CN213715050U - 一种led多波长荧光光路调试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种LED多波长荧光光路调试装置，包括检测装置体，所述检测装置体的端面设有贯穿的光路通孔，所述检测装置体的一侧面设有开口槽，所述开口槽底部设有用于放置比色皿的第一凹槽，且第一凹槽平面垂直于光路通孔轴线；所述检测装置体内设有第一密封垫和第二密封垫，所述第一密封垫与第二密封垫相对设置在第一凹槽两侧的光路通孔内；所述第一密封垫上远离第一凹槽的一侧设有滤光片，所述第二密封垫上远离第一凹槽的一侧设有石英窗口，该装置旨在提供一种结构简单、灵敏度高、检测结果更精确的调试装置，可以适配不同的比色皿，不同的样品，精准的捕捉荧光信号，且操作更简单。

Description

一种LED多波长荧光光路调试装置

技术领域

本实用新型涉及荧光检测技术领域，具体的说是一种LED多波长荧光光路调试装置。

背景技术

荧光检测是一种自然发光反应，通过荧光素酶与ATP进行反应，可检测人体细胞、细菌、霉菌、食物残渣，在极短时间内即可得到反应结果。基于被测荧光的检测具有犀利的灵敏度与选择性，荧光检测器对痕量分析与复杂样品基质都很理想。荧光检测器的灵敏度一般比紫外可见检测器高3个数量级。配有荧光检测的高效液相色谱分析可以日常用于低至ng/mL级的定量分析，甚至可测定低至pg/mL级的样品浓度。近年来，随着LED紫外光源技术的发展，LED的小型化，高能量，低功耗等优点逐步凸显，LED替代传统光源的趋势日益显著，尤其在科研领域，紫外LED作为一种激发光源诱导荧光技术正在兴起。为了在LED诱导荧光检测系统中获得稳定、重复的分析结果，需要对LED诱导荧光光路系统进行调试，现有的光路系统调试工艺过程中大多采用激光光学平台调试，平台搭建复杂,调试繁琐，并且，激光光源波段多为可见波段，且针对UVA\UVB\UVC波段的LED光源系统，为日盲紫外区，若采用激光调试光路系统会存在一定的色差或像差，光路系统调试结果会受到影响，且荧光检测为弱信号检测，需要高灵敏检测设备进行信号的收集及监测，故针对紫外LED光源系统需要一种能够解决上述问题的方法或装置。

中国专利文献CN202145194U公开了一种发光二极管诱导荧光检测装置，包括压盖、自校准平台、荧光收集透镜、光电探测器连接件、滤光片、光电探测器、支架。压盖与自校准平台通过螺纹连接；自校准平台上端通孔与荧光收集透镜通过螺纹连接，上端的U型槽分别用来安装毛细管和光纤，下端通孔与光电探测器连接件间通过螺纹连接；光电探测器连接件的沉孔内安装滤光片，光电探测器通过螺钉安装在其安装槽内；荧光收集透镜、滤光片和光电探测器中心处于同一轴线。该装置可以满足光纤和检测通道的高精度中心对准和重复定位的需求，也可根据需要增加激发光纤的数量，提高系统的检测上限，但该装置结构内空间预留较大，部件之间连接间隙较大，装置整体占用体积较大。

中国专利文献CN209372698U公开了一种荧光检测校准装置，包括底板，所述底板的前侧顶端固定安转有固定机构，所述固定机构的内部固定安装有荧光检测器，所述底板的内部靠近固定机构的后侧位置处滑动连接有校准机构，所述校准机构的顶端依次安装有滤光片、透镜和接物镜，所述底板的内部靠近校准机构的后方位置处架设有固定框架，所述固定框架的顶端安装有储样管，且固定框架的底端设置有夹持机构，所述夹持机构的内部夹持有细胞收集管。本实用新型通过第一调节器、滑动板、第二调节器、车轮和固定木板的结合使用，能够对滤光片、透镜和接物镜的位置进行调节，从而对荧光检测进行校准，使荧光检测能够顺利的完成，但该装置中第一调节器、滑动板、第二调节器、车轮和固定木板连接结构较大，装置整体需占用较大空间，且操作过程中需对滤光片、透镜和接物镜的位置调节，操作过程较为繁琐。

