CN214097736U - 一种开关电源测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种开关电源测试装置，包括装置本体，所述装置本体上设置有主控区和负载区；所述主控区上设置有用于将接入的待测电源板的电压转换为相应占空比的PWM信号，同时调节负载区的负载接入数量的主控电路；所述负载区设置有用于与所述待测电源板连接，并根据所述PWM信号进行工作的负载电路。本实用新型通过主控电路控制所述待测电源板的输出占空比，并可根据待测电源板的供电规格调节接入的负载数量，实现对不同开关电源的测试。

Description

一种开关电源测试装置

技术领域

本实用新型涉及电源测试领域，特别涉及一种开关电源测试装置。

背景技术

目前彩电行业用开关电源的开发、调试、试验、维修等都是通过开关电源的两个外围设备来实现：一个是屏体提供背光LED控制开关电源的背光电压，另一个是主板提供控制信号调节开关电源的背光电流。

由于不同功率的开关电源所需的背光电压以及背光电流均不同，比如32寸的液晶电视机开关电源和65寸的液晶电视机所用的屏体背光电压不同，背光电流也不同。如果按照以往的测试方法，将需要32寸屏体背光模组、32寸的主板和65寸的屏体背光模组、65寸的主板总共四套组件才可以进行两块不同尺寸不同功率开关电源的测试，造成试验设备成本的增加，维护成本高的问题。

因此现有技术还有待改进和提高。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种开关电源测试装置，通过主控电路控制所述待测电源板的输出占空比，并可根据待测电源板的供电规格调节接入的负载数量，实现对不同开关电源的测试。

为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：

本实用新型提供一种开关电源测试装置，包括装置本体，所述装置本体上设置有主控区和负载区；所述主控区上设置有用于将接入的待测电源板的电压转换为相应占空比的PWM信号，同时调节负载区的负载接入数量的主控电路；所述负载区设置有用于与所述待测电源板连接，并根据所述PWM信号进行工作的负载电路。

所述装置本体包括第一拼接板、第二拼接板、第三拼接板和第四拼接板，所述主控区设置在所述第一拼接板上，所述负载区设置在所述第二拼接板、第三拼接板和/或第四拼接板上。

所述第一拼接板、第二拼接板、第三拼接板和第四拼接板中任意两个设置有第一插槽和第二插槽或用于与第一插槽结合的第一连接片和用于与第二插槽结合的第二连接片，设置有第一连接片和第二连接片的拼接板与设置有第一插槽和第二插槽的连接板个数相等，所述第一拼接板、第二拼接板、第三拼接板和第四拼接板通过所述第一连接片、第二连接片、第一插槽和第二插槽拼接成方柱。

所述方柱一个对面开口形成一穿透腔。

所述开关电源测试装置还包括用于为负载散热的散热装置，所述散热装置设置在所述穿透腔中。

所述开关电源测试装置还包括用于遮挡光线的遮光前挡，所述遮光前挡设置在所述穿透腔中

所述主控电路包括主控单元、第一接口、第一开关、第二开关、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第一电容和第一稳压管；

所述第一接口通过连接线与所述待测电源板连接，所述第一接口的第五脚和第七脚以及所述第一电阻的一端均接入所述待测电源板的电源电压，所述第一电阻的另一端与所述第一电容的一端、第一稳压管的输出端及主控单元连接，所述第一电容的另一端、第一稳压管你的输入端、第二电阻的一端、第三电阻的一端、第四电阻的一端、第一接口的第一脚、第三脚、第九脚和第十一脚均接地，所述第二电阻的另一端与所述第五电阻的一端连接，所述第三电阻的另一端与所述第六电阻的一端及第一开关的第一输入端连接，所述第四电阻的另一端与所述第七电阻的一端及所述第一开关的第二输入端连接，所述第五电阻的另一端、第六电阻的另一端和第七电阻的另一端均与所述第一接口的第5脚和第7脚连接，所述第一开关的第一输出端与所述第一接口的第六脚连接，所述第一开关的第二输出端与所述第一接口的第十二脚连接，所述第二开关的第一输入端和第二输入端均与所述主控单元的输出端连接，所述第二开关的第一输出端与所述第一接口的第八脚连接，所述第二开关的第二输出端与所述第一接口的第十四脚连接。

