CN213210214U - 表贴式环行器测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了表贴式环行器测试装置，用于测试表贴式环行器，其包括测试基板，所述测试基板上设有传输线，所述测试基板上设有与所述传输线导通的POGO PIN，所述表贴式环行器的PIN针组件位于所述POGO PIN的上方并抵触导通所述POGO PIN。通过POGO PIN让传输线和表贴式环行器的PIN针组件实现良好接触，有利于微波信号的良好传输，从而得到更加准确的参数测试结果；由于PIN针组件和传输线接触不良而导致的返工频率大大减少，并且取消压脚、测试平面度和检验平面度等工序，缩短了表贴式环行器的制造时间，利于提高表贴式环行器的生产效率，使得表贴式环行器能够实现大规模生产，降低表贴式环行器的生产成本。

Description

表贴式环行器测试装置

技术领域

本实用新型涉及通信器材性能测试设备技术领域，尤其涉及表贴式环行器测试装置。

背景技术

表贴式环行器的原理和普通环行器原理相同，是一种单向传输，反向隔离的三端口器件；和普通环行器不同的是，表贴式环行器基本不带连接器，使用时多数也是直接焊接使用。

现有的表贴式环行器的腔体为半开放式腔体，其周壁具有三个开槽，三个PIN针组件从腔体的槽中伸出，PIN针组件底部和腔体底面相平。传统手动/自动测试时，测试工装都是以PCB板为测试基板，将表贴式环行器器件放到测试基板上，用一个压头压住表贴式环行器顶部或者外壳，此时三个PIN针组件的底面与测试基板上的焊盘分别贴合，微波信号从信号线传输到测试基板上，再通过所述焊盘传输到PIN针组件上，进入环行器。这种测试方法和工装对表贴式环行器的PIN针组件和表贴式环行器底部的平面度要求非常高，需要保证PIN针组件与测试基板的所述焊盘间连接良好，才能保证微波信号的传输顺畅。如果PIN针组件与测试基板上的所述焊盘接触不良，会导致环行器测试结果变差。因此在测试之前，需要设定压脚工序(使所有PIN针组件中的PIN针的顶点位于同一平面)、检验平面度工序和测试平面度工序，以及配套的工装、仪器和设备等。在反复测试流转中，PIN针组件的微小位移也会导致与所述焊盘接触不良，影响测试效果，需要要将产品压脚返工，严重影响了生产效率，增大了投入成本。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是：提供一种能够提高生产效率的表贴式环行器测试装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的技术方案为：表贴式环行器测试装置，用于测试表贴式环行器，其包括测试基板，所述测试基板上设有传输线，所述测试基板上设有与所述传输线导通的POGO PIN，所述表贴式环行器的PIN针组件位于所述POGO PIN的上方并抵触导通所述POGO PIN。

进一步的，所述测试基板上设有盲孔，所述POGO PIN设于所述盲孔中且所述POGOPIN的顶部伸出所述盲孔。

进一步的，所述传输线的一部分位于所述盲孔内；或者，所述盲孔内设有焊锡，所述焊锡导通所述传输线与所述POGO PIN。

进一步的，所述传输线为微带线。

进一步的，还包括接地底座，所述测试基板设于所述接地底座上，所述测试基板的表面设有接地区，所述表贴式环行器的腔体对应设于所述接地区内，所述测试基板上还设有导通所述接地区与所述接地底座的导通结构，所述表贴式环行器的腔体通过所述导通结构与所述接地底座导通。

进一步的，所述导通结构为金属化孔或导电插销。

进一步的，所述接地底座的顶面具有朝上凸出的限位凸部，所述测试基板上设有与所述限位凸部相配合的限位槽。

进一步的，所述接地底座的材质为铜。

进一步的，还包括接地垫块，所述接地垫块设于所述测试基板上，所述接地垫块对应于所述接地区设置，所述表贴式环行器的腔体通过所述接地垫块与所述导通结构导通。进一步的，所述表贴式环行器具有三个所述PIN针组件，所述测试基板上设有三个所述POGOPIN，三个所述PIN针组件与三个所述POGO PIN一一对应设置。

本实用新型的有益效果在于：

(1)采用在测试基板上引入POGO PIN的方案，将传输线与表贴式环行器的接触位置抬高，使得传输线和表贴式环行器的PIN针组件实现良好接触，有利于微波信号的良好传输，从而得到更加准确的参数测试结果。

(2)由于PIN针组件和传输线接触不良而导致的返工频率大大减少，并且取消压脚、测试平面度和检验平面度等工序，缩短了表贴式环行器的制造时间，利于提高表贴式环行器的生产效率，使得表贴式环行器能够实现大规模生产。

