CN213021349U - 一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置 - Google Patents

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张庆治
徐振业
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Abstract

本实用新型属于测试技术领域,公开了一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,包括平台、杆体、滑块、锁紧装置、连接支杆和测量仪表,平台是一个上表面为平面的大型平台,能够放置待测平板,平台一端竖立设置杆体;滑块可上下移动地设在杆体上,并通过锁紧装置锁定其在杆体上的位置;滑块与连接支杆的一端连接,连接支杆另一端连接测量仪表,测量仪表的测针向下垂直于平台的上表面。本实用新型的装置实现了大尺寸平板厚度的整体全面测量,为复合材料生产提高了数据积累,保证了产品质量;连接支杆的尺寸可调,横度可调,待测平板的位置可调,多种测量手段更加方便可靠。

Description

一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置
技术领域
本实用新型属于测试技术领域,涉及一种平板厚度的测量装置,具体涉及一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置。
背景技术
实际生产过程中,复合材料平板厚度往往通过预浸料的铺层数来保证,而每一层预浸料的厚度为典型铺层的理论值,但在固化后,由于热压作用,预浸料的厚度会发生变化,最终制得的复合材料平板厚度与技术要求存在偏差,因此需对复合材料平板厚度进行测量,获得厚度实际值为后续生产积累数据,保证最终产品质量。
目前,厚度测量方式主要采用传统测量比如卡尺、壁厚千分尺等,传统测量方式受本身弓架量程限制仅仅能够实现对弓架量程内小尺寸平板以及超弓架量程的大尺寸平板边缘厚度的测量,而对于远离大尺寸平板边缘位置,传统测量方式根本无法实现厚度测量,进而无法实现对整体大尺寸平板厚度的全面测量,影响产品质量控制。
实用新型内容
为了解决上述问题,本实用新型提供了一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,摆脱了传统测量弓架量程的限制,实现了对整个大尺寸平板厚度的全面测量。
本实用新型的技术方案是:
一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,包括平台、杆体、滑块、锁紧装置、连接支杆和测量仪表,平台是一个上表面为平面的大型平台,能够放置待测平板,平台一端竖立设置杆体;滑块可上下移动地设在杆体上,并通过锁紧装置锁定其在杆体上的位置;滑块与连接支杆的一端连接,连接支杆另一端连接测量仪表,测量仪表的测针向下垂直于平台的上表面。
进一步的,平台是硬质平台,表面精度级别为0级。
进一步的,还包括支座,杆体固定在支座上,支座固定在平台上。
进一步的,杆体是螺纹杆;滑块包括升降螺栓,与杆体的螺纹相配合。
进一步的,滑块还包括连接套筒,连接套筒套在杆体上,下方由升降螺栓限位,连接套筒一侧与连接支杆连接,锁紧装置设在连接套筒侧面。
进一步的,滑块与连接支杆可拆卸连接,测量仪表与连接支杆可拆卸连接,有多个长度尺寸备用的连接支杆。
本实用新型的优点是:
1、实现了大尺寸平板厚度的整体全面测量,为复合材料生产提高了数据积累,保证了产品质量;
2、连接支杆的尺寸可调,横度可调,待测平板的位置可调,多种测量手段更加方便可靠。
附图说明
图1为大尺寸平板厚度测量装置示意图;
其中,1—平台,2—支座,3—滑块,4—锁紧装置,5—杆体,6—连接套筒,7—连接支杆,8—测量仪表,9—待测平板。
具体实施方式
本部分是本发明的实施例,用于解释和说明本实用新型的技术方案。
一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,包括平台1、杆体5、滑块3、锁紧装置4、连接支杆7和测量仪表8,平台1是一个上表面为平面的大型平台,能够放置待测平板9,平台1一端竖立设置杆体5;滑块3可上下移动地设在杆体5上,并通过锁紧装置4锁定其在杆体5上的位置;滑块3与连接支杆7的一端连接,连接支杆7另一端连接测量仪表8,测量仪表8的测针向下垂直于平台1的上表面。
平台1是硬质平台,表面精度级别为0级。
本装置还包括支座2,杆体5固定在支座2上,支座2固定在平台1上。
杆体5是螺纹杆;滑块3包括升降螺栓,与杆体5的螺纹相配合。
滑块3还包括连接套筒6,连接套筒6套在杆体5上,下方由升降螺栓限位,连接套筒6一侧与连接支杆连接,锁紧装置4设在连接套筒6侧面。
滑块3与连接支杆7可拆卸连接,测量仪表8与连接支杆7可拆卸连接,有多个长度尺寸备用的连接支杆7。
下面结合附图说明本实用新型另一个实施例。
本实用新型装置的结构如图1所示,1为大理石平台,精度级别为0级;2为支座,适当增加支座重量,保证装置整体稳定;3为升降螺栓,旋转螺栓可提高或降低装置高度,以适应测量不同厚度平板;4为防滑螺钉,拧紧后,可固定套筒,防止装置在测量过程中下滑; 5为螺纹杆,与3配合使用,提高或降低装置高度;6为连接套筒,使测量仪表与升降装置有效连接;7为连接支杆,连接测量仪表与升降装置,可通过改变支杆尺寸来增加测量距离; 8为测量仪表,可根据测量公差要求更换测量仪表的种类如百分表、千分表等;9为待测平板。
本装置实现了大尺寸平板厚度的整体全面测量,为复合材料生产提高了数据积累,保证了产品质量。
使用方法包括以下两种:
1、直接测量平板厚度。
2、先根据平板的理论厚度,准备一个标块,然后将标块放入到测量仪表的测针之下,校准测量仪表的零位,后面直接可以测量平板厚度的误差。

Claims (6)

1.一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,其特征在于,包括平台(1)、杆体(5)、滑块(3)、锁紧装置(4)、连接支杆(7)和测量仪表(8),平台(1)是一个上表面为平面的大型平台,能够放置待测平板(9),平台(1)一端竖立设置杆体(5);滑块(3)可上下移动地设在杆体(5)上,并通过锁紧装置(4)锁定其在杆体(5)上的位置;滑块(3)与连接支杆(7)的一端连接,连接支杆(7)另一端连接测量仪表(8),测量仪表(8)的测针向下垂直于平台(1)的上表面。
2.根据权利要求1所述的一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,其特征在于,所述的平台(1)是硬质平台,表面精度级别为0级。
3.根据权利要求1所述的一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,其特征在于,还包括支座(2),杆体(5)固定在支座(2)上,支座(2)固定在平台(1)上。
4.根据权利要求1所述的一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,其特征在于,所述的杆体(5)是螺纹杆;滑块(3)包括升降螺栓,与杆体(5)的螺纹相配合。
5.根据权利要求4所述的一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,其特征在于,所述的滑块(3)还包括连接套筒(6),连接套筒(6)套在杆体(5)上,下方由升降螺栓限位,连接套筒(6)一侧与连接支杆连接,锁紧装置(4)设在连接套筒(6)侧面。
6.根据权利要求5所述的一种大尺寸平板高精度测量厚度的装置,其特征在于,所述的滑块(3)与连接支杆(7)可拆卸连接,测量仪表(8)与连接支杆(7)可拆卸连接,有多个长度尺寸备用的连接支杆(7)。
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