实用新型内容

针对上述现有技术中存在的问题，本实用新型公布了一种LED多波长荧光光路调试装置，旨在提供一种结构简单、灵敏度高、检测结果更精确的小型调试装置。

本实用新型所公开的具体的技术方案如下：一种LED多波长荧光光路调试装置，包括检测装置体，所述检测装置体的端面设有贯穿的光路通孔，所述检测装置体的一侧面设有开口槽，所述开口槽底部设有用于放置比色皿的第一凹槽，且第一凹槽平面垂直于光路通孔轴线；所述检测装置体内设有第一密封垫和第二密封垫，所述第一密封垫与第二密封垫相对设置在第一凹槽两侧的光路通孔内；所述第一密封垫上远离第一凹槽的一侧设有滤光片，所述第二密封垫上远离第一凹槽的一侧设有石英窗口。

进一步的，所述光路通孔包括第一通孔、第二通孔和第三通孔，所述第二通孔贯穿第一凹槽平面，所述第二通孔两端分别连通第一通孔和第三通孔。

进一步的，所述第二通孔的直径小于第一通孔和第三通孔的直径。

进一步的，所述滤光片位于第一通孔内，且第一通孔内设有第一垫片和第一压紧螺母，所述第一垫片紧贴滤光片，所述第一压紧螺母与第一通孔内壁采用螺纹连接，通过第一压紧螺母压紧第一垫片和滤光片。

进一步的，所述石英窗口位于第三通孔内，且第三通孔内设有第二垫片和第二压紧螺母，所述第二垫片紧贴石英窗口，所述第二压紧螺母与第三通孔内壁采用螺纹连接，通过第二压紧螺母压紧第二垫片和石英窗口。

进一步的，所述第二压紧螺母中心设有螺纹孔，所述螺纹孔内设有聚焦透镜和第三压紧螺母，所述聚焦透镜采用平凸透镜，且聚焦透镜的平面部分紧贴第二压紧螺母；所述第三压紧螺母与螺纹孔螺纹连接，且所述第三压紧螺母的一侧压紧聚焦透镜的弧面部分。

进一步的，所述滤光片、石英窗口、聚焦透镜与所述光路通孔同轴设置。

进一步的，所述第三通孔设有LED光源，所述LED光源位于聚焦透镜的焦点位置。

进一步的，所述检测装置体上靠近滤光片的端面设有吸收盒，所述吸收盒与检测装置体端面采用螺钉固定连接。

进一步的，所述检测装置体上靠近滤光片的端面设有第二凹槽，所述吸收盒端面设有与第二凹槽配合的第一凸缘。

本实用新型同现有技术相比，具有如下优点：

本实用新型的LED多波长荧光光路调试装置，其结构简单，设计巧妙，通过高功率紫外LED作为激发光源，其激发光经由装置内的聚焦透镜由聚焦光转换为平行光，平行光均匀照射到比色皿内不同的样品上，激发出不同波段的荧光，激发出的荧光作为光路通孔中的光源，经滤光片选择性反射，并经吸收盒保证光路系统屏蔽，再由发射光路系统进行收集，发射光路系统是经由比色皿内部样品激发出的荧光信号，由透镜聚焦至光电倍增管处接收的过程。为最大限度的收集荧光信号，调整透镜的聚焦位置，通过发射光路系统末端的光电倍增管探测系统进行荧光信号的采集，并经由弱信号处理系统，将采集的荧光信号进行上位机软件系统数据处理。该装置改变了传统的弱信号光路系统通过观测物理光斑进行光路调试的方式，通过将光信号转换为电信号进行数字化的调试、识别并记录，摒弃了肉眼识别引入的误差，尤其对于紫外波段的弱信号识别精准，高效，此装置可以适配不同的比色皿，不同的样品，精准的捕捉荧光信号，操作简单，特别适合于荧光检测领域中进行推广应用，具有十分广阔的市场前景。

