CN213148721U - 分析仪及检测系统 - Google Patents

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Abstract

一种分析仪及检测系统。该分析仪包括第一壳体、芯片放置结构、以及至少一个检测单元。芯片放置结构设置在第一壳体中，用于放置检测芯片，检测芯片具有至少一个检测区；至少一个检测单元设置在第一壳体中，至少一个检测单元被配置为，当检测芯片被放置在芯片放置结构上时，可分别对检测芯片的一个或多个检测区进行检测。该分析仪可以在检测过程中检测出检测芯片的多个检测区中待检测液体的多种物质的含量。

Description

分析仪及检测系统
技术领域
本公开的实施例涉及一种分析仪及检测系统。
背景技术
近年来，随着生活水平的提高，广大人民群众对于均衡的营养膳食的要求越来越高，尤其是对于以母乳为主要营养来源的婴儿，其营养的均衡尤为重要。检测母乳中的微量元素，如钙、锌、铁、乳糖、以及蛋白等的物质含量，根据检测结果可以给予母亲合适的营养膳食指导。
实用新型内容
本公开的实施例提供一种分析仪及检测系统。该分析仪可以在检测过程中检测出检测芯片中待检测液体的多种物质的含量。
本公开至少一个实施例提供一种分析仪，包括：第一壳体、芯片放置结构、以及至少一个检测单元。芯片放置结构设置在所述第一壳体中，用于放置检测芯片，其中，所述检测芯片具有至少一个检测区。至少一个检测单元设置在所述第一壳体中，其中，所述至少一个检测单元被配置为，当所述检测芯片被放置在所述芯片放置结构上时，可分别对所述检测芯片的一个或多个检测区进行检测。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述至少一个检测单元包括至少一个光电检测单元。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述至少一个光电检测单元每个包括至少一个发光元件以及至少一个光电感应器件。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括光路组件，在所述第一壳体中设置在所述芯片放置结构与所述检测单元之间，且配置为将所述至少一个发光元件出射的光传输至所述芯片放置结构，以及将从所述芯片放置结构上放置的所述检测芯片反射的光传输至所述至少一个光电感应器件。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述光路组件包括分光盘，所述分光盘包括至少一组通光孔，分别对应于所述至少一个光电检测单元，所述至少一组通光孔每组包括至少一个光发射通孔及至少一个光反射通孔，所述至少一个光发射通孔允许对应的光电检测单元的至少一个发光元件出射的光通过，所述至少一个光反射通孔允许从所述芯片放置结构上放置的检测芯片反射的光通过以传输至所述对应的光电检测单元的至少一个光电感应器件。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述至少一个光发射通孔为矩形孔，所述至少一个光反射通孔为圆形孔。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述至少一个光发射通孔的沿所述分光盘的径向延伸的侧壁为斜面，所述至少一个光反射通孔的侧壁为斜面。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述分光盘设置为中心对称，所述至少一组通光孔每组也设置为中心对称。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述分光盘的形状为圆形，所述至少一组通光孔包括多组通光孔，以及所述多组通光孔围绕所述分光盘的圆心以圆形均匀分布。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述至少一组通光孔每组包括两个光发射通孔及一个光反射通孔，并且所述两个光发射通孔设置在所述一个光反射通孔相对的两侧。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述两个光发射通孔对称地设置在所述一个光反射通孔相对的两侧。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，相邻的两个光发射通孔的中心之间的直线距离的取值范围为5毫米至8毫米，所述至少一组通光孔每组中的所述两个光发射通孔的其中之一的中心与所述一个光反射通孔的中心的直线距离的取值范围为2.5毫米至4毫米。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述至少一组通光孔每组的所述一个光反射通孔包括位于所述分光盘远离所述至少一个检测单元的一侧的第一子反射通孔以及位于所述分光盘靠近所述至少一个检测单元的一侧的第二子反射通孔。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述第一子反射通孔的直径小于所述第二子反射通孔的直径。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述分光盘远离所述至少一个检测单元的一侧的表面包括至少一个凸台，所述至少一个凸台自所述至少一组通光孔每组的两个光发射通孔的靠近所述一个光反射通孔的一侧向靠近所述一个光反射通孔的方向倾斜地向远离所述至少一个检测单元的一侧突出，所述至少一组通光孔的所述一个光反射通孔一一对应地位于所述至少一个凸台中，以遮蔽通过所述光发射通孔从对应的光电检测单元的至少一个发光元件出射的光。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述至少一个凸台的每个为环形，所述至少一个凸台的每个环绕所述至少一组通光孔每组的所述一个光反射通孔。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述至少一个光电检测单元每个包括两个发光元件以及一个光电感应器件，并且所述两个发光元件设置在所述一个光电感应器件相对的两侧；所述两个光发射通孔分别允许所述两个发光元件所出射的光通过，所述一个光反射通孔允许从所述芯片放置结构上放置的检测芯片反射的光通过以传输至所述一个光电感应器件。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，相邻的两个所述发光元件的中心之间的直线距离的取值范围为5毫米至8毫米，同一个所述光电检测单元中的两个发光元件的其中之一的中心与光电感应器件的中心的直线距离的取值范围为2.5毫米至4毫米。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括分隔组件，在所述第一壳体中设置在所述光路组件和所述芯片放置结构之间，其中，所述分隔组件包括透光部分，配置为将所述至少一个发光元件出射的光以及从所述芯片放置结构上放置的所述检测芯片反射的光通过。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述分隔组件的透光部分包括至少一个透明窗，分别对应于所述至少一个光电检测单元，以分别允许将对应的光电检测单元的至少一个发光元件出射的光以及从所述芯片放置结构上放置的所述检测芯片反射至所述对应的光电检测单元的至少一个光电感应器件的光通过。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述分隔组件还包括基板以及至少一个透明片，所述基板包括至少一个安装通孔，所述至少一个透明片嵌入所述至少一个安装通孔中以提供所述至少一个透明窗。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括检测电路板，所述光电检测单元设置在所述检测电路板上，所述检测电路板包括第一定位孔，所述分隔组件包括定位柱以及所述分光盘包括第二定位孔，或者所述分隔组件包括第二定位孔以及所述分光盘包括定位柱，所述定位柱穿设于所述第一定位孔与所述第二定位孔中，以将所述分光盘、所述分隔组件以及所述检测电路板连接。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述第一壳体还包括至少一个支撑部，所述支撑部设置在所述第一壳体的底部以对所述第一壳体提供稳定支撑。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括旋转驱动装置，其中，所述至少一个检测单元包括一个检测单元，所述旋转驱动装置配置为驱动所述一个检测单元相对于所述芯片放置结构转动。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述检测芯片还具有校准反应区，当所述检测芯片被放置在所述芯片放置结构上时，在对所述检测芯片的检测区进行检测之前，所述至少一个检测单元的其中之一还配置为对所述检测芯片的校准反应区进行校准。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括第二壳体，连接到第一壳体，其中，所述芯片放置结构以及所述检测单元设置在所述第一壳体与所述第二壳体所围成的空间内。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述第二壳体在第一侧与第一壳体铰接，所述第二壳体配置为可在第二侧与所述第一壳体闭合，以及被开启以露出所述芯片放置结构，所述第一侧与所述第二侧相对设置。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述第一壳体包括设置在所述第二侧的第一子开合组件，所述第二壳体包括设置在所述第二侧的第二子开合组件，其中，所述第一子开合组件和所述第二子开合组件配置为可彼此结合和分离，以分别使得所述第一壳体和所述第二壳体以彼此闭合和开启。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述第二子开合组件包括长条状的第一锁舌和长条状的第二锁舌，所述第一锁舌与所述第二锁舌成对并排设置，所述第一子开合组件包括凹槽以及卡扣件，所述卡扣件位于所述凹槽中，所述第一锁舌的第一端部及所述第二锁舌的第一端部配置为可伸入所述凹槽中并卡扣在所述卡扣件上，以使所述第一壳体和所述第二壳体闭合，以及可从所述卡扣件脱离，以使所述第一壳体和所述第二壳体开启。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述第二子开合组件还包括弹性件，所述弹性件设置在所述第一锁舌的中部和所述第二锁舌的中部以弹性连接所述第一锁舌和所述第二锁舌，且配置为施加弹性力以趋向于将所述第一锁舌和所述第二锁舌处于可卡扣在所述卡扣件上的状态。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述弹性件为扭簧，所述扭簧用以施加使得所述第一锁舌的第一端部及所述第二锁舌的第一端部彼此靠近的弹性力，所述第二子开合组件还包括开关，所述开关与所述第一锁舌和所述第二锁舌连接，且配置为可操作使得所述第一锁舌的第一端部及所述第二锁舌的第一端部在处于卡扣在所述卡扣件上的状态下从所述卡扣件分离。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述第二子开合组件还包括连接件，所述连接件设置在所述第一锁舌的中部，所述连接件与所述第二锁舌相对的面为斜面，以形成限位轨迹，所述限位轨迹配置为限制所述第一锁舌以及所述第二锁舌的开合角度。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括显示装置，设置在所述第二壳体上。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括至少一个微动开关，所述至少一个微动开关与显示装置信号连接，被配置为控制在显示装置上显示的内容。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述至少一个微动开关包括两个微动开关，所述两个微动开关其中之一设置在所述第一锁舌的第一端部，并配置为控制所述分析仪的开关，所述两个微动开关其中另一设置在所述第二锁舌的第一端部，并配置为控制所述分析仪的检测结果在所述显示装置上的显示。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括控制装置，与所述检测单元以及所述显示装置信号连接，被配置为接收检测单元的检测结果并且将检测结果发送到所述显示装置，所述显示装置被配置为显示所述检测结果。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括信号发射接收装置，所述信号发射接收装置与所述控制装置连接，并配置为将所述检测结果上传至移动设备，或者配置为从移动设备接收控制信号，并将所述控制信号传输至所述控制装置，以控制所述分析仪的操作。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括温度传感器以及湿度传感器，所述温度传感器以及所述湿度传感器分别与所述控制装置连接，其中，所述温度传感器配置为检测环境温度，并将温度检测数据上传至所述控制装置，所述湿度传感器配置为检测环境湿度，并将湿度检测数据上传至所述控制装置。
