CN214473661U - 一种电子类元器件用测试设备 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种电子类元器件用测试设备，包括本体，本体的右侧设置有连接线，本体右侧的顶部固定连接有限位块，限位块的底部开设有限位槽，连接线的顶部固定连接有限位杆，限位杆的顶部延伸至限位槽的内腔，限位块的右侧开设有活动槽，活动槽的内腔设置有与限位杆配合使用的固定机构。通过设置本体、连接线、限位块、限位槽、限位杆、活动槽、固定机构、固定块、固定杆、定位杆、弹簧、活动机构、按块、活动板、活动杆、活动孔、固定孔、固定槽和固定套的配合使用，解决了现有的电子类元器件用测试设备大多数没有对连接线的防掉落结构，连接线在外力的影响下会容易脱落，不方便使用者使用的问题。

Description

一种电子类元器件用测试设备

技术领域

本实用新型属于电子元器件技术领域，尤其涉及一种电子类元器件用测试设备。

背景技术

电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用；常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，是电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称，常见的有二极管等。

在对电子元器件加工的过程中需要使用到电子类元器件用测试设备对其进行测试，而现有的电子类元器件用测试设备大多数没有对连接线的防掉落结构，连接线在外力的影响下会容易脱落，不方便使用者使用，降低了该装置的实用性。

实用新型内容

针对现有技术存在的问题，本实用新型提供了一种电子类元器件用测试设备，具备防止连接线掉落的优点，解决了现有的电子类元器件用测试设备大多数没有对连接线的防掉落结构，连接线在外力的影响下会容易脱落，不方便使用者使用的问题。

本实用新型是这样实现的，一种电子类元器件用测试设备，包括本体，所述本体的右侧设置有连接线，所述本体右侧的顶部固定连接有限位块，所述限位块的底部开设有限位槽，所述连接线的顶部固定连接有限位杆，所述限位杆的顶部延伸至限位槽的内腔，所述限位块的右侧开设有活动槽，所述活动槽的内腔设置有与限位杆配合使用的固定机构，所述活动槽的右侧设置有与固定机构配合使用的活动机构，所述活动槽内壁的右侧开设有与活动机构配合使用的活动孔，所述活动槽的底部开设有与固定机构配合使用的固定孔，所述限位杆的表面开设有与固定机构配合使用的固定槽，所述活动槽内壁的顶部设置有与固定机构配合使用的固定套。

作为本实用新型优选的，所述固定机构包括固定块，所述固定块的底部延伸至固定槽的内腔，所述固定块的顶部固定连接有与活动机构配合使用的固定杆，所述固定杆的右侧穿过固定套并固定连接有定位杆，所述固定杆的顶部固定连接有弹簧。

作为本实用新型优选的，所述活动机构包括按块，所述按块的左侧穿过活动孔并固定连接有活动板，所述活动板的左侧设置有与固定杆配合使用的活动杆。

作为本实用新型优选的，所述限位杆靠近限位槽内壁的一侧与限位槽的内壁接触，所述固定套的顶部与活动槽的内壁固定连接。

作为本实用新型优选的，所述固定块靠近固定槽内壁的一侧与固定槽的内壁接触，所述弹簧的顶部与活动槽的内壁固定连接。

作为本实用新型优选的，所述按块靠近活动孔内壁的一侧与活动孔的内壁接触，所述活动杆通过转轴与固定杆和活动槽的内壁活动连接。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果如下：

1、本实用新型通过设置本体、连接线、限位块、限位槽、限位杆、活动槽、固定机构、固定块、固定杆、定位杆、弹簧、活动机构、按块、活动板、活动杆、活动孔、固定孔、固定槽和固定套的配合使用，解决了现有的电子类元器件用测试设备大多数没有对连接线的防掉落结构，连接线在外力的影响下会容易脱落，不方便使用者使用的问题，该电子类元器件用测试设备，具备防止连接线掉落的优点，值得推广。

2、本实用新型通过设置固定机构，可以对限位杆的位置进行固定和限位，防止限位杆移动影响对连接线的定位能力。

3、本实用新型通过设置活动机构，可以对固定杆的位置进行调节，方便使用者使用。

4、本实用新型通过设置限位杆和限位槽，可以对连接线的位置进行限位。

5、本实用新型通过设置固定块和固定槽，可以对限位杆的位置进行固定和限位，通过设置弹簧，可以使固定杆复位。

6、本实用新型通过设置按块，可以对活动板的位置进行调节，通过设置活动杆，可以对固定杆的位置进行调节。

附图说明

图1是本实用新型实施例提供的结构示意图；

图2是本实用新型实施例提供局部结构的前视剖视图；

图3是本实用新型实施例提供图2中A处的局部放大图。

图中：1、本体；2、连接线；3、限位块；4、限位槽；5、限位杆；6、活动槽；7、固定机构；701、固定块；702、固定杆；703、定位杆；704、弹簧；8、活动机构；801、按块；802、活动板；803、活动杆；9、活动孔；10、固定孔；11、固定槽；12、固定套。

具体实施方式

为能进一步了解本实用新型的发明内容、特点及功效，兹例举以下实施例，并配合附图详细说明如下。

下面结合附图对本实用新型的结构作详细的描述。

如图1至图3所示，本实用新型实施例提供的一种电子类元器件用测试设备，包括本体1，本体1的右侧设置有连接线2，本体1右侧的顶部固定连接有限位块3，限位块3的底部开设有限位槽4，连接线2的顶部固定连接有限位杆5，限位杆5的顶部延伸至限位槽4的内腔，限位块3的右侧开设有活动槽6，活动槽6的内腔设置有与限位杆5配合使用的固定机构7，活动槽6的右侧设置有与固定机构7配合使用的活动机构8，活动槽6内壁的右侧开设有与活动机构8配合使用的活动孔9，活动槽6的底部开设有与固定机构7配合使用的固定孔10，限位杆5的表面开设有与固定机构7配合使用的固定槽11，活动槽6内壁的顶部设置有与固定机构7配合使用的固定套12。

