CN213813697U - 一种半导体激光器件耦合功率测试夹具 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及半导体测试夹具领域，特别涉及一种半导体激光器件耦合功率测试夹具，包括夹具基座，夹具基座顶部左右两侧均固定设置有导向杆，导向杆的顶部固定设置有Z轴固定架，导向杆中部套设有光纤固定架，光纤固定架的顶部设置有θ轴调节旋钮，光纤固定架的底部固定设置有光纤固定旋盖，Z轴固定架内活动连接有Z轴固定杆，Z轴固定杆底部贯穿光纤固定架和θ轴调节旋钮并延伸至产品固定旋盖的上方，Z轴固定杆底部固定设置有光纤固定旋盖。本实用新型提供了的四轴携带焦距测量，不仅能准确测量最大光功率值，还能准确测量焦距值，使器件性能更好的把握和掌控，提高测试效率和准确性。
Description
技术领域
本实用新型涉及半导体测试夹具领域，特别涉及一种半导体激光器件耦合功率测试夹具。
背景技术
目前，半导体激光器件耦合功率测试夹具是由三维千分尺移动平台，器件四孔插座，测试基座，光纤，测试线，测试电源，测试设备构成。连接电源线，启动测试设备，将器件插入四孔插座内，通过来回不断调整X,Y,Z三轴，使光纤接头能检测到器件光功率输出，当X,Y,Z三轴移动到某一固定位置时，此时功率最大，Z轴移动值即为焦距。但是由于器件的管帽是球形的，内置的芯片波导出光方向发散，经过球形管帽后变成平行光最后汇聚为集中的焦点，该平行光方向与波导方向会有位移及角度形成，导致平面的光纤头无法全部接收到准确的光功率值，使其所测量值与实际值偏小。将测试焦点的夹具移动平台改为类似马灯结构，平面的光纤头改为斜面，该斜面与水平面角度为θ，通过来回不断调整X,Y,Z,θ四轴，使光纤接头能检测到器件光功率输出，当X,Y,Z,θ四轴移动到某一固定位置时，此时功率最大，Z轴移动值即为焦距。此时Z轴会随着θ轴变化而变化，而未设定装置测量焦距。
因此，为了弥补三轴测试测量光功率不准确及四轴测试光功率时无焦距测量，提出了本实用新型。
实用新型内容
本实用新型的目的在于针对现有技术的缺陷和不足，提供一种半导体激光器件耦合功率测试夹具。
为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：
本实用新型所述的一种半导体激光器件耦合功率测试夹具，包括夹具基座，所述夹具基座顶部固定设置有电源基座，所述电源基座顶部固定设置有电源插座，所述电源插座外侧水平固定设置有Y轴调节旋钮和X轴调节旋钮，所述电源插座顶部固定设置有产品固定旋盖，所述夹具基座顶部左右两侧均固定设置有导向杆，所述导向杆的顶部固定设置有Z轴固定架，所述导向杆中部套设有光纤固定架，所述光纤固定架的顶部设置有θ轴调节旋钮，所述光纤固定架的底部固定设置有光纤固定旋盖，所述Z轴固定架内活动连接有Z轴固定杆，所述Z轴固定杆的顶部固定设置有Z轴调节旋钮，所述Z轴固定杆底部贯穿所述光纤固定架和θ轴调节旋钮并延伸至所述产品固定旋盖的上方，所述Z轴固定杆底部固定设置有光纤固定旋盖。
进一步地，所述导向杆和Z轴固定杆上均设置有刻度尺。
进一步地，所述光纤固定架位于所述Z轴固定架与夹具基座之间。
进一步地，所述光纤固定架与所述导向杆滑动配合连接，光纤固定架可在导向杆上竖直移动。
进一步地，所述Z轴固定杆在所述Z轴固定架内呈竖直设置。
进一步地，电源基座一侧设置有电源接口，工作时通过电源接口与电源连接，为该装置提供电源。
进一步地，所述产品固定旋盖与所述电源插座螺纹连接，在电源插座顶部设置外螺纹柱，产品固定旋盖内设置内螺纹，产品固定旋盖旋入电源插座固定，拆卸方便。
采用上述结构后，本实用新型有益效果为：本实用新型提供了四轴携带焦距测量，不仅能准确测量最大光功率值，还能准确测量焦距值，使器件性能更好的把握和掌控，提高测试效率和准确性。
附图说明
图1是本实用新型的立体图；
图2是本实用新型的正面结构示意图。
附图标记说明：
1-夹具基座；2-电源基座；3-电源插座；4-Y轴调节旋钮；5-产品固定旋盖；6-X轴调节旋钮；7-光纤固定旋盖；8-光纤固定架；9-导向杆；10-θ轴调节旋钮；11-Z轴固定架；12-Z轴固定杆；13-Z轴调节旋钮。
具体实施方式
下面结合附图对本实用新型作进一步的说明。
如图1至2所示，本实用新型的一种半导体激光器件耦合功率测试夹具，包括夹具基座1，夹具基座1顶部固定设置有电源基座2，电源基座2顶部固定设置有电源插座3，电源插座3外侧水平固定设置有Y轴调节旋钮4和X轴调节旋钮6，电源插座3顶部固定设置有产品固定旋盖5，夹具基座1顶部左右两侧均固定设置有Z导向杆9，导向杆9的顶部固定设置有Z轴固定架11，导向杆9中部套设有光纤固定架8，光纤固定架8的顶部设置有θ轴调节旋钮10，光纤固定架8的底部固定设置有光纤固定旋盖7，Z轴固定架11内活动连接有Z轴固定杆12，Z轴固定杆12的顶部固定设置有Z轴调节旋钮13，Z轴固定杆12底部贯穿光纤固定架8和θ轴调节旋钮10并延伸至产品固定旋盖5的上方，Z轴固定杆12底部固定设置有光纤固定旋盖7。