本公开至少一个实施例还提供一种检测系统，包括：如上述任一项所述的分析仪以及检测芯片。检测芯片配置为可放置在所述分析仪的所述芯片放置结构上。
本公开至少一个实施例还提供一种分析仪，包括检测模块以及控制模块。检测模块包括芯片放置结构，其中，所述检测模块配置为，当具有至少一个检测区的检测芯片被放置在所述芯片放置结构上时，对所述检测芯片的至少一个检测区进行检测；控制模块配置为控制所述检测模块的检测操作，并接收所述检测模块的检测结果。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述检测模块包括至少一个光电检测单元。
例如，在本公开一实施例提供的分析仪中，所述至少一个光电检测单元每个包括至少一个发光元件以及至少一个光电感应器件。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括分光组件，所述分光组件设置在所述芯片放置结构与所述至少一个光电检测单元之间，且配置为所述至少一个发光元件出射的光传输至所述芯片放置结构，以及将从所述芯片放置结构上放置的所述检测芯片反射的光传输至所述至少一个光电感应器件。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括分隔组件，所述分隔组件设置在所述分光组件与所述芯片放置结构之间，其中，所述分隔组件包括透光部分，所述透光部分配置为将所述至少一个发光元件出射的光以及从所述芯片放置结构上放置的所述检测芯片反射的光通过。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括显示模块，所述显示模块与控制模块信号连接，并配置为接收所述控制模块发送的所述检测模块的检测结果以及显示所述检测结果。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括开关模块，所述开关模块与所述显示模块信号连接，并配置为控制在所述显示模块上显示的内容。
例如，本公开一实施例提供的分析仪还包括信号发射接收装置，所述信号发射接收装置与所述控制模块连接，并配置为将所述检测模块的检测结果上传至移动设备，或者配置为从移动设备接收控制信号，并将所述控制信号传输至所述控制模块，以控制所述分析仪的操作。
本公开至少一实施例提供的一种分析仪以及检测系统，由于分析仪的检测模块包括至少一个检测单元，分析仪在检测过程中可以检测出放置于分析仪的芯片放置结构上的检测芯片中待检测液体的多种物质的含量。
附图说明
为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅涉及本公开的一些实施例，而非对本公开的限制。
图1A为本公开一实施例提供的一种分析仪的示意图；
图1B为本公开另一实施例提供的一种分析仪的示意图；
图2为本公开一实施例提供的一种分析仪的下部结构示意图；
图3为本公开一实施例提供的分析仪的下部的部分结构示意图；
图4A为本公开一实施例提供的分析仪的检测模块以及光路组件的结构示意图；
图4B为本公开一实施例提供的分隔组件的透明窗的截面示意图；
图5A为本公开一实施例提供的分析仪的检测原理示意图；
图5B为本公开一实施例提供的分析仪的吸光度值与物质含量的标准曲线示意图；
图6A为本公开一实施例提供的分析仪的分光盘的结构示意图；
图6B为本公开一实施例提供的分光盘的通光孔沿图6A中的截线E-F 的截面示意图；
图6C为本公开另一实施例提供的分光盘的通光孔沿图6A中的截线E-F 的截面示意图；
图7为本公开一实施例提供的分析仪的第二壳体的示意图；
图8为本公开一实施例提供的分析仪的第二壳体中的结构示意图；
图9为本公开一实施例提供的分析仪的开合组件的第二子开合组件的示意图；
图10为本公开一实施例提供的分析仪的第二子开合组件的部分结构示意图；
图11为本公开另一实施例提供的一种分析仪的部分结构示意图；
图12A为本公开一实施例提供的一种检测芯片的示意图；
图12B为本公开一实施例提供的检测芯片的部分结构示意图；
图12C为本公开另一实施例提供的检测芯片的爆炸示意图；
图13为本公开一实施例提供的分析仪的检测过程示意图；
图14为本公开再一实施例提供的一种分析仪的示意图；以及
图15为本公开再一实施例提供的一种分析的示意图。
具体实施方式
为使本公开实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本公开实施例的附图，对本公开实施例的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例是本公开的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于所描述的本公开的实施例，本领域普通技术人员在无需创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本公开保护的范围。
除非另外定义，本公开使用的技术术语或者科学术语应当为本公开所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本公开中使用的“第一”、“第二”以及类似的词语并不表示任何顺序、数量或者重要性，而只是用来区分不同的组成部分。同样，“一个”、“一”或者“该”等类似词语也不表示数量限制，而是表示存在至少一个。“包括”或者“包含”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同。为了描述方便，在部分附图中，给出了“上”、“下”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变后，则该相对位置关系也可能相应地改变。
目前市面上能够见到的用于检测各种液体，例如母乳、牛奶等的物质含量的分析设备主要为大型的检测设备，这些检测设备的价格较高、操作复杂，还需要对操作人员进行专门的培训。上述检测设备主要集中在医院或检测机构，为需要的人士提供物质含量的检测。因此，一些液体的检测需要到医院或者专门的检测机构中进行，该过程费时、费力，对于有检测需求的人士来说，进行经常性的检测受到限制。对于母乳、牛奶等需要进行经常性的检测的液体来说，定时监控其物质含量显得尤为重要。所以，发明人注意到，提供一种便携、小巧、操作简单、可家用的可检测，例如母乳等液体的物质含量的分析仪有重要意义。
芯片实验室(Lab-on-a-chip)是指将样品制备、生物与化学反应、分离检测等基本操作单位集成或基本集成于一块例如几平方厘米的芯片中，用以完成不同的生物或化学反应过程，并对其产物进行分析的一种技术。芯片内产生的信号需要被检测，目前最常用的检测手段包括激光诱导荧光、质谱、紫外、化学发光等。
本公开的实施例提供一种分析仪及检测系统。该分析仪包括第一壳体、芯片放置结构以及至少一个检测单元。芯片放置结构设置在第一壳体中，用于放置检测芯片，检测芯片具有至少一个检测区。至少一个检测单元设置在第一壳体中，至少一个检测单元被配置为，当检测芯片被放置在芯片放置结构上时，可分别对检测芯片的一个或多个检测区进行检测。
由于该分析仪的检测模块包括至少一个检测单元，分析仪通过至少一个检测单元可以在检测过程中分别对检测芯片的多个检测区进行检测，从而检测出检测芯片中待检测液体的多种物质的含量。
下面，结合附图对本公开的一个或多个实施例提供的分析仪及检测系统进行详细的描述。
例如，在一些示例中，图1A为本公开一实施例提供的一种分析仪的示意图。如图1A所示，分析仪1100包括第一壳体1110、第二壳体1160以及芯片放置结构1120。
芯片放置结构1120位于第一壳体1110中，用于放置检测芯片1200。第一壳体1110与第二壳体1160在一侧可以开启与闭合，以便于用户放置以及取回检测芯片1200，并且在分析仪1100工作时避免外界光线的干扰对于检测芯片的检测。分析仪1100还包括检测单元，检测单元在第一壳体1110中位于芯片放置结构1120的下方，以对芯片放置结构1120上放置的检测芯片 1200中的待检测液体的物质含量进行检测。在使用过程中，用户在准备了包含检测样品的检测芯片1200之后，首先开启第一壳体1110与第二壳体1160，将检测芯片1200放置在芯片放置结构1120上，然后，将第一壳体1110与第二壳体1160闭合。分析仪1100可以对检测芯片1200中的待检测液体的物质含量进行检测，检测完成之后检测结果被输出，最后用户可以再次开启第一壳体1110与第二壳体1160，将检测芯片1200取出。
例如，在一些示例中，芯片放置结构1120为自第一壳体1110的上表面 (例如由图2中的第一遮蔽板1301的表面形成)中的开口(例如图2中第一遮蔽板1301的圆形开口1301a)在第一壳体1110中形成的下“凹”容置空间。例如，该容置空间的截面大致呈圆形。需要说明的是也可以是其它形状，例如矩形、椭圆形等。例如，如图2所示，芯片放置结构1120为由第一遮蔽板1301的开口1301a、分光盘1141的内侧壁以及(图6A所示)分隔组件1150(图4A所示)的上表面组成的空间。需要说明的是，第一遮蔽板1301、分光盘1141以及分隔组件1150的结构将在后面详细介绍。
例如，在其它实施例中，分析仪1100的第二壳体1160可以去除，例如，将第一壳体1110的上表面做成可以遮光的平面，在第一壳体1110的侧面开口，开口与芯片放置结构1120连通。在芯片放置结构1120上可以增设置物台，置物台可以从芯片放置结构1120中从开口中弹出，以将检测芯片1200 放置在置物台上，然后将置物台推入芯片放置结构1120中，以对检测芯片 1200进行检测。需要说明的是，置物台的操作可以选择抽屉式，在对检测芯片1200进行检测时遮蔽环境光。所述本公开实施例不以第二壳体1160的形状以及结构构成限制。
例如，在其它实施例中，芯片放置结构1120还可以设置为在第一遮蔽板1301的开口1301a上搭设的多个交叉的横梁，检测芯片1200可以直接放置在横梁上，另外，横梁还可以由透明材料制备，或者横梁的位置与检测芯片1200的检测区错开。又例如，可以在芯片放置结构1120的侧壁上设置多个支点，检测芯片1200对对应多个支点的位置在下表面设置多个凹口，当检测芯片1200放置在芯片放置结构1120上时，多个支点与检测芯片1200 的凹口配合以将检测芯片1200稳定放置。再例如，可以在芯片放置结构1120 的侧壁上设置夹持机构，检测芯片1200通过夹持机构被稳定放置在芯片放置结构1120中。再例如，芯片放置结构1120还可以设置为一个可以升降的平台，以将检测芯片1200放在平台上进行检测。该平台的承载部分可以设置为透明结构，或者在对应检测芯片1200的检测区的部分开设透光结构(例如通孔)。需要说明的是，本公开中的检测芯片1200指的是用于将样品制备、生物与化学反应、分离检测等基本操作单位集成或基本集成于一块例如几平方厘米的芯片。例如，检测芯片1200可以为微流控芯片，用于检测待检测液体的物质含量。
例如，在一些示例中，图1B为本公开另一实施例提供的一种分析仪的示意图。如图1B所示，第一壳体1110包括第一支撑部1111以及第二支撑部1112，例如，第一支撑部1111以及第二支撑部1112相对于第一壳体1110 中线对称设置。第一支撑部1111以及第二支撑部1112设置在第一壳体1110 的底部，例如分别包括支撑面，由此当分析仪放置在支撑面上时，以提供对于第一壳体1110在平面上的稳定支撑，防止第一壳体1110发生倾斜以造成分析仪1100的内部结构之间的相对位置关系发生偏移。
图2为本公开上述实施例提供的一种分析仪的下部结构示意图；图3为本公开上述实施例提供的分析仪的下部的部分结构示意图；图4A为本公开上述实施例提供的分析仪的检测单元以及光路组件的结构示意图。
如图2、图3以及图4A所示，分析仪1100的下部包括第一壳体1110 以及芯片放置结构1120。该检测芯片1200包括多个检测区，检测芯片1200 的详细结构可以参考后续描述的图12A、图12B以及图12C。在图中的示例中，芯片放置结构1120提供了用于容纳、支撑检测芯片1200且具有与检测芯片1200具有基本相同的截面形状的腔室，例如图中的圆形腔室，芯片放置结构1120还可以包括卡接结构以固定放入的检测芯片，例如，该卡接结构包括限位块等，本公开的实施例对此不作限制。
