CN213731012U - 一种用于led芯片测试设备的磨针装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型属于LED芯片领域，尤其是一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，针对现有磨针设备打磨效率较低，且不便于对打磨产生的碎屑进行收集的问题，现提出如下方案，其包括打磨座，打磨座的顶部开设有打磨槽，打磨槽内转动安装有两个打磨刷，两个打磨刷的一端均开设有第一锥齿轮，打磨槽的底部内壁上开设有两个转动孔，两个转动孔内均转动安装有转动杆，两个转动杆的顶端均固定安装有第二锥齿轮，第二锥齿轮与对应的第一锥齿轮啮合，两个转动杆的底端均固定安装有大齿轮，两个大齿轮相啮合，所述打磨槽的底部内壁上开设有通风孔。本实用新型结构合理，操作方便，该磨针设备打磨效率较高，且便于对打磨产生的碎屑进行收集。

Description

一种用于LED芯片测试设备的磨针装置

技术领域

本实用新型涉及LED芯片技术领域，尤其涉及一种用于LED芯片测试设备的磨针装置。

背景技术

LED芯片是一种固态的半导体器件，LED的心脏是一个半导体的晶片，晶片的一端附在一个支架上，一端是负极，另一端连接电源的正极，使整个晶片被环氧树脂封装起来，也称为led发光芯片，是led灯的核心组件，也就是指的P-N结，目前的LED芯片测试设备在测试过程中，容易出现针尖氧化等问题，需要对针尖进行打磨；

然而现有的磨针设备打磨效率较低，且不便于对打磨产生的碎屑进行收集。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在磨针设备打磨效率较低，且不便于对打磨产生的碎屑进行收集的缺点，而提出的一种用于LED芯片测试设备的磨针装置。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，包括打磨座，打磨座的顶部开设有打磨槽，打磨槽内转动安装有两个打磨刷，两个打磨刷的一端均开设有第一锥齿轮，打磨槽的底部内壁上开设有两个转动孔，两个转动孔内均转动安装有转动杆，两个转动杆的顶端均固定安装有第二锥齿轮，第二锥齿轮与对应的第一锥齿轮啮合，两个转动杆的底端均固定安装有大齿轮，两个大齿轮相啮合，所述打磨槽的底部内壁上开设有通风孔，通风孔内固定安装有收集滤盒，收集滤盒的顶部为开口，通风孔内固定安装有连接条，连接条上转动安装有圆杆，圆杆的顶端固定安装有扇叶，所述圆杆的底端固定安装有第一链轮，两个转动杆的其中一个转动杆上固定套设有第二链轮，打磨座的底部开设有电机槽，电机槽内固定安装有电机，电机的输出轴上固定连接有第三链轮，第三链轮、第一链轮和第二链轮啮合有同一个链条。

优选的，所述打磨座的底部固定安装有底板，两个大齿轮均转动安装在底板的顶部。

优选的，所述连接条上开设有通孔，圆杆转动安装在通孔内。

优选的，所述打磨槽的一侧内壁上开设有两个转动槽，两个打磨刷的一侧均固定安装有转动块，转动块转动安装在对应的转动槽内，打磨刷转动时带动转动块在转动槽内转动，可稳定打磨刷转动时的位置。

优选的，所述转动孔内固定安装有轴承的外圈，转动杆固定套接在轴承的内圈，转动杆在轴承内转动，可保证转动杆转动时的位置。

优选的，所述收集滤盒通过螺栓固定连接在通风孔内。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果在于：

本方案通过电机带动第三链轮转动，链条带动第二链轮转动，转动杆带动大齿轮转动，大齿轮带动对应的转动杆转动，第二锥齿轮带动对应的第一锥齿轮转动，两个打磨刷同时转动，两个打磨刷对磨针进行打磨，链条带动第一链轮转动，圆杆带动扇叶转动，扇叶带动通风孔内转动，打磨产生的碎屑可通过通风孔进入收集滤盒内，收集滤盒可对碎屑进行过滤盒和收集；

本实用新型结构合理，操作方便，该磨针设备打磨效率较高，且便于对打磨产生的碎屑进行收集。

附图说明

图1为本实用新型提出的主视结构示意图；

图2为本实用新型提出的A部分结构示意图；

图3为本实用新型提出的B部分结构示意图。

图中：1、打磨座；2、打磨槽；3、打磨刷；4、第一锥齿轮；5、转动杆；6、第二锥齿轮；7、大齿轮；8、通风孔；9、收集滤盒；10、连接条；11、圆杆；12、扇叶；13、第一链轮；14、第二链轮；15、电机；16、第三链轮；17、链条；18、底板。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。

除非别作定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本实用新型所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本实用新型专利说明书以及权利要求书中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”或者“一”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。

