CN214503830U - 一种磁旋测试治具 - Google Patents

Abstract

本公开涉及一种磁旋测试治具，磁旋测试治具包括箱体以及设置于箱体上的待测定子容置部，待测定子容置部用于容置待测电机的定子；测试轴以及均匀设置于测试轴表面的多个磁场检测部件，测试轴位于待测定子容置部环绕形成的空间内，磁场检测部件与定子的线圈一一对应设置；多个显示部件，显示部件与磁场检测部件一一对应设置，磁场检测部件用于检测对应的线圈的工作磁场并根据检测到的工作磁场生成显示控制信号，显示部件根据显示控制信号显示对应的线圈的接线信息。通过本公开的技术方案，实现了对待测电机的定子绕组线圈是否存在相序接反或者盘线错误不良问题的全面检测，操作简便，显示直观，容易上手。

Description

一种磁旋测试治具

技术领域

本公开涉及电机技术领域，尤其涉及一种磁旋测试治具。

背景技术

在日常的电机定子装配中，可能会出现定子绕组线圈相序接反或者盘线盘错的情况，通常使用电机定子综测仪能够测试耐压、绝缘、电阻(三相电阻平衡)、电感、匝间、三相反电动势(峰值、有效值、相位差)或者三霍尔波形(高电平、占空比、相位差)，但仅通过电机定子综合检测仪无法拦截识别定子绕组线圈相序接反或者盘线盘错的情况。例如当电机定子盘线时如出现ABC相序接反的错误，综测仪显示正常，无法拦截该错误，从而会导致装配整机之后出现电机正转反转不良。又例如当电机定子盘线时出现盘线盘错时，综测仪无法拦截，装配电机组件会出现电机不转不良，导致定子报废。

目前所采用的常规检测电机定子绕组极性的方式，检测效率低，只能总体判断各极相组之间的极性，不能发现诸如同一极相组相邻线圈接线或同一线圈内个别极组嵌反的问题，且部分方案操作费时，对比判断不够直观，使用时对测试人员的操作要求较高，不易上手。

实用新型内容

为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题，本公开提供了一种磁旋测试治具，实现了对待测电机的定子绕组线圈是否存在相序接反或者盘线错误不良问题的全面检测，操作简便，显示直观，容易上手。

本公开实施例提供了一种磁旋测试治具，包括：

箱体以及设置于所述箱体上的待测定子容置部，所述待测定子容置部用于容置待测电机的定子；

测试轴以及均匀设置于所述测试轴表面的多个磁场检测部件，所述测试轴位于所述待测定子容置部环绕形成的空间内，所述磁场检测部件与所述定子的线圈一一对应设置；

多个显示部件，所述显示部件与所述磁场检测部件一一对应设置，所述磁场检测部件用于检测对应的所述线圈的工作磁场并根据检测到的所述工作磁场生成显示控制信号，所述显示部件根据所述显示控制信号显示对应的所述线圈的接线信息。

可选地，对应所述待测电机的相同相位的所述显示部件相邻设置。

可选地，所述待测定子容置部的内壁上设置有第一结构，所述定子的外壁上设置有第二结构，所述第一结构和所述第二结构中的一个为凸起结构，另一个为槽体结构，所述定子插入所述待测定子容置部后所述凸起结构位于所述槽体结构内以限位所述定子；或者，

所述线圈对应设置有第一标记，所述磁场检测部件对应设置有第二标记，所述定子插入所述待测定子容置部后所述第一标记和所述第二标记一一对应设置。

可选地，沿所述待测定子容置部的延伸方向，所述待测定子容置部的高度小于所述定子的高度。

可选地，所述测试轴上形成有多个第二槽体，所述第二槽体的延伸方向与所述测试轴的延伸方向相同，所述第二槽体与所述磁场检测部件一一对应设置，所述磁场检测部件位于对应的所述第二槽体内。

可选地，所述箱体设置有所述待测定子容置部的表面形成有通孔，所述待测定子容置部环绕所述通孔，所述测试轴经由所述通孔向外伸出至所述待测定子容置部环绕形成的空间内，所述测试轴对应所述通孔位置截面的圆心与所述通孔的圆心重叠设置。