作为本实用新型的一种优选方式，所述导向杆9和Z轴固定杆12上均设置有刻度尺。
作为本实用新型的一种优选方式，光纤固定架8位于Z轴固定架11与夹具基座1之间。
作为本实用新型的一种优选方式，光纤固定架8与导向杆9滑动配合连接，光纤固定架8可在导向杆9上竖直移动。
作为本实用新型的一种优选方式，Z轴固定杆12在Z轴固定架11内呈竖直设置。
作为本实用新型的一种优选方式，电源基座2一侧设置有电源接口，工作时通过电源接口与电源连接，为该装置提供电源。
作为本实用新型的一种优选方式，产品固定旋盖5与电源插座3螺纹连接，在电源插座3顶部设置外螺纹柱，产品固定旋盖5内设置内螺纹，通过将产品固定旋盖5旋入电源插座3固定，安装和拆卸方便。
此外，该装置在四轴测试产品的时候，加入焦距测试，在相关机构上加入尺规，设计相关结构对尺规固定并确保测量精确度，尺规的零刻度需要与器件球形管帽最上面位置相对一致或设定固定值以及进行相关校正，Z轴移动距离即为焦距值，在Z轴移动的时候，需要在光纤头或与光纤头相对位置一致或设定固定值以及进行相关校正并加入记号，指针等，能指向尺规准确刻度，进行焦距读数，以防止三维测试不准确性，达到四轴测试准确且全面。
在使用本实用新型时，首先将产品平整的插入产品固定块5的中间四孔插座并旋紧旋盖，将测试电源线连接电源接口，然后将光纤头平整的固定在光纤固定旋盖7的中间，光纤线由中间缺口导出来，固定光纤线后，旋紧光纤固定旋盖7，按压Z轴调节旋钮13，此时光纤固定架8会随着Z轴调节旋钮13的按压而下降，使Z轴位于产品焦距附近，并由光纤固定架8卡住Z轴上下位置，通过不断调整X轴调节旋钮6和Y轴调节旋钮4以及Z轴调节旋钮13和θ轴调节旋钮10进行功率耦合，当功率到达最大值的时候，光纤固定架8会在导向杆9上固定位置，出现焦距显示位置值，因为导向杆上有类似千分尺的刻度，可以对此时Z轴移动距离即为焦距进行读数，同时Z轴固定杆12上也有刻度，也可以对此时Z轴固定杆移动距离即为焦距进行读数。
以上所述仅是本实用新型的较佳实施方式，故凡依本实用新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本实用新型专利申请范围内。
Claims (7)
1.一种半导体激光器件耦合功率测试夹具，其特征在于：包括夹具基座（1），所述夹具基座（1）顶部固定设置有电源基座（2），所述电源基座（2）顶部固定设置有电源插座（3），所述电源插座（3）外侧水平固定设置有Y轴调节旋钮（4）和X轴调节旋钮（6），所述电源插座（3）顶部固定设置有产品固定旋盖（5），所述夹具基座（1）顶部左右两侧均固定设置有导向杆（9），所述导向杆（9）的顶部固定设置有Z轴固定架（11），所述导向杆（9）中部套设有光纤固定架（8），所述光纤固定架（8）的顶部设置有θ轴调节旋钮（10），所述光纤固定架（8）的底部固定设置有光纤固定旋盖（7），所述Z轴固定架（11）内活动连接有Z轴固定杆（12），所述Z轴固定杆（12）的顶部固定设置有Z轴调节旋钮（13），所述Z轴固定杆（12）底部贯穿所述光纤固定架（8）和θ轴调节旋钮（10）并延伸至所述产品固定旋盖（5）的上方，所述Z轴固定杆（12）底部固定设置有光纤固定旋盖（7）。
2.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件耦合功率测试夹具，其特征在于，所述导向杆（9）和Z轴固定杆（12）上均设置有刻度尺。
3.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件耦合功率测试夹具，其特征在于，所述光纤固定架（8）位于所述Z轴固定架（11）与夹具基座（1）之间。
4.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件耦合功率测试夹具，其特征在于，所述光纤固定架（8）与所述导向杆（9）滑动配合连接。
5.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件耦合功率测试夹具，其特征在于，所述Z轴固定杆（12）在所述Z轴固定架（11）内呈竖直设置。
6.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件耦合功率测试夹具，其特征在于，电源基座（2）一侧设置有电源接口。
7.根据权利要求1所述的一种半导体激光器件耦合功率测试夹具，其特征在于，所述产品固定旋盖（5）与所述电源插座（3）螺纹连接。
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- 2020-12-08 CN CN202022916325.8U patent/CN213813697U/zh active Active
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