所述主控单元包括主控芯片、第八电阻、第九电阻、第一二极管、第二二极管、第二电容、第三电容、第一晶振、用于进入占空比或频率设置模式的第一按键、用于实现占空比或频率数值增加功能的第二按键、用于实现占空比或频率数值减小功能的第三按键和用于显示占空比或频率数值的第一数码管；

所述主控芯片的第1脚与所述第一稳压管的输出端、第一电容的一端及第一电阻的另一端连接，所述主控芯片的第2脚、所述第二电容的一端和第三电容的一端均接地，所述第二电容的另一端与所述主控芯片的第28脚及第一晶振的一端连接，所述第三电容的另一端与所述第一晶振的另一端及主控芯片的第27脚连接，所述主控芯片的第3脚与所述第八电阻的一端连接，所述第八电阻的另一端与所述第一二极管的输入端连接，所述第一二极管的输出端与所述第二开关的第一输入端连接，所述主控芯片的第4脚和第6脚均接地，所述主控芯片的第5脚与所述第九电阻的一端连接，所述第九电阻的另一端与所述第二二极管的输入端连接，所述第二二极管的输出端与所述第二开关的第二输入端连接，所述主控芯片的第7脚、第8脚、第12脚、第15脚、第16脚和第17脚分别与所述第一数码管的第11脚、第7脚、第10脚，第12脚、第9脚和第8脚连接，所述主控芯片的第9脚、第10脚、第11脚、第13脚和第14脚分别与所述第一数码管的第4脚、第2脚、第1脚、第5脚和第3脚连接，所述主控芯片的第19脚与所述第一按键的一端连接，所述主控芯片的第20脚与所述第二按键的一端连接，所述主控芯片的第21脚与所述第三按键的一端连接，所述第一按键的另一端、第二按键的另一端和第三按键的另一端分别与所述主控芯片的第22脚、第23脚和第24脚连接。

所述负载电路包括多路LED灯条，所述LED灯条包括多个依次连接的LED灯珠，所述LED灯条的输入端与所述待测电源板的驱动输出端正极连接，所述LED灯条的输出端与所述待测电源板的驱动输出端负极连接。

所述主控电路还包括多个用于调节电源板接入的LED灯珠数量的开关单元，所述开关单元包括负载开关，多个所述负载开关的一端并接与所述待测电源板的驱动输出端负极，多个所述负载开关的另一端分别与依次连接的多个LED灯珠的输出端一一对应连接。

相较于现有技术，本实用新型提供的开关电源测试装置，包括装置本体，所述装置本体上设置有主控区和负载区；所述主控区上设置有用于将接入的待测电源板的电压转换为相应占空比的PWM信号，同时调节负载区的负载接入数量的主控电路；所述负载区设置有用于与所述待测电源板连接，并根据所述PWM信号进行工作的负载电路。本实用新型通过主控电路控制所述待测电源板的输出占空比，并可根据待测电源板的供电规格调节接入的负载数量，实现对不同开关电源的测试。

附图说明

图1为本实用新型提供的开关电源测试装置的结构图；

图2为本实用新型提供的第一连接片和第二连接片的结构图；

图3为本实用新型提供的第一插槽和第二插槽的结构图；

图4为本实用新型提供的主控电路的电路图；

图5为本实用新型提供的负载电路的电路图。

具体实施方式

本实用新型提供一种开关电源测试装置，通过主控电路控制所述待测电源板的输出占空比，并可根据待测电源板的供电规格调节接入的负载数量，实现对不同开关电源的测试。

本实用新型的具体实施方式是为了便于对本实用新型的技术构思、所解决的技术问题、构成技术方案的技术特征和带来的技术效果做更为详细的说明。需要说明的是，对于这些实施方式的解释说明并不构成对本发明的保护范围的限定。此外，下文所述的实施方式中所涉及的技术特征只要彼此之间不构成冲突就可以相互组合。

