CN213302369U - 插入损耗测试工装和测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供了一种插入损耗测试工装和测试装置。插入损耗测试工装包括跟踪源连接端、射频信号连接端以及至少一个单元模块，每个单元模块包括第一继电器、第二继电器、第一阻抗、第二阻抗和连接器。连接器的第一至第四引脚适于连接待测部件；第一继电器的中心端与连接器的第二引脚连接，上切端与连接器的第一引脚及跟踪源连接端连接，下切端与第一阻抗的一端连接。第二继电器的中心端与连接器的第三引脚连接，下切端与连接器的第四引脚及射频信号连接端连接，上切端与第二阻抗的一端连接。本实用新型的插入损耗测试工装和测试装置可以自动更换待测部件的连接方式，从而节省人工成本以及接线和测试时间，并确保测试结果不受人为因素影响。

Description

插入损耗测试工装和测试装置

技术领域

本实用新型主要涉及电磁兼容测试领域，尤其涉及一种插入损耗测试工装和测试装置。

背景技术

EMC滤波器由共模电感、差模电感、X电容、Y电容等EMC滤波器件组成。插入损耗被公认为设计和选型EMC滤波器件最直观最有效的测试指标。

依据国标GB/T7343:2017，“无源EMC器件抑制特性的测量方法”提出插入损耗需要分成共模插入损耗和差模插入损耗，用来分别评估对共模噪声和差模噪声的抑制效果。

然而，共模插入损耗和差模插入损耗的测试连接方式不同，要完成一款二线或四线滤波器或者滤波电感的共模插入损耗和差模插入损耗测试，不仅需要人工操作插入损耗测试仪，而且需要更换待测部件的连接方式。在大批量生产时，需要花费大量的时间来操作仪器和改变待测部件的连接方式。这样的方式使得生产的品质检测时间变成提高批量生产效率的瓶颈。为缩短测试时间，即使添加插入损耗测试设备和测试人员，还是会受到更换连接方式所需要花费的时间的限制。

实用新型内容

本实用新型要解决的技术问题是提供一种插入损耗测试工装和测试装置，可以实现自动更换待测部件的连接方式，从而大幅度地节省人工成本以及接线和测试时间，并确保测试结果不受人为因素影响。

为解决上述技术问题，本实用新型提供了一种插入损耗测试工装，包括跟踪源连接端、射频信号连接端以及至少一个单元模块。每个单元模块包括：第一继电器、第二继电器、第一阻抗、第二阻抗和连接器，其中：所述连接器的第一引脚、第二引脚、第三引脚和第四引脚适于连接待测部件；所述第一继电器的中心端与所述连接器的第二引脚连接，所述第一继电器的上切端与所述连接器的第一引脚及所述跟踪源连接端连接，所述第一继电器的下切端与所述第一阻抗的一端连接，所述第一阻抗的另一端接地；以及所述第二继电器的中心端与所述连接器的第三引脚连接，所述第二继电器的下切端与所述连接器的第四引脚及所述射频信号连接端连接，所述第二继电器的上切端与所述第二阻抗的一端连接，所述第二阻抗的另一端接地。

在本实用新型的一实施例中，还包括第一射频开关和第二射频开关，所述第一射频开关和第二射频开关各自包括一路输入端和多路输出端，所述跟踪源连接端连接所述第一射频开关的输入端，每个单元模块的第一继电器的上切端连接所述第一射频开关的其中一路输出端，所述射频信号连接端连接所述第二射频开关的输入端，每个单元模块的第二继电器的下切端连接所述第二射频开关的其中一路输出端。

在本实用新型的一实施例中，所述第一继电器和第二继电器的控制端用于连接到执行插入损耗测试的上位机。

在本实用新型的一实施例中，所述第一射频开关和第二射频开关的控制端用于连接到执行插入损耗测试的上位机。

在本实用新型的一实施例中，所述跟踪源连接端用于连接到跟踪源。

在本实用新型的一实施例中，所述射频信号连接端用于连接到射频信号接收器。

为了解决以上的技术问题，本实用新型还提出了一种插入损耗测试装置，包括：插入损耗测试仪，所述插入损耗测试仪具有跟踪源和射频信号接收器；上述插入损耗测试工装，所述插入损耗测试工装的跟踪源连接端连接所述跟踪源，所述插入损耗测试工装的射频信号连接端连接所述插入损耗测试仪的射频信号接收器；以及上位机，连接所述插入损耗测试工装。

