CN213456058U - 光学模组及包括其的残影测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种光学模组及包括其的残影测试装置，该光学模组包括：盒体；两个第一通光孔，显示面板的两束光线分别通过两个所述第一通光孔射入所述盒体；光路传导组件；两个第二通光孔；所述光路传导组件将射入所述盒体的两束光线分别传导至两个所述第二通光孔。本实用新型的提供的一种光学模组能够解决小尺寸显示屏使用常用的光学探头无法量测残影参数的问题；本实用新型的残影测试装置可以通过光学参数量化迟滞的变化，消除人员判定带来的差异，同时，本实用新型的残影测试装置可以利用现有的光学探头，节省成本；此外光学探头和光学模组分离，不影响光学探头的其他使用。

Description

光学模组及包括其的残影测试装置

技术领域

本实用新型涉及显示面板测试领域，具体地说，涉及一种光学模组及包括其的残影测试装置。

背景技术

有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体(Active-matrix organiclight-emitting diode，AMOLED)产品由于薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)的迟滞(Retention)特性，即在点亮一个画面之后切换至另一个画面时，会受到之前画面TFT电性的影响，亮度会偏离理论亮度，并随着时间的变化逐渐恢复至稳定。但是每个人对光的明暗敏感程度不同，当人眼感知不到两侧的差异时的亮度差不同，感到的恢复时间也不同，所以需要用量化的光学方法来量测。

量化这种差异常用的方法是用两个光学探头(例如CA310色彩分析仪)，实时记录两个区域亮度变化的情况，确定亮度差异小于一定值作为判断迟滞消失的标准。但是对于小尺寸的产品常用的光学探头都比较大，无法同时放置两个探头在屏幕上进行测量。获得一种可以测试小尺寸显示产品的残影测试装置成为一个亟待解决的技术问题。

需要说明的是，在上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本实用新型的背景的理解，因此可以包括不构成对本领域普通技术人员已知的现有技术的信息。

实用新型内容

针对现有技术中的问题，本实用新型的目的在于提供一种光学模组及包括其的残影测试装置，该残影测试装置通过设置的光学模组将小尺寸显示产品两个区域的光线传导至现有光学探头能探测的位置，实现了小尺寸显示产品的残影参数测试。

本实用新型的一些实施例提供了一种光学模组，包括：

盒体；

两个第一通光孔，显示面板的两束光线分别通过两个所述第一通光孔射入所述盒体；

光路传导组件；

两个第二通光孔；

所述光路传导组件将射入所述盒体的两束光线分别传导至两个所述第二通光孔。

根据本实用新型的一些示例，所述光学模组还包括容置于所述盒体内的一分隔板，所述分隔板设置于两束光线之间。

根据本实用新型的一些示例，两个所述第一通光孔设置于所述盒体朝向显示面板发光面的一侧壁；

两个所述第二通光孔设置于所述盒体背离显示面板发光面的一侧壁。

根据本实用新型的一些示例，两个所述第一通光孔的中心之间的距离小于两个所述第二通光孔的中心之间的距离。

根据本实用新型的一些示例，两个所述第二通光孔的中心之间的距离≥8cm。

根据本实用新型的一些示例，所述光路传导组件包括两组平行反光镜，两个所述平行反光镜中、的一反光镜分别设置于两个所述第一通光孔的出光侧。

根据本实用新型的一些示例，所述平行反光镜中的一反光镜朝向光线且与光线呈45°角设置。

根据本实用新型的一些示例，两个所述第一通光孔的中心线与两个所述第二通光孔的中心线重合。

根据本实用新型的一些示例，所述光路传导组件包括两组平行反光镜，两个所述平行反光镜的中心线与两个所述第一通光孔的中心线重合。

根据本实用新型的一些示例，一所述第一通光孔在显示面板的投影覆盖一所述第二通光孔在显示面板的投影，所述光路传导组件包括一个平行反光镜，所述平行反光镜的一反光镜设置于另一所述第一通光孔的出光侧。

本实用新型的另一些实施例还提供了一种残影测试装置，包括所述的光学模组。

根据本实用新型的一些示例，所述残影测试装置还包括两个光学探头，分别设置于两个所述第二通光孔的出光侧。

本实用新型的提供的一种光学模组能够解决小尺寸显示屏使用常用的光学探头无法量测残影参数的问题；本实用新型的残影测试装置可以通过光学参数量化迟滞的变化，消除人员判定带来的差异，同时，本实用新型的残影测试装置可以利用现有的光学探头，节省成本；此外光学探头和光学模组分离，不影响光学探头的其他使用。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理，通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本实用新型的其它特征、目的和优点将会变得更明显。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本实用新型一实施例的光学模组的结构示意图；