附图说明

图1是本实用新型中LED多波长荧光光路调试装置的结构示意图；

图2为本实用新型中LED多波长荧光光路调试装置的左视图；

图3为本实用新型中LED多波长荧光光路调试装置的右视图；

附图中附图标记的具体含义：

图中：1-检测装置体；2-滤光片；3-石英窗口；4-聚焦透镜；5-第一密封垫；6-第二密封垫；7-第二压紧螺母；8-第一垫片；9-第三压紧螺母；10-第一压紧螺母；11-吸收盒；12-第一凹槽；13-第二通孔；14-第三通孔；15-第一通孔；16-第二压紧螺母中的螺纹孔；17-开口槽。

具体实施方式

为使本实用新型实施方式的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本实用新型实施方式中的附图，对本实用新型实施方式中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施方式是本实用新型一部分实施方式，而不是全部的实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。

因此，以下对在附图中提供的本实用新型的实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本实用新型的范围，而是仅仅表示本实用新型的选定实施方式。基于本实用新型中的实施方式，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施方式，都属于本实用新型保护的范围。

应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。

在本实用新型的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“上”、“下”、“内”、“外”、等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制。

此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”、“第三”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本实用新型的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

在本实用新型中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征之“上”或之“下”可以包括第一和第二特征直接接触，也可以包括第一和第二特征不是直接接触而是通过它们之间的另外的特征接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”包括第一特征在第二特征正上方和斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”包括第一特征在第二特征正下方和斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

实施例：

结合图1所示，本实用新型提供一种LED多波长荧光光路调试装置，包括检测装置体1，所述检测装置体1的端面设有贯穿的光路通孔，所述光路通孔包括第一通孔15、第二通孔13和第三通孔14，所述第二通孔13垂直贯穿第一凹槽12平面，所述第二通孔13两端分别连通第一通孔15和第三通孔14，且所述第二通孔13的直径小于第一通孔15和第三通孔14的直径。

所述检测装置体1的一侧面设有开口槽18，所述开口槽18底部设有用于放置比色皿的第一凹槽12，且第一凹槽12平面垂直于光路通孔轴线；所述检测装置体1内设有第一密封垫5和第二密封垫6，所述第一密封垫5与第二密封垫6相对设置在第一凹槽12两侧的光路通孔内。

所述第一密封垫5远离第一凹槽12的一侧设有滤光片2，所述滤光片2位于第一通孔15内，且第一通孔15内设有第一垫片8和第一压紧螺母10，所述第一垫片8紧贴滤光片2，所述第一压紧螺母10与第一通孔15内壁采用螺纹连接，通过第一压紧螺母10压紧第一垫片8和滤光片2。

所述第二密封垫6上远离第一凹槽12的一侧设有石英窗口3，所述石英窗口3位于第三通孔14内，且第三通孔14内设有第二垫片16和第二压紧螺母9，所述第二垫片16紧贴石英窗口3，所述第二压紧螺母7与第三通孔14内壁采用螺纹连接，通过第二压紧螺母7压紧第二垫片16和石英窗口3。

所述第二压紧螺母7中心设有螺纹孔17，所述螺纹孔17内设有聚焦透镜4和第三压紧螺母9，所述聚焦透镜4采用平凸透镜，且聚焦透镜4的平面部分紧贴第二压紧螺母7；所述第三压紧螺母9与螺纹孔17螺纹连接，且所述第三压紧螺母9的一侧压紧聚焦透镜4的弧面部分。

所述第三通孔14设有LED光源，所述LED光源位于聚焦透镜4的焦点位置。需注意的是，为保证光源均匀照射到比色皿上，所述滤光片2、石英窗口3、聚焦透镜4与所述光路通孔同轴设置。

所述检测装置体1上靠近滤光片2的端面设有对光路系统屏蔽的吸收盒11，所述吸收盒11与检测装置体1端面采用螺钉固定连接。所述检测装置体1上靠近滤光片2的端面设有第二凹槽20，所述吸收盒11端面设有与第二凹槽20配合的第一凸缘19，该结构便于快速定位吸收盒的安装位置。

