CN212827420U - 芯片、成像盒及成像系统 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种芯片、包括芯片的成像盒以及包括改成像盒的成像系统。芯片包括第一处理单元、第二处理单元及阻挡单元；所述阻挡单元与第一处理单元串联，所述阻挡单元与第二阻挡单元并联；所述阻挡单元为单向导通单元；所述第二处理单元与第一处理单元电性连接，该第二处理单元与第一处理单元能进行数据交互。本实用新型所述的芯片及验证方法分别利用了第一处理单元、第二处理单元及阻挡单元，通过阻挡单元使得第一处理单元的第一数据只能发送至第二处理单元，使得第二处理单元内存储有全部的验证数据，从而使得芯片或者成像盒可以被正常使用。还可以使得成像盒及芯片的通用性。

Description

芯片、成像盒及成像系统

技术领域

本实用新型涉及芯片技术领域，具体涉及一种芯片、包含有该芯片的成像盒及包括成像盒的成像系统。

背景技术

芯片目前已经广泛的应用于各行各业，居家用品、办公用品、交通运输、教育及通信等等几乎都需要芯片。然而芯片技术一直处于更新迭代的过程，有些产品本身可以用，但是会因为芯片更新或者芯片使用达到一定条件之后而不能用或者不能满足使用者的需求，而需要更换新产品，从而导致不必要的浪费。

随着成像技术的发展，如复印机、打印机、传真机、多功能文字处理机等成像设备已被广泛应用于办公及家庭等场合。成像设备中一般都设置有成像盒(例如墨盒、碳粉盒等)，成像盒内置有成像材料 (墨水、碳粉等)及成像芯片(包数据存储器，例如IC)等耗材。所述成像盒、成像材料及成像芯片都可以更换。其中成像芯片存储有与成像盒相关的数据，如：成像盒厂家代码、生产日期、型号、特性参数、成像页数、记录材料剩余量信息、序列号等。

若成像盒中存储的成像材料能正常的被成像设备使用，通常需要成像芯片能被成像设备中的主板验证通过，实现主板与成像芯片的信息交互。因此在安装所述成像芯片时需要对数据存储装置中存储的厂家代码、型号、特性参数、成像页数以及记录材料剩余量等成像盒信息进行识别。成像芯片中成像页数以及记录材料剩余量等成像盒信息显示成像盒中的使用寿命，当成像芯片代表使用寿命的数据显示已经终止之后，成像芯片就不能再继续使用。安装有该成像芯片的成像盒也就不能继续使用，必须更换，从而造成不必要的浪费。

现有技术中已经出现了对成像芯片中的代表使用寿命的数据进行复位之后重新使用的技术，但是并非所有的成像芯片都能这样操作，原因为成像芯片内部预先设定了有关显影剂容量的数据改变的规则，禁止将显影剂容量的数据改成初始值或者将显影剂容量的数据改成更靠近初始值的数据，一旦违背成像芯片内部的规定，则成像芯片自动锁死或者自毁，导致无法使用。

实用新型内容

为了使得芯片可以重复利用，而不受芯片内部设定的影响，本实用新型提供了一种芯片、包括芯片的成像盒以及包括该成像盒的成像系统。

一种芯片，包括第一处理单元、第二处理单元及阻挡单元；所述阻挡单元与第一处理单元串联，所述阻挡单元与第二阻挡单元并联；所述阻挡单元为单向导通单元；所述第二处理单元与第一处理单元电性连接，该第二处理单元与第一处理单元能进行数据交互。

优选地，所述阻挡单元允许数据经阻挡单元发送至第一处理单元，并拦截第一处理单元发送至阻挡单元的第一数据。

优选地，所述第一处理单元的第一数据发送至第二处理单元，第二处理单元拦截或者修改部分第二处理单元发送的第一数据。

优选地，所述阻挡单元的输出端至少与第一处理单元的第一数据传输端连接。

优选地，所述第二处理单元的第二数据传输端与阻挡单元的输入端连接；第一处理单元的第一数据传输端与第二数据传输端连接。

优选地，所述阻挡单元包括包括第一处理单元、第二处理单元及阻挡单元；所述阻挡单元与第一处理单元串联，所述阻挡单元与第二处理单元并联；所述阻挡单元为单向导通单元；所述第二处理单元与第一处理单元电性连接，该第二处理单元与第一处理单元之间进行数据交互。