现有的电视开关电源测试方案中，在测试不同规格的开关电源时，需要不同的屏体背光模组和主板，造成试验设备成本的增加，维护成本高的问题。

鉴于现有技术存在的上述问题，请参阅图1，本实用新型提供一种开关电源测试装置，包括装置本体，所述装置本体上设置有主控区10和负载区11。

具体实施时，本实施例中，设置一装置本体，在装置本体上设置主控区10和负载区11，仅通过一个装置即可对电源进行电压控制和负载测试。具体的，在所述主控区10上设置用于将接入的待测电源板的电压转换为相应占空比的PWM信号，同时调节负载区11的负载接入数量的主控电路；在所述负载区11设置有用于与所述待测电源板连接，并根据所述PWM信号进行工作的负载电路。所述主控电路接收所述待测电源板的电源电压，将所述电源电压转换为预设占空比的PWM信号，再传回所述待测电源板，由所述待测电源板通过所述PWM信号驱动负载电路进行工作，以对待测电源板进行测试。同时，所述主控电路还对所述负载电路中接入待测电源板的负载数量进行控制，通过调节用电器的数量，调节供电电压，实现对不同规格的待测电源板的测试。

进一步的，请继续参阅图1，所述装置本体包括第一拼接板12、第二拼接板13、第三拼接板14和第四拼接板15，由所述第一拼接板12、第二拼接板13、第三拼接板14和第四拼接板15并接而成。所述主控区10设置在所述第一拼接板12上，所述负载区11设置在所述第二拼接板13、第三拼接板14和/或第四拼接板15上。所述主控区10可设置在所述第一拼接板12的表面，用于设置PWM信号的占空比以及调节负载的接入数量。所述负载区11的设置可根据所述第二拼接板13、第三拼接板14和第四拼接板15的大小，及负载区11所需空间进行设置，可单独设置在其中一个拼接板上，也可以分别设置在多个拼接板上。

具体的，所述拼接板可以是相应的电路板，也可以拼接板上设置有电路板，可根据需要进行设置，在此不做限定。

进一步的，请参阅图2和图3，所述第一拼接板12、第二拼接板13、第三拼接板14和第四拼接板15中任意两个设置有第一插槽60和第二插槽70或用于与第一插槽60结合的第一连接片40和用于与第二插槽70结合的第二连接片50，设置有第一连接片40和第二连接片50的拼接板与设置有第一插槽60和第二插槽70的连接板个数相等，所述第一拼接板12、第二拼接板13、第三拼接板14和第四拼接板15通过所述第一连接片40、第二连接片50、第一插槽60和第二插槽70拼接成方柱。本实施例中，所述四个拼接板中，两个设置有第一连接片40和第二连接片50，另外两个设置有第一插槽60和第二插槽70，所述连接片能够插入所述插槽中实现固定，最后两两拼接成方柱，形成装置本体。

进一步的，所述方柱一个对面开口形成一穿透腔。所述开关电源测试装置还包括用于为负载散热的散热装置以及用于遮挡光线的遮光前挡30，所述散热装置和所述遮光前挡30均设置在所述穿透腔中。可以遮光前档设置在外，所述散热器20设置在里；也可以遮光前档设置在里，所述散热器20设置在外。

进一步的，请参阅图4，所述主控电路包括主控单元100、第一接口MBJ1、第一开关、第二开关、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第四电阻R4、第五电阻R5、第六电阻R6、第七电阻R7、第一电容C1和第一稳压管VD1。

具体的，所述第一接口MBJ1为16脚接口，所述第一接口MBJ1的第1脚、第3脚、第9脚和第11脚均为接地脚；所述第一接口MBJ1的第5脚和第7脚均为12V电源脚，用于接入待测电源板的12V电源；所述第一接口MBJ1的第13脚和第15脚为20V电源脚，用于接入待测电源板的20V电源(本实施例中未涉及)；所述第一接口MBJ1的第2脚、第10脚和第16脚均为预留脚(本实施例中未涉及)，所述第一接口MBJ1的第4脚为开关脚(本实施例中未涉及)，所述第一接口MBJ1的第6脚为使能脚，所述第一接口MBJ1的第8脚为ADJ信号脚，所述第一接口MBJ1的第12脚为开关脚，所述第一接口MBJ1的第14脚为PWM信号脚。

具体实施时，本实施例中，通过所述第一接口MBJ1与待测电源板连接，将待测待测电源板的12V直流电压传至所述主控单元100，由所述主控单元100将所述12V直流电压转变成占空比、频率可调的PWM信号用于反控制开关电源的输出，通过所述所述第二开关实现PWM信号的输出控制，所述第二开关开启时，将所述PWM信号输出至待测电源板，再由所述待测电源板根据所述PWM信号对所述负载电路中的负载进行驱动。