可选地，还包括：

位于所述箱体内的相位切换电路，所述相位切换电路用于切换所述电机的测试相位。

可选地，所述相位切换电路包括控制芯片，所述控制芯片用于间隔设定时间切换其第一控制端和第二控制端输出的电信号的电平高低；其中，所述第一控制端和所述第二控制端在相同时刻输出的电信号的电平高低相反；或者，

所述相位切换电路包括切换开关和控制芯片，所述控制芯片用于根据所述切换开关的被按压状态切换其第一控制端和第二控制端输出的电信号的电平高低；其中，所述第一控制端和所述第二控制端在相同时刻输出的电信号的电平高低相反。

可选地，所述电机的第一相与电源正极连接，所述相位切换电路还包括：

第一开关和第一继电器，所述第一开关的控制端与所述第一控制端连接，所述第一开关的第一端接地，所述第一开关的第二端与所述第一继电器的控制端连接，所述第一继电器的第一端与电源负极连接，所述第一继电器的第二端与所述电机的第二相连接；

第二开关和第二继电器，所述第二开关的控制端与所述第二控制端连接，所述第二开关的第一端接地，所述第二开关的第二端与所述第二继电器的控制端连接，所述第二继电器的第一端与电源负极连接，所述第二继电器的第二端与所述电机的第三相连接。

可选地，还包括：

位于所述箱体内的多个显示控制电路，所述显示控制电路与所述显示部件一一对应设置，所述显示控制电路用于根据对应的所述显示控制信号控制对应的所述显示部件的显示状态。

可选地，所述显示控制电路包括：

第三开关，所述第三开关的控制端与对应的所述磁场检测部件的显示控制输出端连接，所述第三开关的第一端接地，所述第三开关的第二端与对应的所述显示部件的阴极连接，所述显示部件的阳极接入正电源信号。

本公开实施例提供的技术方案与现有技术相比具有如下优点：

本公开实施例设置待测定子容置部用于容置待测电机的定子，测试轴位于待测定子容置部环绕形成的空间内，磁场检测部件与定子的线圈一一对应设置，显示部件与磁场检测部件一一对应设置，磁场检测部件用于检测对应的线圈的工作磁场并根据检测到的工作磁场生成显示控制信号，显示部件根据显示控制信号显示对应的线圈的接线信息。由此，利用磁旋测试治具实现了对待测电机的定子绕组线圈是否存在相序接反或者盘线错误不良问题的全面检测，有效避免了出现装配后电机不转不良或正反转不良的问题，通过给待测电机的定子绕组线圈通一个固定方向的电流，利用磁场检测部件验证对应线圈的工作磁场是否与预设工作磁场一致，并通过显示部件对磁场检测结果进行直观的显示以辅助判断具体哪个线圈存在相序接反或者盘线错误的不良问题，操作简便，显示直观，容易上手。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于解释本公开的原理。

为了更清楚地说明本公开实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本公开实施例提供的一种磁旋测试治具的结构示意图。如图1所示；

图2为本公开实施例提供的待测电机定子线圈在一种相位接入方式下的示意图；

图3为本公开实施例提供的待测电机定子线圈在另一种相位接入方式下的示意图；

图4为本公开实施例提供的一种测试轴的结构示意图；

图5为本公开实施例提供的一种箱体以及待测定子容置部的结构示意图；

图6为本公开实施例提供的一种相位切换电路的电路结构示意图；

图7为本公开实施例提供的一种显示控制电路的电路结构示意图。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本公开的上述目的、特征和优点，下面将对本公开的方案进行进一步描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本公开，但本公开还可以采用其他不同于在此描述的方式来实施；显然，说明书中的实施例只是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。

图1为本公开实施例提供的一种磁旋测试治具的结构示意图。如图1所示，磁旋测试治具包括箱体1以及设置于箱体1上的待测定子容置部2，待测定子容置部2用于容置待测电机的定子3。磁旋测试治具还包括测试轴4以及均匀设置于测试轴4表面的多个磁场检测部件5，测试轴4位于待测定子容置部2环绕形成的空间内，磁场检测部件5与定子3的线圈31一一对应设置。示例性地，可以设置待测定子容置部2为如图1所示的环状凸起结构，可以示例性地设置待测定子容置部2的内径与定子3的外径相同，即待测定子容置部2的内径与定子3的外径相匹配，以增加定子3插入待测定子容置部2后的稳定性。