在本实用新型的一实施例中，所述上位机通过通讯线缆连接所述插入损耗测试工装。

与现有技术相比，本实用新型的插入损耗测试工装和测试装置不需要人工的手动操作仪器，通过插入损耗测试仪经过射频开关和/或继电器的连接方式连接至待测部件的测试工装，实现上位机控制插入损耗测试仪以及射频开关和/或继电器从而自动的更换待测部件需要的连接方式，来实现差模插入损耗和共模插入损耗的自动化测试，可以大幅度地节省人工，大幅度地节省测试和接线时间，能够确保测试结果不受人为因素影响。

附图说明

包括附图是为提供对本申请进一步的理解，它们被收录并构成本申请的一部分，附图示出了本申请的实施例，并与本说明书一起起到解释本申请原理的作用。附图中：

图1是本实用新型一实施例的一种插入损耗测试工装测试单个二线待测部件的共模插入损耗测试连接图；

图2是本实用新型一实施例的一种插入损耗测试工装测试单个二线待测部件的差模插入损耗测试连接图；

图3是本实用新型一实施例的一种插入损耗测试工装测试多个二线待测部件的共模插入损耗测试连接图；

图4是本实用新型一实施例的一种插入损耗测试工装测试多个二线待测部件的差模插入损耗测试连接图；

图5是本实用新型一实施例的一种插入损耗测试装置的结构示意图；

图6a是一种二线待测部件的共模插入损耗测试连接图；以及

图6b是一种二线待测部件的差模插入损耗测试连接图。

具体实施方式

为了更清楚地说明本申请的实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些示例或实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图将本申请应用于其他类似情景。除非从语言环境中显而易见或另做说明，图中相同标号代表相同结构或操作。

如本申请和权利要求书中所示，除非上下文明确提示例外情形，“一”、“一个”、“一种”和/或“该”等词并非特指单数，也可包括复数。一般说来，术语“包括”与“包含”仅提示包括已明确标识的步骤和元素，而这些步骤和元素不构成一个排它性的罗列，方法或者设备也可能包含其他的步骤或元素。

除非另外具体说明，否则在这些实施例中阐述的部件和步骤的相对布置、数字表达式和数值不限制本申请的范围。同时，应当明白，为了便于描述，附图中所示出的各个部分的尺寸并不是按照实际的比例关系绘制的。对于相关领域普通技术人员已知的技术、方法和设备可能不作详细讨论，但在适当情况下，所述技术、方法和设备应当被视为授权说明书的一部分。在这里示出和讨论的所有示例中，任何具体值应被解释为仅仅是示例性的，而不是作为限制。因此，示例性实施例的其它示例可以具有不同的值。应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步讨论。

在本申请的描述中，需要理解的是，方位词如“前、后、上、下、左、右”、“横向、竖向、垂直、水平”和“顶、底”等所指示的方位或位置关系通常是基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，在未作相反说明的情况下，这些方位词并不指示和暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位或者以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请保护范围的限制；方位词“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内外。

为了便于描述，在这里可以使用空间相对术语，如“在……之上”、“在……上方”、“在……上表面”、“上面的”等，用来描述如在图中所示的一个器件或特征与其他器件或特征的空间位置关系。应当理解的是，空间相对术语旨在包含除了器件在图中所描述的方位之外的在使用或操作中的不同方位。例如，如果附图中的器件被倒置，则描述为“在其他器件或构造上方”或“在其他器件或构造之上”的器件之后将被定位为“在其他器件或构造下方”或“在其他器件或构造之下”。因而，示例性术语“在……上方”可以包括“在……上方”和“在……下方”两种方位。该器件也可以其他不同方式定位(旋转90度或处于其他方位)，并且对这里所使用的空间相对描述作出相应解释。

