CN214374878U - 一种光电耦合器测试座及测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种光电耦合器测试座及测试装置，所述光电耦合器测试座包括：底座，设置有导轨；基座组件，包括第一基座、第二基座和第三基座，所述第一基座和所述第三基座滑动设置在所述导轨上；接口组件，包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片、第五测试片和第六测试片。通过滑动第一基座，使第一基座与第二基座之间的间距与光电耦合器的引脚之间的间距相等，通过滑动第三基座，使第三基座与第二基座之间的间距与光电耦合器的引脚之间的间距相等；接口组件能够连接4脚光电耦合器、5脚光电耦合器和6脚光电耦合器；能够测试不同种类的光电耦合器，相对于定制对应的测试座来测试不同种类的光电耦合器，能够降低成本。

Description

一种光电耦合器测试座及测试装置

技术领域

本实用新型涉及测试设备技术领域，特别涉及一种光电耦合器测试座及测试装置。

背景技术

光电耦合器是以光为媒介来传输电信号的器件，通常把发光器与受光器封装在同一管壳内。当输入端加电信号时发光器发出光线，受光器接受光线之后就产生光电流，从输出端流出，从而实现了“电—光—电”转换。光电耦合器具有体积小、寿命长、无触点和抗干扰能力强的优点，光电耦合器在数字电路上获得广泛的应用。

目前，光电耦合器的种类越来越多，不同种类的光电耦合器的引脚数量不同，而且引脚之间的间距也不同，需要定制对应的测试座来测试不同种类的光电耦合器，导致成本的增加。

实用新型内容

本实用新型的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种光电耦合器测试座及测试装置，能够测试不同种类的光电耦合器，从而降低成本。

本实用新型解决其技术问题的解决方案是：

一种光电耦合器测试座，包括：底座，设置有导轨，所述导轨的长度方向沿Y轴方向设置；基座组件，包括第一基座、第二基座和第三基座，所述第一基座和所述第三基座滑动设置在所述导轨上，所述第二基座固定在所述导轨上，所述第一基座、所述第二基座和所述第三基座沿Y轴方向依次排列，所述第一基座、所述第二基座和所述第三基座的长度方向均沿X轴方向设置；接口组件，用于连接光电耦合器，所述接口组件包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片、第五测试片和第六测试片，所述第一测试片和所述第二测试片分别设置于所述第一基座的两端，所述第三测试片和所述第四测试片分别设置于所述第二基座的两端，所述第五测试片和所述第六测试片分别设置于所述第三基座的两端。

作为上述技术方案的进一步改进，还包括绝缘组件，所述绝缘组件包括第一绝缘块、第二绝缘块、第三绝缘块和第四绝缘块，所述第一绝缘块位于所述第一测试片和所述第三测试片之间，所述第二绝缘块位于所述第二测试片和所述第四测试片之间，所述第三绝缘块位于所述第三测试片和所述第五测试片之间，所述第四绝缘块位于所述第四测试片和所述第六测试片之间。

作为上述技术方案的进一步改进，所述第一绝缘块、所述第二绝缘块、所述第三绝缘块和所述第四绝缘块均设置在所述底座上。

作为上述技术方案的进一步改进，所述第一基座设置有用于阻止所述第一基座相对于所述导轨滑动的第一固定件，所述第三基座设置有用于阻止所述第三基座相对于所述导轨滑动的第二固定件。

作为上述技术方案的进一步改进，所述第一固定件和所述第二固定件为螺丝。

作为上述技术方案的进一步改进，所述导轨的上表面设置有刻度线。

作为上述技术方案的进一步改进，还包括驱动组件，所述驱动组件包括第一驱动件和第二驱动件，第一驱动件与所述第一基座连接，所述第一驱动件用于驱动所述第一基座远离或靠近所述第二基座，所述第二驱动件与所述第三基座连接，所述第二驱动件用于驱动所述第三基座远离或靠近所述第二基座。

作为上述技术方案的进一步改进，所述第一驱动件和第二驱动件均为伺服驱动器。

作为上述技术方案的进一步改进，所述第一测试片、所述第三测试片和所述第五测试片沿Y轴方向依次排列，所述第二测试片、所述第四测试片和所述第六测试片沿Y轴方向依次排列。

一种测试装置，包括：如上所述的光电耦合器测试座；测试模块，所述测试模块与所述光电耦合器测试座的接口组件电性连接，所述测试模块用于测试光电耦合器。

上述一种光电耦合器测试座及测试装置至少具有以下有益效果：

通过滑动第一基座，使第一基座与第二基座之间的间距与光电耦合器的引脚之间的间距相等，通过滑动第三基座，使第三基座与第二基座之间的间距与光电耦合器的引脚之间的间距相等，从而使接口组件与光电耦合器的引脚进行有效的连接；接口组件包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片、第五测试片和第六测试片，能够连接4脚光电耦合器、5脚光电耦合器和6脚光电耦合器；光电耦合器测试座能够测试不同种类的光电耦合器，相对于定制对应的测试座来测试不同种类的光电耦合器，能够降低成本。

