CN213336718U - 一种镜头透过率的测试装置 - Google Patents

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于向前
陈国军
吴景舟
马迪
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Desheng Electronics (Rudong) Co.,Ltd.
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Jiangsu Desheng Intelligent Technology Co ltd
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Abstract

本实用新型揭示了一种镜头透过率的测试装置,镜头至少包括准直镜头和投影镜头,装置包括支撑架、探测器、反射器件、激光器和上位机,镜头装设于支撑架上,镜头装设于支撑架上,探测器与上位机相连,并位于投影镜头的光路上,反射器件安装于准直镜头和投影镜头之间,使得准直镜头、所述反射器件和投影镜头实现光路连接,激光器与准直镜头相连。本实用新型能够直接对镜头进行透过率测试,无需将镜头与设备组装于一体后进行测试,使得不良镜头可及时发现与处理,减少人力和时间成本。

Description

一种镜头透过率的测试装置
技术领域
本实用新型涉及镜头测试技术领域,尤其是涉及一种镜头透过率的测试装置。
背景技术
透过率是指在入射光通量自被照面或介质入射面至另一面离开的过程中,投射并透过物体的辐射能与投射到物体上的总辐射能之比。镜头在生产完成后需要对其进行透过率测试,以检测其是否为不良产品。现有技术中,在对镜头进行透过率测试时,需将镜头与设备组装于一体后才能够进行测试。当检测到镜头为不良产品时需将当前镜头从设备上拆下,并更换其他镜头进行再次测试。此种镜头透过率的测试方式,一方面测试难度大,另一方面使得镜头无法在装配到设备上之前就能够进行镜头测试,无法及时的发现和处理不良镜头,耗费人力和时间成本。
实用新型内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷,提供一种镜头透过率的测试装置,测试难度低,可直接对镜头进行测试,减少人力和时间成本。
为实现上述目的,本实用新型提出如下技术方案:一种镜头透过率的测试装置,镜头至少包括准直镜头和投影镜头,所述装置包括支撑架、探测器、反射器件、激光器和至少一个上位机,所述镜头装设于所述支撑架上,所述探测器与上位机相连,并位于投影镜头的光路上,所述反射器件安装于准直镜头和投影镜头之间,使得准直镜头、所述反射器件和投影镜头实现光路连接,所述激光器与准直镜头相连。
优选地,所述反射器件是数字微镜器件,所述数字微镜器件与所述上位机连接,与所述探测器连接的上位机和与所述数字微镜器件连接的上位机为同一个或者为不同。
优选地,所述支撑架包括承托件、基座、第一连接件和第二连接件,所述承托件与基座相对设置,所述第一连接件和第二连接件位于承托件和基座之间,并分别连接所述承托件和基座,所述承托件上设有用于安装投影镜头的镜头安装孔。
优选地,所述镜头安装孔呈圆形。
优选地,所述承托件与基座之间间距可调。
优选地,所述探测器设于所述承托件和基座之间,且所述探测器设于所述基座上。
优选地,所述支撑架呈口字形。
优选地,所述镜头安装孔靠近所述承托件的一端部设置。
优选地,所述反射器件通过安装底板安装于准直镜头上。
优选地,所述安装底板上设有收容所述反射器件的容置槽,所述反射器件设于所述容置槽内。
本实用新型的有益效果是:
(1)本实用新型所述的镜头透过率的测试装置,可以在线下测试镜头的透过率,也即可直接对镜头进行透过率测试,无需将镜头与设备组装于一体后进行测试,使得不良镜头可及时发现与处理,减少人力和时间成本。
(2)本实用新型所述的镜头透过率的测试装置,通过设置反射器件,使得该镜头透过率的测试装置还可以用于调整镜头射出的光斑的尺寸。
(3)本实用新型所述的镜头透过率的测试装置,还具有结构简单、镜头测试难度低的优点。
附图说明
图1是本实用新型的正视示意图;
图2是装配有反射器件的待测镜头的爆炸图示意图;
图3是图1中承托件的俯视示意图。
附图标记:10、支撑架,11、承托件,111、镜头安装孔,12、基座,13、第一连接件,14、第二连接件,20、探测器,30、反射器件,40、安装底板,41、容置槽,50、限位件,a、准直镜头,b、投影镜头,c、转接板。
具体实施方式
下面将结合本实用新型的附图,对本实用新型实施例的技术方案进行清楚、完整的描述。
如图1所示,为本实用新型所揭示的镜头透过率的测试装置,用于测量镜头的透过率,测试装置包括支撑架10、探测器20、反射器件30、激光器(图未示)和至少一个上位机(图未示),其中,支撑架10用于安装待测镜头,待测镜头包括准直镜头a和投影镜头b,准直镜头a用于将射入的光线调整为平行度较高的光线,投影镜头b用于调整经反射器件30反射后的光斑的大小,镜头中还可以包括其他的功能镜头。通常准直镜头a和投影镜头b在结构上是相连的或者一体的,但是在光路上可能不连接。这里的光路是指光线经过的路线,光路连接是指光线经过反射、折射等可以途径每个镜头、反射器件等。实施时,待测镜头的投影镜头b装配于支撑架10上,以实现将待测镜头整体安装于支撑架10上。