此外，需要说明的是，使用“第一”、“第二”等词语来限定零部件，仅仅是为了便于对相应零部件进行区别，如没有另行声明，上述词语并没有特殊含义，因此不能理解为对本申请保护范围的限制。此外，尽管本申请中所使用的术语是从公知公用的术语中选择的，但是本申请说明书中所提及的一些术语可能是申请人按他或她的判断来选择的，其详细含义在本文的描述的相关部分中说明。此外，要求不仅仅通过所使用的实际术语，而是还要通过每个术语所蕴含的意义来理解本申请。

应当理解，当一个部件被称为“在另一个部件上”、“连接到另一个部件”、“耦合于另一个部件”或“接触另一个部件”时，它可以直接在该另一个部件之上、连接于或耦合于、或接触该另一个部件，或者可以存在插入部件。相比之下，当一个部件被称为“直接在另一个部件上”、“直接连接于”、“直接耦合于”或“直接接触”另一个部件时，不存在插入部件。同样的，当第一个部件被称为“电接触”或“电耦合于”第二个部件，在该第一部件和该第二部件之间存在允许电流流动的电路径。该电路径可以包括电容器、耦合的电感器和/或允许电流流动的其它部件，甚至在导电部件之间没有直接接触。

本实用新型的一实施例提出一种插入损耗测试工装，可以大幅度地节省人工成本以及测试和接线时间，并确保测试结果不受人为因素影响。

如图1所示，是本申请一实施例中插入损耗测试工装100具有跟踪源连接端TG、射频信号连接端RF和一个单元模块10的情况。具体的，该单元模块10包括第一继电器SW1、第二继电器SW2、第一阻抗Z1、第二阻抗Z2和连接器CN。

进一步的，连接器CN的第一引脚CN-1、第二引脚CN-2、第三引脚CN-3和第四引脚CN-4连接待测部件11。示例性的，待测部件11具有第五引脚11-1、第六引脚11-2、第七引脚11-3以及第八引脚11-4。待测部件11的第五引脚11-1连接第一引脚CN-1，待测部件11的第六引脚11-2连接第二引脚CN-2，待测部件11的第七引脚11-3连接第三引脚CN-3以及待测部件11的第八引脚11-4连接第四引脚CN-4。

第一继电器SW1的中心端与连接器CN的第二引脚CN-2连接，第一继电器SW1的上切端与连接器CN的第一引脚CN-1及跟踪源连接端TG连接，第一继电器SW1的下切端与第一阻抗Z1的一端连接，第一阻抗Z1的另一端接地。

第二继电器SW2的中心端与连接器CN的第三引脚CN-3连接，第二继电器SW2的下切端与连接器CN的第四引脚CN-4及射频信号连接端RF连接，第二继电器SW2的上切端与第二阻抗Z2的一端连接，第二阻抗Z2的另一端接地。

在如图1所示的实施例中，插入损耗测试工装100还连接到上位机12，该上位机12用于执行插入损耗测试控制，发送插入损耗测试指令。在本申请的一些实施例中，该上位机12还配置为可以从插入损耗测试仪13中读取插入损耗测试数据。示例性的，插入损耗测试工装100连接到上位机12的方式可以是通过第一继电器SW1和第二继电器SW2的控制端（例如控制驱动板）与上位机12连接，但是本实用新型不以这样的连接方式为限。

在图1中，第一继电器SW1的状态为第一继电器SW1的上切端与第一继电器SW1的中心端连接，第二继电器SW2的状态为第二继电器SW2的下切端与第二继电器SW2的中心端连接，此时可以利用插入损耗测试工装100通过如图1所示的测试连接方式完成共模插入损耗测试。

为了更好的理解本实用新型的插入损耗测试工装100的结构和作用，示例性的，插入损耗测试工装100中的第一继电器SW1和第二继电器SW2可以通过通讯线缆接受上位机12中的软件发出的状态信号，并以此改变与待测的待测部件11的连接方式，满足共模插入损耗测试的连接切换要求。例如，在图1所示的实施例中，上位机12中的软件发出共模插入损耗测试的状态信号，则第一继电器SW1的状态调整为上切，同时第二继电器SW2的状态调节为下切，从而实现共模插入损耗测试。