磁旋测试治具还包括多个显示部件6，显示部件6与磁场检测部件5一一对应设置，磁场检测部件5用于检测对应的线圈31的工作磁场并根据检测到的工作磁场生成显示控制信号，磁场检测部件5根据检测到的工作磁场，能够判断对应的线圈31是否存在相序接反或者盘线盘错的情况，即是否存在接线错误的情况，据此生成显示控制信号，显示部件6根据显示控制信号显示对应的线圈31的接线信息。示例性地，可以设置磁场检测部件5判断对应的线圈31存在相序接反或者盘线盘错的情况时，与磁场检测部件5判断对应的线圈31不存在相序接反或者盘线盘错的情况时，对应的显示部件6的显示状态不同，根据显示部件6的具体显示状态，即可获知线圈31的接线信息，即获知线圈31是否存在相序接反或者盘线盘错的情况。

具体地，磁场检测部件5与定子3的线圈31一一对应设置，显示部件6与磁场检测部件5一一对应设置，即磁场检测部件5的数量根据待测电机的定子3所包含线圈31的数量决定，例如图1示例性地设置待测电机的定子3包括12个线圈31，则设置磁旋测试治具包括12个磁场检测部件5，相应地，设置磁旋测试治具包括12个显示部件6。

示例性地，可以设置磁场检测部件5包括霍尔传感器，可以设置当霍尔传感器的正面受到定子3线圈的N极磁力线穿透时，其显示控制输出端呈高电平，即其输出的显示控制信号为高电平信号；当霍尔传感器的正面受到定子3线圈的S极磁力线穿透时，其显示控制输出端呈低电平，即其输出的显示控制信号为低电平信号。或者，也可以设置当霍尔传感器的正面受到定子3线圈的S极磁力线穿透时，其显示控制输出端呈高电平，即其输出的显示控制信号为高电平信号；当霍尔传感器的正面受到定子3线圈的N极磁力线穿透时，其显示控制输出端呈低电平，即其输出的显示控制信号为低电平信号。示例性地，可以设置显示部件6为发光二极管，且通过设置发光二极管与对应的霍尔传感器的连接关系，可以设置霍尔传感器输出高电平的显示控制信号时，发光二极管发光，霍尔传感器输出低电平的显示控制信号时，发光二极管不发光。

以霍尔传感器的正面受到定子3线圈的N极磁力线穿透时，其输出的显示控制信号为高电平信号，当霍尔传感器的正面受到定子3线圈的S极磁力线穿透时，其输出的显示控制信号为低电平信号为例，在对待测电机的定子3进行测试之前，将霍尔传感器对应定子3中的线圈设置，根据定子3接入相位以及定子3的线圈的设置位置，通过设置霍尔传感器的位置使得霍尔传感器正面受到对应的定子3线圈的N极磁力线穿透，若线圈不存在相序接反或者盘线错误的情况，则对应的霍尔传感器输出高电平，对应的发光二极管发光；若线圈存在相序接反或者盘线错误的情况，则对应的霍尔传感器输出低电平，对应的发光二极管不发光。由此，可以根据发光二极管是否发光，判断定子3中对应的线圈是否存在相序接反或者盘线错误的情况。

图2为本公开实施例提供的待测电机定子线圈在一种相位接入方式下的示意图。示例性地，待测电机可以为BLDC(Brushless Direct Current Motor，无刷直流电机)，待测电机包括ABC三相，结合图1和图2，对待测电机的AB相进行测试，给AB相加一个2V/5A的电压，将电源的正极+连接至待测电机的A相，电源的负极-连接至待测电机的B相，此时根据安培定则，得出对应AB相的8组线圈的磁场极性，图2中1-12为待测电机线圈的标号，即得出1、2、3、4、7、8、9和10号线圈的磁场极性，对对应的霍尔传感器进行设定，然后利用8个霍尔传感器在对应的8组线圈铁芯内壁进行磁场检测，若霍尔传感器检测到的对应线圈的工作磁场与图2中标注的磁场一致，霍尔传感器输出高电平的显示控制信号，对应的发光二极管发光，此时可以判断1、2、7、8、3、4、9和10号线圈不存在相序接反或者盘线盘错的情况；若部分霍尔传感器输出低电平的显示控制信号，对应的发光二极管不发光，则可以判断不发光的发光二极管对应的线圈存在相序接反或者盘线盘错的情况。

