CN214375057U - 一种用于电器元件的温升测试装置 - Google Patents
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Abstract
本实用新型公开了一种用于电器元件的温升测试装置，包括箱体，所述箱体上端的一侧设置有操作面板.所述操作面板的一侧排列有数码晶体管，所述箱体下端的一侧固定安装有固定架，所述箱体的上表面排列有连接端，所述箱体与连接端通过插槽固定连接，所述插槽内壁的两侧均设置有固定槽，所述插槽的内部设置有方形槽，所述方形槽内壁的两端均排列有连接销，所述连接端的一端设置有延伸头，所述延伸头的两侧均设置有卡销，所述延伸头的内部设置有方形销，所述方形销与延伸头之间设置有限位槽，所述方形销的上表面均排列有连接孔。本实用新型使装置的接线方式更加简便，使用更加快捷。
Description
技术领域
本实用新型涉及温升测试技术领域，具体为一种用于电器元件的温升测试装置。
背景技术
在现有温升测试装置中，待测器件的温升测试通常是采用固定加载电流，并且手工卡表来记录待测器件的温升情况，然而，如此温度与时间对应的不准确是显而易见的，更重要的是单次只能测试一组温升记录，即测试效率非常的低下。
但是，现有的温升测试装置，在在使用时，连接端口难以与装置进行连接操作，并且使用不够方便，难以进行固定；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种用于电器元件的温升测试装置。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种用于电器元件的温升测试装置，以解决上述背景技术中提出的温升测试装置，在在使用时，连接端口难以与装置进行连接操作，并且使用不够方便，难以进行固定等问题。
7.为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种用于电器元件的温升测试装置，包括箱体，所述箱体上端的一侧设置有操作面板. 所述操作面板的一侧排列有数码晶体管，所述箱体下端的一侧固定安装有固定架，所述箱体的上表面排列有连接端，所述箱体与连接端通过插槽固定连接，所述插槽内壁的两侧均设置有固定槽，所述插槽的内部设置有方形槽，所述方形槽内壁的两端均排列有连接销，所述连接端的一端设置有延伸头，所述延伸头的两侧均设置有卡销，所述延伸头的内部设置有方形销，所述方形销与延伸头之间设置有限位槽，所述方形销的上表面均排列有连接孔。
优选的，所述连接端的上表面均设置有两个连接线，所述连接线与箱体的一侧之间通过固定架连接。
优选的，所述连接孔的内部设置有导电圈，所述导电圈与连接销电性连接。
优选的，所述连接端与插槽之间通过卡销与固定槽的配合连接，所述卡销与固定槽的卡槽固定。
优选的，所述方形槽与限位槽通过插接连接，所述延伸头与插槽通过插接连接。
优选的，所述限位槽分为两组，每组所述限位槽均与其中一个连接线电性连接。
与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：
1、本实用新型通过将连接端的下表面与插槽的上表面对应，将连接端插入插槽的内部，同时使延伸头延伸至插槽的内部，方形销延伸至方形槽的内部，以及连接销插入限位槽的内部，形成导电状态，通过卡销卡入固定槽的内部，使连接端与插槽形成固定状态，通过此机构，能够实现装置的方便连接功能，并且操作方便使用简单；
2、本实用新型通过延伸头与方形槽和方形销的配合，均采用层层叠加的结构，使内部发生事故后，减少事故蔓延，从而起到保护的功能。
附图说明
图1为本实用新型整体的结构示意图；
图2为本实用新型连接销结构示意图；
图3为本实用新型连接端结构示意图。
图中：1、箱体；2、操作面板；3、数码晶体管；4、固定架；5、连接端；6、插槽；7、卡销；8、固定槽；9、方形槽；10、连接销；11、延伸头；12、方形销；13、限位槽；14、连接孔。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。