(3)省去了测试平面度的工装、仪器和设备等，降低了表贴式环行器的生产成本。

附图说明

图1为本实用新型实施例一的表贴式环行器测试装置的整体结构的结构示意图；

图2为本实用新型实施例一的表贴式环行器测试装置的爆炸图；

图3为本实用新型实施例一的表贴式环行器测试装置的剖视图；

图4为本实用新型实施例二的表贴式环行器测试装置的剖视图。

标号说明：

1、测试基板；2、传输线；3、POGO PIN；4、PIN针组件；5、盲孔；6、接地底座；7、导通结构；8、限位凸部；9、腔体；10、限位槽；11、压头；12、接地垫块。

具体实施方式

为详细说明本实用新型的技术内容、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。

请参照图1至图4，表贴式环行器测试装置，用于测试表贴式环行器，其包括测试基板1，所述测试基板1上设有传输线2，所述测试基板1上设有与所述传输线2导通的POGOPIN3，所述表贴式环行器的PIN针组件4位于所述POGO PIN3的上方并抵触导通所述POGOPIN3。

从上述描述可知，本实用新型的有益效果在于：(1)采用在测试基板1上引入POGOPIN3的方案，将传输线2与表贴式环行器的接触位置抬高，使得传输线2和表贴式环行器的PIN针组件4实现良好接触，有利于微波信号的良好传输，从而得到更加准确的参数测试结果。(2)由于PIN针组件4和传输线2接触不良而导致的返工频率大大减少，并且取消压脚、测试平面度和检验平面度等工序，缩短了表贴式环行器的制造时间，利于提高表贴式环行器的生产效率，使得表贴式环行器能够实现大规模生产。(3)省去了测试平面度的工装、仪器和设备等，降低了表贴式环行器的生产成本。

进一步的，所述测试基板1上设有盲孔5，所述POGO PIN3设于所述盲孔5中且所述POGO PIN3的顶部伸出所述盲孔5。

由上述描述可知，POGO PIN3是弹性导通元件，能够实现与表贴式环行器的PIN针组件4的良好导通。

进一步的，所述传输线2的一部分位于所述盲孔5内；或者，所述盲孔5内设有焊锡，所述焊锡导通所述传输线2与所述POGO PIN3。

由上述描述可知，表贴式环行器测试装置的具体构造多种多样，利于丰富表贴式环行器测试装置的多样性。

进一步的，所述传输线2为微带线。

进一步的，还包括接地底座6，所述测试基板1设于所述接地底座6上，所述测试基板1的表面设有接地区，所述表贴式环行器的腔体9对应设于所述接地区内，所述测试基板1上还设有导通所述接地区与所述接地底座6的导通结构7，所述表贴式环行器的腔体9通过所述导通结构7与所述接地底座6导通。

由上述描述可知，表贴式环行器的腔体9接地。

进一步的，所述导通结构7为金属化孔或导电插销。

由上述描述可知，导通结构7有多种具体的设置方式。

进一步的，所述接地底座6的顶面具有朝上凸出的限位凸部8，所述测试基板1上设有与所述限位凸部8相配合的限位槽10。

由上述描述可知，测试基板1与接地底座6是可拆卸限位固定的，当需要测试不同尺寸的表贴式环行器时，仅更换测试基板1即可，而不需要更换接地底座6，方便用户使用，利于降低表贴式环行器测试装置的使用成本，节约收纳空间。

进一步的，所述接地底座的材质为铜。

进一步的，还包括接地垫块12，所述接地垫块12设于所述测试基板1上，所述接地垫块12对应于所述接地区设置，所述表贴式环行器的腔体9通过所述接地垫块12与所述导通结构7导通。

由上述描述可知，接地垫块12的设置能够让表贴式环行器的腔体9实现更良好的接地导通。容易理解的，POGO PIN3的顶端高于接地垫块12的顶面设置。

进一步的，所述表贴式环行器具有三个所述PIN针组件4，所述测试基板1上设有三个所述POGO PIN3，三个所述PIN针组件4与三个所述POGO PIN3一一对应设置。

实施例一

请参照图1至图3，本实用新型的实施例一为：表贴式环行器测试装置，用于测试表贴式环行器，其包括测试基板1，所述测试基板1上设有传输线2，所述测试基板1上设有与所述传输线2导通的POGO PIN3，所述表贴式环行器的PIN针组件4位于所述POGO PIN3的上方并抵触导通所述POGO PIN3。可选的，所述测试基板1为PCB板；所述传输线2为微带线。

本实施例中，所述表贴式环行器具有三个所述PIN针组件4，所述测试基板1上设有三个所述POGO PIN3，三个所述PIN针组件4与三个所述POGO PIN3一一对应设置。