在本申请如图1所示的实施例中，插入损耗测试工装100与插入损耗测试仪13连接，用来完成测试。插入损耗测试仪13可以进一步包括跟踪源131和射频信号接收器132。其中，跟踪源连接端TG连接至跟踪源131，射频信号连接端RF连接至射频信号接收器132。

图1示出了跟踪源131和射频信号接收器132的等效电路，包括等效电阻Z3和Z4，但是本申请的插入损耗测试工装100可以连接的插入损耗测试仪13的内部结构不以图1所示的等效电路的结构为限。由于插入损耗测试仪13的结构不是本申请的重点，在此不再做展开。

如图2所示，是本实用新型的一种插入损耗测试工装测试单个二线待测部件的差模插入损耗测试连接图，可以理解的是，图2的插入损耗测试工装及其主要元件之间连接方式同图1相似，且相同的部分采用了相同的标号。图2中连接方式与图1的区别在于，在图2中，第一继电器SW1的状态为第一继电器SW1的下切端与第一继电器SW1的中心端连接，第二继电器SW2的状态为第二继电器SW2的上切端与第二继电器SW2的中心端连接，此时可以利用插入损耗测试工装100通过如图1所示的测试连接方式完成差模插入损耗测试。

例如，在图2所示的实施例中，上位机12中的软件发出差模插入损耗测试的状态信号，则第一继电器SW1的状态调整为下切，同时第二继电器SW2的状态调节为上切，从而实现差模插入损耗测试。

由以上的说明可知，在如图1和图2的实施例中，采用本实用新型的一种插入损耗测试工装100的结构，可以配合上位机12的操控实现自动化地切换差模插入损耗和共模插入损耗测试中待测部件的连接方式，从而根据测试要求，完成对应的插入损耗测试。在本申请的一些实施例中，上位机12还配置为可以由上位机12自动的记录插入损耗测试的数据。

通过这样的方式，解决了手动控制测试的操作仪器、手动改变待测部件的连接方式以及人工记录数据所需要大量的人工成本和测试时间的问题，提高了测试的效率，降低了人为记录数据可能出错的概率。

在如图1和图2所示的实施例中，仅示出了本实用新型中插入损耗测试工装具有一个单元模块的结构，但是，本申请不因此对于单元模块的个数做出限制。

示例性的，如图3和图4所示，在本实用新型的其他实施例中，另一插入损耗测试工装100具有多个单元模块10。图3和图4示例性的示出了本实用新型的一种插入损耗测试工装100具有四个单元模块10的结构，且其他部件可以与图1和图2的实施例中的相同。因此，为了便于理解，在图3和图4中，与图1和图2的实施例中相同的部分采用了相同的标号，但是本实用新型不以此为限，例如，在本申请其他一些具有多个单元模块的实施例中，各个单元模块10所连接的插入损耗测试仪或者上位机可能与图1和图2的实施例中的插入损耗测试仪和上位机存在差异。

如图3所示，插入损耗测试工装100具有跟踪源连接端TG、射频信号连接端RF以及4个单元模块10。每个单元模块10均具有一组第一继电器SW1和第二继电器SW2、与第一继电器SW1下切端连接的第一阻抗Z1、与第二继电器SW2上切端连接的第二阻抗Z2以及一个连接器CN。

进一步的，在每一个单元模块10中，连接器CN的第一引脚CN-1、第二引脚CN-2、第三引脚CN-3和第四引脚CN-4连接待测部件。在每一个单元模块10中，待测部件具有第五引脚11-1、第六引脚11-2、第七引脚11-3以及第八引脚11-4。如图3所示，各待测部件11的第五引脚11-1连接所在单元模块中的连接器CN的第一引脚CN-1，各待测部件11的第六引脚11-2连接所在单元模块中的连接器CN的第二引脚CN-2，各待测部件11的第七引脚11-3连接所在单元模块中的连接器CN的第三引脚CN-3以及各待测部件11的第八引脚11-4连接所在单元模块中的连接器CN的第四引脚CN-4。