参照图1-3，一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，包括打磨座1，打磨座1的顶部开设有打磨槽2，打磨槽2内转动安装有两个打磨刷3，两个打磨刷3的一端均开设有第一锥齿轮4，打磨槽2的底部内壁上开设有两个转动孔，两个转动孔内均转动安装有转动杆5，两个转动杆5的顶端均固定安装有第二锥齿轮6，第二锥齿轮6与对应的第一锥齿轮4啮合，两个转动杆5的底端均固定安装有大齿轮7，两个大齿轮7相啮合，打磨槽2的底部内壁上开设有通风孔8，通风孔8内固定安装有收集滤盒9，收集滤盒9的顶部为开口，通风孔8内固定安装有连接条10，连接条10上转动安装有圆杆11，圆杆11的顶端固定安装有扇叶12，圆杆11的底端固定安装有第一链轮13，两个转动杆5的其中一个转动杆5上固定套设有第二链轮14，打磨座1的底部开设有电机槽，电机槽内固定安装有电机15，电机15的输出轴上固定连接有第三链轮16，第三链轮16、第一链轮13和第二链轮14啮合有同一个链条17。

本实施例中，打磨座1的底部固定安装有底板18，两个大齿轮7均转动安装在底板18的顶部。

本实施例中，连接条10上开设有通孔，圆杆11转动安装在通孔内。

本实施例中，打磨槽2的一侧内壁上开设有两个转动槽，两个打磨刷3的一侧均固定安装有转动块，转动块转动安装在对应的转动槽内，打磨刷3转动时带动转动块在转动槽内转动，可稳定打磨刷3转动时的位置。

本实施例中，转动孔内固定安装有轴承的外圈，转动杆5固定套接在轴承的内圈，转动杆5在轴承内转动，可保证转动杆5转动时的位置。

本实施例中，收集滤盒9通过螺栓固定连接在通风孔8内。

本实施例中，工作人员对各部件进行检查，确保无误后才可进行使用，该文中出现的电器元件均与外界的主控器及220V市电电连接，并且主控器可为计算机等起到控制的常规已知设备，通过电机15带动第三链轮16转动，第三链轮16带动链条17运动，链条17带动第二链轮14转动，第二链轮14带动转动杆5转动，转动杆5带动大齿轮7转动，使得大齿轮7带动另一个大齿轮7转动，大齿轮7带动对应的转动杆5转动，转动杆5带动对应的第二锥齿轮6转动，第二锥齿轮6带动对应的第一锥齿轮4转动，第一锥齿轮4带动对应的打磨刷3转动，两个打磨刷3同时转动，将磨针放入打磨槽2内，两个打磨刷3对磨针进行打磨，与此同时，链条17带动第一链轮13转动，第一链轮13可以带动圆杆11在连接条10上转动，圆杆11带动扇叶12转动，扇叶12带动通风孔8内转动，通风孔8可带动打磨槽2内的空气流动，打磨产生的碎屑可通过通风孔8进入收集滤盒9内，收集滤盒9可对碎屑进行过滤盒和收集。

本实用新型相对现有技术获得的技术进步是：本实用新型结构合理，操作方便，该磨针设备打磨效率较高，且便于对打磨产生的碎屑进行收集。

Claims (6)

1.一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，包括打磨座(1)，打磨座(1)的顶部开设有打磨槽(2)，打磨槽(2)内转动安装有两个打磨刷(3)，其特征在于，两个打磨刷(3)的一端均开设有第一锥齿轮(4)，打磨槽(2)的底部内壁上开设有两个转动孔，两个转动孔内均转动安装有转动杆(5)，两个转动杆(5)的顶端均固定安装有第二锥齿轮(6)，第二锥齿轮(6)与对应的第一锥齿轮(4)啮合，两个转动杆(5)的底端均固定安装有大齿轮(7)，两个大齿轮(7)相啮合，所述打磨槽(2)的底部内壁上开设有通风孔(8)，通风孔(8)内固定安装有收集滤盒(9)，收集滤盒(9)的顶部为开口，通风孔(8)内固定安装有连接条(10)，连接条(10)上转动安装有圆杆(11)，圆杆(11)的顶端固定安装有扇叶(12)，所述圆杆(11)的底端固定安装有第一链轮(13)，两个转动杆(5)的其中一个转动杆(5)上固定套设有第二链轮(14)，打磨座(1)的底部开设有电机槽，电机槽内固定安装有电机(15)，电机(15)的输出轴上固定连接有第三链轮(16)，第三链轮(16)、第一链轮(13)和第二链轮(14)啮合有同一个链条(17)。

2.根据权利要求1所述的一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述打磨座(1)的底部固定安装有底板(18)，两个大齿轮(7)均转动安装在底板(18)的顶部。

3.根据权利要求1所述的一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述连接条(10)上开设有通孔，圆杆(11)转动安装在通孔内。

4.根据权利要求1所述的一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述打磨槽(2)的一侧内壁上开设有两个转动槽，两个打磨刷(3)的一侧均固定安装有转动块，转动块转动安装在对应的转动槽内。

5.根据权利要求1所述的一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述转动孔内固定安装有轴承的外圈，转动杆(5)固定套接在轴承的内圈。

6.根据权利要求1所述的一种用于LED芯片测试设备的磨针装置，其特征在于，所述收集滤盒(9)通过螺栓固定连接在通风孔(8)内。

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