图2为本实用新型另一实施例的光学模组的结构示意图；

图3为本实用新型一实施例的残影测试装置的结构示意图。

附图标记

100 盒体

110 第一通光孔

120 第二通光孔

101 盒底

102 盒盖

200 光路传导组件

300 分隔板

500 光学探头

900 显示面板

具体实施方式

现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本公开将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施方式中。

此外，附图仅为本公开的示意性图解，并非一定是按比例绘制。图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。附图中所示的一些方框图是功能实体，不一定必须与物理或逻辑上独立的实体相对应。

图1为本实用新型一实施例的光学模组的结构示意图，具体地，该光学模组包括：

盒体100；如图1所示，盒体可以由盒底101、盒盖101和侧壁组成，侧壁包括前侧壁、后侧壁和左、右侧壁，即此实施例中，盒体100为长方体结构的封闭的盒体，此时，盒底即为盒体朝向显示面板发光面的一侧壁、盒盖即为盒体背离显示面板发光面的一侧壁。当然，盒体的不限于图1所示的形状。盒体起到防止环境光干扰的作用。

两个第一通光孔110，显示面板的两束光线分别通过两个所述第一通光孔射入所述盒体100；

光路传导组件200；

两个第二通光孔120；

所述光路传导组件200将射入所述盒体100的两束光线分别传导至两个所述第二通光孔120。

本实用新型的光学模组通过设置的两个第一通光孔110和光路传导组件200改变显示产品两个区域的光线射出位置，使得残影测试更便利。

图1的实施例中，两个所述第一通光孔110可以设置于所述盒体100朝向显示面板发光面的一侧壁，即第一通光孔110设置于盒体100的盒底101；两个所述第二通光孔120设置于所述盒体100背离显示面板发光面的一侧壁，即第二通光孔120设置于盒体100的盒盖102。

两个所述第一通光孔的中心之间的距离小于两个所述第二通光孔的中心之间的距离。此时，本实用新型的光学模组将小尺寸显示产品两个区域的光线通过设置的两个第一通光孔110和光路传导组件200传导至距离相距较大的两个第二通光孔120射出，使得现有两个光学探头能探测，实现了小尺寸显示产品的残影参数测试。

上述实施例中，所述光路传导组件200(虚线方框中)包括两组平行反光镜，两个所述平行反光镜中的一反光镜分别设置于两个所述第一通光孔的出光侧。每组所述平行反光镜中的一反光镜朝向光线且与光线呈45°角设置。当光学模组的盒体100朝向显示面板发光面的一侧壁与显示面板平行时，光路传导组件200不改变从显示面板两个区域射出的两束光线的射出方向，即传导至两个第二通光孔120的光线方向不变。本实用新型的光学模组的两个第二通光孔120之间的距离理论上没有限制。由于现有的两个光学探头能探测的距离在8cm左右，在一些实施例中，两个所述第二通光孔120的中心之间的距离≥8cm，以使利用两个光学探头能同时探测显示面板两个发光区域的残差参数。

在一些实施例中，两个所述第一通光孔110的中心线与两个所述第二通光孔120的中心线重合，以及所述光路传导组件200包括两组平行反光镜，两个所述平行反光镜的中心线与两个所述第一通光孔110的中心线重合。此时，从显示面板两个区域射出的两束光线传导至两个第二通光孔120的光路长度一直，此时，可认为由于传导而引起的两束光线的光损失一直，在分析两束光线的残影参数时可忽略这一因素或者是以同样的参数处理测得的残影参数。

为了提高测量的两束光线的残影参数的准确性，在一些实施例中，光学模组还包括容置于所述盒体100内的一分隔板300，所述分隔板300可设置于两束光线之间，具体位置不作限制，起到于阻隔两侧的光线以避免两束光线互相干扰的目的即可。

图2为本实用新型另一实施例的光学模组的结构示意图。此实施例中，第一通光孔110在显示面板的投影覆盖一所述第二通光孔120在显示面板的投影，所述光路传导组件200包括一个平行反光镜，所述平行反光镜的一反光镜设置于另一所述第一通光孔110的出光侧。此实施例中，从显示面板一个区域射出的光线直接穿过第一通光孔110和第二通光孔120，而从显示面板另一个区域射出的光线直接则通过第一通光孔110和光路传导组件传导至第二通光孔120射出。此实施中，光学模组具有更简单的结构，此时，从显示面板两个区域射出的两束光线的光路长度不同，可采用光学处理模型处理测得的残影参数，从而使得残影测试结果更精准。