具体的，请继续参阅图4，所述第一接口MBJ1通过连接线与所述待测电源板连接，所述第一接口MBJ1的第五脚和第七脚以及所述第一电阻R1的一端均接入所述待测电源板的电源电压，所述第一电阻R1的另一端与所述第一电容C1的一端、第一稳压管VD1的输出端及主控单元100连接，所述第一电容C1的另一端、第一稳压管VD1你的输入端、第二电阻R2的一端、第三电阻R3的一端、第四电阻R4的一端、第一接口MBJ1的第一脚、第三脚、第九脚和第十一脚均接地，所述第二电阻R2的另一端与所述第五电阻R5的一端连接，所述第三电阻R3的另一端与所述第六电阻R6的一端及第一开关的第一输入端连接，所述第四电阻R4的另一端与所述第七电阻R7的一端及所述第一开关的第二输入端连接，所述第五电阻R5的另一端、第六电阻R6的另一端和第七电阻R7的另一端均与所述第一接口MBJ1的第5脚和第7脚连接，所述第一开关的第一输出端与所述第一接口MBJ1的第六脚连接，所述第一开关的第二输出端与所述第一接口MBJ1的第十二脚连接，所述第二开关的第一输入端和第二输入端均与所述主控单元100的输出端连接，所述第二开关的第一输出端与所述第一接口MBJ1的第八脚连接，所述第二开关的第二输出端与所述第一接口MBJ1的第十四脚连接。

更进一步的，请继续参阅图4，所述主控单元100包括主控芯片U1、第八电阻R8、第九电阻R9、第一二极管D1、第二二极管D2、第二电容C2、第三电容C3、第一晶振Y1、用于进入占空比或频率设置模式的第一按键SW3、用于实现占空比或频率数值增加功能的第二按键SW4、用于实现占空比或频率数值减小功能的第三按键SW5和用于显示占空比或频率数值的第一数码管DS1。

具体实施时，本实施例中，所述主控芯片U1为MSP430芯片。按下第一按键SW3，进入占空比或频率设置模式，再通过所述第二按键SW4和第三按键SW5进行相应的数值设置，实现对占空比和频率的设置，最后还可通过所述第一数码管DS1显示相应的占空比或频率数值，以使用户得知此时所设置的数值。再通过所述主控芯片U1接收待测电源板的12V直流电压，所述主控芯片U1根据预设好的占空比和频率数值将所述12V直流电压转换为相应的PWM信号输出至所述待测电源板，由所述待测电源板根据所述PWM信号对负载进行驱动。本实施例实现了PWM信号转化及PWM信号占空比和频率空调功能。

具体的，请继续参阅图4，所述主控芯片U1的第1脚与所述第一稳压管VD1的输出端、第一电容C1的一端及第一电阻R1的另一端连接，所述主控芯片U1的第2脚、所述第二电容C2的一端和第三电容C3的一端均接地，所述第二电容C2的另一端与所述主控芯片U1的第28脚及第一晶振Y1的一端连接，所述第三电容C3的另一端与所述第一晶振Y1的另一端及主控芯片U1的第27脚连接，所述主控芯片U1的第3脚与所述第八电阻R8的一端连接，所述第八电阻R8的另一端与所述第一二极管D1的输入端连接，所述第一二极管D1的输出端与所述第二开关的第一输入端连接，所述主控芯片U1的第4脚和第6脚均接地，所述主控芯片U1的第5脚与所述第九电阻R9的一端连接，所述第九电阻R9的另一端与所述第二二极管D2的输入端连接，所述第二二极管D2的输出端与所述第二开关的第二输入端连接，所述主控芯片U1的第7脚、第8脚、第12脚、第15脚、第16脚和第17脚分别与所述第一数码管DS1的第11脚、第7脚、第10脚，第12脚、第9脚和第8脚连接，所述主控芯片U1的第9脚、第10脚、第11脚、第13脚和第14脚分别与所述第一数码管DS1的第4脚、第2脚、第1脚、第5脚和第3脚连接，所述主控芯片U1的第19脚与所述第一按键SW3的一端连接，所述主控芯片U1的第20脚与所述第二按键SW4的一端连接，所述主控芯片U1的第21脚与所述第三按键SW5的一端连接，所述第一按键SW3的另一端、第二按键SW4的另一端和第三按键SW5的另一端分别与所述主控芯片U1的第22脚、第23脚和第24脚连接(所述主控芯片U1的第22脚、第23脚和第24脚为输出脚，所述主控芯片U1的第19脚、第20脚和第21脚为输入脚)。