分析仪1100的下部还包括检测单元，用于对于放入的检测芯片1200检测。检测单元可以为各种类型，例如，包括但不限于光电检测单元。检测单元设置在第一壳体1110中。在下面的描述中以光电检测单元作为示例进行描述。如图4A所示，检测单元包括至少一个光电检测单元。光电检测单元可以为各种类型，例如，包括但不限于个光电检测单元1131。这些光电检测单元1131被配置为，当检测芯片1200放置在芯片放置结构1120上时，分别对检测芯片1200的多个检测区进行检测，具体的示例性描述如下。例如，可以在检测芯片1200的周向设置豁口，该豁口的形状与芯片放置结构1120 的限位块的形状相同，以将检测芯片1200放置在芯片放置结构1120上时，将检测芯片1200的豁口套设在限位块上，使得检测芯片1200的检测区与光电检测单元1131在垂直于光电检测单元1131的方向上实现对位，以便于用户更加便捷、准确的将检测芯片1200放置在芯片放置结构1120上。本公开实施例还可以采用其他的对位方式，例如在芯片放置结构1120上设置定位标记或定位弹簧片，以与检测芯片1200进行对位。本公开实施例不局限于此。
在一些实施例中第一壳体1110的外表面大致呈半个球面，芯片放置结构1120位于第一壳体1110中的靠近第一壳体1110的上侧的位置，以方便检测芯片的置入。芯片放置结构1120包括第一遮蔽板1301，第一遮蔽板1301 与第一壳体1110的上侧连接，例如，卡接、螺钉连接等。第一遮蔽板1301 的中心处设置开口1301a以在第一壳体1110中形成放置检测芯片1200的空间，以提供容纳腔室，第一遮蔽板1301可以遮挡第一壳体1110外的其他杂散光，避免其他光线对检测结果的干扰。芯片放置结构1120的容纳腔室例如为圆柱形，以与检测芯片1200的形状匹配。芯片放置结构也可以为四边形、多边形等其他形状，本公开实施例不以此为限。
例如，在其它示例中，第一壳体1110也可以为其它形状，例如，长方体等，本公开实施例不以此为限。
如图4A所示，分析仪1100的下部还包括检测电路板1302，检测电路板1302设置在第一壳体1110中的芯片放置结构1120的下方。检测单元设置在检测电路板1302上，与检测芯片1200在第一壳体1110的轴线方向上相对应。检测单元包括多个光电检测单元1131，该多个光电检测单元1131 分别与检测芯片的多个检测区在第一壳体1110的轴线方向上相对应。
例如，图4A中所示，多个光电检测单元1131均匀的布置在同一圆周上，以分别对检测芯片1200的多个检测区进行检测，例如同时对检测芯片1200 的多个检测区进行检测，或者依照某种顺序对检测芯片1200的多个检测区进行检测，从而检测出检测芯片1200中待检测液体的多种物质的含量。多个光电检测单元1131均匀的布置在同一圆周上的结构设计，可以避免不同光电检测单元中光的串扰，实现光学检测的准确性。
需要说明的是，检测芯片1200的多个检测区设置在同一个圆周上，相应的多个光电检测单元1131均匀的布置在同一圆周上。当检测芯片1200的多个检测区设置在同一个圆周上时，当检测芯片1200从中心处进样时，使得多个检测区的进样距离相同，所以可以实现均匀进样。
例如，在其它实施例中，多个光电检测单元1131还可以均匀的布置在正多边形的顶点上，从而相应的检测芯片的多个检测区的进样距离相同。当然在不考虑检测芯片的检测区的进样距离的情况下，多个光电检测单元1131 还可以布置为多种形状，例如布置为一排，布置为矩阵型等。本公开实施例不以多个光电检测单元1131的布置方式为限。
例如，在一些示例中，每个光电检测单元1131包括至少一个发光元件以及至少一个光电感应器件。如图4A所示的示例中，光电检测单元1131 包括两个发光元件1132以及一个光电感应器件1133。该两个光电发光元件 1132(例如对称的)位于一个光电感应器件1133的两侧。例如，位于不同光电检测单元1131中的相邻的两个发光元件1132之间的距离大于同一个光电检测单元1131中发光元件1132与光电感应器件1133之间的距离，从而避免不同光电检测单元1131之间光信号的干扰。两个发光元件1132以及一个光电感应器件1133的设置可以保证发光元件1132发射的光均匀的入射到检测芯片1200的检测区中，并且还可以提高两个发光元件1132提供的入射光的强度以及经检测芯片1200反射之后的反射光的强度，进而提高分析仪检测的稳定性。
例如，位于不同光电检测单元1131中的相邻的两个发光元件1132之间的距离，例如相邻的两个发光元件1132的中心之间的直线距离的取值范围为5毫米至8毫米。又例如，在图4A中，相邻的两个发光元件1132的中心之间的直线距离约为6毫米。例如，在同一个光电检测单元1131中的两个发光元件1132的其中之一的中心与光电感应器件1133的中心的直线距离的取值范围为2.5-4mm。又例如，在图4A中，两个发光元件1132的其中之一的中心与光电感应器件1133的中心的直线距离约为3mm。例如，相邻的两个光电检测单元1131的中心在圆周上的距离的取值范围为10-15mm。又例如，在图4A中，相邻的两个光电检测单元1131的中心在圆周上的距离为 12.5mm。需要说明的是，“约”字表示该数值可以在其，例如±15％范围内变动。
例如，在一些示例中，如图4A所示，光电检测单元1131的数量，例如为6个。又例如，光电检测单元1131的数量还可以为2、3、4、5、7等，该数量根据检测芯片1200的检测区的数量而定，本公开实施例不以光电检测单元1131的数量为限。
例如，在其它示例中，光电检测单元1131中也可以包括一个光电感应器件1133以及一个发光元件1132，也可以实现对检测芯片1200的检测区中待检测液体的检测。或者，光电检测单元1131中也可以包括多个光电感应器件1133以及多个发光元件1132，多个光电感应器件1133可以对待检测液体中的不同物质进行检测。本公开实施例不以发光元件1132以及光电感应器件1133的数量为限。
例如，可以根据检测芯片1200待检测液体的检测指标的需要对光电检测单元1131的多个光电感应器件1133以及多个发光元件1132的排布方式进行灵活变动。例如，多个发光元件1132以众星供月的方式围绕光电感应器件1133，或者多个发光元件1132在光电感应器件1133的两侧排布为两排。
例如，图5A为本公开上述实施例提供的分析仪的检测原理示意图。如图5A所示，发光元件1132用于产生光信号，发光元件1132出射的特定强度的光(入射光)传输至芯片放置结构1120从而到达放置在芯片放置结构 1120上的检测芯片1200，之后检测芯片1200的检测区(中的检测样品)反射的光被光电感应器件1133接收。光电感应器件1133将接收光信号(反射光)，并将光信号转换为电信号。根据电信号可以获得光电感应器件1133所接收的光信号的强度。
例如，在其它示例中，发光元件1132也可以设置为一个，即一个发光元件1132发射的光作为入射光照射到检测芯片1200的检测区。本公开实施例的检测原理不以发光元件1132的数量为限。
待检测液体的吸光度值根据如下公式计算：
Figure DEST_PATH_GDA0002909387290000141
上述公式中，I0为检测芯片的入射光强度，I为检测芯片的反射光强度， A为吸光度值。待检测液体的特定物质的含量与吸光度值成线性关系。一定波长的入射光入射到检测芯片1200的检测区，检测区中的待检测液体对光部分吸收之后将光反射，光被吸收的强度与检测区中待检测液体的物质含量成线性关系。通过光电感应器件1133接收反射光之后，得到电信号，根据电信号的大小可以获得反射光强度。将反射光强度以及入射光强度使用公式 (1)获得的吸光度值。
例如，在一些示例中，分析仪1100的发光元件1132以及光电感应器件 1133需要进行校准，以保证分析仪1100的光源的稳定。采用标准灰度板对分析仪1100的发光元件1132发射的光进行校准。将该标准灰度板放置在芯片放置结构上，标准灰度板对发光元件的入射光的吸光度值是一个已知的标准吸光度值，将分析仪1100检测标准的灰度板之后得到的吸光度值与标准吸光度值进行对比，根据对比结果校准分析仪1100的发光元件1132发射的光。
例如，可以将物质的种类以及含量已知的液体的作为校准测试样品，分析仪1100检测该校准测试样品的吸光度值之后的到如图5B所示的吸光度值 A与物质的含量C的坐标点，例如点D1、D2、D3、D4以及D5，吸光度值 A与物质的含量C之间是线性关系，根据以上五个点进行线性拟合之后得到吸光度值A与物质的含量C的标准曲线。需要说明的是，图5B中的五个点只是一个示例，可以采用多种测试样品得到多个点以得到标准曲线，本公开实施例不以标准曲线的具体获得过程为限。
例如，在一些示例中，根据分析仪检测待检测液体得到的吸光度值，将其带入图5B中所示的吸光度值A与物质的含量C的标准曲线，可以得到对应于待检测液体的吸光度值的物质的含量。通过分别对检测芯片1200的多个检测区中的待检测液体的检测，得到待检测液体的多种物质的含量。
例如，在一些示例中，发光元件1132为发光二极管(Light Emitting Diode，LED)，光电感应器件1133为光电二极管(Photo-Diode,PD)，例如硅光二极管等。发光二极管可以发射特定波长的光(例如，红外光、红光、绿光等)，可以根据被检测物质的种类，选择特定波长的发光二极管。位于不同的光电检测单元1131中的发光二极管所发射的光的波长不同，从而通过多个光电检测单元1131实现对多种物质的检测。例如，光电检测单元1131 可以选择发射630nm波长的光的发光元件，用于检测待检测液体中的乳糖和脂肪的含量，可以获得630nm波长的光的最大吸收峰，使得光电检测单元 1131获得最大接收效率，从而提高检测的准确度。例如，光电检测单元1131 还可以选择发射660nm波长的光的发光元件，用于检测待检测液体中的钙和蛋白质的含量，可以获得660nm波长的光的最大吸收峰，使得光电检测单元 1131获得最大接收效率，从而提高检测的准确度。光电检测单元1131还可以选择发射585nm波长的光的发光元件，用于检测待检测液体中的锌的含量，可以获得585nm波长的光的最大吸收峰，使得光电检测单元1131获得最大接收效率，从而提高检测的准确度。由此本公开实施例提供的分析仪的光电检测单元1131的光电感应器件1133可以产生至少5个检测信号(例如分别对应于乳糖、脂肪、锌、钙以及蛋白质)。
例如，在其它实施例中，根据检测芯片1200的检测区中所用的试剂的不同，可以选择不同波长的光对待检测液体中的各种物质进行检测。例如，在一些示例中，分析仪1100的下部还包括光路组件，在第一壳体1110中设置在芯片放置结构1120与检测单元之间，且配置为将至少一个发光元件1132 出射的光传输至所芯片放置结构1120，以及将从芯片放置结构1120上放置的检测芯片1200反射的光传输至少一个光电感应器件1133。光路组件可以避免不同光电检测单元1131之间光信号的干扰，保证检测结果的可靠性。
例如，在一些示例中，如图4A及图6A所示，光路组件包括分光盘1141，设置在检测单元之上。分光盘1141包括至少一组组通光孔1142，至少一组组通光孔1142均匀布置在分光盘1141的同一圆周上，并且在沿第一壳体 1110的轴线方向分别对应于多个光电检测单元1131。
例如，在本示例中，如图6A所示，通光孔1142的组数，例如为6个。又例如，通光孔1142的组数还可以为2、3、4、5、7等，与光电检测单元 1131的数量相对应。本公开实施例不以通光孔1142的组数为限。
例如，在一些示例中，每组通光孔1142包括至少一个光发射通孔及至少一个光反射通孔，至少一个光发射通孔允许对应的光电检测单元1131的发光元件1132出射的光通过，至少一个光反射通孔允许从芯片放置结构1120 上放置的检测芯片1200反射的光通过以传输至对应的光电检测单元1131的光电感应器件1133。如图6A所示，每组通光孔1142包括两个光发射通孔 1143以及一个光反射通孔1144。两个光发射通孔1143位于光反射通孔1144 的两侧，光发射通孔1143与光电检测单元1131中的发光元件1132相对应，光反射通孔1144与光电检测单元1131中的光电感应器件1133相对应。发光元件1132出射的光通过光发射通孔1143之后入射到芯片放置结构1120 上，从芯片放置结构1120上放置的检测芯片1200反射的光通过光反射通孔 1144之后被光电感应器件1133接收。分光盘1141的设置可以避免不同光电检测单元1131之间光信号的干扰，保证检测结果的可靠性。
例如，在一些示例中，如图6B所示，通光孔1142的光发射通孔1143 的侧壁为斜面，光发射通孔1143的远离光电检测单元1131的一侧的开口大于光发射通孔1143的靠近光电检测单元1131的一侧的开口，由此可以增大发光元件1132出射的光在检测芯片1200上的照射面积。光发射通孔1143 的侧壁与X方向(与分光盘1141的轴向垂直)之间的夹角为α。夹角α的取值范围，例如为约130度至140度，又例如，夹角α的取值约为135度，使得通过发射通孔1143的入射光沿着发射通孔1143的长边的斜面发射，可以在检测芯片1200的检测区更好的汇聚，减少入射光的发散。