探测器20与上位机相连,并位于投影镜头b的光路上,用于采集从投影镜头b射出的光,进一步将相应信息传输至上位机中。
反射器件30安装于准直镜头a和透镜镜头b上,使得准直镜头、反射器件和投影镜头实现光路连接,即光线可以经过反射、折射等途径准直镜头、反射器件和投影镜头。在优选的实施例中,反射器件30是数字微镜器件(DMD,Digital Micromirror Device),数字微镜器件与上位机相连,用于产生相应的投射图案。
激光器与准直镜头a相连,用于产生相应的激光并输入至准直镜头a中。
上位机用于控制反射器件30产生相应投射图案和控制激光器产生相应的激光,并对探测器20发送的信息进行处理,以获取镜头的透过率。实施时,与探测器20相连的上位机和与反射器件30相连的上位机可以是同一个,也可以是不同的,如为探测器20和反射器件30分别单独设置一个上位机,用于控制其实现相应的功能。
本实用新型所述的测试装置的工作原理如下:
先设定或者测定激光器发出的激光的亮度值、能量值或者其他能够度量激光的参数值,该参数值记为N0,可通过使用激光器直接照射探测器20的方式来获得激光器发出的激光的参数值N0,也可以通过控制激光器发射特定参数的激光。
测试时,将待测镜头装配于支撑架10上,将反射器件30安装于准直镜头a和透镜镜头b上,使得准直镜头a、反射器件30和投影镜头b实现光路连接,进一步将准直镜头a与激光器相连。上位机发送相应指令至反射器件30中,控制反射器件30投射相应图案,同时激光器产生相应的激光,光经过准直镜头a、反射器件30、投影镜头b传导后到达探测器20中,探测器20采集光的亮度值、能量值或者其他能够度量激光的参数值,该参数值记为N1,并传输至上位机中,上位机依据获取的参数值计算待测镜头的透过率N1/N0。N0和N1所度量的参数值应当是相同的,即如果N0是亮度值,则N1也应当是亮度值。上述的测试装置可以在镜头还未安装到设备上时对镜头的透过率进行测试,即线下测试镜头,测试更加快捷。当遇到不合格的镜头时只需从测试装置上取下,卸下反射器件、激光器即可,相比于从设备上拆下镜头,操作要更加简单,减少了人力和时间成本。
如图2所示,反射器件30通过安装底板40安装于准直镜头a的转接板c上。安装底板40具有收容反射器件30的容置槽41,实施时,反射器件30安装于容置槽41中,安装底板40进一步通过螺栓等固定方式安装于准直镜头a的转接板c上。
如图1所示,支撑架10为口字形框架结构,其包括承托件11、基座12、第一连接件13和第二连接件14,其中,承托件11与基座12相对设置,第一连接件13和第二连接件14位于承托件11和基座12之间,第一连接件13的一端与承托件11相连,相对端与基座12相连,第二连接件14的一端与承托件11相连,相对端与基座12相连。
进一步地,承托件11和基座12之间的距离可调,以适用不同尺寸的待测镜头,实施时,可将第一连接件和第二连接件设置为一伸缩结构,以实现承托件11和基座12之间的距离可调,承托件11和基座12之间的距离可根据实际需求设置。这样可以调节光斑投影到探测器上的尺寸。不同的探测器可探测的视场是不同的,如果探测器的视场比光斑尺寸小,那么探测器无法获取完整光斑的参数,那么测得的N1是不准确的。通过调节托件11和基座12之间的距离可以方便的调节光斑投影到探测器上的尺寸,使得探测器可以获取完整的光斑。这是在设备中是无法实现的,因为在设备中,镜头与投影面的距离通常是固定的,因此只能选取视场较大的探测器进行测试,测试的成本更高。
结合图1和图3所示,承托件11上设有用于安装投影镜头b的镜头安装孔111,投影镜头b上设有用于对投影镜头b进行限位的限位件50,限位件50可避免投影镜头b在重力作用下在镜头安装孔111滑动,镜头安装孔111的孔径大小可根据实际需求进行设置,以使其可以兼容更多的待测镜头。本实施例中,限位件50为限位凸环;镜头安装孔111靠近承托件11的一端设置,如图3所示,镜头安装孔111靠近承托件11的左侧端部设置,当然,在其他实施例中,可根据实际需求设置镜头安装孔111的位置。本实用新型通过将镜头安装孔111靠近承托件11的端部设置,方便于其他部件的安装于承托件11上,如可将激光器安装于承托件11上,以减少整体装置的空间占用。
如图1所示,探测器20位于承托件11和基座12之间,优选安装于基座12上,如探测器20通过相应安装支架等安装于基座12上,当然,在其他实施例中,探测器20也可以通过相应安装支架安装于两侧的连接件上,但探测器20始终位于探测镜头的光传输路径上,以获取穿出投影镜头b的出射光量信息。
本实用新型所述的镜头透过率的测试装置,可以在线下测试镜头的透过率,也就是说可直接对镜头进行透过率测试,无需将镜头与设备组装于一体后进行测试,使得不良镜头可及时发现与处理,减少人力和时间成本。同时,通过设置反射器件,使得该装置还可以用于调整镜头射出的光斑的尺寸。
另外,本实用新型所述的镜头透过率的测试装置,还具有结构简单、镜头测试难度低的优点。
本实用新型的技术内容及技术特征已揭示如上,然而熟悉本领域的技术人员仍可能基于本实用新型的教示及揭示而作种种不背离本实用新型精神的替换及修饰,因此,本实用新型保护范围应不限于实施例所揭示的内容,而应包括各种不背离本实用新型的替换及修饰,并为本专利申请权利要求所涵盖。