附图说明

下面结合附图和实施例对实用新型进一步地说明；

图1为本实用新型光电耦合器测试座的结构示意图；

图2为本实用新型光电耦合器测试座的侧视示意图；

图3为本实用新型光电耦合器测试座的俯视示意图一；

图4为本实用新型光电耦合器测试座的俯视示意图二；

图5为本实用新型测试装置的系统框图。

具体实施方式

本部分将详细描述本实用新型的具体实施例，本实用新型之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本实用新型的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本实用新型保护范围的限制。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如上、下、前、后、左、右等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

在本实用新型的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。

本实用新型的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、电连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型的一些具体实施例中，如图1和2所示，一种光电耦合器测试座，包括：

底座100，设置有导轨110，导轨110的长度方向沿Y轴方向设置；

基座组件200，包括第一基座210、第二基座220和第三基座230，第一基座210和第三基座230滑动设置在导轨110上，第二基座220固定在导轨110上，第一基座210、第二基座220和第三基座230沿Y轴方向依次排列，第一基座210、第二基座220和第三基座230的长度方向均沿X轴方向设置；

接口组件300，用于连接光电耦合器700，接口组件300包括第一测试片310、第二测试片320、第三测试片330、第四测试片340、第五测试片350和第六测试片360，第一测试片310和第二测试片320分别设置于第一基座210的两端，第三测试片330和第四测试片340分别设置于第二基座220的两端，第五测试片350和第六测试片360分别设置于第三基座230的两端。

在上述实施例中，X轴方向为底座100的宽度方向，Y轴方向为底座100的长度方向；根据待测试的光电耦合器700的引脚之间的间距调节第一基座210和第三基座230的位置，通过滑动第一基座210，使第一基座210与第二基座220之间的间距与光电耦合器700的引脚之间的间距相等，通过滑动第三基座230，使第三基座230与第二基座220之间的间距与光电耦合器700的引脚之间的间距相等，从而使接口组件300与光电耦合器700的引脚进行有效的连接；接口组件300包括第一测试片310、第二测试片320、第三测试片330、第四测试片340、第五测试片350和第六测试片360，能够连接4脚光电耦合器700、5脚光电耦合器700和6脚光电耦合器700；测试4脚光电耦合器700时，需要将4脚光电耦合器700的4个引脚与第一测试片310、第二测试片320、第三测试片330和第四测试片340连接；测试5脚光电耦合器700时，需要将4脚光电耦合器700的4个引脚与第一测试片310、第二测试片320、第三测试片330、第四测试片340和第五测试片350连接；测试6脚光电耦合器700时，需要将4脚光电耦合器700的4个引脚与第一测试片310、第二测试片320、第三测试片330、第四测试片340、第五测试片350和第六测试片360连接；光电耦合器测试座能够测试不同种类的光电耦合器700，相对于定制对应的测试座来测试不同种类的光电耦合器700，能够降低成本。

在本实用新型的一些具体实施例中，如图2和3所示，还包括绝缘组件400，绝缘组件400包括第一绝缘块410、第二绝缘块420、第三绝缘块430和第四绝缘块440，第一绝缘块410位于第一测试片310和第三测试片330之间，第二绝缘块420位于第二测试片320和第四测试片340之间，第三绝缘块430位于第三测试片330和第五测试片350之间，第四绝缘块440位于第四测试片340和第六测试片360之间，通过本实施例，第一绝缘块410、第二绝缘块420、第三绝缘块430和第四绝缘块440能够防止接口组件300产生短路，避免造成测试座的损坏。

在本实用新型的一些具体实施例中，如图2和3所示，第一绝缘块410、第二绝缘块420、第三绝缘块430和第四绝缘块440均设置在底座100上，通过本实施例，第一绝缘块410、第二绝缘块420、第三绝缘块430和第四绝缘块440对光电耦合器700起到定位作用，防止光电耦合器700发生移动，能够保证工作的正常进行。

在本实用新型的一些具体实施例中，如图3所示，第一基座210设置有用于阻止第一基座210相对于导轨110滑动的第一固定件211，第三基座230设置有用于阻止第三基座230相对于导轨110滑动的第二固定件231，通过本实施例，第一基座210和第三基座230滑动到位后，利用第一固定件211固定第一基座210，利用第二固定件231固定第三基座230，能够保证工作的正常进行。

在本实用新型的一些具体实施例中，第一固定件211和第二固定件231为螺丝，通过本实施例，导轨110或者底座100上设置有与螺丝匹配的螺钉孔，螺丝的价格便宜，降低生产成本。