优选地，所述阻挡单元拦截第一处理单元的第一数据传输端连接。

优选地，所述第二处理单元的第二输出传输端与第一处理单元及阻挡单元均连接。

优选地，所述阻挡单元至少与第一处理单元的第一数据传输端连接。

优选地，所述第一处理单元的第一数据传输端与第二数据传输端连接。

优选地，所述阻挡单元包括二极管、MOS管、三极管或者控制芯片中的至少一种。

优选地，所述阻挡单元包括输出端及输入端；所述输出端与第二处理单元连接。

优选地，所述输出端为二极管的正极、或者MOS管的源极、或者三极管的基极，输入端为二极管的负极、或者MOS管的漏极、或者三极管的发射极。

本实用新型提供一种成像盒，包括盒体，所述盒体内置有显影剂，还包括芯片，所述芯片为以上所述的芯片。

优选地，所述芯片与盒体可拆卸连接。

本实用新型提供一种成像系统，包括成像设备，还包括成像盒，所述成像盒为以上所述的成像盒，该成像盒上的芯片与成像设备进行数据交互。

优选地，所述成像盒以可拆卸的方式安装于成像设备。

本实用新型提供的一种芯片，包括第一处理单元、第二处理单元及阻挡单元；所述阻挡单元与第一处理单元连接，所述阻挡单元用于拦截至少第一处理单元发送的第一数据；所述第二处理单元与第一处理单元电信连接，该第二处理单元与第一处理单元能进行数据交互。

优选地，所述阻挡单元允许初始数据经阻挡单元发送至第一处理单元，并拦截第一处理单元发送至阻挡单元的第一数据。

优选地，所述阻挡单元至少与第一处理单元的输出单元连接。

优选地，所述第一处理单元的第一数据发送至第二处理单元，第二处理单元拦截或者修改部分第二处理单元发送的第一数据。

优选地，所述第二处理单元的输入端与阻挡单元的输入端连接以及第一处理单元的输出端连接，阻挡单元的输出端与第一处理单元的输入端连接。

优选地，所述阻挡单元为单向导通元件。

优选地，所述单向导通元件包括二极管、MOS管或三极管中的至少一种。

本实用新型提供的一种成像盒，包括盒体，所述盒体内置有显影剂，还包括芯片，所述芯片为以上所述成像盒芯片的验证方法；或所述芯片为以上所述验芯片。

本实用新型的有益效果：

与现有技术相比，本实用新型的芯片包括第一处理单元、第二处理单元及阻挡单元；所述阻挡单元与第一处理单元连接，所述阻挡单元用于拦截至少第一处理单元发送的第一数据；所述第二处理单元与第一处理单元电信连接，该第二处理单元与第一处理单元能进行数据交互。同时通过阻挡单元对第一处理单元发送的数据进行拦截，使得第一处理单元的第一数据不能经阻挡单元发出，但是可以发送至第二处理单元，然后通过第二处理单元完成验证，从而提高验证的效率。

此外，包含有所述芯片的成像盒，或者包含有成像盒的成像系统，从而使得成像盒的芯片可以被重复利用，所以该成像盒也可以被重复利用。

附图说明

图1为本实用新型较佳实施例中芯片电路框图；

图2为本实用新型另一较佳实施例中芯片电路框图；

图3为本实用新型的阻挡单元为二极管的实施例中芯片电路框图；

图4为本实用新型中阻挡单元为MOS管的实施例中芯片电路框图；

图5为本实用新型中阻挡单元为三极管的实施例中芯片电路框图

图6为本实用新型较佳实施例中芯片的验证方法的流程图。

具体实施方式

下面，结合附图以及具体实施方式，对本实用新型做进一步描述：

参照图1-图6，本实施例涉及一种芯片，包括第一处理单元1、第二处理单元2及阻挡单元3。所述阻挡单元3与第一处理单元1连接。所述阻挡单元3可以与第一处理单元1直接连接，也可以间接连接。例如直接连接可为：阻挡单元3的电接触部与第一处理单元1的电接触部直接连接，所述电接触部可为金属材料(金、银、铜、铁或者金属合金等)制成；间接连接可通过将阻挡单元3与第一处理单元 1设置于芯片的基板上，所述基板上印刷有电路，阻挡单元3及第一处理单元1均与印刷电路连接，使得所述阻挡单元3与第一处理单元 1之间可以进行数据传输。所述外部的初始数据可以经过阻挡单元发送至第一处理单元。所述第一处理单元1发送给阻挡单元3的第一数据可以被阻挡单元3阻断，防止该第一数据通过阻挡单元3继续传输至其他单元。所述第二处理单元2与第一处理单元1电性连接，该第二处理单元2与第一处理单元1能进行数据交互。因此，所述第一处理单元的第一数据可以发送至第二处理单元。

需要说明的是，所述第一处理单元1、第二处理单元2及阻挡单元3可为三个单独的零部件，在使用时再组合成一个整体，也可以仅将第一处理单元1、第二处理单元2及阻挡单元3中的任意两个或者三个设置于一个基板上，然后按照需要进行组合使用。例如将第一处理单元1与阻挡单元2设置于一个基板上，第二处理单元2单独作为一个零件，在使用时才将第二处理单元2与第一处理单元1及阻挡单元3组合。芯片在使用时，使用该芯片的外部设备可以对芯片的身份及使用寿命进行验证，此时芯片与外部设备之间会进行通信。在通信的过程中所述第一处理单元1、第二处理单元2可以分别针对外部的验证指令进行响应，并得到不同的验证数据。