Claims (10)

1.一种镜头透过率的测试装置,镜头至少包括准直镜头和投影镜头,其特征在于,所述装置包括支撑架、探测器、反射器件、激光器和至少一个上位机,所述镜头装设于所述支撑架上,所述探测器与上位机相连,并位于投影镜头的光路上,所述反射器件安装于准直镜头和投影镜头之间,使得准直镜头、所述反射器件和投影镜头实现光路连接,所述激光器与准直镜头相连。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述反射器件是数字微镜器件,所述数字微镜器件与所述上位机连接,与所述探测器连接的上位机和与所述数字微镜器件连接的上位机为同一个或者为不同。
3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述支撑架包括承托件、基座、第一连接件和第二连接件,所述承托件与基座相对设置,所述第一连接件和第二连接件位于承托件和基座之间,并分别连接所述承托件和基座,所述承托件上设有用于安装投影镜头的镜头安装孔。
4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述镜头安装孔呈圆形。
5.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述承托件与基座之间间距可调。
6.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述探测器设于所述承托件和基座之间,且所述探测器设于所述基座上。
7.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述支撑架呈口字形。
8.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于,所述镜头安装孔靠近所述承托件的一端部设置。
9.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于,所述反射器件通过安装底板安装于准直镜头上。
10.根据权利要求9所述的测试装置,其特征在于,所述安装底板上设有收容所述反射器件的容置槽,所述反射器件设于所述容置槽内。
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