例如，通光孔1142的光反射通孔1144的侧壁为斜面，光反射通孔1144 的远离光电检测单元1131的一侧的开口大于光反射通孔1144的靠近光电检测单元1131的一侧的开口，由此可以避免发光元件1132出射的光与从芯片放置结构1120上放置的检测芯片1200反射的光之间的干扰。光反射通孔 1144的侧壁与X方向(与分光盘1141的轴向垂直)之间的夹角为β。夹角β的取值范围，例如为约115度至125度，又例如，夹角β的取值约为120 度。需要说明的是，“约”字表示该数值可以在其，例如±15％范围内变动。
例如，在一些示例中，光发射通孔1143例如为图6A中所示的矩形孔，光发射通孔1143的靠近光电检测单元1131一侧的开口沿圆周方向以及径向上的尺寸范围，例如约为0.8mm-1mm。又例如，光发射通孔1143沿圆周方向以及径向上的尺寸，例如约为0.8mm。光反射通孔1144例如为图6A中所示的圆形孔，光反射通孔1144的直径的取值范围，例如约为0.8mm-1mm。又例如，光反射通孔1144的靠近光电检测单元1131一侧的开口沿圆周方向上的尺寸，例如约为0.8mm。需要说明的是，“约”字表示该数值可以在其，例如±15％范围内变动。又例如，根据加工时的需要还可以选择光发射通孔 1143的尺寸以及光反射通孔1144的直径略大于1mm，相邻的两个通光孔 1142之间不发生光串扰即可。本公开实施例不以光发射通孔1143以及光反射通孔1144的具体尺寸大小为限。
例如，在一些示例中，如图6A所示，光发射通孔1143的长边的取值范围，例如约为3.5mm-4.5mm，又例如，光发射通孔1143的长边的取值约为 4mm。光发射通孔1143的短边的取值范围，例如约为3mm-3.4mm，又例如，光发射通孔1143的短边的取值约为3.2mm。需要说明的是，“约”字表示该数值可以在其，例如±15％范围内变动。将光发射通孔1143设置为矩形孔，使得通过发射通孔1143的入射光沿着发射通孔1143的长边的斜面发射，可以在检测芯片1200的检测区更好的汇聚，减少入射光的发散。
例如，图6C为本公开另一实施例提供的分光盘的通光孔沿图6A中的截线E-F的截面示意图。如图6C所示，光反射通孔1144包括靠近分光盘 1141的第一侧(图中的下侧，即入射光的进入的一侧)的第一子反射通孔 1144b以及靠近分光盘1141的第二侧(图中的上侧，即反射光反射回来的一侧)的第二子反射通孔1144a。例如，第一子反射通孔1144b的直径小于第二子反射通孔1144a的直径，由此，可以遮蔽在光发射通孔1143出射的光进入光发射通孔，造成检测误差。
例如，第一子反射通孔1144b的直径的尺寸范围，例如约为 0.8mm-1.2mm。又例如，第一子反射通孔1144b的直径的尺寸，例如约为 1mm。例如，第二子反射通孔1144a的直径的尺寸范围，例如约为 1.4mm-1.8mm。又例如，第二子反射通孔1144a的直径的尺寸，例如约为1.6mm。需要说明的是，“约”字表示该数值可以在其，例如±15％范围内变动。由此，可以遮蔽在光发射通孔1143出射的光进入光发射通孔，造成检测误差，同时还不影响反射光进入第一子反射通孔1144b。
又例如，如图6C所示，分光盘1141的上表面(例如，靠近第二侧的表面)包括至少一个凸台1144c。凸台1144c自两个光发射通孔1143的靠近光反射通孔1144的一侧向靠近光反射通孔1144的方向倾斜地向第二侧突出。第一子反射通孔1144b位于凸台1144c中，以遮蔽在光发射通孔1143出射的光进入光发射通孔，造成检测误差。
又例如，如图6C所示，凸台1144c为环形，凸台1144c环绕第一子反射通孔1144b。以遮蔽在光发射通孔1143出射的光进入光发射通孔，造成检测误差。
例如，如图6C所示，凸台1144c的坡度角γ的取值范围，例如约为 130°-140°，又例如，凸台1144c的坡度角γ的取值，例如约为135°。例如，凸台1144c比光发射通孔1143凸出的高度的取值范围，例如约为 0.4-0.6mm，又例如，凸台1144c比光发射通孔1143凸出的高度的取值，例如约为0.5mm。例如，需要说明的是，“约”字表示该数值可以在其，例如±15％范围内变动。由此，凸台1144c所提供的斜面可以为第一子反射通孔 1144b遮蔽在光发射通孔1143出射的光。
例如，在其它示例中，光发射通孔1143的形状还可以为，三角形、圆形以及多边形等，光反射通孔1144的形状还可以为，矩形、三角形以及多边形等，本公开实施例不以光发射通孔1143以及光反射通孔1144的形状为限。
例如，在一些示例中，分光盘1141还包括至少一个第二定位孔。如图 6A所示，分光盘1141包括三个第二定位孔1145，均布于同一圆周上。第二定位孔1145的数量还可以为2个、4个等，本公开实施例不以此为限。如图4A所示，在检测电路板1302的与分光盘1141的第二定位孔1145相对的位置上设置检测电路板1302的第一定位孔1303。检测电路板1302的第一定位孔1303和第二定位孔1145用于分光盘1141与检测电路板1302的安装与定位，从而使得光电检测单元1131与通光孔1142相对应。
例如，在一些示例中，如图3及图6A所示，分光盘1141还包括限位块 1146，设置在分光盘1141的边缘。限位块1146延伸到芯片放置结构1120 中，从而与检测芯片1200的形状相配合，当检测芯片1200放置在芯片放置结构1120中时，检测芯片1200的位置被固定，从而使得检测芯片1200的多个检测区分别与分光盘1141的通光孔1142以及光电检测单元1131相对应。
例如，在其它示例中，限位块1146还可以设置在分析仪1100的其它结构上，如第一遮蔽板1301上。又例如，限位块1146还可以替换为其它可以实现与检测芯片1200进行对位配合的结构，本公开实施例不以此为限。
例如，在其它实施例中，限位块1146还可以替换为定位销或者定位孔，在检测芯片1200上设置对应的匹配结构即可。
例如，在一些示例中，如图4A所示，分析仪1100的下部还包括分隔组件1150，例如分隔板，位于第一壳体1110中并设置在光路组件与芯片放置结构1120之间。即，分隔组件1150位于光路组件的上方以及芯片放置结构 1120的下方。分隔组件1150包括透光部分1151，配置为允许光电检测单元 1131的发光元件1132出射的光以及从芯片放置结构1120上放置的检测芯片 1200反射的光通过。检测芯片1120位于分隔组件1150之上，分隔组件1150 用于防止检测芯片1120的检测区中的待检测液体的渗透，例如，还可以对于下方的光路组件等提供保护功能。在另一些示例中，分析仪1100的下部设置的分隔组件1150是可以拆卸以便于更换。
例如，在一些示例中，如图4A所示，分隔组件1150的透光部分1151 包括至少一个透明窗1152，分别对应于多个光电检测单元1131，以分别允许将对应的光电检测单元1131的至少一个发光元件1132出射的光以及从芯片放置结构1120上放置的检测芯片1200反射至对应的光电检测单元1131 的至少一个光电感应器件1133的光通过。
例如，在本示例中，如图4A所示，透明窗1152的组数，例如为6个。又例如，透明窗1152的组数还可以为2、3、4、5、7等，与通光孔1142的数量相对应。本公开实施例不以透明窗1152的组数为限。
例如，在一些示例中，如图4A及图4B所示，每个透明窗1152包括第一通孔1153、第一凹槽1154以及透明片1155。第一通孔1153的直径小于第一凹槽1154的直径，第一凹槽1154位于分隔组件1150的靠近芯片放置结构1120的一侧，用于放置透明片1155。透明片1155放置在第一凹槽1154 中，以允许将对应的光电检测单元1131的两个发光元件1132出射的光以及从芯片放置结构1120上放置的检测芯片1200反射至对应的光电检测单元 1131的光电感应器件1133的光通过。
例如，透明片1155的直径的取值范围，例如约为5.5-7mm，又例如，透明片1155的直径的取值，例如约为6.3mm。例如，透明片1155的厚度的取值范围，例如约为0.3-0.7mm，又例如，透明片1155的厚度的取值，例如约为0.5mm。透明片1155的厚度越小越有利于光的透过，本公开不以此为限。例如，第一通孔1153的直径的取值范围，例如约为3-3.8mm，又例如，第一通孔1153的直径的取值，例如约为3.4mm。需要说明的是，“约”字表示该数值可以在其，例如±15％范围内变动。由此第一通孔1153的直径的取值可以使得从光反射通孔1144的两侧的光发射通孔1143入射的光可以更好的在检测芯片1200的检测区汇聚，减少入射光的发散，提供检测准确度。
例如，在一些示例中，透明片1155可以为玻璃片或透明亚克力等。
例如，在其它示例中，透光部分1151也可以为其它透光结构，例如，一个透光孔及透明片1155形成的结构，或者去除透明窗1152中的透明片 1155所形成的结构。本公开实施例不以透光部分1151的具体结构为限。
例如，在其它示例中，分隔组件1150还可以为整体透明结构而不再设置透明窗1152，例如，分隔组件1150由透明材料制备，由此可以允许光电检测单元1131的发光元件1132出射的光以及从芯片放置结构1120上放置的检测芯片1200反射至对应的光电检测单元1131的光电感应器件1133的光通过，以及防止检测芯片1200中的待检测液体渗漏。本公开实施例不以此为限。
在其它一些示例中，也可以不包括分隔组件1150，在分光盘1141的通光孔上设置透明窗，此时分光盘1141也可以防止检测芯片1120的检测区中的待检测液体的渗透。
例如，在一些示例中，如图4A所示，分隔组件1150还包括多个定位柱1156，设置在分隔组件1150的靠近分光盘1141的一侧。又例如，分隔组件 1150包括三个定位柱1156，三个定位柱1156与分光盘1141的定位孔1145 以及检测电路板1302的定位孔1303相对应。并且，分隔组件1150的定位柱1156安装在分光盘1141的定位孔1145以及检测电路板1302的定位孔 1303中，从而将分隔组件1150、分光盘1141以及检测电路板1302固定，并且使得分隔组件1150的透光部分1151、分光盘1141的通光孔1142以及光电检测单元1131在第一壳体1110的轴线方向相对应。
例如，在其它示例中，第二定位孔1145设置在分隔组件1150上，定位柱1156设置在分光盘1141上，定位柱1156向分光盘1141的上下两侧延伸，定位柱1156也可以安装在分光盘1141的定位孔1145以及检测电路板1302 的定位孔1303中，从而将分隔组件1150、分光盘1141以及检测电路板1302 固定。本公开实施例不以分隔组件1150、分光盘1141以及检测电路板1302 的安装方式为限。
例如，在其它示例中，还可以采用其它方式，将分隔组件1150、分光盘 1141以及检测电路板1302固定，例如使用双面胶带粘贴、使用卡扣等。
例如，在一些示例中，如图7所示，分析仪1100还包括第二壳体1160，该第二壳体1160连接到第一壳体1110。芯片放置结构1120以及检测单元设置在第一壳体1110与第二壳体1160所述围成的空间内。例如，在本实施例中，如图2及图3中所示的检测单元设置在检测电路板1302上且位于第一壳体1110中。第一壳体1110与第二壳体1160在第一侧1161连接，第一壳体1110与第二壳体1160在第二侧1162可相对闭合和开启，以将检测芯片 1200放置在芯片放置结构1120上，或从芯片放置结构1120取出检测芯片 1200。需要说明的是，在图中的示例中，第一侧1161为第一壳体1110与第二壳体1160的相互连接的一侧，第二侧1162为第一壳体1110与第二壳体 1160相对开启与关闭的一侧，即进行放置检测芯片1200的一侧，第一侧1161 与第二侧1162相对设置，第一侧1161与第二侧1162的相对位置不构成对本公开实施例的限制。第一壳体1110大致呈半球形，第一壳体1110的下方的开口形状与第二壳体1160的上方的开口形状相同，使得第一壳体1110与第二壳体1160闭合时可以形成外界环境光无法进入的闭合空间，以利于分析仪1100的检测。
例如，在其它示例中，第二壳体1160的形状还可以为，例如，长方体等，第二壳体1160的开口形状与第一壳体1110的开口形状相互配合，能够形成密闭空间即可，本公开实施例不以此为限。
例如，在一些示例中，如图2以及图7所示，第二壳体1160在第一侧 1161与第一壳体1110铰接。第二壳体1160配置为可在第二侧1162与所述第一壳体1110闭合，以及被开启以露出所述芯片放置结构1120。第一侧1161 与第二侧1162相对设置。
例如，在一些示例中，如图2所示，第一壳体1110与第二壳体1110在第一侧1161通过铰接轴1163铰接。在铰接轴1163上还可以设置弹簧(例如扭簧)，以便于第一壳体1110与第二壳体1160在第二侧开启之后，第二壳体1160在弹簧的弹性力作用下将翘起。
例如，在一些示例中，如图8所示，第二壳体1160还包括第二遮蔽板 1304与第二壳体1160的下侧连接，例如，卡接、螺钉连接等。第二遮蔽板 1304与第一壳体1110中的第一遮蔽板1301共同形成检测芯片的容置空间。第二遮蔽板1304可以遮挡第二壳体1160中的其他杂散光，避免其他光线对检测结果的干扰。