所述芯片可与成像设备(外部设备)通信，然后成像设备对芯片的身份和/或寿命进行验证，若芯片能被成像设备验证通过，说明该芯片为合法且可用芯片。若验证不通过，则说明芯片为不合法或者不可用芯片。所述不可用芯片为其本身可以是合法的，但是由于使用寿命或者版本不符等原因导致其被成像设备拒绝使用该芯片完成成像操作(例如打印操作，复印操作、扫描操作或者传真操作中的一种或者多种)。所述不合法的芯片可为芯片类型或品牌与打印机不匹配，或者芯片的其他身份信息验证无法通过的芯片。可以通过更换第一处理单元1实现该芯片通用不同类型的成像设备，可以通过更换或者复位第二处理单元2使得可以重复使用该芯片。

将该芯片与外部设备进行通信时，所述第二处理单元2与第一处理单元1均可以接收外部设备发送的原始数据。

第二处理单元2与第一处理单元1接收到所述原始数据之后对分别对原始数据进行处理。第一处理单元1处理后得到的第一数据同时发送至第二处理单元2及阻挡单元3。所述第二处理单元2在接收到第一数据之后可以对该第一数据再进行处理。所述第二处理单元2可以根据第一数据得到至少部分验证数据，并将验证数据发送至外部设备完成验证。所述外部设备可为成像设备，或者具有类似功能的设备。所述芯片与外部设备通信的具体过程可参照以下所述的芯片通信方法。

所述阻挡单元3允许初始数据经阻挡单元3发送至第一处理单元 1，并阻挡拦截第一处理单元1发送至阻挡单元3的第一数据。所述阻挡单元3在接受到第一处理单元1后得到的第一数据之后，阻止第一数据通过阻挡单元3发送至外部设备。

所述阻挡单元3至少与第一处理单元1的第一数据传输端连接，用于防止第一处理单元1中的第一数据通过阻挡单元3发送出去。所述第一数据传输端可以包括数据接收端及数据发送端。

作为优选实施例，若第一处理单元1的数据接收端及数据发送端为同一个时或者该数据接收端及数据发送端同时连接在同一根数据线上时，所述阻挡单元3可以与该数据接收端及数据发送端均连接。第一处理单元1接收到的初始数据可以经过阻挡单元发送过来。

作为另一较佳实施例，若第一处理单元1的数据接收端及数据发送端为不是同一个时或者该数据接收端及数据发送端同时连接在不同的数据线上时，所述阻挡单元3至少与该数据发送端连接，以便阻挡数据发送端发送的数据。因此所述初始数据也可以不用经过阻挡单元3就可以发送至第一处理单元1。

所述第一处理单元1的第一数据发送至第二处理单元2，第二处理单元2拦截或者修改部分第一数据。

第二处理单元2接收到第一数据之后，通过第二处理单元2内的部分或者全部第二数据替换拦截的部分第一数据从而组成可以使用的验证数据；或者通过将部分第一数据根据第二数据修改成可以使用的验证数据。

作为优选的实施例，所述第一数据可以包括可用数据和不可用数据，被第二处理单元拦截或者修改的部分第一数据可以为不可用数据。如此可以使得通过第二处理单元2发送的均为可用的验证数据。所述不可用数据可为被成像设备认为本身是合法的，但是由于某些特殊原因达到一定阈值或者预先设定的条件而被成像设备认为不能再使用了。例如芯片的寿命数据会随着使用次数或者时长会而变化，当寿命数据到的阈值之后，就会被成像设备认为芯片的寿命终止而禁止使用。所述可用数据则是可以被成像设备验证通过并且正常使用的数据。

所述第二处理单元2的第二数据传输端与阻挡单元3的输入端连接以及第一处理单元1的第一数据传输端连接。所述第二数据传输端也可以包括数据输入端及数据输出端。所述第二处理单元2的第二数据传输端可以与阻挡单元3分别与外部设备连接，以便分别接受初始数据。

作为优选的实施例，当所述第二数据传输端的数据输入端与数据输出端为同一个端子或者连接在同一个数据线上时，该第二数据传输端至少与第一数据传输端的数据输出端连接。

作为优选的实施例，当所述第二数据传输端的数据输入端与数据输出端不是同一个端子或者连接在不同的数据线上时，第二数据传输端的数据输入端至少与第一数据传输端的数据输出端连接。第二数据传输端的数据输出端可以与外部设备连接。或者所述第二数据传输端的数据输入端也可以分别与外部设备连接。