图3为本公开实施例提供的待测电机定子线圈在另一种相位接入方式下的示意图。结合图1和图3，对待测电机的AC相进行测试，给AC相加一个2V/5A的电压，将电源的正极+连接至待测电机的A相，电源的负极-连接至待测电机的C相，此时根据安培定则，得出对应AC相的8组线圈的磁场极性，即得出1、2、7、8、5、6、11和12号线圈的磁场极性，对对应的霍尔传感器进行设定，然后利用8个霍尔传感器在对应的8组线圈铁芯内壁进行磁场检测，若霍尔传感器检测到的对应线圈的工作磁场与图3中标注的磁场一致，霍尔传感器输出高电平的显示控制信号，对应的发光二极管发光，此时可以判断1、2、7、8、5、6、11和12号线圈不存在相序接反或者盘线盘错的情况；若部分霍尔传感器输出低电平的显示控制信号，对应的发光二极管不发光，则可以判断不发光的发光二极管对应的线圈存在相序接反或者盘线盘错的情况。

目前，当定子盘线时如出现ABC相序接反的错误，综测仪显示正常，无法拦截该错误，从而会导致装配整机之后出现电机正转反转不良。当定子盘线时出现盘线盘错时，综测仪无法拦截，装配电机组件会出现电机不转不良，导致定子报废。目前，可以通过指南针来检查异步电动机的各相磁场，对比判断是否存在线圈连接错误，并确认各线圈连接与线圈嵌入方向是否正确的技术方案。也可以配置了一个检测线圈，通过向待检测的定子绕组中通入工作电流，再以检测线圈分别进入定子绕组各个检测位置，切割定子3绕组各个检测位置的磁感线，获取检测线圈在各个检测位置的感应电动势数据，最后与标准样本数据相对比判断。但是，上述技术方案检测效率低，只能总体判断各极相组之间的极性，不能发现诸如同一极相组相邻线圈接线或同一线圈内个别极组嵌反的问题，且部分方案操作费时，对比判断不够直观，使用时对测试人员的操作要求较高，不易上手。

本公开实施例利用磁旋测试治具实现了对待测电机的定子3绕组线圈是否存在相序接反或者盘线错误不良问题的全面检测，有效避免了出现装配后电机不转不良或正反转不良的问题，通过给待测电机的定子3绕组线圈通一个固定方向的电流，利用磁场检测部件5验证对应线圈31的工作磁场是否与预设工作磁场一致，并通过显示部件6对磁场检测结果进行直观的显示以辅助判断具体哪个线圈31存在相序接反或者盘线错误的不良问题，操作简便，显示直观，容易上手。

需要说明的是，上述实施例仅以待测电机为BLDC为例进行说明，本公开实施例对待测电机的类型不作具体限定，可以根据不同类型电机的定子大小调整待测定子容置部的尺寸，根据不同类型电机的定子极数调整霍尔传感器的数量。

可选地，如图1所示，可以设置箱体1设置有待测定子容置部2的表面形成有多个透光孔7，透光孔7与显示部件6一一对应设置。示例性地，显示部件6可以为发光二极管，透光孔7的数量与定子3中线圈的数量以及显示部件6的数量相同，可以在每个透光孔7中设置一个发光二极管，以利用发光二极管显示对应的线圈31的接线信息，即利用发光二极管指示对应的线圈31是否存在相序接反或者盘线错误的情况。示例性地，可以设置多个透光孔7沿一条直线排列。由此，通过发光二极管的明灭可直观地判断哪一个线圈接线盘线发生不良，操作简便，显示直观，测试人员容易上手。

可选地，结合图1至图3，可以设置对应待测电机的相同相位的显示部件6相邻设置。具体地，1、2、7和8号线圈对应待测电机的A相位，3、4、9和10号线圈对应待测电机的B相位，5、6、11和12号线圈对应待测电机的C相位，则可以设置对应1、2、7和8号线圈的4个显示部件6相邻设置，对应3、4、9和10号线圈的4个显示部件6相邻设置，对应5、6、11和12号线圈的4个显示部件6相邻设置，且还可以设置显示部件6对应ABC相位的顺序排列，例如图1中从左至右的显示部件6对应的线圈的编号可以依次为1、2、7、8、3、4、9、10、5、6、11和12，方便测试人员观察对应的线圈是否存在相序接反或者盘线错误的情况。