该装置的操作过程为：以高功率紫外LED灯作为本装置的激发光源，其激发光经由装置内的聚焦透镜由聚焦光转换为平行光，该平行光均匀照射到比色皿内，激发出不同波段的荧光，激发出的荧光作为发射光路系统的光源，经滤光片选择性反射，并经吸收盒保证光路系统屏蔽，再由发射光路系统进行收集，为最大限度的收集荧光信号，调整发射透镜的聚焦位置，通过光电倍增管探测系统进行荧光信号的采集，并经由弱信号处理系统，将采集的荧光信号进行上位机软件系统数据处理。这种校准装置可以适用于不同的样品调试，传统的弱信号光路系统通过观测物理光斑进行光路调试，此调试装置将光信号转换为电信号进行数字化的调试、识别并记录，摒弃了肉眼识别引入的误差。

以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，本实用新型可以有各种更改和变化。凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种LED多波长荧光光路调试装置，包括检测装置体，其特征在于，所述检测装置体的端面设有贯穿的光路通孔，所述检测装置体的一侧面设有开口槽，所述开口槽底部设有用于放置比色皿的第一凹槽，且第一凹槽平面垂直于光路通孔轴线；所述检测装置体内设有第一密封垫和第二密封垫，所述第一密封垫与第二密封垫相对设置在第一凹槽两侧的光路通孔内；所述第一密封垫上远离第一凹槽的一侧设有滤光片，所述第二密封垫上远离第一凹槽的一侧设有石英窗口。

2.根据权利要求1所述的LED多波长荧光光路调试装置，其特征为：所述光路通孔包括第一通孔、第二通孔和第三通孔，所述第二通孔贯穿第一凹槽平面，所述第二通孔两端分别连通第一通孔和第三通孔。

3.根据权利要求2所述的LED多波长荧光光路调试装置，其特征为：所述第二通孔的直径小于第一通孔和第三通孔的直径。

4.根据权利要求3所述的LED多波长荧光光路调试装置，其特征为：所述滤光片位于第一通孔内，且第一通孔内设有第一垫片和第一压紧螺母，所述第一垫片紧贴滤光片，所述第一压紧螺母与第一通孔内壁采用螺纹连接，通过第一压紧螺母压紧第一垫片和滤光片。

5.根据权利要求4所述的LED多波长荧光光路调试装置，其特征为：所述石英窗口位于第三通孔内，且第三通孔内设有第二垫片和第二压紧螺母，所述第二垫片紧贴石英窗口，所述第二压紧螺母与第三通孔内壁采用螺纹连接，通过第二压紧螺母压紧第二垫片和石英窗口。

6.根据权利要求5所述的LED多波长荧光光路调试装置，其特征为：所述第二压紧螺母中心设有螺纹孔，所述螺纹孔内设有聚焦透镜和第三压紧螺母，所述聚焦透镜采用平凸透镜，且聚焦透镜的平面部分紧贴第二压紧螺母；所述第三压紧螺母与螺纹孔螺纹连接，且所述第三压紧螺母的一侧压紧聚焦透镜的弧面部分。

7.根据权利要求6所述的LED多波长荧光光路调试装置，其特征为：所述滤光片、石英窗口、聚焦透镜与所述光路通孔同轴设置。

8.根据权利要求7所述的LED多波长荧光光路调试装置，其特征为：所述第三通孔设有LED光源，所述LED光源位于聚焦透镜的焦点位置。

9.根据权利要求8所述的LED多波长荧光光路调试装置，其特征为：所述检测装置体上靠近滤光片的端面设有吸收盒，所述吸收盒与检测装置体端面采用螺钉固定连接。

10.根据权利要求9所述的LED多波长荧光光路调试装置，其特征为：所述检测装置体上靠近滤光片的端面设有第二凹槽，所述吸收盒端面设有与第二凹槽配合的第一凸缘。

Images