例如，在一些示例中，如图3以及图8所示，第一壳体1110包括设置在第二侧1162的第一子开合组件1181，第二壳体1160包括设置在所述第二侧1162的第二子开合组件1182。第一子开合组件1181和第二子开合组件 1182配置为可彼此结合和分离，以分别使得第一壳体1110和所述第二壳体 1160以彼此闭合和开启。将第一壳体1110与第二壳体1160开启时，将检测芯片1200放置在芯片放置结构1120上，之后，将第一壳体1110与第二壳体1160闭合，再开始物质的检测。
如图3、图8以及图9所示，第二子开合组件1182包括长条状的第一锁舌1183和长条状的第二锁舌1184，第一锁舌1183与第二锁舌1184成对且大致并排设置在第二壳体1160中。第一锁舌1183与第二锁舌1184可以固定在第二遮蔽板1304上。固定的方式为，例如，螺钉连接等。第一锁舌1183 的第一端部1185以及第二锁舌1184的第一端部1186露出于第二遮蔽板 1304。第一子开合组件1181包括凹槽1187以及卡扣件1188，卡扣件1188 位于凹槽1187中。第一锁舌1183的第一端部1185及第二锁舌1184的第一端部1186配置为可伸入凹槽1187中并卡扣在卡扣件1188上，以使第一壳体1110和第二壳体1160闭合，以及可从卡扣件脱离，以使第一壳体1110 和第二壳体1160开启。
例如，在一些示例中，如图8所示，分析仪1100还包括固定件1309，第一锁舌1183的中部与第二锁舌1184的中部被固定件1309固定在第二遮蔽板1304上。
例如，在一些示例中，第二子开合组件1182还包括弹性件，该弹性件设置在第一锁舌1183的中部和第二锁舌1184的中部以弹性连接第一锁舌 1183和所述第二锁舌1184，且配置为施加弹性力以趋向于将第一锁舌1183 和第二锁舌1184处于可卡扣在卡扣件1188上的状态。
例如，在一些示例中，如图9所示，弹性件为扭簧1190，用以施加使得第一锁舌1183的第一端部1185及第二锁舌1184的第一端部1186彼此靠近的弹性力，使得第一锁舌1183的第一端部1185及第二锁舌1184的第一端部1186处于夹紧状态。第一锁舌1183的第二端部1194以及第二锁舌1184 的第二端部1195延伸到第二壳体1160的外侧。
例如，在一些示例中，通过减小第一锁舌1183的第二端部1194与第二锁舌1184的第二端部1195的张开距离，第一锁舌1183的第一端部1185及第二锁舌1184的第一端部1186在处于卡扣在卡扣件1188上的状态下从卡扣件1188分离，从而将第一壳体1110与第二壳体1160开启。
例如，在一些示例中，第二子开合组件1182还包括开关，开关设置在第一锁舌1183的中部和第二锁舌1184的中部，并与第一锁舌1183和第二锁舌1184连接。且开关配置为可操作使得第一锁舌1183的第一端部1185 及第二锁舌1184的第一端部1186在处于卡扣在卡扣件1188上的状态下从卡扣件1188分离。
例如，在一些示例中，如图9所示，第二子开合组件1182还包括微动开关1305a以及微动开关1305b，微动开关1305a设置在第一锁舌1183的第二端部1194，开关1305b设置在第二锁舌1184的第二端部1195。微动开光 1305a以及微动开关1305b的其中一个用于实现分析仪1100的开关功能，另一个用于实现分析仪1100的控制检测结果显示的功能。例如，长按微动开关1305a将分析仪1100开启，开始对检测芯片1200的检测，短按微动开关 1305a将分析仪1100关闭；按动微动开关1305b选择需要显示的检测结果。
例如，在一些示例中，如图9所示，第二子开合组件1182还包括转轴 1189，将第一锁舌1183的中部以及第二锁舌1184的中部连接，扭簧1190 套设在转轴1189上。
例如，在一些示例中，如图10所示，第二子开合组件1182的第一锁舌 1183的中部设置连接件1192，该连接件1192与第二锁舌1184相对的面为斜面，形成限位轨迹1191。该限位轨迹1191用于限制第一锁舌1183以及第二锁舌1184的开合角度，以避免第一锁舌1183的第一端部1185与第二锁舌1184的第一端部1186之间的张开距离太小以及第一锁舌1183的第二端部1194与第二锁舌1184的第二端部1195的张开距离太大，将会造成第二壳体1160相对于第一壳体1110开启的角度过大，例如第二壳体1160与第一壳体1110之间的角度大于90度，使得第二壳体1160向远离第二侧1162 的方向侧翻，进而分析仪1100有倾倒的风险。
例如，在一些示例中，如图7所示，分析仪1100还包括显示装置1170，设置在第二壳体1160上。显示装置1170例如可以为液晶显示装置、有机发光二极管(OLED)显示装置、电子纸、数码管等，用于显示分析仪1100的检测结果。
例如，在一些示例中，如图7、图8以及图9所示，分析仪1100还包括硅胶套1306，套设在第一锁舌1183的第二端部1194以及第二锁舌1184的第二端部1195上，以达到美观、防尘、防止光线进入第二壳体1160中的效果。
例如，在一些示例中，如图9所示，在第一锁舌1183的第一端部1185 以及第二锁舌1184的第一端部1186上分别设置遮光件1193，以遮蔽第二壳体1160中的光线。
例如，在一些示例中，如图5A所示，分析仪1100还包括控制装置1310，与光电检测单元1131以及显示装置1170信号连接。该控制装置1310被配置为接收光电检测单元1131的检测结果并且将检测结果发送到显示装置 1170，显示装置1170可以显示收到的检测结果。例如该控制装置可以处理器和存储器，该处理器可以为中央处理器(CPU)、数据处理器(DSP)等，存储器可以为半导体存储器等，用于存储用于在处理器上执行的计算机代码以及存储数据等。控制装置1310还与微动开光1305a以及微动开关1305b，实现分析仪1100的开关功能以及控制检测结果在显示装置1170上显示的功能。例如，长按微动开关1305a将分析仪1100开启，开始对检测芯片1200 的检测，短按微动开关1305a将分析仪关闭；通过按动微动开关1305b对显示装置1170的显示内容进行控制，可以根据选择在显示装置1170上查看检测结果。
例如，在一些示例中，如图5A所示，分析仪1100还包括发声装置1311、信号发射接收装置1312等。发声装置1311例如为扬声器，根据需要发出提醒的声音；信号发射接收装置1312例如包括天线、调制解调器等，用于进行通信，例如，采用蓝牙、WIFI、移动通信(例如2G/3G/4G/5G等)等进行通信，由此可以将检测结果发送到其他装置(例如诸如手机、平板电脑等移动终端，或例如服务器等)，例如将检测结果实时上传至手机等的移动终端上安装的应用程序(APP)；或者从其他装置接收控制信号以通过控制装置控制分析仪的操作，例如可以通过例如手机等的移动终端上安装的应用程序(APP)与分析仪1100进行协作。例如，在一些示例中，分析仪1100还包括温度传感器，用于监测分析仪1100的环境温度。由于一些待检测液体对于检测时的温度有一定的要求，例如需要在温度大约在25℃至35℃的范围内。所以，检测分析仪1100的环境温度可以保证检测结果的准确度。
例如，在一些示例中，分析仪1100还可以包括湿度传感器，用于检测分析仪1100的环境湿度。由于在检测过程中，由于一些待检测液体对于检测时的湿度有一定要求，例如，待检测液体与芯片检测区中的试纸发生显色反应，如果湿度太低可能造成试纸褪色而影响检测结果。对于环境湿度的控制在检测过程中的控制有利于保证检测结果的准确度。
例如，在一些示例中，如图3所示，分析仪1100还包括电池1307，设置在第一壳体1110中。电池1307为分析仪1100中的各个需要使用电能的装置供电，例如，为控制装置、显示装置、检测单元等供电。例如，该电池 1307可以为一次电池或二次电池，二次电池可以包括镍氢电池、镍镉电池、铅酸电池、锂离子电池等。本公开实施例提供的分析仪1100的结构简单，耗电少，从而具有较长的待机时间，以方便用户的使用。又例如，分析仪1100 还可以使用电源线为各个需要使用电能的装置提供电能。可以根据在使用分析仪1100的需求，选择使用电池供电或电源直接供电。
例如，在一些示例中，如图3所示，分析仪1100还包括配重块1308，设置在第一壳体1110中并位于电池1307的下方。配重块1308用于将分析仪1100的重心向下移，从而分析仪1100在放置在水平面上使用时更加稳定，还可以使得检测芯片1200放置在芯片放置结构1120上时不易窜动，进而保证检测结果的可靠性。
并且，在至少一个实施例中，该分析仪可以具有体积小、结构简单、易于操作的特点，适合在家中使用，可以对母乳等液体的多种物质含量随时进行监控。
本公开的另一个实施例还提供一种分析仪，如图11所示，该分析仪包括第一壳体2110、芯片放置结构2120以及检测单元。芯片放置结构2120 设置在第一壳体2110中，用于放置检测芯片1200；检测芯片具1200有至少一个检测区。检测单元相对于芯片放置结构2120可转动地设置在第一壳体中，其例如为光电检测单元，该光电检测单元包括例如至少一个光电检测单元2132，例如单个光电检测单元。光电检测单元2132被配置为，当检测芯片1200被放置在芯片放置结构2120上时，可通过与检测芯片1200之间的相对转到来分别对检测芯片1200的多个检测区进行检测，例如可以转动检测芯片1200或转动光电检测单元来分别对检测芯片1200的多个检测区进行检测。例如，光电检测单元2132包括至少一个发光元件以及至少一个光电感应器件，又例如仅包括光电感应器件。
在一个示例中，该分析仪的光电检测单元2132相对于芯片放置结构 2120可转动地设置在第一壳体2110中，该分析仪通过检测单元的一个光电检测单元可以分别对检测芯片的多个检测区进行检测，从而检测出检测芯片中待检测液体的多种物质的含量。在该示例中，光电检测单元2132包括的同一个发光元件可以根据需要发出不同波长的光，以用于对不同的检测样品进行相应的检测。
本实施例与前述实施例提供的分析仪的结构上的区别在于，本实施例中的检测单元在第一壳体中相对于芯片放置结构是可相对转动的，并且检测单元仅包括至少一个光电检测单元。下面对本实施例与前述实施例中的结构不同的部分进行介绍。
例如，在一些示例中，如图11所示，检测单元设置在检测电路板2302 上。检测电路板2302的中心处设置中心轴2400。分析仪还包括旋转驱动装置2500，与控制装置连接，由此由控制装置控制。旋转驱动装置2500，例如，可以为伺服电机、步进电机等。中心轴2400的另一端与旋转驱动装置 2500连接，旋转驱动装置2500驱动中心轴2400转动从而带动检测单元的光电检测单元2132相对于芯片放置结构2120转动。
例如，在一些示例中，至少一个光电检测单元包括一个光电检测单元，旋转驱动装置配置为驱动一个光电检测单元相对于芯片放置结构转动。
例如，在一些示例中，相比于前述实施例，本实施例的分析仪可以将光路组件的分光盘以及分隔组件与第一壳体连接，而不再与检测电路板连接，保证分光盘的通光孔以及分隔组件的透光部分与检测芯片的检测区相对应即可。
又例如，在一些示例中，相比于前述实施例，本实施例的分析仪可以将光路组件的分光盘的通光孔以及分隔组件的透光部分改为一组，并与检测单元对应。分光盘以及分隔组件随着检测电路板2132一起转动，将检测芯片 1200放置在芯片放置结构2120上，检测芯片1200的位置不动。例如，可以在芯片放置结构的侧壁上设置限位弹片，检测芯片1200放置在芯片放置结构2120上时，检测芯片的位置固定。
例如，在一些示例中，旋转驱动装置2500接收来自控制装置的信号，控制光电检测单元2132转动的角度，以使得光电检测单元2132转动到与检测芯片1200的检测区相对应的位置时停止转动，光电检测单元2132对该检测区的物质含量进行检测；控制装置接收到来自光电检测单元2132的光电感应器件的电信号，再次将光电检测单元2132转动到与检测芯片1200的另一个检测区相对应的位置，然后，开始对该检测区的物质含量进行检测。按照上述方式，分析仪可以依次对检测芯片1200的多个检测区进行物质含量检测，从而获得待检测液体的多种物质含量。
本公开至少一实施例提供一种检测系统，检测系统包括上述任一实施例中所述的分析仪以及检测芯片，例如，作为套件提供。检测芯片被配置为可放置在分析仪的芯片放置结构上。
图12A为本公开一实施例提供的一种检测芯片的示意图，该检测芯片可以适用于上述实施例的检测仪；图12B为本公开上述实施例提供的检测芯片的部分结构示意图；图12C为本公开另一实施例提供的检测芯片的爆炸示意图。
如图12A以及图12B所示，检测芯片包括盖板1201以及基板1203。盖板1201具有进样口1202并与基板1203紧密贴合。基板1203由透明材料制备，以允许分析仪1100中的光电检测单元1131出射的光进入检测芯片1200 以及经检测芯片1200反射的光传输至光电检测单元1131。