进一步的，请继续参阅图4和图5，所述负载电路包括多路LED灯条300，所述LED灯条300包括多个依次连接的LED灯珠(图5中的LED1～LEDn)，所述LED灯条300的输入端与所述待测电源板的驱动输出端正极(图5中的LED+)连接，所述LED灯条300的输出端与所述待测电源板的驱动输出端负极(图5中的LED-)连接。所述主控电路还包括多个用于调节电源板接入的LED灯珠数量的开关单元200，所述开关单元200包括负载开关(图5中的K1～Kn-1)，多个所述负载开关的一端并接与所述待测电源板的驱动输出端负极，多个所述负载开关的另一端分别与依次连接的多个LED灯珠的输出端一一对应连接。

具体实施时，本实施例中，将串联的LED灯珠中，每个LED灯珠的输出端均连接一个负载开关，并将负载开关再与待测电源板的驱动输出端负极连接，当需要接入相应数量的LED灯珠时，只需打开对应位置的LED灯珠的负载开关即可形成相应数量的LED灯珠串联回路，实现LED灯珠接入数量的控制。所述负载开关的个数可以等于LED灯珠数量，也可以比LED灯珠少1个，均可实现上述功能。

例如，LED灯条300中设置有50个LED灯珠，当需要接入20个LED灯珠时，只需闭合第20个LED灯珠输出端的负载开关即可实现接入20个LED灯珠；此时，其他负载开关则处于断开状态。可选的，具体实施时，可使用拨码开关来实现多个负载开关的功能，根据拨码开关的规格选用相应个数组成开关单元200即可；此外，还可以使用独立的开关实现，也可以使用其他功能相同的开关进行替换，在此不做限定。

可选的，多路所述LED灯条中，可以将每路LED灯条进行串联，再通过负载开关进行控制，以实现更大范围的电压测试，也可以将每路LED灯条分开，分别通过不同的待测电源板进行驱动，实现多个待测电源板的同时测试。

综上所述，本实用新型提供的一种开关电源测试装置，包括装置本体，所述装置本体上设置有主控区和负载区；所述主控区上设置有用于将接入的待测电源板的电压转换为相应占空比的PWM信号，同时调节负载区的负载接入数量的主控电路；所述负载区设置有用于与所述待测电源板连接，并根据所述PWM信号进行工作的负载电路。本实用新型通过主控电路控制所述待测电源板的输出占空比，并可根据待测电源板的供电规格调节接入的负载数量，实现对不同开关电源的测试。

可以理解的是，对本领域普通技术人员来说，可以根据本实用新型的技术方案及其实用新型构思加以等同替换或改变，而所有这些改变或替换都应属于本实用新型所附的权利要求的保护范围。

Claims (10)

1.一种开关电源测试装置，其特征在于，包括装置本体，所述装置本体上设置有主控区和负载区；所述主控区上设置有用于将接入的待测电源板的电压转换为相应占空比的PWM信号，同时调节负载区的负载接入数量的主控电路；所述负载区设置有用于与所述待测电源板连接，并根据所述PWM信号进行工作的负载电路。

2.根据权利要求1所述的开关电源测试装置，其特征在于，所述装置本体包括第一拼接板、第二拼接板、第三拼接板和第四拼接板，所述主控区设置在所述第一拼接板上，所述负载区设置在所述第二拼接板、第三拼接板和/或第四拼接板上。

3.根据权利要求2所述的开关电源测试装置，其特征在于，所述第一拼接板、第二拼接板、第三拼接板和第四拼接板中任意两个设置有第一插槽和第二插槽或用于与第一插槽结合的第一连接片和用于与第二插槽结合的第二连接片，设置有第一连接片和第二连接片的拼接板与设置有第一插槽和第二插槽的连接板个数相等，所述第一拼接板、第二拼接板、第三拼接板和第四拼接板通过所述第一连接片、第二连接片、第一插槽和第二插槽拼接成方柱。