在各单元模块10中，第一继电器SW1的中心端与连接器CN的第二引脚CN-2连接，第一继电器SW1的上切端与连接器CN的第一引脚CN-1连接，第一继电器SW1的下切端与第一阻抗Z1的一端连接，第一阻抗Z1的另一端接地。

进一步的，在各单元模块10中，第二继电器SW2的中心端与连接器CN的第三引脚CN-3连接，第二继电器SW2的下切端与连接器CN的第四引脚CN-4连接，第二继电器SW2的上切端与第二阻抗Z2的一端连接，第二阻抗Z2的另一端接地。

在图3所示的实施例中，插入损耗测试工装100还包括第一射频开关SW3和第二射频开关SW4，该第一射频开关SW3和第二射频开关SW4各自包括一路输入端和4路输出端，跟踪源连接端TG连接第一射频开关SW3的输入端，射频信号连接端RF连接第二射频开关SW4的输入端。

以如图3所示的4个单元模块10为例，每个单元模块10中的第一继电器SW1的上切端分别连接至第一射频开关SW3的其中一路输出端，即4个第一继电器SW1的上切端各自连接第一射频开关SW3的4路输出端；每个单元模块10中的第二继电器SW2的下切端分别连接至第二射频开关SW4的其中一路输出端，即4个第二继电器SW2的下切端各自连接第二射频开关SW4的4路输出端。

但是本发明不以图3所示的实施例为限，例如，在一些其他实施例中，上述的射频开关还包括更多路的输出端，插入损耗测试工装还包括更多的单元模块，且每个单元模块中的继电器的上/下切端分别连接至射频开关的多路的输出端。

具体的，图3示出的是在共模插入损耗测试场景中，插入损耗测试工装100的其中一个单元模块10，其第一继电器SW1的上切端通过第一射频开关SW3的其中一路输出端连接到跟踪源连接端TG，而其第二继电器SW2的下切端通过第二射频开关SW4的其中一路输出端连接到射频信号连接端RF。通过这样的连接方式使该单元模块10中的连接器CN的第一引脚CN-1与跟踪源连接端TG连接，且该单元模块10中的连接器CN的第四引脚CN-4与射频信号连接端RF连接。

在如图3所示的实施例中，插入损耗测试工装100还连接到上位机12，该上位机12用于发送指令给插入损耗测试工装100来执行插入损耗测试。

示例性的，第一射频开关SW3和第二射频开关SW4的控制端（例如控制驱动板）连接到上位机12，从而实现上位机12发送指令给第一射频开关SW3和第二射频开关SW4选择或转换输出通路，从而连接不同的单元模块10。

为了更好的理解本实用新型的插入损耗测试工装100的结构和作用，示例性的，插入损耗测试工装100中每个单元模块10的第一继电器SW1和第二继电器SW2可以通过通讯线缆接受上位机12中软件发出的状态指令，并以此改变与各待测部件11的连接方式，满足共模插入损耗测试的连接的切换要求。同时，如图3所示，插入损耗测试工装100还与插入损耗测试仪13连接，用来完成测试。

相似的，如图3所示，插入损耗测试仪13可以进一步包括跟踪源131和射频信号接收器132，图3示出了跟踪源131和射频信号接收器132的等效电路，包括等效电阻Z3和Z4。

如图4所示，为本实用新型的一种插入损耗测试工装测试多个二线待测部件的差模插入损耗测试连接图。可以理解的是，图4的插入损耗测试工装及其主要元件之间的连接方式同图3相似，且相同的部分采用了相同的标号。图4中连接方式与图3的区别在于，在图4中，每个单元模块10的第一继电器SW1的状态为第一继电器SW1的下切端与第一继电器SW1的中心端连接，每个单元模块10的第二继电器SW2的状态为第二继电器SW2的上切端与第二继电器SW2的中心端连接，此时可以利用插入损耗测试工装100通过如图4所示的测试连接方式完成差模插入损耗测试。