阻挡单元3的输出端与第一处理单元1的第一数据传输端连接连接。由于第一处理单元1的第一数据传输端与阻挡单元3连接，故第一处理单元1中的第一数据通过阻挡单元3被拦截了，但是该第一数据可以发送至第二处理单元2进行处理或者转发。所述第一处理单元还可以能包括第一时钟端、第一接地端、第一电源端中的一个或者多个，所述第二处理单元还可以能包括第二时钟端、第二接地端、第二电源端中的一个或者多个。第一处理单元与第二处理单元可以包括的端子的数量，可以根据不同的协议或者外部设备的需求来设定。参照图1中，所述第一处理单元包括的第一数据传输端及第一时钟端，所述第二处理单元包括第二时钟端与第二数据传输端，图1中可见，所述第一处理单元的第一数据传输端及第一时钟端分别与所述阻挡单元连接。参照图2，当然也可以只在第一数据传输端与所述阻挡单元连接。所述第一数据传输端用于将数据发送发送至第一处理单元和/ 将数据从第一处理单元发出至拦截单元或第二处理单元中的至少一个，例如初始数据及第一数据都可以经过第一数据传输端传输。所述第二数据传输端可以用于将数据发送至第二处理单元和/或将数据从第二处理单元发出至外部设备，例如初始数据、第一数据及第二数据都可以经过第二数据传输端进行传输。

作为优选实施例，所述第二处理单元2可以与阻挡单元3并联。

作为优选实施例，所述第二处理单元2的第二数据传输端可以分别阻挡单元的输入端及输出端连接。因此第二处理单元2中的第二数据发送出去时不会被阻挡端3阻挡。当将该芯片与成像设备连接之后，所述阻挡单元3可以连接于第一处理单元1与成像设备之间。

阻挡单元3允许成像设备的初始数据通过其发送至第一处理单元1，但是当第一处理单元1需要向成像设备发送第一数据时则阻挡单元3会对第一数据进行拦截。也就说成像设备的初始数据可以都发送至第一处理单元1与第二处理单元2，但是第一处理单元1的第一数据不能直接发送至成像设备，该第一数据可以发送至第二处理单元 2，通过第二处理单元2转发第一数据或者对第一数据进行相应处理之后，再发送至成像设备。

作为优选的实施例，所述阻挡单元3可以为单向导通元件。例如所述阻挡单元3允许从输入端往输出端传输数据，禁止从输出端往输入端传输数据。优选地，所述阻挡单元3可为二极管、MOS管 (MOSFET金属-氧化物半导体场效应晶体管， Metal-Oxide-SemiconductorField-Effect Transistor)或三极管或者控制芯片中的至少一种。阻挡单元3还可以为具有拦截功能的拦截电路。所述控制芯片或者拦截电路可为只允许外部数据通过其传输至第一处理单元1，禁止第一处理单元1的数据经由其传输至外部设备。

作为另一较佳实施例，参照图2与图3，所述阻挡单元3可为二极管，所述阻挡单元3可为两个，当然也可为其他数量。所述阻挡单元3包括输出端及输入端；在二极管的负极(输入端)为低电平，正极 (输出端)为高电平时，二极管导通，有数据流过二极管。在二极管的正极为低电平，负极为高电平，二极管截止，阻挡数据流过二极管。

当芯片采用单总线协议或者I²C协议时，芯片及外部设备可以采用高低电平的方式进行信号传输，芯片及外部设备获得的数据可以为二进制数据。以外部设备作为主机，芯片作为从机为例，所述外部设备与所述阻挡单元3的输入端31连接，第一处理单元与所述阻挡单元3的输出端32连接。当外部设备(打印机等成像设备)与芯片为空闲状态时，通信总线上为高电平(例如3.3V或者5V等)，此时通高示波器获取通信总线上的信号可为1。

当外部设备需要往芯片发初始数据时，外部设备会先将高电平拉低为低电平(例如0V)，此时第一处理单元端仍为高电平，由于二极管具有单向阻低通高的特性，因此阻挡单元3允许外部设备的低电平传输至第一处理单元，使得第一处理单元也为低电平。当外部设备的低电平传输至第一处理单元的过程中，可通过示波器获取通信总线上的信号可为0。外部设备端的低电平传输到的第一处理单元，相当于第一处理单元能接收到外部设备的初始数据。例如，所述初始数据为0101001110111101011101时，所述第一处理单元接收到的数据也可为0101001110111101011101。由此可知，当外部设备向第一处理单元发送初始数据时，所述阻挡单元3是导通的。

当芯片需要往外部设备发第一数据时，该芯片也会将高电平拉低为低电平，此时第一处理单元端可为低电平，阻挡单元3会阻止低电平传输至外部设备，外部设备的电平不会被拉低。通过示波器获取总线信号时，第一处理单元与阻挡单元3之间的信号为0，但是阻挡单元3至外部设备端的信号仍然是1。当第一处理单元发送的第一数据为0101010101010101时，但是阻挡单元3至外部设备端通过示波器获取的数据始终为1111111111111111，类似休眠状态，因此外部设备认为其未收到或者为检测到第一处理单元发来的第一数据。从而实现了阻挡单元3阻挡第一处理单元发送的第一数据。由此可知，当第一处理单元向外部设备发送初始数据时，所述阻挡单元3是不导通的。