可选地，如图1所示，可以设置待测定子容置部2的内壁上设置有第一结构8，定子3的外壁上设置有第二结构(图1中未示出)，第一结构8和第二结构中的一个为凸起结构，另一个为槽体结构，定子3插入待测定子容置部2后凸起结构位于槽体结构内以限位定子3，可以设置第一结构8为凸起结构，第二结构为槽体结构，或者设置第一结构8为槽体结构，第二结构为凸起结构。示例性地，图1以第一结构8为槽体结构，第二结构为凸起结构为例，定子3插入待测定子容置部2后定子3外壁上的凸起结构位于待测定子容置部2内壁上的槽体结构内以限位定子3。示例性地，可以设置第一结构8的延伸方向与待测定子容置部2的延伸方向一致，利用待测定子容置部2内壁上的槽体结构与定子3外壁上的凸起结构配合以对定子3进行限位，可保证定子3放入待测定子容置部2时不会放歪，且可以使得定子3的线圈31与磁场检测部件5，例如霍尔传感器一一对应设置，无需调整定子3的放置角度，可提高测试效率，保证测试的准确度。

示例性地，也可以设置定子3的线圈31对应设置有第一标记，磁场检测部件5对应设置有第二标记，定子3插入待测定子容置部2后第一标记和第二标记一一对应设置。具体地，第一标记例如可以为在定子3的外壁上对定子3的线圈31进行的依次编号标记，第二标记例如可以为在待测定子容置部2的内壁上或者在测试轴的外壁上对磁场检测部件5，例如霍尔传感器进行的依次编号标记，将定子3插入待测定子容置部2时，可以通过对齐线圈31的编号与磁场检测部件5的编号以确定定子3的放置位置，使得定子3的线圈31与磁场检测部件5，例如霍尔传感器一一对应设置，无需调整定子3的放置角度。另外也可以配合在待测定子容置部2的内壁以及定子3的外壁上设置用于卡位的凸起结构和槽体结构，可保证定子3放入待测定子容置部2时不会放歪，可提高测试效率，保证测试的准确度。示例性地，如图1所示，可以设置沿待测定子容置部2的延伸方向，待测定子容置部2的高度小于定子3的高度，即设置定子3放置于待测定子容置部2后，定子3凸出于待测定子容置部2设置，以便于定子3相对于待测定子容置部2的安装与拆卸。

图4为本公开实施例提供的一种测试轴的结构示意图。结合图1至图4，可以设置测试轴4上形成有多个第二槽体9，第二槽体9的延伸方向与测试轴4的延伸方向相同，第二槽体9与磁场检测部件5一一对应设置，磁场检测部件5位于对应的第二槽体9内。具体地，测试轴4上开设有与待测定子3中的线圈分布位置相对应的第二槽体9，磁场检测部件5例如可以为霍尔传感器，霍尔传感器则可以对应预埋在测试轴4上形成的第二槽体9内。

图5为本公开实施例提供的一种箱体以及待测定子容置部的结构示意图。结合图1至图5，箱体1可以设置有待测定子容置部2的表面形成有通孔10，待测定子容置部2环绕通孔10，测试轴4经由通孔10向外伸出至待测定子容置部2环绕形成的空间内，测试轴4对应通孔10位置截面的圆心与通孔10的圆心重叠设置，即测试轴4与通孔10同心设置，以提高测试轴4相对于箱体1的稳定性以及测试的准确性。具体地，测试轴4穿过箱体1表面形成的通孔10，测试轴4的一部分位于待测定子容置部2形成的空间内，以对待测定子3中线圈的工作磁场进行检测，测试轴4的一部分位于箱体1内，测试轴4上的磁场检测部件5，即霍尔传感器在箱体1内进行实现相应电连接关系的走线。

可选地，磁旋测试治具还可以包括相位切换电路，图6为本公开实施例提供的一种相位切换电路的电路结构示意图。结合图1至图6，可以设置相位切换电路11位于箱体1内，相位切换电路11用于切换电机的测试相位，箱体1内部空间可用于电路板的安装以及走线，相位切换电路11即可利用电路板以及相应的走线关系实现，例如可以将实现相位切换电路11的电路板通过螺钉固定于箱体1底部。