例如，在一些示例中，如图12B所示，盖板1201的与基板1203相对的表面上设置多条微流道1205、多个检测区1206以及一个标定区1207。检测芯片包括5个检测区1206。每一个检测区1206与微流道1205的一端连通，微流道1205的另一端延伸至盖板1201的进样口1202处，使得待检测液体通过微流道1205进入检测区1206。例如，标定区1207的中心以及多个检测区1206的中心等间隔的设置在同一圆周上，检测区1206以标定区1207分别与分析仪1100的检测单元中的光电检测单元1131对应。标定区1207用以检测系统标定分析仪1100中的芯片放置结构1120上有无检测芯片1200。
例如，当检测芯片1200被放置在芯片放置结构1120上时，与标定区1207 对应的光电检测单元1131可以接受到反射光，使得光电检测单元1131输出电信号，从而判定此时分析仪1100中有检测芯片1200，控制装置根据该电信号可以控制其他光电检测单元1131的检测工作；反之，当检测芯片1200 没有被放置在芯片放置结构1120上时，与标定区1207对应的光电检测单元 1131可以接受到反射光的强度很弱，使得光电检测单元1131没有电信号输出，从而判定此时分析仪1100中没有检测芯片1200，分析仪1100不进行检测。
在检测区1206中设置检测试纸放置区1208，将检测试纸1208放置在检测试纸放置区1208中。并且，检测区1206的中心处设置检测通孔1209，待检测液体进入检测区1206之后与检测试纸1208发生显色反应，通过检测通孔1209可以观察显色反应进行的程度，从而判断当前滴入的待检测液体是否在检测区1206中均匀分布，此外，检测通孔1209还可以容纳多余的待检测液体。
例如，在一些示例中，如图12B所示，检测芯片1200的检测区1206为菱形。例如，检测区1206的形状还可以为圆形、椭圆形、三角形等。本公开实施例不以检测区1206的形状为限。
例如，在一些示例中，如图12A所示，检测芯片1200还包括进样单元 1204。例如，进样单元在中心位置具有通孔并呈花瓣形。进样单元1204的通孔与盖板1201的进样口1202连接，将待检测液体滴入进样单元1204中，之后检测液体经盖板1201的进样口1202，通过微流道1205进入检测芯片的检测区1206中与检测试纸1208发生显色反应。
例如，在其它实施例的示例中，如图12C所示，进样单元1204还可以为圆筒形。本公开实施例不以进样单元的具体形状为限。
例如，在其它示例中，检测区1206的数量，例如，还可以为2、3、4、 6、7等，本公开实施例不以此为限。
例如，检测芯片中的标定区1207不是必须的，检测芯片可以不设置标定区1207。如图12C的示例所示的，检测芯片包括6个检测区1206还没有设置标定区1207。
例如，在一些示例中，如图12C所示，在基板1203的与盖板1202的检测通孔1209相对的位置上设置检测通光孔1210，以允许分析仪1100中的光电检测单元1131出射的光进入检测芯片1200以及经检测芯片1200反射的光传输至光电检测单元1131。
例如，在一些示例中，使用如图1A及图1B所示的分析仪检测液体的物质含量，检测过程包括图13所示的步骤。
步骤S100：将检测芯片中滴入待检测液体。待检测液体在检测区1206 分布均匀并且显色反应发生完全以后，检测芯片1200可以被随后放置到分析仪1100中。
步骤S200：开启第一壳体与第二壳体，放置检测芯片。减小第一锁舌 1183的第二端部1194与第二锁舌1184的第二端部1195的张开距离(将第一锁舌1183的第二端部1194与第二锁舌1184的第二端部1195向两者的中间靠拢)，第一锁舌1183的第一端部1185及第二锁舌1184的第一端部1186 在处于卡扣在卡扣件1188上的状态下从卡扣件1188分离，从而开启分析仪 1100的第一壳体1110与第二壳体1160，将检测芯片1200放入芯片放置结构1120中。本公开实施例不限于步骤S100以及步骤S200的先后顺序，例如，也可以将检测芯片1200放置到芯片放置结构1120中之后，再向检测芯片1200中滴入待检测液体，在此不做具体限定。
步骤S300：关闭第一壳体与第二壳体，开启分析仪进行检测。将第一壳体1110与第二壳体1160闭合，然后长按微动开关1305a，分析仪1100开始检测；控制装置1310接收光电检测单元1131的检测结果并且将检测结果发送到显示装置1170。
步骤S400：获取检测结果。分析仪1100的检测结束之后，在显示屏幕上通过按动微动开关1305b查看检测结果，还可以通过蓝牙将检测结果，例如检测报告，发送到其他设备上(例如，将检测报告推送到用户使用的软件或小程序上)。
步骤S500：取回检测芯片，关闭分析仪。再次开启分析仪1100的第一壳体1110与第二壳体1160，将检测芯片1200取出，将第一壳体1110与第二壳体1160闭合，短按微动开关1305a将分析仪1100关闭。
分析仪1100可以实现同时测量液体，例如母乳等的多种物质的含量，并且在较短的时间内(例如，2-3分钟)示出检测结果。上述分析仪1100具有结构简单、便于操作等优点，可以作为一种小型的、可手持的家用检测设备，从而用户在家就可以完成整个检测过程，并且可以实现将检测结果实时上传至，例如手机等的移动终端上安装的应用程序(APP)的端口，便于对用户提供，例如母乳的物质含量的分析以及根据分析结果提供专业的营养、膳食指导以及临床建议等。
对于上述实施例中的检测系统以及其包括分析仪，由于该分析仪的检测单元包括多个光电检测单元或至少一个可以相对转动的光电检测单元，分析仪通过多个光电检测单元可以分别对检测芯片的多个检测区进行检测，从而检测出检测芯片中待检测液体的多种物质的含量。
图14为本公开再一实施例提供的一种分析仪的示意图。本公开的实施例还提供一种分析仪，本公开实施例还可以如图14所示示意。
如图14所示，该分析仪3100包括检测模块3110以及控制模块3130。检测模块3110包括芯片放置结构3120。检测模块3110配置为，当具有至少一个检测区1206的检测芯片1200(如图12B所示)被放置在芯片放置结构 3120上时，对检测芯片1200的至少一个检测区1206进行检测。控制模块 3130与检测模块3110信号连接，并配置为控制检测模块3110的检测操作，并接收检测模块3110的检测结果。
例如，在一些示例中，芯片放置结构3120为放置检测芯片1200的空间，并且可以在对检测芯片1200进行检测时对环境光遮蔽。例如，芯片放置结构3120可以是如图2所示的结构，当检测模块3110包括第一壳体1110与第二壳体1160时，芯片放置结构3120位于第一壳体1110中，用于放置检测芯片1200。第一壳体1110与第二壳体1160在一侧可以开启与闭合，以便于用户放置以及取回检测芯片1200，并且在分析仪3100工作时避免外界光线的干扰对于检测芯片的检测。芯片放置结构3120为自第一壳体1110的上表面(例如由图2中的第一遮蔽板1301的表面形成)中的开口(例如图2 中第一遮蔽板1301的圆形开口1301a)在第一壳体1110中形成的下“凹”容置空间。例如，该容置空间的截面大致呈圆形。需要说明的是也可以是其它形状，例如矩形、椭圆形等。当检测模块3110仅包括第一壳体1110时，将第一壳体1110的上表面做成可以遮光的平面，在第一壳体1110的侧面开口，开口与芯片放置结构3120连通。在芯片放置结构3120上可以增设置物台，置物台可以从芯片放置结构3120中从开口中弹出，以将检测芯片1200放置在置物台上，然后将置物台推入芯片放置结构3120中，以对检测芯片1200 进行检测。需要说明的是，置物台的操作可以选择抽屉式，在对检测芯片1200 进行检测时遮蔽环境光。
例如，在一些示例中，控制模块3130接收检测模块3110发送的电信号，根据电信号获得检测结果。例如该控制装置3130可以处理器和存储器，该处理器可以为中央处理器(CPU)、数据处理器(DSP)等，存储器可以为半导体存储器等，用于存储用于在处理器上执行的计算机代码以及存储数据等。
例如，图15为本公开再一实施例提供的一种分析的示意图。如图15所示，检测模块3110包括至少一个光电检测单元3131。光电检测单元3131 可以为各种类型，例如，包括但不限于个光电检测单元3131。这些光电检测单元3131被配置为，当检测芯片1200放置在芯片放置结构3120上时，分别对检测芯片1200的多个检测区1206进行检测。
例如，在其它示例中，检测模块3110包括多个光电检测单元3131，该多个光电检测单元3131分别与检测芯片1200的多个检测区1206相对应(例如，在竖直方向上，即在第一壳体1110的轴线方向上)。
例如，在一些示例中，每个光电检测单元3131包括至少一个发光元件以及至少一个光电感应器件。如图15所示，光电检测单元3131两个发光元件3132以及一个光电感应器件3133。例如，该两个光电发光元件3132(例如对称的)位于一个光电感应器件3133的两侧。两个发光元件3132以及一个光电感应器件3133的设置可以保证发光元件3132发射的光均匀的入射到检测芯片1200的检测区中，并且还可以提高两个发光元件3132提供的入射光的强度以及经检测芯片1200反射之后的反射光的强度，进而提高分析仪检测的稳定性。例如，发光元件3132出射的特定强度的光(入射光)传输至芯片放置结构3120从而到达放置在芯片放置结构3120上的检测芯片1200，之后检测芯片1200的检测区1206(中的检测样品)反射的光被光电感应器件3133接收。光电感应器件3133将接收光信号(反射光)，并将光信号转换为电信号。控制装置3130根据电信号可以获得光电感应器件3133 所接收的光信号的强度。
例如，在其它示例中，光电检测单元3131中也可以包括一个光电感应器件3133以及一个发光元件3132，也可以实现对检测芯片1200的检测区 1206中待检测液体的检测。或者，光电检测单元3131中也可以包括多个光电感应器件3133以及多个发光元件3132，多个光电感应器件3133可以对待检测液体中的不同物质进行检测。本公开实施例不以发光元件3132以及光电感应器件3133的数量为限。
例如，在一些示例中，发光元件3132为发光二极管(Light Emitting Diode，LED)，光电感应器件3133为光电二极管(Photo-Diode,PD)，例如硅光二极管等。发光二极管可以发射特定波长的光(例如，红外光、红光、绿光等)，可以根据被检测物质的种类，选择特定波长的发光二极管。位于不同的光电检测单元3131中的发光二极管所发射的光的波长不同，从而通过多个光电检测单元3131实现对多种物质的检测。例如，光电检测单元3131 可以选择发射630nm波长的光的发光元件，用于检测待检测液体中的乳糖和脂肪的含量，可以获得630nm波长的光的最大吸收峰，使得光电检测单元 3131获得最大接收效率，从而提高检测的准确度。例如，光电检测单元3131 还可以选择发射660nm波长的光的发光元件，用于检测待检测液体中的钙和蛋白质的含量，可以获得660nm波长的光的最大吸收峰，使得光电检测单元 3131获得最大接收效率，从而提高检测的准确度。光电检测单元3131还可以选择发射585nm波长的光的发光元件，用于检测待检测液体中的锌的含量，可以获得585nm波长的光的最大吸收峰，使得光电检测单元3131获得最大接收效率，从而提高检测的准确度。由此本公开实施例提供的分析仪 3100的光电检测单元3131的光电感应器件3133可以产生至少5个检测信号 (例如分别对应于乳糖、脂肪、锌、钙以及蛋白质)。检测模块3110可以将多个检测信号传输至控制模块3130，控制模块3130将检测信号进行处理以获得对应的检测结果，并且控制模块3130可以将检测结果传输至显示模块 3170(如图15所示，显示模块3170将在后续详细介绍)以在显示模块3170 上显示。所以，本公开实施例提供的分析仪3100可以实现同时检测出多个指标项(例如乳糖、脂肪、锌、钙以及蛋白质的含量)。
例如，在一些示例中，如图15所示，分析仪3100还包括分光组件3140。分光组件3140设置在芯片放置结构3120与至少一个光电检测单元3131之间，且配置为至少一个发光元件3132出射的光传输至芯片放置结构3120，以及将从芯片放置结构3120上放置的检测芯片1200反射的光传输至至少一个光电感应器件3133。图6A所示，分光组件3140可以实现为分光盘1141。分光盘1141包括至少一组组通光孔1142，至少一组组通光孔1142均匀布置在分光盘1141的同一圆周上。每组通光孔1142包括至少一个光发射通孔及至少一个光反射通孔，至少一个光发射通孔允许对应的光电检测单元3131 的发光元件3132出射的光通过，至少一个光反射通孔允许从芯片放置结构 3120上放置的检测芯片1200反射的光通过以传输至对应的光电检测单元 3131的光电感应器件3133。两个光发射通孔1143位于光反射通孔1144的两侧，光发射通孔1143与光电检测单元3131中的发光元件3132相对应，光反射通孔1144与光电检测单元3131中的光电感应器件3133相对应。发光元件3132出射的光通过光发射通孔1143之后入射到芯片放置结构3120 上，从芯片放置结构3120上放置的检测芯片1200反射的光通过光反射通孔 1144之后被光电感应器件3133接收。分光盘1141的设置可以避免不同光电检测单元3131之间光信号的干扰，保证检测结果的可靠性。
