测试时可以省略测试终端的重启时间，缩短了测试时间，可以有效提高测试效率。

为使实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举本实用新型较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。

【附图说明】

为了更清楚地说明本实用新型实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本实用新型的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1为本实用新型提供传感器测试装置的连接结构示意图。

图2为图1所示传感器测试装置的电路连接示意图。

【具体实施方式】

为了使本实用新型的目的、技术方案和有益技术效果更加清晰明白，以下结合附图和具体实施方式，对本实用新型进行进一步详细说明。应当理解的是，本说明书中描述的具体实施方式仅仅是为了解释本实用新型，并不是为了限定本实用新型。

请参考图1，本实用新型提供一种传感器测试装置100，用于测试传感器200的性能，传感器200可以为位置传感器、感光传感器、速度传感器、温度传感器中的任意一种。

在本实用新型的实施例中，传感器测试装置100包括测试终端10与控制板20；控制板20上设有第一控制模块201与第二控制模块202，第一控制模块201连接测试终端10，第二控制模块202连接第一控制模块201，第二控制模块202还用于连接待测试的传感器200。

当对传感器200进行测试时，传感器200接入控制板20且连接第二控制模块202，处于开启状态的第一控制模块201为第二控制模块202供电且开启第二控制模块202，开启后的第二控制模块202为传感器200供电并开启传感器200，开启后的传感器200通过第二控制模块202及第一控制模块201将传感器200的参数数据传送至处于开启状态的测试终端10，测试终端10通过读取参数数据以测试传感器200的性能。

需说明的是，测试传感器200时，传感器200通常通过与测试终端10直接连接来完成测试，这样的话在进行下一个传感器200的测试时，为了保证测试终端10能准确的读取该传感器200中的测试数据，测试终端10需要重启后才能连接该传感器200。因此在测试终端10与传感器200之间设置控制板20后对传感器200进行测试时，测试终端10可以仅用于接收数据、第一控制模块201则用于传输数据，第二控制模块202才用于读取数据，这样的话，只需重启第二控制模块202便可以保证其读取的数据是真实有效的，使得第一控制模块201与测试终端10可以一直处于开启状态，所以只需第二控制模块202的重启速度大于测试终端10的重启速度便可以提高传感器200的测试效率。

比如，在本实施例中，测试终端10可以为手机，手机的重启时间需要38秒左右，第一控制模块201与第二控制模块202均可以为单片机，单片机的重启较快且基本是瞬间完成启动，而且第二控制模块202在传感器200接入控制板20后才被通电，也就是说每次测试时，第二控制模块202相当于重启后才与需测试的传感器200连接，因此本实用新型提供的传感器测试装置100在测试时可以省略测试终端10的重启时间，有效的缩短了测试时间，从而有效的提高了测试效率。

进一步的，第一控制模块201与第二控制模块202之间通过串口形成通讯连接，串口通讯具有通信线路少、布线简单易行、施工方便及结构灵活的特点，使得第一控制模块201与第二控制模块202之间的通讯连接更加容易灵活。

进一步的，第一控制模块201与测试终端10之间及第二控制模块202与传感器200之间均通过I2C总线形成通讯连接，I2C总线具有电流消耗低、抗高噪声干扰能力良好及工作温度范围宽的特点，使得传感器测试装置100具有良好的适用性。同时，I2C总线可以通过外部连线进行在线检测，从而方便系统故障诊断盒调试，故障可以立即被寻址，利于传感器测试装置100的软件保准化与模块化设计，从而缩短传感器测试装置100的开发周期。

此外，I2C总线还具有多主机功能，也就是说I2C总线支持两个或者两个以上的主机同时初始化数据传输。在本实施例中，当传感器200接入连接板进行测试时，第二控制模块202作为主机以用于发送数据，第一控制模块201作为从机以用于接收数据则，因此通过I2C总线的多主机功能，第二控制模块202的数量可以为两个或者两个以上，以达到同时测试两个或者两个以上的传感器200的目的，也是说第二控制模块202的数量至少为一个。

请参考图2，在一个更为具体的实施例中，第一控制模块201为MN26005UKDN单片机，第二控制模块202为MN58406DKDN单片机，且第一控制模块201与第二控制模块202均设有VDD引脚、GND引脚、INT引脚、LEDA引脚、SDA引脚、SCL引脚、TTL-RX引脚及TTL-TX引脚，其中，VDD引脚用于接电，GND引脚用于接地，INT引脚用于发出中断信号，LEDA引脚用于发出发光信号，SDA引脚与SCL引脚作为I2C总线接口，TTL-RX引脚与TTL-TX引脚作为串口接口。

测试终端10连接第一控制模块201的VDD引脚、GND引脚、INT引脚、LEDA引脚、SDA引脚及SCL引脚，传感器200连接第二控制模块202的VDD引脚、GND引脚、INT引脚、LEDA引脚、SDA引脚及SCL引脚，第一控制模块201与第二控制模块202之间通过TTL-RX引脚与TTL-TX引脚形成串口连接并通过VDD引脚与GND引脚形成供电回路，且第一控制模块201与第二控制模块202之间还设有一个开关203，开关203连接于两个VDD引脚之间并在传感器200接入控制板20后闭合导通，以达到为传感器200供电并开启传感器200的目的。

综上所述，本实用新型提供的传感器测试装置100，通过在控制板20上设置用于接收数据的第一控制模块201及用于读取数据的第二控制模块202，且第二控制模块202在与传感器200连接后才被导通，使得测试终端10在测试可以始终保持在开启状态，从而测试时可以省略测试终端10的重启时间，缩短了测试时间，可以有效提高测试效率。

本实用新型并不仅仅限于说明书和实施方式中所描述，因此对于熟悉领域的人员而言可容易地实现另外的优点和修改，故在不背离权利要求及等同范围所限定的一般概念的精神和范围的情况下，本实用新型并不限于特定的细节、代表性的设备和这里示出与描述的图示示例。

Claims (6)

1.一种传感器测试装置，其特征在于：包括测试终端与控制板；所述控制板上设有第一控制模块与第二控制模块，所述第一控制模块连接所述测试终端，所述第二控制模块连接所述第一控制模块，所述第二控制模块还用于连接待测试的传感器；

当对所述传感器进行测试时，所述传感器接入所述控制板且连接所述第二控制模块，处于开启状态的第一控制模块为所述第二控制模块供电且开启所述第二控制模块，开启后的第二控制模块为所述传感器供电并开启所述传感器，开启后的传感器通过所述第二控制模块及所述第一控制模块将所述传感器的参数数据传送至处于开启状态的测试终端，所述测试终端通过读取所述参数数据以测试所述传感器的性能。

2.根据权利要求1所述的传感器测试装置，其特征在于：所述第一控制模块与所述第二控制模块之间通过串口通讯连接。

3.根据权利要求1所述的传感器测试装置，其特征在于：所述第一控制模块与所述测试终端之间及所述第二控制模块与所述传感器之间均通过I2C总线通讯连接。

4.根据权利要求1所述的传感器测试装置，其特征在于：所述第二控制模块的数量为至少一个。

5.根据权利要求1所述的传感器测试装置，其特征在于：所述第一控制模块与所述第二控制模块均为单片机。

6.根据权利要求1所述的传感器测试装置，其特征在于：所述测试终端为手机。

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