如图6所示，可以设置电机的第一相，例如A相与电源正极+连接，相位切换电路11包括控制芯片N1、第一开关Q1和第一继电器K1以及第二开关Q2和第二继电器K2，控制芯片N1用于间隔设定时间切换其第一控制端D11和第二控制端D12输出的电信号的电平高低，第一控制端D11和第二控制端D12在相同时刻输出的电信号的电平高低相反。第一开关Q1的控制端与第一控制端D11连接，第一开关Q1的第一端接地，第一开关Q1的第二端与第一继电器K1的控制端连接，第一继电器K1的第一端与电源负极-连接，第一继电器K1的第二端与电机的第二相，例如C相连接。第二开关Q2的控制端与第二控制端D12连接，第二开关Q2的第一端接地，第二开关Q2的第二端与第二继电器K2的控制端连接，第二继电器K2的第一端与电源负极-连接，第二继电器K2的第二端与电机的第三相，例如B相连接。

具体地，可以设置第一控制端D11先输出高电平，第二控制端D12先输出低电平，第一开关Q1和第二开关Q2例如可以为NMOS管或者NPN型三极管，第一开关Q1导通，第一继电器K1工作，即第一继电器K1的第一端和第二端连通，第二开关Q2关断，第二继电器K2不工作，即第二继电器K2的第一端和第二端断开，2V/10A的电压施加到AC相上，A相为正电压，C相为负电压，AC相工作。

示例性地，控制芯片N1例如可以为可编程单片机，控制芯片N1可间隔设定时间切换其第一控制端D11和第二控制端D12输出的电信号的电平高低，例如经过上述第一控制端D11输出高电平，第二控制端D12输出低电平的过程设定时间，例如2s后，控制芯片N1控制切换第一控制端D11输出低电平，第二控制端D12输出高电平，第二开关Q2导通，第二继电器K2工作，即第二继电器K2的第一端和第二端连通，第一开关Q1关断，第一继电器K1不工作，即第一继电器K1的第一端和第二端断开，2V/10A的电压施加到AB相上，A相为正电压，B相为负电压，AB相工作。

由此，每间隔设定时间，切换至AC相工作或者切换至AB相工作，即利用相位切换电路11可间隔设定时间切换电机的测试相位，即间隔设定时间自动切换相序电压，达到自动测试AB相以及AC相的目的，无需测试人员手动切换，简化了测试过程。示例性地，相位切换电路11需要接入5V的外部电源，可以在箱体1的背板上开设走线孔，以箱体1外部电源引入箱体1内部，进而为相位切换电路11提供相应的外部电源电压。

示例性地，如图6所示，还可以设置相位切换电路11包括切换开关K0和控制芯片N1，控制芯片N1用于根据切换开关K0的被按压状态切换其第一控制端D11和第二控制端D12输出的电信号的电平高低，即控制芯片N1除了可以间隔设定时间自动切换其第一控制端D11和第二控制端D12输出的电信号的电平高低，还可以通过手动按压切换开关K0控制控制芯片N1切换其第一控制端D11和第二控制端D12输出的电信号的电平高低，例如可以设置每按压切换开关K0一次，控制芯片N1切换一次其第一控制端D11和第二控制端D12输出的电信号的电平高低，后续实现相位切换的工作原理如上述实施例所述，这里不再赘述。

示例性地，如图6所示，要实现相位的切换，也可以不设置控制芯片N1，而是直接使用类似单刀双掷开关的开关部件，通过手动切换单刀双掷开关的连通端，实现切换第一开关Q1的控制端和第二开关Q2的控制端输入的电信号的电平高低，例如可以手动控制使得单刀双掷开关连通一端以使得第一开关Q1的控制端接收到高电平电信号，第二开关Q2的控制端接收到低电平电信号，手动控制使得单刀双掷开关连通另一端以使得第一开关Q1的控制端接收到低电平电信号，第二开关Q2的控制端接收到高电平电信号，后续实现相位切换的工作原理如上述实施例所述，这里不再赘述。

