CN214334196U - 一种激光器光电性能测试系统 - Google Patents

一种激光器光电性能测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN214334196U
CN214334196U CN202022993142.6U CN202022993142U CN214334196U CN 214334196 U CN214334196 U CN 214334196U CN 202022993142 U CN202022993142 U CN 202022993142U CN 214334196 U CN214334196 U CN 214334196U
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
optical fiber
photoelectric
laser
testing
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202022993142.6U
Other languages
English (en)
Inventor
胡天邦
刘壮
王津
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Allray Inc ltd
Jiangsu Allray Inc
Original Assignee
Allray Inc ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Allray Inc ltd filed Critical Allray Inc ltd
Priority to CN202022993142.6U priority Critical patent/CN214334196U/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN214334196U publication Critical patent/CN214334196U/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本实用新型公开了一种激光器光电性能测试系统,包括测试底座,所述测试底座的顶部固定安装定位座,所述定位座的顶部设置有测试夹具,所述定位座的一侧测试底座顶部固定安装有光纤接头,所述光纤接头的内部贯穿固定安装有塑料光纤,所述塑料光纤的一端固定安装有光电测试设备,所述定位座的顶部固定安装有激光器。该一种激光器光电性能测试系统,在进行日常使用的过程中,可用于测试多种封装类型的激光器、系统搭建简单、测试底座和夹具可根据需求灵活设计、兼容各类测试设备、易于操作,塑料光纤价格便宜,测试波长覆盖650‑1500nm,适用类型广泛。塑料光纤衰减一般在0.05‑0.25dB/M,对于通常的光器件测试系统几乎没有影响。