4.根据权利要求3所述的开关电源测试装置，其特征在于，所述方柱一个对面开口形成一穿透腔。

5.根据权利要求4所述的开关电源测试装置，其特征在于，所述开关电源测试装置还包括用于为负载散热的散热装置，所述散热装置设置在所述穿透腔中。

6.根据权利要求4所述的开关电源测试装置，其特征在于，所述开关电源测试装置还包括用于遮挡光线的遮光前挡，所述遮光前挡设置在所述穿透腔中。

7.根据权利要求1所述的开关电源测试装置，其特征在于，所述主控电路包括主控单元、第一接口、第一开关、第二开关、第一电阻、第二电阻、第三电阻、第四电阻、第五电阻、第六电阻、第七电阻、第一电容和第一稳压管；

所述第一接口通过连接线与所述待测电源板连接，所述第一接口的第五脚和第七脚以及所述第一电阻的一端均接入所述待测电源板的电源电压，所述第一电阻的另一端与所述第一电容的一端、第一稳压管的输出端及主控单元连接，所述第一电容的另一端、第一稳压管你的输入端、第二电阻的一端、第三电阻的一端、第四电阻的一端、第一接口的第一脚、第三脚、第九脚和第十一脚均接地，所述第二电阻的另一端与所述第五电阻的一端连接，所述第三电阻的另一端与所述第六电阻的一端及第一开关的第一输入端连接，所述第四电阻的另一端与所述第七电阻的一端及所述第一开关的第二输入端连接，所述第五电阻的另一端、第六电阻的另一端和第七电阻的另一端均与所述第一接口的第5脚和第7脚连接，所述第一开关的第一输出端与所述第一接口的第六脚连接，所述第一开关的第二输出端与所述第一接口的第十二脚连接，所述第二开关的第一输入端和第二输入端均与所述主控单元的输出端连接，所述第二开关的第一输出端与所述第一接口的第八脚连接，所述第二开关的第二输出端与所述第一接口的第十四脚连接。

8.根据权利要求7所述的开关电源测试装置，其特征在于，所述主控单元包括主控芯片、第八电阻、第九电阻、第一二极管、第二二极管、第二电容、第三电容、第一晶振、用于进入占空比或频率设置模式的第一按键、用于实现占空比或频率数值增加功能的第二按键、用于实现占空比或频率数值减小功能的第三按键和用于显示占空比或频率数值的第一数码管；

所述主控芯片的第1脚与所述第一稳压管的输出端、第一电容的一端及第一电阻的另一端连接，所述主控芯片的第2脚、所述第二电容的一端和第三电容的一端均接地，所述第二电容的另一端与所述主控芯片的第28脚及第一晶振的一端连接，所述第三电容的另一端与所述第一晶振的另一端及主控芯片的第27脚连接，所述主控芯片的第3脚与所述第八电阻的一端连接，所述第八电阻的另一端与所述第一二极管的输入端连接，所述第一二极管的输出端与所述第二开关的第一输入端连接，所述主控芯片的第4脚和第6脚均接地，所述主控芯片的第5脚与所述第九电阻的一端连接，所述第九电阻的另一端与所述第二二极管的输入端连接，所述第二二极管的输出端与所述第二开关的第二输入端连接，所述主控芯片的第7脚、第8脚、第12脚、第15脚、第16脚和第17脚分别与所述第一数码管的第11脚、第7脚、第10脚，第12脚、第9脚和第8脚连接，所述主控芯片的第9脚、第10脚、第11脚、第13脚和第14脚分别与所述第一数码管的第4脚、第2脚、第1脚、第5脚和第3脚连接，所述主控芯片的第19脚与所述第一按键的一端连接，所述主控芯片的第20脚与所述第二按键的一端连接，所述主控芯片的第21脚与所述第三按键的一端连接，所述第一按键的另一端、第二按键的另一端和第三按键的另一端分别与所述主控芯片的第22脚、第23脚和第24脚连接。

9.根据权利要求1所述的开关电源测试装置，其特征在于，所述负载电路包括多路LED灯条，所述LED灯条包括多个依次连接的LED灯珠，所述LED灯条的输入端与所述待测电源板的驱动输出端正极连接，所述LED灯条的输出端与所述待测电源板的驱动输出端负极连接。

10.根据权利要求9所述的开关电源测试装置，其特征在于，所述主控电路还包括多个用于调节电源板接入的LED灯珠数量的开关单元，所述开关单元包括负载开关，多个所述负载开关的一端并接与所述待测电源板的驱动输出端负极，多个所述负载开关的另一端分别与依次连接的多个LED灯珠的输出端一一对应连接。

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