其他关于图3和图4中插入损耗测试仪13以及上位机12等的具体细节可以参照上述图1和图2的插入损耗测试工装100所连接的插入损耗测试仪13以及上位机12的相关说明，在此不再赘述。

通过以上的具有一个或多个单元模块的插入损耗测试工装，可以在进行共模、差模插入损耗测试时大幅度地节省人工成本以及测试和接线时间，通过上位机对于继电器各路输出的自动控制，可以自动更换待测部件的连接方式并在共模插入损耗测试和差模插入损耗测试的模式之间进行转换。

本实用新型的另一方面还提供了一种插入损耗测试装置，可以大幅度地节省人工成本以及测试和接线时间，并确保测试结果不受人为因素影响。

如图5所示，是本实用新型的一种插入损耗测试装置500的结构示意图。图5的插入损耗测试装置500使用了如图1~图4所示的实施例中的插入损耗测试工装所连接的各仪器，但是本申请不以此为限。例如，在本申请的其他一些实施例中，插入损耗测试装置500中的各仪器和部件可能与如图1~图4所示的实施例中插入损耗测试工装所连接的各仪器和部件存在差异。

如图5所示，插入损耗测试装置500包括插入损耗测试仪13、插入损耗测试工装100以及上位机12，可以用来测量多个待测部件11。

具体的，插入损耗测试仪13具有跟踪源。该跟踪源通过跟踪源连接端TG与插入损耗测试工装100连接。该插入损耗测试工装100的结构可以参考上述根据图1~图4的本实用新型的一种插入损耗测试工装100的说明，在此不再赘述。

进一步的，插入损耗测试仪13还具有射频信号接收器，该射频信号接收器通过射频信号连接端RF与插入损耗测试工装100连接，接收射频信号，从而完成共模或差模的插入损耗测试。

上位机12连接插入损耗测试仪13和插入损耗测试工装100，用来发送状态信号从而改变不同的待测部件11的连接方式以及插入损耗测试仪13和插入损耗测试工装100中的射频开关和继电器的连接状态，从而实现多个待测部件的差模或共模插入损耗测试的转换。

示例性的，在本申请的一实施例中，上位机12通过通讯线缆连接插入损耗测试工装100的方式传递信号，但是本申请不以此为限。

如图6a和图6b所示，分别示出了现有技术中二线滤波器/滤波电感的共模和差模插入损耗的测试连接方式。

从图6a和图6b可以看出，要完成一款二线滤波器或者滤波电感的共模插入损耗和差模插入损耗，不仅需要人工操作插入损耗测试仪13，而且需要手动更换待测部件11的连接方式。

尤其是在大批量生产时，需要花费大量的时间来操作插入损耗测试仪13并且改变待测部件11的连接方式，这种方式使得生产的品质检测时间变成大批量生产效率提高的瓶颈。

相比之下，采用本实用新型的插入损耗测试工装和插入损耗测试装置，通过设置跟踪源连接端、射频信号连接端连接插入损耗测试仪和插入损耗测试工装、并在该测试工装中排布继电器和射频开关，可以自动完成多个待测部件的共模和差模插入损耗测试，从而大幅度地节省人工成本以及测试和接线时间，并确保测试结果不受人为因素影响。

上文已对基本概念做了描述，显然，对于本领域技术人员来说，上述实用新型披露仅仅作为示例，而并不构成对本申请的限定。虽然此处并没有明确说明，本领域技术人员可能会对本申请进行各种修改、改进和修正。该类修改、改进和修正在本申请中被建议，所以该类修改、改进、修正仍属于本申请示范实施例的精神和范围。

同时，本申请使用了特定词语来描述本申请的实施例。如“一个实施例”、“一实施例”、和/或“一些实施例”意指与本申请至少一个实施例相关的某一特征、结构或特点。因此，应强调并注意的是，本说明书中在不同位置两次或多次提及的“一实施例”或“一个实施例”或“一替代性实施例”并不一定是指同一实施例。此外，本申请的一个或多个实施例中的某些特征、结构或特点可以进行适当的组合。

同理，应当注意的是，为了简化本申请披露的表述，从而帮助对一个或多个实用新型实施例的理解，前文对本申请实施例的描述中，有时会将多种特征归并至一个实施例、附图或对其的描述中。但是，这种披露方法并不意味着本申请对象所需要的特征比权利要求中提及的特征多。实际上，实施例的特征要少于上述披露的单个实施例的全部特征。

一些实施例中使用了描述成分、属性数量的数字，应当理解的是，此类用于实施例描述的数字，在一些示例中使用了修饰词“大约”、“近似”或“大体上”来修饰。除非另外说明，“大约”、“近似”或“大体上”表明所述数字允许有±20%的变化。相应地，在一些实施例中，说明书和权利要求中使用的数值参数均为近似值，该近似值根据个别实施例所需特点可以发生改变。在一些实施例中，数值参数应考虑规定的有效数位并采用一般位数保留的方法。尽管本申请一些实施例中用于确认其范围广度的数值域和参数为近似值，在具体实施例中，此类数值的设定在可行范围内尽可能精确。

虽然本申请已参照当前的具体实施例来描述，但是本技术领域中的普通技术人员应当认识到，以上的实施例仅是用来说明本申请，在没有脱离本申请精神的情况下还可作出各种等效的变化或替换，因此，只要在本申请的实质精神范围内对上述实施例的变化、变型都将落在本申请的权利要求书的范围内。

Claims (8)

1.一种插入损耗测试工装，包括跟踪源连接端、射频信号连接端以及至少一个单元模块，其特征在于每个单元模块包括：第一继电器、第二继电器、第一阻抗、第二阻抗和连接器，其中：

所述连接器的第一引脚、第二引脚、第三引脚和第四引脚适于连接待测部件；

所述第一继电器的中心端与所述连接器的第二引脚连接，所述第一继电器的上切端与所述连接器的第一引脚及所述跟踪源连接端连接，所述第一继电器的下切端与所述第一阻抗的一端连接，所述第一阻抗的另一端接地；以及

所述第二继电器的中心端与所述连接器的第三引脚连接，所述第二继电器的下切端与所述连接器的第四引脚及所述射频信号连接端连接，所述第二继电器的上切端与所述第二阻抗的一端连接，所述第二阻抗的另一端接地。

2.如权利要求1所述的插入损耗测试工装，其特征在于，还包括第一射频开关和第二射频开关，所述第一射频开关和第二射频开关各自包括一路输入端和多路输出端，所述跟踪源连接端连接所述第一射频开关的输入端，每个单元模块的第一继电器的上切端连接所述第一射频开关的其中一路输出端，所述射频信号连接端连接所述第二射频开关的输入端，每个单元模块的第二继电器的下切端连接所述第二射频开关的其中一路输出端。

3.如权利要求1或2所述的插入损耗测试工装，其特征在于，所述第一继电器和第二继电器的控制端用于连接到执行插入损耗测试的上位机。

4.如权利要求2所述的插入损耗测试工装，其特征在于，所述第一射频开关和第二射频开关的控制端用于连接到执行插入损耗测试的上位机。

5.如权利要求1所述的插入损耗测试工装，其特征在于，所述跟踪源连接端用于连接到跟踪源。

6.如权利要求1所述的插入损耗测试工装，其特征在于，所述射频信号连接端用于连接到射频信号接收器。

7.一种插入损耗测试装置，其特征在于，包括：

插入损耗测试仪，插入损耗测试仪具有跟踪源和射频信号接收器；

如权利要求1~6任一项所述的插入损耗测试工装，所述插入损耗测试工装的跟踪源连接端连接所述跟踪源，所述插入损耗测试工装的射频信号连接端连接所述插入损耗测试仪的射频信号接收器；以及

上位机，连接所述插入损耗测试工装。

8.如权利要求7所述的插入损耗测试装置，其特征在于，所述上位机通过通讯线缆连接所述插入损耗测试工装。

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