可选地，在测试的过程中也可以不进行相位的切换，而是同时给三相供电，例如可以将A、B两相皆连正极且C连负极，或者将A、C两相皆连正极且B连负极，或者将A、B两相皆连负极且C连正极等方式，进而同时实现对所有线圈的检测，即可以一次性判断是否有接错的线圈。另外，线圈产生的磁场方向会因为电流方向的改变而改变，采用该方法同样需要根据如图2和图3所示的定子绕线图以及安培定律重新确定各线圈所激发的磁场方向，参照上述实施例，同样可以根据1、2、3、4、7、8、9和10号线圈对应的发光二极管的发光情况判断定子盘线是否出现AB相序接反的错误，可以根据1、2、7、8、5、6、11和12号线圈对应的发光二极管的发光情况判断定子盘线是否出现AC相序接反的错误，具体判断过程这里不再赘述。

可选地，磁旋测试治具还可以包括位于箱体1内的多个显示控制电路，图7为本公开实施例提供的一种显示控制电路的电路结构示意图。结合图1至图7，显示控制电路12与显示部件6一一对应设置，显示部件6例如可以为发光二极管D1，即显示控制电路12与发光二极管D1一一对应设置，显示控制电路12用于根据对应的显示控制信号控制对应的显示部件6的显示状态。具体地，箱体1内部空间可用于电路板的安装以及走线，显示控制电路12即可利用电路板以及相应的走线关系实现，例如可以将实现显示控制电路12的电路板通过螺钉固定于箱体1设置有透光孔7的一侧，即固定于箱体1的前盖板上。

如图7所示，显示控制电路12包括第三开关Q3，第三开关Q3的控制端与对应的磁场检测部件5的显示控制输出端out连接，第三开关Q3的第一端接地，第三开关Q3的第二端与对应的显示部件6的阴极连接，显示部件6的阳极接入正电源信号。具体地，在对待测电机的定子3进行测试之前，将霍尔传感器对应定子3中的线圈设置，根据定子3接入相位以及定子3的线圈的设置位置，例如可以通过设置霍尔传感器的位置使得霍尔传感器正面受到对应的定子3线圈的N极磁力线穿透，以霍尔传感器的正面受到定子3线圈的N极磁力线穿透时，其输出的显示控制信号为高电平信号，当霍尔传感器的正面受到定子3线圈的S极磁力线穿透时，其输出的显示控制信号为低电平信号为例，若线圈不存在相序接反或者盘线错误的情况，则对应的磁场检测部件5，即霍尔传感器通过显示控制输出端out输出高电平，对应的第三开关Q3导通，对应的发光二极管D1两端产生电压差而发光；若线圈存在相序接反或者盘线盘错的情况，则对应的霍尔传感器通过显示控制输出端out输出低电平，对应的第三开关Q3关断，对应的发光二极管D1不发光。由此，可以根据发光二极管D1是否发光，判断定子3中对应的线圈是否存在相序接反或者盘线盘错的情况。

示例性地，如图6所示，相位切换电路11需要接入5V的外部电源，如图7所示，磁场检测部件5，例如霍尔传感器以及显示控制电路12均需要接入5V的外部电源，可以设置相位切换电路11、磁场检测部件5以及显示控制电路12共用5V的外部电源，即三者均连接至先相同的5V外部电源，当然三者也可以独立供电。本公开实施例设置待测定子容置部用于容置待测电机的定子，测试轴位于待测定子容置部环绕形成的空间内，磁场检测部件与定子的线圈一一对应设置，显示部件与磁场检测部件一一对应设置，磁场检测部件用于检测对应的线圈的工作磁场并根据检测到的工作磁场生成显示控制信号，显示部件根据显示控制信号显示对应的线圈的接线信息。由此，利用磁旋测试治具实现了对待测电机的定子绕组线圈是否存在相序接反或者盘线错误不良问题的全面检测，有效避免了出现装配后电机不转不良或正反转不良的问题，通过给待测电机的定子绕组线圈通一个固定方向的电流，利用磁场检测部件验证对应线圈的工作磁场是否与预设工作磁场一致，并通过显示部件对磁场检测结果进行直观的显示以辅助判断具体哪个线圈存在相序接反或者盘线错误的不良问题，操作简便，显示直观，容易上手。

需要说明的是，在本文中，诸如“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。

以上仅是本公开的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本公开。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本公开的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本公开将不会被限制于本文的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (11)