参考图3，固定机构7包括固定块701，固定块701的底部延伸至固定槽11的内腔，固定块701的顶部固定连接有与活动机构8配合使用的固定杆702，固定杆702的右侧穿过固定套12并固定连接有定位杆703，固定杆702的顶部固定连接有弹簧704。

采用上述方案：通过设置固定机构7，可以对限位杆5的位置进行固定和限位，防止限位杆5移动影响对连接线2的定位能力。

参考图3，活动机构8包括按块801，按块801的左侧穿过活动孔9并固定连接有活动板802，活动板802的左侧设置有与固定杆702配合使用的活动杆803。

采用上述方案：通过设置活动机构8，可以对固定杆702的位置进行调节，方便使用者使用。

参考图2和图3，限位杆5靠近限位槽4内壁的一侧与限位槽4的内壁接触，固定套12的顶部与活动槽6的内壁固定连接。

采用上述方案：通过设置限位杆5和限位槽4，可以对连接线2的位置进行限位。

参考图3，固定块701靠近固定槽11内壁的一侧与固定槽11的内壁接触，弹簧704的顶部与活动槽6的内壁固定连接。

采用上述方案：通过设置固定块701和固定槽11，可以对限位杆5的位置进行固定和限位，通过设置弹簧704，可以使固定杆702复位。

参考图3，按块801靠近活动孔9内壁的一侧与活动孔9的内壁接触，活动杆803通过转轴与固定杆702和活动槽6的内壁活动连接。

采用上述方案：通过设置按块801，可以对活动板802的位置进行调节，通过设置活动杆803，可以对固定杆702的位置进行调节。

本实用新型的工作原理：

在使用时，使用者按动按块801，按块801带动活动板802移动，活动板802对活动杆803进行挤压，活动杆803带动固定杆702移动，固定杆702在固定套12的内腔滑动并对弹簧704进行挤压，固定杆702带动固定块701离开固定槽11的内腔，然后将连接线2从前侧插入本体1，连接线2移动时带动限位杆5从前侧进入限位槽4的内腔，然后松开按块801，弹簧704压缩后释放的力使固定杆702复位，固定杆702进入固定槽11的内腔，完成安装。

综上所述：该电子类元器件用测试设备，通过设置本体1、连接线2、限位块3、限位槽4、限位杆5、活动槽6、固定机构7、固定块701、固定杆702、定位杆703、弹簧704、活动机构8、按块801、活动板802、活动杆803、活动孔9、固定孔10、固定槽11和固定套12的配合使用，解决了现有的电子类元器件用测试设备大多数没有对连接线的防掉落结构，连接线在外力的影响下会容易脱落，不方便使用者使用的问题。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (6)

1.一种电子类元器件用测试设备，包括本体(1)，其特征在于：所述本体(1)的右侧设置有连接线(2)，所述本体(1)右侧的顶部固定连接有限位块(3)，所述限位块(3)的底部开设有限位槽(4)，所述连接线(2)的顶部固定连接有限位杆(5)，所述限位杆(5)的顶部延伸至限位槽(4)的内腔，所述限位块(3)的右侧开设有活动槽(6)，所述活动槽(6)的内腔设置有与限位杆(5)配合使用的固定机构(7)，所述活动槽(6)的右侧设置有与固定机构(7)配合使用的活动机构(8)，所述活动槽(6)内壁的右侧开设有与活动机构(8)配合使用的活动孔(9)，所述活动槽(6)的底部开设有与固定机构(7)配合使用的固定孔(10)，所述限位杆(5)的表面开设有与固定机构(7)配合使用的固定槽(11)，所述活动槽(6)内壁的顶部设置有与固定机构(7)配合使用的固定套(12)。

2.如权利要求1所述的一种电子类元器件用测试设备，其特征在于：所述固定机构(7)包括固定块(701)，所述固定块(701)的底部延伸至固定槽(11)的内腔，所述固定块(701)的顶部固定连接有与活动机构(8)配合使用的固定杆(702)，所述固定杆(702)的右侧穿过固定套(12)并固定连接有定位杆(703)，所述固定杆(702)的顶部固定连接有弹簧(704)。

3.如权利要求2所述的一种电子类元器件用测试设备，其特征在于：所述活动机构(8)包括按块(801)，所述按块(801)的左侧穿过活动孔(9)并固定连接有活动板(802)，所述活动板(802)的右侧设置有与固定杆(702)配合使用的活动杆(803)。

4.如权利要求1所述的一种电子类元器件用测试设备，其特征在于：所述限位杆(5)靠近限位槽(4)内壁的一侧与限位槽(4)的内壁接触，所述固定套(12)的顶部与活动槽(6)的内壁固定连接。

5.如权利要求2所述的一种电子类元器件用测试设备，其特征在于：所述固定块(701)靠近固定槽(11)内壁的一侧与固定槽(11)的内壁接触，所述弹簧(704)的顶部与活动槽(6)的内壁固定连接。

6.如权利要求3所述的一种电子类元器件用测试设备，其特征在于：所述按块(801)靠近活动孔(9)内壁的一侧与活动孔(9)的内壁接触，所述活动杆(803)通过转轴与固定杆(702)和活动槽(6)的内壁活动连接。

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