Description

一种激光器光电性能测试系统
技术领域
本实用新型涉及光通信器件测试技术领域,具体为一种激光器光电性能测试系统。
背景技术
近年来光通信的发展极为迅速,不但输速率越来越快,传输质量也越来越高。作为光通信系统中最重要元器件之一的半导体激光器的特性参数好坏,将直接影响系统的传输质量,因此,对半导体激光器不同条件下光电特性参数的测试显得十分重要,其中部分光电性能需要将激光器耦合后才能测试,对测试效率和返修均带来较大影响。
随着半导体光电器件制造技术和应用领域的飞速发展,激光器封装的类型和尺寸越来越多样化,而现有测试系统一般只能测试同一型号或同一类型激光器,难以兼容不同类型的激光器,少数可以兼容的测试系统也是价格及其昂贵。
实用新型内容
本实用新型的目的在于提供一种激光器光电性能测试系统,以解决上述背景技术中提出的现有测试系统一般只能测试同一型号或同一类型激光器,难以兼容不同类型的激光器,少数可以兼容的测试系统也是价格及其昂贵的问题。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种激光器光电性能测试系统,包括测试底座,所述测试底座的顶部固定安装定位座,所述定位座的顶部设置有测试夹具,所述定位座的一侧测试底座顶部固定安装有光纤接头,所述光纤接头的内部贯穿固定安装有塑料光纤,所述塑料光纤的一端固定安装有光电测试设备,所述定位座的顶部固定安装有激光器。
优选的,所述光电测试设备的一侧表面固定安装有电路选择开关,且电路选择开关的一侧固定安装有电源器。
优选的,所述光电测试设备的一侧表面通过合页活动安装有密封板,且密封板的表面固定安装有把手。
优选的,所述密封板的表面两侧皆固定安装有锁座,且锁座对应的光电测试设备表面皆固定安装有锁扣。
优选的,所述密封板的表面横向排布设置有散热孔,且散热孔的内侧皆固定安装有防尘网。
与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:
该一种激光器光电性能测试系统,在进行日常使用的过程中,可用于测试多种封装类型的激光器、系统搭建简单、测试底座和夹具可根据需求灵活设计、兼容各类测试设备、易于操作,塑料光纤价格便宜,测试波长覆盖650-1500nm,适用类型广泛。塑料光纤衰减一般在0.05-0.25dB/M,对于通常的光器件测试系统几乎没有影响。
该一种激光器光电性能测试系统,在进行日常使用的过程中,塑料光纤的纤芯直径在500-1000um,数值孔径≥0.25,以目前的金属夹具加工精度来说配合没有问题,将测试底座和夹具放入热流仪等高低温设备中,可对激光器进行-40-85℃高低温光电性能测试,使测试的效果和精度更好效率更高。
附图说明
图1为本实用新型的测试系统示意图;
图2为本实用新型的同轴激光器测试俯视图;
图3为本实用新型的同轴激光器测试侧视图;
图4为本实用新型的COC封装测试俯视图;
图5为本实用新型的COC封装测试侧视图。
图中:1、电源器;2、电路选择开关;3、光电测试设备;4、塑料光纤;5、光纤接头;6、测试夹具;7、定位座;8、测试底座;9、激光器;10、把手;11、锁扣;12、锁座;13、散热孔;14、防尘网;15、密封板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
请参阅图1-5,本实用新型提供一种技术方案:一种激光器光电性能测试系统,包括测试底座8,测试底座8的顶部固定安装定位座7,测试底座8用于固定塑料光纤4接口和安装激光器夹具,使激光器9发光点与塑料光纤4中心处于同一直线,对于测试参数要求较高的激光器9,可安装四向调节装置,用于修正配合位置,定位座7的顶部设置有测试夹具6,测试夹具6需根据各种类型激光器9的尺寸并配合测试底座8装配尺寸进行加工,带有聚焦透镜的激光器9和塑料光纤4应在透镜焦点位置,不带透镜的激光器9出光点距离塑料光纤4应小于2毫米,以确保足够的光进入光纤,定位座7的一侧测试底座8顶部固定安装有光纤接头5,光纤接头5的内部贯穿固定安装有塑料光纤4,塑料光纤4的一端固定安装有光电测试设备3,定位座7的顶部固定安装有激光器9,TO等带有管脚的激光器9可在测试夹具6上集成管脚定位器,通过管脚定位器连接线到电源或测试系统,COB封装或带基板的LD芯片测试则可在测试夹具6上加入定位装置和电源探针连接到供电设备,光电测试设备3的一侧表面固定安装有电路选择开关2,且电路选择开关2的一侧固定安装有电源器1,光谱等测试时根据需要由电源器1向激光器9供电,LIV测试可由测试设备供电,LIV和光谱测试均需要测试的激光器只要切换电源和接入测试设备的塑料光纤即可。也可以定制相应塑料光纤的分路器或光纤开关。
光电测试设备3的一侧表面通过合页活动安装有密封板15,且密封板15的表面固定安装有把手10,可方便实时打开对光电测试设备3内部进行检查维护,密封板15的表面两侧皆固定安装有锁座12,且锁座12对应的光电测试设备3表面皆固定安装有锁扣11,可将光电测试设备进行锁紧密封,防止使用过程中密封板15自动掉落,密封板15的表面横向排布设置有散热孔13,且散热孔13的内侧皆固定安装有防尘网14,可将光电测试设备3内部器件运行产生的热量进行实时导出发散,并将外界灰尘颗粒进行过滤截留。
工作原理:当需要使用本系统进行测试工作时,首先根据需要测试的激光器9类型设计测试插座和测试夹具6,测试底座8的一端有夹具定位座7,测试夹具6安装在定位座7内,测试底座8可集成不同管脚插座或探针,用于给激光器9供电,需根据激光器9的类型和尺寸设计测试夹具,例如同轴TO激光器可根据TO管座定位孔和管帽外径尺寸进行定位及固定激光器9,COB/COC等封装类型以及带有基板的LD芯片,可根据基板尺寸通过测试夹具6定位及固定,测试底座8的另一端需安装光纤接头5用于固定塑料光纤4,为了确保测试精度,塑料光纤4与待测激光器9间的距离需根据激光器9类型做不同设计,例如同轴TO激光器塑料光纤应在激光器9焦点位置,COB/COC等封装光纤与激光器9发光点距离尽量短,建议在2mm以内,测试底座8和测试夹具6、定位座7定位孔等精度应小于10um,以确保激光器9与塑料光纤4的同轴度以及测试可靠性,根据激光器9波长选择合适的塑料光纤4,塑料光纤4直接连接到光电测试设备3,如需测试不同光电性能,可在一个光电性能测试完成后将塑料光纤4连接到另一台设备上继续测试,也可订制合适的光纤开关分别接入不同测试设备,不同的测试设备可能有不同的激光器9供电方式,可通过电路选择开关2将不同的供电方式一起连接到测试底座8上,如需测试激光器9的高低温性能,可将测试底座8和夹具整个放入热流仪等设备中,通过塑料光纤4连接到测试设备进行测试即可。
需要说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其他要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。
尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例,对于本领域的普通技术人员而言,可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型,本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