作为另一较佳实施例，参照图2与图4，所述阻挡单元3还可以为MOS管。所述阻挡单元3包括输入端、输出端及第三端；所述输入端与外部设备连接，输出端与第一处理单元连接。该第三端可以根据电路实际布图选择悬空或者与第二处理单元连接。所述第三端可为MOS管的栅极G。所述输入端可为MOS管的源极S、漏极D。所述输出端也可为MOS管的源极S、漏极D。当所述MOS管为N沟道时，所述输出端可为MOS管的源极S，所述输入端可为MOS管的漏极D。当所述MOS管为P沟道时，所述输出端可为MOS管的漏极 D，所述输入端可为MOS管的源极S。如此设置的原因由于MOS管中寄生的二极管，该MOS管导通的原理可以参照以上二极管实施例。从而实现外部设备可以将初始数据传输至第一处理单元，而第一处理单元的第一数据不会传输至外部设备。

作为另一较佳实施例，参照图2与图5，所述阻挡单元3还可以为三极管。所述阻挡单元3包括输入端、输出端及第四端；所述输入端与外部设备连接，输出端与第一处理单元连接。该第四端可以根据电路实际布图选择悬空或者与第二处理单元连接。所述第四端可为三极管的集电极C。所述输入端可为三极管的基极B或发射极E。所述输出端也可为三极管的基极B或发射极E。当所述三极管为NPN型时，所述输入端可为三极管的基极B，所述输出端可为三极管的发射极E。当所述三极管为PNP型时，所述输出端可为三极管的基极B，所述输入端可为三极管的发射极E。如此设置的原因由于三极管中寄生的二极管。当将所述第四端悬空时，本实施例中的所述三极管的作用可以参照二极管。本实施例中阻挡单元3的工作原理可以参照二极管。

作为另一较佳实施例，本实用新型还提供一种芯片通信方法包括如下步骤。如下所示的步骤S1-S5、步骤S31-S33、步骤S51-S53、步骤S51’-S53’可以为非固定顺序，或者说如上所述步骤中有些步骤序号不同但是可以同时进行，有些步骤虽然序号的号码在前面，也可能在后面执行。

步骤S1，第二处理单元2及第一处理单元1均可以接收初始数据。当第一处理单元的数据输入与数据输出为同一个端口时，还可以包括步骤S2，若第一处理单元的数据输入与数据输出为同端口时，步骤S2可以省略。所述初始数据可为外部设备发送的验证数据。以下各步骤均以成像设备作为外部设备为例对本实施例的芯片通信方法进行说明。成像设备的验证数据包括芯片的身份验证指令、芯片的寿命验证指令等。身份验证指令可以为序列号验证指令、版本验证指令、型号验证指令、生产商验证指令等中的一种或者多种，其用于验证芯片中的序列号、版本、型号、生产商等身份数据是否为可用数据。寿命验证指令可为显影剂容量验证指令、打印次数验证或者显影剂剩余量验证，其用于验证芯片中的显影剂容量、打印次数或者显影剂剩余量等寿命数据是否为可用数据。寿命数据是否为可用数据的标准可为判断寿命数据是否达到终止阈值，例如判断显影剂剩余量是否为零或者芯片的打印次数是否达到最大值等。芯片根据身份验证指令所产生的身份数据可为第一验证数据。芯片根据其他验证指令所产生的验证数据可为第二验证数据；例如芯片根据寿命验证指令产生的寿命数据可为第二验证数据。所述第二验证数据可能会随着芯片的使用过程而发生变化。成像设备会根据第二验证数据的部分或者全部来判断芯片是否使用寿命终止。

步骤S2，阻挡单元3接收到初始数据之后，将初始数据发送至第一处理单元1。所述阻挡单元3可以将初始数据直接发送至第一处理单元1，而不对初始数据进行修改。在执行该步骤S2时，第一处理单元收到的初始数据是可以经过该阻挡单元之后再传输过来。

步骤S3，第一处理单元1对初始数据进行处理之后形成第一数据，将第一数据发送至第二处理单元2及阻挡单元3。第一处理单元 1对初始数据的处理包括对身份验证指令或者其他指令等分别进行分析，并根据分析结果分别进行处理到相应的第一数据。所述其他指令包括寿命验证指令。所述第一数据包括身份数据和/或其他数据。所述其他数据可以包括与芯片寿命相关的寿命数据。所述身份数据包括序列号、版本号、型号、生产商名称等中的一种或者多种；所述寿命数据包括显影剂容量、打印次数、首次使用时间、显影剂剩余量等中的一种或者多种。例如根据身份验证指令获取第一处理单元内存储的与芯片身份相关的第一数据(例如身份数据)，或者可以对验证指令进行解密或者加密算法之后得到关于芯片身份相关的第一数据。也可对寿命验证指令进行分析，然后获取第一处理单元内存储的与芯片寿命相关的第一数据(例如寿命数据)。需要说明的是，所述与芯片寿命相关的第一数据可能会随着芯片的使用次数或者时间发生变化，从而使得该部分第一数据为不可用数据。

所述步骤S3还可以包括如下子步骤：

步骤S31，所述第一处理单元1对其接收到的初始数据进行分析，得到第一分析结果；第一分析结果可为将初始数据的分析得出对芯片的身份验证指令或者芯片的寿命验证指令或者其他指令等中的至少一种。