如图2和图3所示，进一步的，所述测试基板1上设有盲孔5，所述POGO PIN3设于所述盲孔5中且所述POGO PIN3的顶部伸出所述盲孔5。具体的，所述传输线2的一部分位于所述盲孔5内以与所述POGO PIN3导通；或者，所述盲孔5内设有焊锡，所述焊锡固定所述POGOPIN3，并导通所述传输线2与所述POGO PIN3。

如图3所示，还包括接地底座6，所述测试基板1设于所述接地底座6上，所述测试基板1的表面设有接地区，所述表贴式环行器的腔体9对应设于所述接地区内，所述测试基板1上还设有导通所述接地区与所述接地底座6的导通结构7，所述表贴式环行器的腔体9通过所述导通结构7与所述接地底座6导通。具体的，所述导通结构7为金属化孔或导电插销。需要说明的是，传输线2和POGO PIN3均不与所述接地底座6导通。可选的，所述接地底座6的材质为铜。

可选的，所述接地底座6的顶面具有朝上凸出的限位凸部8，所述测试基板1上设有与所述限位凸部8相配合的限位槽10。

请结合图1至图3，本表贴式环行器测试装置的工作过程简述如下：测试人员将待检测表贴式环行器的PIN针组件4与测试基板1上的POGO PIN3对齐后，将待检测表贴式环行器放置到表贴式环行器测试装置上，然后压头11下压待检测表贴式环行器的腔体9的顶端或者待检测表贴式环行器的盖板，接着，将信号经由传输线2传递给待检测表贴式环行器即可。

实施例二

请参照图4，本实用新型的实施例二是在实施例一的基础上对做出的进一步改进，与实施例一的不同之处在于：表贴式环行器测试装置还包括接地垫块12，所述接地垫块12设于所述测试基板1上，所述接地垫块12对应于所述接地区设置，所述表贴式环行器的腔体9的底壁与所述接地垫块12相接触，所述表贴式环行器的腔体9通过所述接地垫块12与所述导通结构7导通，进而实现表贴式环行器的腔体9与接地底座6的良好导通。可选的，所述接地垫块12的材质为铜。

容易理解的，所述POGO PIN3的顶端与所述测试基板1之间的间距大于所述接地垫块12的厚度。

综上所述，本实用新型提供的表贴式环行器测试装置，能够实现微波信号的良好传输，从而得到更加准确的参数测试结果；减少了压脚、测试平面度和检验平面度等工序，缩短了表贴式环行器的制造时间，利于提高表贴式环行器的生产效率，使得表贴式环行器能够实现大规模生产；省去了测试平面度的工装、仪器和设备等，降低了表贴式环行器的生产成本。

以上所述仅为本实用新型的实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等同变换，或直接或间接运用在相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。

Claims (10)

1.表贴式环行器测试装置，用于测试表贴式环行器，其包括测试基板，所述测试基板上设有传输线，其特征在于：所述测试基板上设有与所述传输线导通的POGO PIN，所述表贴式环行器的PIN针组件位于所述POGO PIN的上方并抵触导通所述POGO PIN。

2.根据权利要求1所述的表贴式环行器测试装置，其特征在于：所述测试基板上设有盲孔，所述POGO PIN设于所述盲孔中且所述POGO PIN的顶部伸出所述盲孔。

3.根据权利要求2所述的表贴式环行器测试装置，其特征在于：所述传输线的一部分位于所述盲孔内；或者，所述盲孔内设有焊锡，所述焊锡导通所述传输线与所述POGO PIN。

4.根据权利要求1所述的表贴式环行器测试装置，其特征在于：所述传输线为微带线。

5.根据权利要求1所述的表贴式环行器测试装置，其特征在于：还包括接地底座，所述测试基板设于所述接地底座上，所述测试基板的表面设有接地区，所述表贴式环行器的腔体对应设于所述接地区内，所述测试基板上还设有导通所述接地区与所述接地底座的导通结构，所述表贴式环行器的腔体通过所述导通结构与所述接地底座导通。

6.根据权利要求5所述的表贴式环行器测试装置，其特征在于：所述导通结构为金属化孔或导电插销。

7.根据权利要求5所述的表贴式环行器测试装置，其特征在于：所述接地底座的顶面具有朝上凸出的限位凸部，所述测试基板上设有与所述限位凸部相配合的限位槽。

8.根据权利要求5所述的表贴式环行器测试装置，其特征在于：所述接地底座的材质为铜。

9.根据权利要求5所述的表贴式环行器测试装置，其特征在于：还包括接地垫块，所述接地垫块设于所述测试基板上，所述接地垫块对应于所述接地区设置，所述表贴式环行器的腔体通过所述接地垫块与所述导通结构导通。

10.根据权利要求1所述的表贴式环行器测试装置，其特征在于：所述表贴式环行器具有三个所述PIN针组件，所述测试基板上设有三个所述POGO PIN，三个所述PIN针组件与三个所述POGO PIN一一对应设置。

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