请参阅图1至图3，本实用新型提供的一种实施例：一种用于电器元件的温升测试装置，包括箱体1，箱体1上端的一侧设置有操作面板2. 操作面板2的一侧排列有数码晶体管3，箱体1下端的一侧固定安装有固定架4，通过此机构，能够实现装置的方便固定的功能，箱体1的上表面排列有连接端5，箱体1与连接端5通过插槽6固定连接，插槽6内壁的两侧均设置有固定槽8，插槽6的内部设置有方形槽9，方形槽9内壁的两端均排列有连接销10，连接端5的一端设置有延伸头11，延伸头11 的两侧均设置有卡销7，延伸头11的内部设置有方形销12，方形销12 与延伸头11之间设置有限位槽13，通过此机构，能够实现装置的电性传输的功能，方形销12的上表面均排列有连接孔14。
进一步，连接端5的上表面均设置有两个连接线，连接线与箱体1 的一侧之间通过固定架4连接，通过此机构，能够实现装置的方便固定的功能。
进一步，连接孔14的内部设置有导电圈，导电圈与连接销10电性连接，通过此机构，能够实现装置的方便固定的功能。
进一步，连接端5与插槽6之间通过卡销7与固定槽8的配合连接，卡销7与固定槽8的卡槽固定，通过此机构，能够实现装置的快速安装的功能。
进一步，方形槽9与限位槽13通过插接连接，延伸头11与插槽6 通过插接连接，通过此机构，能够实现装置的方便连接功能。
进一步，限位槽13分为两组，每组限位槽13均与其中一个连接线电性连接，通过此机构，能够实现装置的电性传输的功能。
工作原理：首先，在安装连接端5时，将连接端5的下表面与插槽6 的上表面对应，将连接端5插入插槽6的内部，同时使延伸头11延伸至插槽6的内部，方形销12延伸至方形槽9的内部，以及连接销10插入限位槽13的内部，形成导电状态，通过卡销7卡入固定槽8的内部，使连接端5与插槽6形成固定状态，通过此机构，能够实现装置的方便连接功能，并且操作方便使用简单，通过延伸头11与方形槽9和方形销12的配合，均采用层层叠加的结构，使内部发生事故后，减少事故蔓延，从而起到保护的功能。
对于本领域技术人员而言，显然本实用新型不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本实用新型的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本实用新型。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本实用新型的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本实用新型内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。
Claims (6)
1.一种用于电器元件的温升测试装置，包括箱体(1)，其特征在于：所述箱体(1)上端的一侧设置有操作面板(2).所述操作面板(2)的一侧排列有数码晶体管(3)，所述箱体(1)下端的一侧固定安装有固定架(4)，所述箱体(1)的上表面排列有连接端(5)，所述箱体(1)与连接端(5)通过插槽(6)固定连接，所述插槽(6)内壁的两侧均设置有固定槽(8)，所述插槽(6)的内部设置有方形槽(9)，所述方形槽(9)内壁的两端均排列有连接销(10)，所述连接端(5)的一端设置有延伸头(11)，所述延伸头(11)的两侧均设置有卡销(7)，所述延伸头(11)的内部设置有方形销(12)，所述方形销(12)与延伸头(11)之间设置有限位槽(13)，所述方形销(12)的上表面均排列有连接孔(14)。
2.根据权利要求1所述的一种用于电器元件的温升测试装置，其特征在于：所述连接端(5)的上表面均设置有两个连接线，所述连接线与箱体(1)的一侧之间通过固定架(4)连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于电器元件的温升测试装置，其特征在于：所述连接孔(14)的内部设置有导电圈，所述导电圈与连接销(10)电性连接。
4.根据权利要求1所述的一种用于电器元件的温升测试装置，其特征在于：所述连接端(5)与插槽(6)之间通过卡销(7)与固定槽(8)的配合连接，所述卡销(7)与固定槽(8)的卡槽固定。
5.根据权利要求1所述的一种用于电器元件的温升测试装置，其特征在于：所述方形槽(9)与限位槽(13)通过插接连接，所述延伸头(11)与插槽(6)通过插接连接。
6.根据权利要求2所述的一种用于电器元件的温升测试装置，其特征在于：所述限位槽(13)分为两组，每组所述限位槽(13)均与其中一个连接线电性连接。
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