步骤S32，根据第一分析结果利用初始数据进行计算或者提取第一处理单元1存储的与初始数据匹配的数据形成第一数据。例如第一分析结果为对身份验证指令，可根据该身份指令获取序列号、版本号等关于芯片的身份数据中的一种或者中，若该身份指令中还包含的加密指令，第一处理单元1还可根据身份指令中的加密指令进行解密得到解密数据。所述身份数据及解密数据均可作为第一数据。例如第一分析结果为寿命验证指令，第一处理单元1可以根据该寿命指令获取关门芯片的寿命数据中的一种或者多种。所述寿命数据也可为第一数据。优选地，所述身份数据不会随着芯片的使用过程或者次数而发生变化。

步骤S33，将第一数据均发送至第二处理单元2及阻挡单元3。第二处理单元2或阻挡单元3所接受的第一数据可为包括全部的身份数据及寿命数据，也可以包括部分身份数据与全部寿命数据，或者全部的身份数据及部分寿命数据，或者全部的寿命数据，或者部分的寿命数据，或者全部身份数据或者部分的身份数据。所述第一数据的具体内容可为根据初始数据来生成。例如初始数据为验证全部身份指令及部分寿命指令，那么第一数据则可为全部的身份数据及部分寿命数据。

步骤S4，所述阻挡单元3拦截所述第一数据。所述阻挡单元3 为单向传输数据的单元，允许初始数据通过阻挡单元3传送至第一处理单元1，但是阻挡第一处理单元1的数据通过阻挡单元3再传输至外部设备。

步骤S5，所述第二处理单元2根据接收的初始数据及第一处理单元1的第一数据生成验证数据。该第二处理单元2可将所述验证数据发送至外部设备(例如成像设备)完成验证。所述第一数据可以包括可用数据及不可用数据。第二处理单元2可对第一数据的可用数据进行保留作为验证数据的一部分，不可用数据进行处理使得该不可用数据可以被成像设备验证通过。作为优选实施例，所述第一处理单元 1中至少有部分第一数据是可用数据(例如身份数据或者密钥等中的一种或者多种)或者说是可以被成像设备验证通过的数据。第一数据还可能存在部分第一数据是不能被成像设备验证通过或者不能被成像设备使用的数据。也就说仅将第一处理单元1作为芯片与成像设备通信，成像设备是无法正常工作的。因此有必要利用第二处理单元2 及阻挡单元3来协助完成验证。

所述步骤S5中的所述第二处理单元2根据接收的初始数据和/ 或第一处理单元1的第一数据生成验证数据的过程包括：所述第二处理单元2根据第一数据得到第一验证数据的过程；以及所述第二处理单元2根据原始数据生成第二验证数据的过程。

所述第二处理单元2根据第一数据得到第一验证数据的过程包括如下子步骤：

步骤S51，第二处理单元2接收所述第一数据。

步骤S52，识别所述第一数据的可用数据。所述可用数据也可以被称为合法数据。作为优选地，所述可用数据或者合法数据可为芯片的身份数据，例如序列号、版本号、型号等。

步骤S53，根据所述可用数据得到第一验证数据。第二处理单元可以将所述所有的可用数据作为第一验证数据；也可以从可用数据中获取部分数据作为第一验证数据，例如可以根据初始数据从可用数据中获取部分数据作为第一验证数据；例如所述初始数据为验证序列号指令，所述第二处理单元2从第一验证数据中提取序列号，或者根据序列号指令及加密算法计算得到的秘钥，将序列号或秘钥中的至少一个作为第一验证数据。通常情况下可能会将序列号及秘钥同时作为第一验证数据。

所述第二处理单元2根据原始数据生成第二验证数据的过程，可以包括如下子步骤：

步骤S51’，所述第二处理单元2对其接收到的原始数据进行分析。作为优选方案，本步骤中分析的结果包括第二分析结果及第三分析结果。所述第二分析结果可为：原始数据中的可以不需要第二处理单元对其进行响应的部分或全部数据(例如第一分析结果对应的数据可以通过第一处理单元1得出了可用数据来进行相应的指令，如该指令可为身份验证指令)。所述第三分析结果可为原始数据中的可以通过第二出来单元对其进行相应的部分或者全部数据(例如，第三分析结果对应的数据可通过第一处理单元1得出的是不可用数据的指令例如芯片的寿命验证指令)。

步骤S52’，根据分析结果利用原始数据进行计算或者提取第二处理单元2存储的与原始数据匹配的第二数据。例如，本步骤中可以根据第三分析结果所对应的初始数据，从第二处理单元中获取关于芯片使用寿命相关的寿命数据作为第二数据；或者也可以根据初始数据计算得出关于使用寿命的寿命数据作为第二数据。