Claims (5)

1.一种激光器光电性能测试系统,包括测试底座(8),其特征在于:所述测试底座(8)的顶部固定安装定位座(7),所述定位座(7)的顶部设置有测试夹具(6),所述定位座(7)的一侧测试底座(8)顶部固定安装有光纤接头(5),所述光纤接头(5)的内部贯穿固定安装有塑料光纤(4),所述塑料光纤(4)的一端固定安装有光电测试设备(3),所述定位座(7)的顶部固定安装有激光器(9)。
2.根据权利要求1所述的一种激光器光电性能测试系统,其特征在于:所述光电测试设备(3)的一侧表面固定安装有电路选择开关(2),且电路选择开关(2)的一侧固定安装有电源器(1)。
3.根据权利要求1所述的一种激光器光电性能测试系统,其特征在于:所述光电测试设备(3)的一侧表面通过合页活动安装有密封板(15),且密封板(15)的表面固定安装有把手(10)。
4.根据权利要求3所述的一种激光器光电性能测试系统,其特征在于:所述密封板(15)的表面两侧皆固定安装有锁座(12),且锁座(12)对应的光电测试设备(3)表面皆固定安装有锁扣(11)。
5.根据权利要求3所述的一种激光器光电性能测试系统,其特征在于:所述密封板(15)的表面横向排布设置有散热孔(13),且散热孔(13)的内侧皆固定安装有防尘网(14)。
CN202022993142.6U 2020-12-14 2020-12-14 一种激光器光电性能测试系统 Active CN214334196U (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202022993142.6U CN214334196U (zh) 2020-12-14 2020-12-14 一种激光器光电性能测试系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202022993142.6U CN214334196U (zh) 2020-12-14 2020-12-14 一种激光器光电性能测试系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN214334196U true CN214334196U (zh) 2021-10-01

Family

ID=77899325

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202022993142.6U Active CN214334196U (zh) 2020-12-14 2020-12-14 一种激光器光电性能测试系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN214334196U (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN105452918B (zh) 光模块、光模块的安装方法、光模块搭载电路基板、光模块评价仪器系统、电路基板以及通信系统
CN102761311B (zh) 毫米波电路微组装方法
CN202886656U (zh) 适用活动光纤连接头的光纤耦合结构
JPH09159880A (ja) 光集束レンズを含むレーザモジュール及び光集束レンズ固定方法
CN214334196U (zh) 一种激光器光电性能测试系统
JP2007335651A (ja) 光デバイス測定装置および光デバイス測定治具
CN204462463U (zh) 具备水冷功能的新型光纤输出端帽夹持器
CN103323919B (zh) 使光学部件与光纤精确地对准的光学组件
CN100547865C (zh) 光源、光发射器件及其方法
JP4650084B2 (ja) 受光デバイス測定装置および方法
CN205049316U (zh) 发光元件测试治具
CN108705192B (zh) 一种激光系统的防回反光装置
US6493077B1 (en) Optical test probe for silicon optical bench
CN106019497A (zh) 一种ld激光器组件的装配及检验方法
CN208353343U (zh) 四路集成激光接收器性能测试系统
CN102023085A (zh) 发光元件的测试装置及其感测模块
CN220472931U (zh) 插芯光纤检测装置
KR100226444B1 (ko) 반도체 레이저 모듈의 빔 정렬기구 및 정렬방법
CN2886876Y (zh) 光发射器件及其光源
US6558047B1 (en) Cold welding process for fiber optic/ferrule attachment
Liu et al. Optical 3d Laser Measurement for the Height of Silver Paste Overflow from Apd Chip in Optical Component Packaging
CN110346066A (zh) 一种收发一体微型测温模块标定系统及标定方法
CN102023053A (zh) 发光元件的测试装置及其感测模块
CN217425741U (zh) 高速光波导开关芯片封装模块
US6646887B2 (en) Removable mechanical attachment system for electronic assemblies

Legal Events

Date Code Title Description
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant