CN213275705U - 一种芯片测试支架 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种芯片测试支架，包括：安装下底板，所述安装下底板的中侧设有下凹槽，所述下凹槽上设有第一调节安装孔，所述安装下底板的上侧安装有安装上底板，所述安装上底板的上侧设有上凹槽，所述上凹槽内滑动安装有调节块，所述调节块的两侧安装有第一调节螺母，所述上凹槽前侧的安装上底板上安装有前预紧螺栓，本实用新型一种芯片测试支架的优点是：安装稳固，耐用性高，第一支撑板连接在安装上底板上，安装上底板由调节块进行左右位置的调节，第一支撑板上安装有第二支撑板，第二支撑板上安装有直接支架连接板，支架连接板在第二调节螺母和第三调节螺母的进行高度的调节，易于调节。

Description

一种芯片测试支架

技术领域

本实用新型涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试支架。

背景技术

目前，随着电子芯片技术的不断发展，封装芯片的测试技术也成为电子产业中保证生产品质以及加速生产流程的重要技术关键。一般，封装完成的电子芯片，需要在预设的高温中进行电性测试，以了解封装芯片的稳定性。在封装芯片测试时，需要将芯片置于测试支架上进行测试，现有的芯片测试支架结构复杂，稳定性差，位置无法调节，高度无法调节，不适用多种规格的芯片测试，因此，需要设计一种结构轻便，便于调节位置和多位置使用的测试支架。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种结构简单，易于调节和稳定性高的一种芯片测试支架。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案是：一种芯片测试支架，包括：安装下底板，所述安装下底板的中侧设有下凹槽，所述下凹槽上设有第一调节安装孔，所述安装下底板的上侧安装有安装上底板，所述安装上底板的上侧设有上凹槽，所述上凹槽内滑动安装有调节块，所述调节块的两侧安装有第一调节螺母，所述上凹槽前侧的安装上底板上安装有前预紧螺栓，所述上凹槽后侧的安装上底板上安装有后前预紧螺栓，所述后前预紧螺栓后侧的安装上底板上连接有第一支撑板，所述第一支撑板的后侧设有第二支撑板，所述第一支撑板的中侧安装有2组第二调节螺母，所述第二支撑板的设有与第二调节螺母相对应的第二调节安装孔， 所述第二支撑板的上端连接有支架连接板，所述支架连接板与第一支撑板之间安装有第三调节螺母，所述支架连接板的上端通过螺钉安装有测试支架，所述测试支架上安装测试板固定铜柱，所述测试板固定铜柱连接有芯片测试板。

进一步，所述芯片测试板为绝缘材料。

本实用新型一种芯片测试支架的优点是：安装稳固，耐用性高，第一支撑板连接在安装上底板上，安装上底板由调节块进行左右位置的调节，第一支撑板上安装有第二支撑板，第二支撑板上安装有直接支架连接板，支架连接板在第二调节螺母和第三调节螺母的进行高度的调节，易于调节；测试板通过测试板固定铜柱安装在测试支架上，稳定性高，芯片测试板为绝缘材料，绝缘性高。

附图说明

图1为本实用新型一种芯片测试支架的结构示意图。

图2为本实用新型一种芯片测试支架的展开结构示意图。

具体实施方式

以下结合附图并通过具体实施例对本实用新型做进一步阐述，应当指出：对于本工艺领域的普通工艺人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，对本实用新型的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。

如图1-2所示，一种芯片测试支架，包括：安装下底板1，所述安装下底板1的中侧设有下凹槽2，所述下凹槽2上设有第一调节安装孔3，所述安装下底板1的上侧安装有安装上底板4，所述安装上底板4的上侧设有上凹槽5，所述上凹槽5内滑动安装有调节块6，所述调节块6的两侧安装有第一调节螺母7，所述上凹槽5前侧的安装上底板4上安装有前预紧螺栓8，所述上凹槽5后侧的安装上底板4上安装有后前预紧螺栓9，所述后前预紧螺栓9后侧的安装上底板4上连接有第一支撑板10，所述第一支撑板10的后侧设有第二支撑板11，所述第一支撑板10的中侧安装有2组第二调节螺母12，所述第二支撑板11的设有与第二调节螺母相对应的第二调节安装孔13， 所述第二支撑板11的上端连接有支架连接板14，所述支架连接板14与第一支撑板10之间安装有第三调节螺母15，所述支架连接板14的上端通过螺钉16安装有测试支架17，所述测试支架17上安装测试板固定铜柱18，所述测试板固定铜柱18连接有芯片测试板19。

优选的，所述芯片测试板19为绝缘材料。

本实用新型一种芯片测试支架，安装稳固，耐用性高，第一支撑板10连接在安装上底板1上，安装上底板1由调节块6进行左右位置的调节，第一支撑板10上安装有第二支撑板11，第二支撑板11上安装有直接支架连接板14，支架连接板14在第二调节螺母12和第三调节螺母15的进行高度的调节，易于调节；测试板19通过测试板固定铜柱18安装在测试支架17上，稳定性高，芯片测试板为绝缘材料，绝缘性高。

Claims (2)

1.一种芯片测试支架，其特征在于，包括：安装下底板（1），所述安装下底板（1）的中侧设有下凹槽（2），所述下凹槽（2）上设有第一调节安装孔（3），所述安装下底板（1）的上侧安装有安装上底板（4），所述安装上底板（4）的上侧设有上凹槽（5），所述上凹槽（5）内滑动安装有调节块（6），所述调节块（6）的两侧安装有第一调节螺母（7），所述上凹槽（5）前侧的安装上底板（4）上安装有前预紧螺栓（8），所述上凹槽（5）后侧的安装上底板（4）上安装有后前预紧螺栓（9），所述后前预紧螺栓（9）后侧的安装上底板（4）上连接有第一支撑板（10），所述第一支撑板（10）的后侧设有第二支撑板（11），所述第一支撑板（10）的中侧安装有2组第二调节螺母（12），所述第二支撑板（11）的设有与第二调节螺母相对应的第二调节安装孔（13），所述第二支撑板（11）的上端连接有支架连接板（14），所述支架连接板（14）与第一支撑板（10）之间安装有第三调节螺母（15），所述支架连接板（14）的上端通过螺钉（16）安装有测试支架（17），所述测试支架（17）上安装测试板固定铜柱（18），所述测试板固定铜柱（18）连接有芯片测试板（19）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试支架，其特征在于，所述芯片测试板（19）为绝缘材料。

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