需要说明的是，分光盘1141为分光组件3140的一个示例，分光组件3140 还可以选择为其它的光路结构，本公开实施例不以此为限。
例如，在一些示例中，如图15所示，分析仪3100还包括分隔组件3150。分隔组件3150设置在分光组件3140与芯片放置结构3120之间。分隔组件 3150包括透光部分。透光部分配置为将至少一个发光元件3132出射的光以及从芯片放置结构3120上放置的检测芯片1200反射的光通过。分隔组件 3150可以为如图4A所示的分隔组件1150。分隔组件1150包括透光部分 1151，配置为允许光电检测单元3131的发光元件3132出射的光以及从芯片放置结构3120上放置的检测芯片1200反射的光通过。检测芯片1120位于分隔组件3150之上，分隔组件3150用于防止检测芯片1120的检测区中的待检测液体的渗透，例如，还可以对于下方的光路组件等提供保护功能。分隔组件3150的透光部分1151包括至少一个透明窗1152，分别对应于多个光电检测单元3131，以分别允许将对应的光电检测单元3131的至少一个发光元件3132出射的光以及从芯片放置结构3120上放置的检测芯片1200反射至对应的光电检测单元3131的至少一个光电感应器件3133的光通过。
例如，在一些示例中，如图15所示，分析仪3100还包括显示模块3170。显示模块3170与控制模块3130信号连接，并配置为接收控制模块3130发送的检测模块3110的检测结果以及显示检测模块3110的检测结果。显示模块3170例如可以为液晶显示装置、有机发光二极管(OLED)显示装置、电子纸、数码管等，用于显示分析仪3100的检测结果。当分析仪3100包括第二壳体1160或第一壳体1110(如图1所示)时，显示模块3170可以设置在第二壳体1160或第一壳体1110上。
例如，在一些示例中，如图15所示，分析仪3100还包括开关模块3160。开关模块3160与显示模块3170信号连接，并配置为控制在显示模块3170 上显示的内容。开关模块3160还可以实现分析仪3100的开关功能。例如，如图9所示，开关模块3160可以实现为微动开光1305a以及微动开关1305b 或者其中之一，实现分析仪3100的开关功能以及控制检测结果在显示模块 3170上显示的功能。例如，长按微动开关1305a将分析仪1100开启，开始对检测芯片1200的检测，短按微动开关1305a将分析仪关闭；通过按动微动开关1305b对显示模块3170的显示内容进行控制，可以根据选择在显示模块3170上查看检测结果。
例如，在一些示例中，如图15所示，分析仪3100还包括信号发射接收装置3180。信号发射接收装置3180与控制模块3130连接，并配置为将检测单元3110的检测结果上传至移动设备，或者配置为从移动设备接收控制信号，并将控制信号传输至控制模块3130，以控制所述分析仪3100的操作。信号发射接收装置3180例如包括天线、调制解调器等，用于进行通信，例如，采用蓝牙、WIFI、移动通信(例如2G/3G/4G/5G等)等进行通信，由此可以将检测结果发送到其他装置(例如诸如手机、平板电脑等移动终端，或例如服务器等)，例如将检测结果实时上传至手机等的移动终端上安装的应用程序(APP)；或者从其他装置接收控制信号以通过控制装置控制分析仪3100的操作，例如可以通过例如手机等的移动终端上安装的应用程序 (APP)与分析仪3100进行协作。
有以下几点需要说明：
(1)本公开实施例附图只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计。
(2)在不冲突的情况下，本公开的实施例及实施例中的特征可以相互组合以得到新的实施例。
以上，仅为本公开的具体实施方式，但本公开的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本公开揭露的技术范围内，可轻易想到变化或替换，都应涵盖在本公开的保护范围之内。因此，本公开的保护范围应以权利要求的保护范围为准。

Claims (43)

1.一种分析仪，其特征在于，包括：
第一壳体，
芯片放置结构，设置在所述第一壳体中，用于放置检测芯片，其中，所述检测芯片具有至少一个检测区，以及
至少一个检测单元，设置在所述第一壳体中，
其中，所述至少一个检测单元被配置为，当所述检测芯片被放置在所述芯片放置结构上时，可分别对所述检测芯片的一个或多个检测区进行检测,
所述至少一个检测单元包括至少一个光电检测单元,
所述至少一个光电检测单元每个包括至少一个发光元件以及至少一个光电感应器件,
所述分析仪还包括：
光路组件，设置在所述芯片放置结构与所述检测单元之间，且配置为将所述至少一个发光元件出射的光传输至所述芯片放置结构，以及将从所述芯片放置结构上放置的所述检测芯片反射的光传输至所述至少一个光电感应器件，
所述光路组件包括分光盘，所述分光盘包括至少一组通光孔，分别对应于所述至少一个光电检测单元，
所述至少一组通光孔每组包括至少一个光发射通孔及至少一个光反射通孔，所述至少一个光发射通孔允许对应的光电检测单元的至少一个发光元件出射的光通过，所述至少一个光反射通孔允许从所述芯片放置结构上放置的检测芯片反射的光通过以传输至所述对应的光电检测单元的至少一个光电感应器件，其中，所述至少一组通光孔每组中至少一个通光孔为矩形孔或圆形孔，所述至少一组通光孔每组中至少一个通光孔的侧壁相对于所述分光盘的轴线方向为斜面。
2.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于，
所述至少一个光发射通孔为矩形孔，所述至少一个光反射通孔为圆形孔。
3.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于，
所述至少一个光发射通孔的沿所述分光盘的径向延伸的侧壁为斜面，所述至少一个光反射通孔的侧壁为斜面。
4.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于，
所述分光盘设置为中心对称，所述至少一组通光孔每组也设置为中心对称。
5.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于，
所述分光盘的形状为圆形，所述至少一组通光孔包括多组通光孔，以及所述多组通光孔围绕所述分光盘的圆心以圆形均匀分布。
6.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于，
所述至少一组通光孔每组包括两个光发射通孔及一个光反射通孔，并且所述两个光发射通孔设置在所述一个光反射通孔相对的两侧。
7.根据权利要求6所述的分析仪，其特征在于，
所述两个光发射通孔对称地设置在所述一个光反射通孔相对的两侧。
8.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于，相邻的两个光发射通孔的中心之间的直线距离的取值范围为5毫米至8毫米，所述至少一组通光孔每组中的所述两个光发射通孔的其中之一的中心与所述一个光反射通孔的中心的直线距离的取值范围为2.5毫米至4毫米。
9.根据权利要求6所述的分析仪，其特征在于，
所述至少一组通光孔每组的所述一个光反射通孔包括位于所述分光盘远离所述至少一个检测单元的一侧的第一子反射通孔以及位于所述分光盘靠近所述至少一个检测单元的一侧的第二子反射通孔。
10.根据权利要求9所述的分析仪，其特征在于，
所述第一子反射通孔的直径小于所述第二子反射通孔的直径。
11.根据权利要求6所述的分析仪，其特征在于，
所述分光盘远离所述至少一个检测单元的一侧的表面包括至少一个凸台，所述至少一个凸台自所述至少一组通光孔每组的两个光发射通孔的靠近所述一个光反射通孔的一侧向靠近所述一个光反射通孔的方向倾斜地向远离所述至少一个检测单元的一侧突出，
所述至少一组通光孔的所述一个光反射通孔一一对应地位于所述至少一个凸台中，以遮蔽通过所述光发射通孔从对应的光电检测单元的至少一个发光元件出射的光。
12.根据权利要求11所述的分析仪，其特征在于，
所述至少一个凸台的每个为环形，
所述至少一个凸台的每个环绕所述至少一组通光孔每组的所述一个光反射通孔。
13.根据权利要求6所述的分析仪，其特征在于，所述至少一个光电检测单元每个包括两个发光元件以及一个光电感应器件，并且所述两个发光元件设置在所述一个光电感应器件相对的两侧；
所述两个光发射通孔分别允许所述两个发光元件所出射的光通过，所述一个光反射通孔允许从所述芯片放置结构上放置的检测芯片反射的光通过以传输至所述一个光电感应器件。
14.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于，相邻的两个所述发光元件的中心之间的直线距离的取值范围为5毫米至8毫米，同一个所述光电检测单元中的两个发光元件的其中之一的中心与光电感应器件的中心的直线距离的取值范围为2.5毫米至4毫米。
15.根据权利要求13所述的分析仪，其特征在于，还包括：
分隔组件，在所述第一壳体中设置在所述光路组件和所述芯片放置结构之间，
其中，所述分隔组件包括透光部分，配置为将所述至少一个发光元件出射的光以及从所述芯片放置结构上放置的所述检测芯片反射的光通过。
16.根据权利要求15所述的分析仪，其特征在于，所述分隔组件的透光部分包括至少一个透明窗，分别对应于所述至少一个检测单元，以分别允许将对应的光电检测单元的至少一个发光元件出射的光以及从所述芯片放置结构上放置的所述检测芯片反射至所述对应的光电检测单元的至少一个光电感应器件的光通过。
17.根据权利要求16所述的分析仪，其特征在于，所述分隔组件还包括基板以及至少一个透明片，
所述基板包括至少一个安装通孔，所述至少一个透明片嵌入所述至少一个安装通孔中以提供所述至少一个透明窗。
18.根据权利要求15所述的分析仪，其特征在于，还包括：
检测电路板，所述光电检测单元设置在所述检测电路板上，所述检测电路板包括第一定位孔，
所述分隔组件包括定位柱以及所述分光盘包括第二定位孔，或者所述分隔组件包括第二定位孔以及所述分光盘包括定位柱，
所述定位柱穿设于所述第一定位孔与所述第二定位孔中，以将所述分光盘、所述分隔组件以及所述检测电路板连接。
19.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于，
所述第一壳体还包括至少一个支撑部，所述支撑部设置在所述第一壳体的底部以对所述第一壳体提供稳定支撑。
20.根据权利要求1-18任一所述的分析仪，其特征在于，还包括旋转驱动装置，其中，所述至少一个检测单元包括一个检测单元，
所述旋转驱动装置配置为驱动所述一个检测单元相对于所述芯片放置结构转动。
21.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于，所述检测芯片还具有校准反应区，
当所述检测芯片被放置在所述芯片放置结构上时，在对所述检测芯片的检测区进行检测之前，所述至少一个检测单元的其中之一还配置为对所述检测芯片的校准反应区进行校准。
22.根据权利要求1所述的分析仪，其特征在于，还包括:
第二壳体，连接到所述第一壳体，
其中，所述芯片放置结构以及所述至少一个检测单元设置在所述第一壳体与所述第二壳体所围成的空间内。
23.根据权利要求22所述的分析仪，其特征在于，所述第二壳体在第一侧与第一壳体铰接，
所述第二壳体配置为可在第二侧与所述第一壳体闭合，以及被开启以露出所述芯片放置结构，
所述第一侧与所述第二侧相对设置。
24.根据权利要求23所述的分析仪，其特征在于，所述第一壳体包括设置在所述第二侧的第一子开合组件，
所述第二壳体包括设置在所述第二侧的第二子开合组件，
其中，所述第一子开合组件和所述第二子开合组件配置为可彼此结合和分离，以分别使得所述第一壳体和所述第二壳体以彼此闭合和开启。
25.根据权利要求24所述的分析仪，其特征在于，所述第二子开合组件包括长条状的第一锁舌和长条状的第二锁舌，所述第一锁舌与所述第二锁舌成对并排设置，
所述第一子开合组件包括凹槽以及卡扣件，所述卡扣件位于所述凹槽中，
所述第一锁舌的第一端部及所述第二锁舌的第一端部配置为可伸入所述凹槽中并卡扣在所述卡扣件上，以使所述第一壳体和所述第二壳体闭合，以及可从所述卡扣件脱离，以使所述第一壳体和所述第二壳体开启。
26.根据权利要求25所述的分析仪，其特征在于，所述第二子开合组件还包括弹性件，
所述弹性件设置在所述第一锁舌的中部和所述第二锁舌的中部以弹性连接所述第一锁舌和所述第二锁舌，且配置为施加弹性力以趋向于将所述第一锁舌和所述第二锁舌处于可卡扣在所述卡扣件上的状态。