步骤S53’，将第二数据作为第二验证数据。

所述步骤S53’的过程可以包括：对第一数据中的不可用数据进行筛选，将第二数据替换掉不可用数据，从而使得第二数据作为第二验证数据；或者根据第二数据将第一数据中的不可用数据修改成可用数据，修改后的可用数据为第二验证数据；或者忽略第一数据中的不可用数据，直接发送第二数据作为第二验证数据。例如：第一数据中的不可用数据为芯片的寿命数据为显影剂剩余量为0(在第一处理单元中或第二处理单元中可以采用二进制方式进行存储)，第二数据为芯片的寿命数据为显影剂剩余量为100％(在第二处理单元中可以采用二进制方式进行存储)；然后将0忽略或者丢弃，直接发送100％作为第二验证数据即可，或者将0改成100％作为第二验证数据即可。

作为优选地实施例，所述第一处理单元1中存储的数据中包括可用数据及不可用数据。所述第一处理单元1可为旧芯片或原装芯片，所述原装芯片例如惠普、三星、理光等成像设备生产厂商生产的原装芯片。所述旧芯片为在成为旧芯片之前，该芯片是可用芯片，只是因为达到了预定条件了而不可用，例如原装芯片或者代用芯片的使用寿命终止成为了旧芯片。利用第一处理单元1进行身份验证始终是可以通过的。所述第二处理单元2可为代用芯片，该第二处理单元2包括与第一处理单元1中不可用数据对应的可用数据。例如所述第二处理单元2可以为STM8系列或者STM32系列的芯片，当然还可以为其他的加密芯片。第二处理单元2中关于芯片的寿命数据是可以根据成像设备的需求进行修改，所以其寿命数据也是可以通过的。所述使用寿命数据可以小于或者等于成像设备需求的最大值，大于成像设备需求的最小值。由于第二处理单元2的技术难度较第一处理单元1简单，易于生产，并且第二处理单元2的成本较低。本实用新型中通过第二处理单元2得到寿命数据(第一验证数据)，并且利用第一处理单元 1生成身份数据(第二验证数据)，还通过阻挡单元3拦截第一处理单元1的第一数据，使得第二处理单元2可以同时具有全部的验证数据，达到芯片被成像设备验证通过的效果，从而降低成本及生产难度。并且所述第一处理单元1及第二处理单元2均可重复使用，减少了不必要的浪费。

本实用新型的优选实施例中，利用第一处理单元1的第一数据中的身份数据进行身份验证。通常情况下身份验证的过程比较复杂，单纯的第二处理单元2可能无法实现该身份验证，但是第一处理单元1 中关于芯片使用寿命的寿命数据已经达到极限不能被成像设备使用了，且该寿命数据又无法直接修改，或者即使修改该寿命数据第一处理单元1就会出现故障而无法使用，因此可以利用第二处理单元2的寿命数据进行寿命验证。当芯片被成像设备认为使用完毕之后，仅需替换第二处理单元2或者对第二处理单元2的寿命数据进行复位或重新烧录即可实现芯片重新被成像设备使用，相对应直接复位第一处理单元1来说更简单，成本更低。安装至成像设备的芯片可以为芯片。

以下以第一处理单元1中的显影剂剩余量为零而导致第一处理单元1不能被成像设备使用为例，将本实用新型的芯片及其芯片通信方法进一步进行说明。假如所述初始数据中包含有序列号验证指令及显影剂剩余量验证指令。初始数据被第一处理单元1与第二处理单元2均接收之后，分别进行处理。所述第一处理单元1根据原始数据得到第一数据(包括根据序列号验证指令所得到的序列号和/或秘钥等可用数据)，并发送至第二处理单元2。由于阻挡单元3的存在，所述第一处理单元1的第一数据只能发送至第二处理单元2进行处理，不会被直接发送至成像设备。第二处理单元2根据从第一数据中获取可用数据，并将该可用数据作为第一验证数据。

所述第二处理单元2对初始数据进行分析，并根据剩余量验证指令从第二处理单元2中获取显影剂剩余量作为第二验证数据，或者，第二处理单元还可获取第一数据中的不可用数据(已经为零的显影剂容量数据)，将第二数据(为满的显影剂容量数据)覆盖不可用数据，使得第二数据作为第二验证数据。因此所述第二处理单元2中的剩余容量的数据(第二数据)替换至第一数据中的剩余容量数据(不可用数据)，使得第二数据作为第二验证数据。如此可以在第二处理单元 2中同时具有成像设备需要的全部验证数据(包括第一验证数据及第二验证数据)，因此可以通过第二处理单元2发送成像设备需要的验证数据，从而达到实现验证通过。假如，所述初始数据只包含身份验证指令时，所述第二处理单元2可以充当成将第一数据转发至成像设备的元件，可以不用对第一数据进行处理；或者说第二处理单元2对第一数据进行了一次转发。或者说所述第一处理单元1的寿命数据仍为可用数据时，所述第二处理单元2也可只是作为转发元件，也可以采用如上所述的芯片通信方法进行验证。