上述实施例中，从显示面板两个区域射出的两束光线均从盒体100背离显示面板发光面的一侧壁射出，通过改变光路传导组件的位置，如图1的实施例中，改变平行反光镜中的反光镜与光线的角度，两束光线可以从盒体的不同侧壁射出，相应地，两个第二通光孔的位置也做适配性的改变。

本实用新型的另一些实施例还提供了一种残影测试装置，包括所述的光学模组。图3为本实用新型一实施例的残影测试装置的结构示意图，所述残影测试装置还包括两个光学探头500以及其他用于残影测试的控制系统。两个光学探头500分别设置于两个所述第二通光孔120的出光侧。此实施例中光学探头500垂直于显示面板900设置。光学探头的位置可以根据两个第二通光孔的位置及光线的出射方向调整。需要说明的是，本实用新型中的光学模组与显示面板是分离的，当需测量显示面板的残影参数时，将光学模组放置于显示面板的发光侧。本实用新型中光学探头和光学模组是可分离的，不影响光学探头的其他使用。

综上所述，本实用新型提供了一种光学模组及包括其的残影测试装置，该光学模组包括：盒体；两个第一通光孔，显示面板的两束光线分别通过两个所述第一通光孔射入所述盒体；光路传导组件；两个第二通光孔，所述光路传导组件将射入所述盒体的两束光线分别传导至两个所述第二通光孔。本实用新型的提供的一种光学模组能够解决小尺寸显示屏使用常用的光学探头无法量测残影参数的问题；本实用新型的残影测试装置可以通过光学参数量化迟滞的变化，消除人员判定带来的差异，同时，本实用新型的残影测试装置可以利用现有的光学探头，节省成本；此外光学探头和光学模组分离，不影响光学探头的其他使用。

以上内容是结合具体的优选实施方式对本实用新型所作的进一步详细说明，不能认定本实用新型的具体实施只局限于这些说明。对于本领域技术人员而言，显然本申请不限于上述示范性实施例的细节，而且在不背离本申请的精神或基本特征的情况下，能够以其他的具体形式实现本申请。因此，无论从哪一点来看，均应将实施例看作是示范性的，而且是非限制性的，本申请的范围由所附权利要求而不是上述说明限定，因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化涵括在本申请内。不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外，显然“包括”一词不排除其他单元或步骤，单数不排除复数。装置权利要求中陈述的多个单元或装置也可以由一个单元或装置通过软件或者硬件来实现。应当理解的是，“下”或“上”，“向下”或“向上”等用语用来参照示例性实施例的特征在图中显示的位置描述这些特征；第一、第二等词语用来表示名称，而并不表示任何特定的顺序。

Claims (12)

1.一种光学模组，其特征在于，包括：

盒体；

两个第一通光孔，显示面板的两束光线分别通过两个所述第一通光孔射入所述盒体；

光路传导组件；

两个第二通光孔；

所述光路传导组件将射入所述盒体的两束光线分别传导至两个所述第二通光孔。

2.根据权利要求1所述的光学模组，其特征在于，还包括容置于所述盒体内的一分隔板，所述分隔板设置于两束光线之间。

3.根据权利要求1所述的光学模组，其特征在于，两个所述第一通光孔设置于所述盒体朝向显示面板发光面的一侧壁；

两个所述第二通光孔设置于所述盒体背离显示面板发光面的一侧壁。

4.根据权利要求1所述的光学模组，其特征在于，两个所述第一通光孔的中心之间的距离小于两个所述第二通光孔的中心之间的距离。

5.根据权利要求1所述的光学模组，其特征在于，两个所述第二通光孔的中心之间的距离≥8cm。

6.根据权利要求1所述的光学模组，其特征在于，所述光路传导组件包括两组平行反光镜，两组所述平行反光镜中的一反光镜分别设置于两个所述第一通光孔的出光侧。

7.根据权利要求6所述的光学模组，其特征在于，所述平行反光镜中的一反光镜朝向光线且与光线呈45°角设置。

8.根据权利要求1所述的光学模组，其特征在于，两个所述第一通光孔的中心线与两个所述第二通光孔的中心线重合。

9.根据权利要求8所述的光学模组，其特征在于，所述光路传导组件包括两组平行反光镜，两组所述平行反光镜的中心线与两个所述第一通光孔的中心线重合。

10.根据权利要求1所述的光学模组，其特征在于，一所述第一通光孔在显示面板的投影覆盖一所述第二通光孔在显示面板的投影，所述光路传导组件包括一组平行反光镜，所述平行反光镜中的一反光镜设置于另一所述第一通光孔的出光侧。

11.一种残影测试装置，其特征在于，包括权利要求1至10所述的光学模组。

12.根据权利要求11所述的残影测试装置，其特征在于，还包括两个光学探头，分别设置于两个所述第二通光孔的出光侧。

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