27.根据权利要求26所述的分析仪，其特征在于，所述弹性件为扭簧，所述扭簧用以施加使得所述第一锁舌的第一端部及所述第二锁舌的第一端部彼此靠近的弹性力，
所述第二子开合组件还包括开关，所述开关与所述第一锁舌和所述第二锁舌连接，且配置为可操作使得所述第一锁舌的第一端部及所述第二锁舌的第一端部在处于卡扣在所述卡扣件上的状态下从所述卡扣件分离。
28.根据权利要求26所述的分析仪，其特征在于，所述第二子开合组件还包括连接件，所述连接件设置在所述第一锁舌的中部，
所述连接件与所述第二锁舌相对的面为斜面，以形成限位轨迹，
所述限位轨迹配置为限制所述第一锁舌以及所述第二锁舌的开合角度。
29.根据权利要求25所述的分析仪，其特征在于，还包括：
显示装置，设置在所述第二壳体上。
30.根据权利要求29所述的分析仪，其特征在于，还包括：
至少一个微动开关，与所述显示装置信号连接，且被配置为控制在所述显示装置上显示的内容。
31.根据权利要求30所述的分析仪，其特征在于，所述至少一个微动开关包括两个微动开关，
所述两个微动开关其中之一设置在所述第一锁舌的第一端部，并配置为控制所述分析仪的开关，
所述两个微动开关其中另一设置在所述第二锁舌的第一端部，并配置为控制所述分析仪的检测结果在所述显示装置上的显示。
32.根据权利要求29所述的分析仪，其特征在于，还包括：
控制装置，与所述检测单元以及所述显示装置信号连接，被配置为接收检测单元的检测结果并且将检测结果发送到所述显示装置，所述显示装置被配置为显示所述检测结果。
33.根据权利要求32所述的分析仪，其特征在于，还包括：
信号发射接收装置，所述信号发射接收装置与所述控制装置连接，并配置为将所述检测结果上传至移动设备，或者配置为从移动设备接收控制信号，并将所述控制信号传输至所述控制装置，以控制所述分析仪的操作。
34.根据权利要求32所述的分析仪，其特征在于，还包括：
温度传感器以及湿度传感器，所述温度传感器以及所述湿度传感器分别与所述控制装置连接，
其中，所述温度传感器配置为检测环境温度，并将温度检测数据上传至所述控制装置，
所述湿度传感器配置为检测环境湿度，并将湿度检测数据上传至所述控制装置。
35.一种检测系统，其特征在于，包括：
如权利要求1-34任一项所述的分析仪，
检测芯片，配置为可放置在所述分析仪的所述芯片放置结构上。
36.一种分析仪，其特征在于，包括：
检测模块，包括芯片放置结构，其中，所述检测模块配置为，当具有至少一个检测区的检测芯片被放置在所述芯片放置结构上时，对所述检测芯片的至少一个检测区进行检测，以及
控制模块，配置为控制所述检测模块的检测操作，并接收所述检测模块的检测结果。
37.根据权利要求36所述的分析仪，其特征在于，所述检测模块包括至少一个光电检测单元。
38.根据权利要求37所述的分析仪，其特征在于，所述至少一个光电检测单元每个包括至少一个发光元件以及至少一个光电感应器件。
39.根据权利要求38所述的分析仪，其特征在于，还包括：
分光组件，所述分光组件设置在所述芯片放置结构与所述至少一个光电检测单元之间，且配置为所述至少一个发光元件出射的光传输至所述芯片放置结构，以及将从所述芯片放置结构上放置的所述检测芯片反射的光传输至所述至少一个光电感应器件。
40.根据权利要求39所述的分析仪，其特征在于，还包括：
分隔组件，所述分隔组件设置在所述分光组件与所述芯片放置结构之间，
其中，所述分隔组件包括透光部分，所述透光部分配置为将所述至少一个发光元件出射的光以及从所述芯片放置结构上放置的所述检测芯片反射的光通过。
41.根据权利要求36-40任一所述的分析仪，其特征在于，还包括：
显示模块，所述显示模块与控制模块信号连接，并配置为接收所述控制模块发送的所述检测模块的检测结果以及显示所述检测结果。
42.根据权利要求41所述的分析仪，其特征在于，还包括：
开关模块，所述开关模块与所述显示模块信号连接，并配置为控制在所述显示模块上显示的内容。
43.根据权利要求36-40任一所述的分析仪，其特征在于，还包括：
信号发射接收装置，所述信号发射接收装置与所述控制模块连接，并配置为将所述检测模块的检测结果上传至移动设备，或者配置为从移动设备接收控制信号，并将所述控制信号传输至所述控制模块，以控制所述分析仪的操作。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113720817A (zh) * 2021-08-27 2021-11-30 苏州国科均豪生物科技有限公司 一种盘式微流控检测分析系统

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN116430025B (zh) * 2023-04-21 2024-02-06 南京华银医学检验所有限公司 一种酶标分析仪

Family Cites Families (38)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003042967A (ja) * 2001-07-27 2003-02-13 Hitachi Ltd パターン欠陥検査装置
US8367013B2 (en) * 2001-12-24 2013-02-05 Kimberly-Clark Worldwide, Inc. Reading device, method, and system for conducting lateral flow assays
JP4261286B2 (ja) * 2003-08-21 2009-04-30 村田機械株式会社 糸の異物検出装置
CN100445727C (zh) * 2003-12-30 2008-12-24 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 一种微生化检测和分析方法及仪器
US8128871B2 (en) 2005-04-22 2012-03-06 Alverix, Inc. Lateral flow assay systems and methods
JP2006047157A (ja) * 2004-08-06 2006-02-16 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光学分析装置
DE102007014034B3 (de) * 2007-03-23 2008-09-25 Continental Automotive Gmbh Optischer Sensorchip und Einklemmschutzvorrichtung mit einem solchen
KR101410752B1 (ko) * 2007-07-20 2014-06-23 삼성전자 주식회사 광학 검출 장치, 광학 검출 방법, 및 상기 광학 검출장치를 포함하는 미세유동 시스템
KR101416694B1 (ko) * 2008-06-11 2014-07-09 삼성전자 주식회사 회전 가능한 미세유동 디스크를 이용한 시료 분석 장치
CN101644667A (zh) * 2008-08-05 2010-02-10 长春吉大·小天鹅仪器有限公司 茶叶质量安全快速检测仪
DE102009036114B3 (de) * 2009-08-05 2010-09-02 Dräger Safety AG & Co. KGaA Infrarot-Optische Gasmesseinrichtung
JP6051172B2 (ja) * 2011-02-23 2016-12-27 シーエスピー テクノロジーズ，インコーポレイティド 扁平箱収容器
US20130050227A1 (en) * 2011-08-30 2013-02-28 Qualcomm Mems Technologies, Inc. Glass as a substrate material and a final package for mems and ic devices
US10540850B2 (en) * 2012-11-10 2020-01-21 Dewaal Ip Llc System and method for controlling operation of a game device
JP2014145643A (ja) * 2013-01-29 2014-08-14 Seiko Epson Corp 成分分析器
ES2910383T3 (es) * 2014-06-18 2022-05-12 Zoetis Denmark Aps Un sistema de detección microfluídica y un cartucho microfluídico
US9888891B2 (en) * 2014-06-26 2018-02-13 Palodex Group Oy X-ray imaging unit for medical imaging
CN104237544B (zh) * 2014-09-28 2016-05-11 博奥生物集团有限公司 一种生物芯片检测器
JP5973521B2 (ja) * 2014-10-15 2016-08-23 株式会社クボタ 光学式穀粒評価装置
CN104503650B (zh) * 2015-01-15 2017-10-10 京东方科技集团股份有限公司 一种内嵌式触摸屏及显示装置
CN104849222B (zh) * 2015-01-23 2018-01-16 江苏大学 基于光度检测的旋转碟式微流控浓度测量装置与方法
CN104635308B (zh) * 2015-03-17 2017-01-18 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 一种光通信装置及其装配方法
CN104931440B (zh) * 2015-06-12 2018-04-10 中国科学院合肥物质科学研究院 一种基于微流控芯片的便携式重金属高灵敏度检测装置
CN204903388U (zh) * 2015-08-28 2015-12-23 山东盛百灵医药科技有限公司 一种特种蛋白分析仪
CN105928893A (zh) * 2016-05-23 2016-09-07 杭州霆科生物科技有限公司 一种多样品多指标微流控光学检测系统
CN106442443B (zh) * 2016-09-12 2018-12-07 北京天健惠康生物科技有限公司 一种微液滴荧光检测系统
JP6203922B1 (ja) * 2016-10-04 2017-09-27 三井金属計測機工株式会社 青果物検査装置
CN109420532B (zh) * 2017-09-01 2020-11-10 京东方科技集团股份有限公司 数字微流控基板及其制作方法、数字微流控芯片及方法
JP6630947B2 (ja) 2017-09-01 2020-01-15 ウシオ電機株式会社 マイクロプレートリーダー
CN110764186B (zh) * 2018-07-27 2022-02-22 京东方科技集团股份有限公司 光波导基板和微流控装置
CN208833653U (zh) * 2018-08-22 2019-05-07 江苏达骏生物科技有限公司 光信号检测装置及用于待测物中的特定物质含量检测的系统
CN109632657A (zh) * 2019-02-26 2019-04-16 京东方科技集团股份有限公司 光谱检测装置
CN110044888A (zh) * 2019-04-25 2019-07-23 壹妙芯(厦门)科技有限公司 一种便携式免疫分析仪
CN110220848A (zh) * 2019-06-19 2019-09-10 珠海森龙生物科技有限公司 一种生化分析仪光电检测系统以及生化分析仪光电检测盒
CN211553735U (zh) * 2019-11-22 2020-09-22 京东方科技集团股份有限公司 分析仪及检测系统
CN211014324U (zh) * 2019-11-22 2020-07-14 京东方科技集团股份有限公司 检测芯片及检测系统
CN211905402U (zh) * 2019-11-22 2020-11-10 京东方科技集团股份有限公司 检测芯片及检测系统
CN113767283A (zh) * 2020-03-06 2021-12-07 京东方科技集团股份有限公司 分析仪及其控制方法、检测系统及存储介质

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113720817A (zh) * 2021-08-27 2021-11-30 苏州国科均豪生物科技有限公司 一种盘式微流控检测分析系统
CN113720817B (zh) * 2021-08-27 2024-04-09 苏州国科均豪生物科技有限公司 一种盘式微流控检测分析系统

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