由于芯片安装于成像设备(外部设备)之后，在使用过程中，成像设备肯定会对芯片的身份数据及寿命数据均进行验证。否则芯片则无法执行打印或者复印等成像操作。通常成像设备对芯片验证的时间有可能是同时进行的，也有可能是分开进行的，例如有些成像设备在执行一次打印操作之前，会对芯片的寿命数据进行验证；而有些成像设备在执行一次打印操作之前，会先对芯片的身份数据进行验证，然后再对芯片的寿命数据进行验证；还有些成像设备在执行一次打印操作之前会对芯片的身份数据进行验证，在打印过程中还会对身份数据或寿命进行验证。所述芯片中存储的数据均需要是可用数据，才能保证芯片能正常使用，本实用新型通过阻挡单元对第一数据发送至外部设备的路径进行阻挡，但是发送至第二处理单元的路径是通路，可以通过第二处理单元对第一数据中的不可用数据进行处理得到可用的验证数据，从而实现芯片可以利用可以数据与外部设备通信。所以所述芯片及采用该芯片通信方法的芯片均为可用芯片。

本实用新型所述的芯片还为居家用品、办公用品、交通运输、教育及通信等领域中产品的芯片，例如电视机的芯片、手机的芯片、穿戴式通信产品(智能眼镜、智能手表等)的芯片、无人驾驶车的芯片、无人机的芯片或者监控的芯片等。当这些产品内的芯片为已经不能满足使用者需要的旧芯片(芯片不能用或者芯片反应太慢)，但是旧芯片(第二处理单元)内的有些数据仍然可用，有些数据不可用了，此时仅需新增加一个芯片(第二处理单元)及阻挡单元组合使用，使得组合后的产品就能满足使用者的需要或者组合后为具有最新技术或者最新使用寿命的产品。所述新增的芯片相对于完全替换旧芯片研发成本及生产成本均较低。

本实用新型还可以提供一种成像盒，其包括盒体及芯片，所述盒体内置有显影剂，所述芯片可为以上实施例所述的芯片，此处不与赘述。所述芯片以可拆卸的方式安装于成像盒，所述芯片的验证方法可参照以上的验证方法，此处不与赘述。

本实用新型还可以提供一种成像系统，其包括成像设备及成像盒，所述盒体内置有显影剂，成像盒上设置有芯片，所述芯片可为以上实施例所述的芯片，此处不与赘述。该成像盒上的芯片与成像设备进行数据交互。所述成像盒以可拆卸的方式安装于成像设备。

综上所示，本实用新型可以通过第一处理单元1及第二处理单元 2分别对原始数据进行处理，第一处理单元1的处理完成的第一数据由于有阻挡单元3的存在不能从阻挡单元3发送出(例如不能通过阻挡单元3发送至成像设备)，但是能发送至第二处理单元2，第一处理单元1可以根据原始数据及第一数据得到验证数据，从而使得芯片在安装至成像设备之后可以正常使用。以便达到对第一处理单元1重复使用的效果。另外通过两个处理单元分别对数据进行处理，可以有效的降低芯片的相应时间，进而提高验证通过的效率。

对本领域的技术人员来说，可根据以上描述的技术方案以及构思，做出其它各种相应的改变以及形变，而所有的这些改变以及形变都应该属于本实用新型权利要求的保护范围之内。

需要说明的是：以上所述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。实施例和所附权利要求书中所使用的单数形式的“一种”、“所述”和“该”也旨在包括多数形式，除非上下文清楚地表示其他含义。“例如”之后的内容仅为举例并非穷举。

Claims (10)

1.一种芯片，其特征在于：包括第一处理单元、第二处理单元及阻挡单元；所述阻挡单元与第一处理单元串联，所述阻挡单元与第二处理单元并联；所述阻挡单元为单向导通单元；所述第二处理单元与第一处理单元电性连接，该第二处理单元与第一处理单元之间进行数据交互。

2.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于：所述阻挡单元拦截第一处理单元的第一数据传输端连接。

3.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于：所述第二处理单元的第二输出传输端与第一处理单元及阻挡单元均连接。

4.根据权利要求1所述的芯片，其特征在于：所述阻挡单元至少与第一处理单元的第一数据传输端连接。

5.根据权利要求4所述的芯片，其特征在于：所述第一处理单元的第一数据传输端与第二数据传输端连接。

6.根据权利要求1-5任一项所述的芯片，其特征在于：所述阻挡单元包括二极管、MOS管、三极管或者控制芯片中的至少一种。

7.根据权利要求6所述的芯片，其特征在于：所述阻挡单元包括输出端及输入端；所述输出端与第二处理单元连接。

8.根据权利要求7所述的芯片，其特征在于：所述输出端为二极管的正极、或者MOS管的源极、或者三极管的基极，输入端为二极管的负极、或者MOS管的漏极、或者三极管的发射极。

9.一种成像盒，包括盒体，所述盒体内置有显影剂，其特征在于：还包括芯片，所述芯片为权利要求1-8任一项所述的芯片。

10.一种成像系统，包括成像设备，其特征在于：还包括成像盒，所述成像盒为权利要求9所述的成像盒，该成像盒上的芯片与成像设备进行数据交互。

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