在本实用新型的一些具体实施例中，如图4所示，导轨110的上表面设置有刻度线111，通过本实施例，刻度线111能够提供准确的定位信息，能够保证工作的正常进行。

在本实用新型的一些具体实施例中，如图4所示，还包括驱动组件500，驱动组件500包括第一驱动件510和第二驱动件520，第一驱动件510与第一基座210连接，第一驱动件510用于驱动第一基座210远离或靠近第二基座220，第二驱动件520与第三基座230连接，第二驱动件520用于驱动第三基座230远离或靠近第二基座220，通过本实施例，利用第一驱动件510移动第一基座210，利用第二驱动件520移动第三基座230，相对于人工移动，能够提高工作效率。

在本实用新型的一些具体实施例中，第一驱动件510和第二驱动件520均为伺服驱动器，通过本实施例，能够保证驱动的精确性。

在本实用新型的一些具体实施例中，如图1所示，第一测试片310、第三测试片330和第五测试片350沿Y轴方向依次排列，第二测试片320、第四测试片340和第六测试片360沿Y轴方向依次排列，通过本实施例，第一测试片310、第二测试片320、第三测试片330、第四测试片340、第五测试片350和第六测试片360的排列位置与光电耦合器700引脚的排列位置匹配。

在本实用新型的一些具体实施例中，如图5所示，一种测试装置，包括：

如上述的光电耦合器测试座；

测试模块600，测试模块600与光电耦合器测试座的接口组件300电性连接，测试模块600用于测试光电耦合器700。

在上述实施例中，光电耦合器放置在光电耦合器测试座上，利用测试模块600测试光电耦合器，由于本实施例中的测试装置包括有如上述任一实施例的光电耦合器测试座，因此，本实施例的测试装置具备如上述任一实施例的光电耦合器测试座所带来的有益效果。

上面结合附图对本实用新型实施例作了详细说明，但是本实用新型不限于上述实施例，在技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本实用新型宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (10)

1.一种光电耦合器测试座，其特征在于，包括：

底座，设置有导轨，所述导轨的长度方向沿Y轴方向设置；

基座组件，包括第一基座、第二基座和第三基座，所述第一基座和所述第三基座滑动设置在所述导轨上，所述第二基座固定在所述导轨上，所述第一基座、所述第二基座和所述第三基座沿Y轴方向依次排列，所述第一基座、所述第二基座和所述第三基座的长度方向均沿X轴方向设置；

接口组件，用于连接光电耦合器，所述接口组件包括第一测试片、第二测试片、第三测试片、第四测试片、第五测试片和第六测试片，所述第一测试片和所述第二测试片分别设置于所述第一基座的两端，所述第三测试片和所述第四测试片分别设置于所述第二基座的两端，所述第五测试片和所述第六测试片分别设置于所述第三基座的两端。

2.如权利要求1所述的一种光电耦合器测试座，其特征在于，还包括绝缘组件，所述绝缘组件包括第一绝缘块、第二绝缘块、第三绝缘块和第四绝缘块，所述第一绝缘块位于所述第一测试片和所述第三测试片之间，所述第二绝缘块位于所述第二测试片和所述第四测试片之间，所述第三绝缘块位于所述第三测试片和所述第五测试片之间，所述第四绝缘块位于所述第四测试片和所述第六测试片之间。

3.如权利要求2所述的一种光电耦合器测试座，其特征在于，所述第一绝缘块、所述第二绝缘块、所述第三绝缘块和所述第四绝缘块均设置在所述底座上。

4.如权利要求1所述的一种光电耦合器测试座，其特征在于，所述第一基座设置有用于阻止所述第一基座相对于所述导轨滑动的第一固定件，所述第三基座设置有用于阻止所述第三基座相对于所述导轨滑动的第二固定件。

5.如权利要求4所述的一种光电耦合器测试座，其特征在于，所述第一固定件和所述第二固定件为螺丝。

6.如权利要求1所述的一种光电耦合器测试座，其特征在于，所述导轨的上表面设置有刻度线。

7.如权利要求1所述的一种光电耦合器测试座，其特征在于，还包括驱动组件，所述驱动组件包括第一驱动件和第二驱动件，第一驱动件与所述第一基座连接，所述第一驱动件用于驱动所述第一基座远离或靠近所述第二基座，所述第二驱动件与所述第三基座连接，所述第二驱动件用于驱动所述第三基座远离或靠近所述第二基座。

8.如权利要求7所述的一种光电耦合器测试座，其特征在于，所述第一驱动件和第二驱动件均为伺服驱动器。

9.如权利要求1所述的一种光电耦合器测试座，其特征在于，所述第一测试片、所述第三测试片和所述第五测试片沿Y轴方向依次排列，所述第二测试片、所述第四测试片和所述第六测试片沿Y轴方向依次排列。

10.一种测试装置，其特征在于，包括：

如权利要求1至9任一所述的光电耦合器测试座；

测试模块，所述测试模块与所述光电耦合器测试座的接口组件电性连接，所述测试模块用于测试光电耦合器。

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