1.一种磁旋测试治具，其特征在于，包括：

箱体以及设置于所述箱体上的待测定子容置部，所述待测定子容置部用于容置待测电机的定子；

测试轴以及均匀设置于所述测试轴表面的多个磁场检测部件，所述测试轴位于所述待测定子容置部环绕形成的空间内，所述磁场检测部件与所述定子的线圈一一对应设置；

多个显示部件，所述显示部件与所述磁场检测部件一一对应设置，所述磁场检测部件用于检测对应的所述线圈的工作磁场并根据检测到的所述工作磁场生成显示控制信号，所述显示部件根据所述显示控制信号显示对应的所述线圈的接线信息。

2.根据权利要求1所述的磁旋测试治具，其特征在于，对应所述待测电机的相同相位的所述显示部件相邻设置。

3.根据权利要求1所述的磁旋测试治具，其特征在于，所述待测定子容置部的内壁上设置有第一结构，所述定子的外壁上设置有第二结构，所述第一结构和所述第二结构中的一个为凸起结构，另一个为槽体结构，所述定子插入所述待测定子容置部后所述凸起结构位于所述槽体结构内以限位所述定子；或者，

所述线圈对应设置有第一标记，所述磁场检测部件对应设置有第二标记，所述定子插入所述待测定子容置部后所述第一标记和所述第二标记一一对应设置。

4.根据权利要求1所述的磁旋测试治具，其特征在于，沿所述待测定子容置部的延伸方向，所述待测定子容置部的高度小于所述定子的高度。

5.根据权利要求1所述的磁旋测试治具，其特征在于，所述测试轴上形成有多个第二槽体，所述第二槽体的延伸方向与所述测试轴的延伸方向相同，所述第二槽体与所述磁场检测部件一一对应设置，所述磁场检测部件位于对应的所述第二槽体内。

6.根据权利要求1所述的磁旋测试治具，其特征在于，所述箱体设置有所述待测定子容置部的表面形成有通孔，所述待测定子容置部环绕所述通孔，所述测试轴经由所述通孔向外伸出至所述待测定子容置部环绕形成的空间内，所述测试轴对应所述通孔位置截面的圆心与所述通孔的圆心重叠设置。

7.根据权利要求1所述的磁旋测试治具，其特征在于，还包括：

位于所述箱体内的相位切换电路，所述相位切换电路用于切换所述电机的测试相位。

8.根据权利要求7所述的磁旋测试治具，其特征在于，所述相位切换电路包括控制芯片，所述控制芯片用于间隔设定时间切换其第一控制端和第二控制端输出的电信号的电平高低；其中，所述第一控制端和所述第二控制端在相同时刻输出的电信号的电平高低相反；或者，

所述相位切换电路包括切换开关和控制芯片，所述控制芯片用于根据所述切换开关的被按压状态切换其第一控制端和第二控制端输出的电信号的电平高低；其中，所述第一控制端和所述第二控制端在相同时刻输出的电信号的电平高低相反。

9.根据权利要求8所述的磁旋测试治具，其特征在于，所述电机的第一相与电源正极连接，所述相位切换电路还包括：

第一开关和第一继电器，所述第一开关的控制端与所述第一控制端连接，所述第一开关的第一端接地，所述第一开关的第二端与所述第一继电器的控制端连接，所述第一继电器的第一端与电源负极连接，所述第一继电器的第二端与所述电机的第二相连接；

第二开关和第二继电器，所述第二开关的控制端与所述第二控制端连接，所述第二开关的第一端接地，所述第二开关的第二端与所述第二继电器的控制端连接，所述第二继电器的第一端与电源负极连接，所述第二继电器的第二端与所述电机的第三相连接。

10.根据权利要求1所述的磁旋测试治具，其特征在于，还包括：

位于所述箱体内的多个显示控制电路，所述显示控制电路与所述显示部件一一对应设置，所述显示控制电路用于根据对应的所述显示控制信号控制对应的所述显示部件的显示状态。

11.根据权利要求10所述的磁旋测试治具，其特征在于，所述显示控制电路包括：

第三开关，所述第三开关的控制端与对应的所述磁场检测部件的显示控制输出端连接，所述第三开关的第一端接地，所述第三开关的第二端与对应的所述显示部件的阴极连接，所述显示部件的阳极接入正电源信号。

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