CN212674985U - 一种半导体探针 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开了一种半导体探针，包括套筒，所述套筒的一端固定设置有定位器，所述套筒的内部设置有针管，所述针管远离套筒的一端固定设置有变径管，所述变径管远离针管的一端固定设置有探头，所述套筒远离定位器的一端固定设置有连接管，所述套筒内壁靠近定位器的一端固定设置有固定限位环，所述针管远离探头一端固定设置有滑动限位环，所述套筒远离定位器一端的内壁上固定设置有连接环，所述连接环的内部固定设置有环形金属块，所述探头的输出端固定设置有第一线管。本实用新型公开了一种半导体探针，该设备结构稳定，操作简单，使用电控控制探头的位置，相比机械结构更加精准，值得推广。

Description

一种半导体探针

技术领域

本实用新型涉及半导体探针领域，尤其涉及一种半导体探针。

背景技术

半导体芯片或晶片的半导体装置要测试其质量，测试探针用于电连接测试器和半导体装置，测试器通过施加预定测试信号测试诸如半导体芯片或晶片的半导体装置的质量，探针是设置在其中以将预定测试信号施加到半导体装置的焊球或焊盘的探针，探针的两端分别连接到半导体装置和测试器的载板以电连接半导体装置和测试器，探针将测试信号传送到半导体装置，之后传送测试信号。

现有的半导体探针，往往结构复杂，在较小的体积内，如此复杂的结构，为设备的后期保养和维修，造成了很大的难度，现有的设备的控制方式往往为机械控制，在精确度上变现不如电控精准，很不合理。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种半导体探针。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：一种半导体探针，包括套筒，所述套筒的一端固定设置有定位器，所述套筒的内部设置有针管，所述针管远离套筒的一端固定设置有变径管，所述变径管远离针管的一端固定设置有探头，所述套筒远离定位器的一端固定设置有连接管，所述套筒内壁靠近定位器的一端固定设置有固定限位环，所述针管远离探头一端固定设置有滑动限位环，所述套筒远离定位器一端的内壁上固定设置有连接环，所述连接环的内部固定设置有环形金属块，所述探头的输出端固定设置有第一线管。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述连接管的管身上固定设置有螺纹。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述环形金属块的外壁上固定设置有线圈，所述线圈的两端均固定设置有第二线管。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述滑动限位环和连接环之间固定设置有弹簧。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述第一线管包括抗干扰层，所述抗干扰层位于第一线管的最外层，所述抗干扰层的内部固定设置有光纤管。

作为上述技术方案的进一步描述：

所述第一线管远离探头的一端穿过针管的侧壁和环形金属块的中空处。

本实用新型具有如下有益效果：

该设备工作前，先将第一线管和第二线管和检测仪的线路线连接，然后通过螺纹将设备连接在检测仪上，由于定位器的存在，使得针管在移动时，始终保持探头所指方向不变，由于固定限位环和滑动限位环的存在，使得针管在套筒内运动时，不会碰壁，影响设备的精度和使用寿命，由于弹簧的存在，使得探头能够在使用时紧紧压住被检测的物体，由于环形金属块和线圈的存在，使得设备可以通过控制流过线圈的电流的大小和方向，来控制探头的位置，实现了电控，相较于机械结构的控制更加精准，由于第一线管最外层的抗干扰层的存在，使得光纤管在传输数据的时候，不会被同时正在工作中的电磁铁结构产生的磁场影响，造成数据的误差，该设备结构稳定，操作简单，使用电控控制探头的位置，相比机械结构更加精准，值得推广。

附图说明

图1为本实用新型提出的一种半导体探针的正视图；

图2为本实用新型提出的一种半导体探针的剖面图；

图3为本实用新型提出的一种半导体探针的第一线管的剖面图。

图例说明：

1、套筒；2、定位器；3、针管；4、变径管；5、探头；6、连接管；7、螺纹；8、固定限位环；9、滑动限位环；10、连接环；11、环形金属块；12、线圈；13、弹簧；14、第一线管；15、第二线管；16、抗干扰层；17、光纤管。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

在本实用新型的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本实用新型和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本实用新型的限制；术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性，此外，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本实用新型中的具体含义。

参照图1-3，一种半导体探针，包括套筒1，使得外观简洁，套筒1的一端固定设置有定位器2。防止针管3在移动时，发生偏移，影响使用，套筒1 的内部设置有针管3，用于安装探头5，针管3远离套筒1的一端固定设置有变径管4，用于连接针管3和探头5，变径管4远离针管3的一端固定设置有探头5，套筒1远离定位器2的一端固定设置有连接管6，用于将设备和检测仪连接，套筒1内壁靠近定位器2的一端固定设置有固定限位环8，保证针管 3在套筒1内的位置，针管3远离探头5一端固定设置有滑动限位环9，保证针管3在套筒1内的位置，套筒1远离定位器2一端的内壁上固定设置有连接环10，用于安装环形金属块11，连接环10的内部固定设置有环形金属块 11，用于缠绕线圈12，充当电磁铁的作用，探头5的输出端固定设置有第一线管14。

连接管6的管身上固定设置有螺纹7，使得该设备能够使用螺纹7拧到设备上，环形金属块11的外壁上固定设置有线圈12，使得环形金属块11成为电磁铁，线圈12的两端均固定设置有第二线管15，用于为电磁铁供电，滑动限位环9和连接环10之间固定设置有弹簧13，使得探头5能够紧紧压住被检测物体，第一线管14包括抗干扰层16，防止电磁铁产生的磁场干扰内部的数据传输，抗干扰层16位于第一线管14的最外层，抗干扰层16的内部固定设置有光纤管17，用于传输光信号的数据，第一线管14远离探头5的一端穿过针管3的侧壁和环形金属块11的中空处。

工作原理：该设备工作前，先将第一线管14和第二线管15和检测仪的线路线连接，然后通过螺纹7将设备连接在检测仪上，该设备在未通电时，弹簧13将探头5的位置固定在一定的位置上，当设备需要对半导体进行探触时，将第二线管15变成断路，使得电磁铁设备失去磁性，弹簧13将针管3 向前推动，使得探头5能够紧紧贴在待检测的半导体上，弹簧13可以持续施加压力。不会导致探头5从待检测物体上滑落，影响设备使用，该设备结构稳定，操作简单，使用电控控制探头5的位置，相比机械结构更加精准，值得推广。

最后应说明的是：以上所述仅为本实用新型的优选实施例而已，并不用于限制本实用新型，尽管参照前述实施例对本实用新型进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种半导体探针，包括套筒(1)，其特征在于：所述套筒(1)的一端固定设置有定位器(2)，所述套筒(1)的内部设置有针管(3)，所述针管(3)远离套筒(1)的一端固定设置有变径管(4)，所述变径管(4)远离针管(3)的一端固定设置有探头(5)，所述套筒(1)远离定位器(2)的一端固定设置有连接管(6)，所述套筒(1)内壁靠近定位器(2)的一端固定设置有固定限位环(8)，所述针管(3)远离探头(5)一端固定设置有滑动限位环(9)，所述套筒(1)远离定位器(2)一端的内壁上固定设置有连接环(10)，所述连接环(10)的内部固定设置有环形金属块(11)，所述探头(5)的输出端固定设置有第一线管(14)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体探针，其特征在于：所述连接管(6)的管身上固定设置有螺纹(7)。

3.根据权利要求1所述的一种半导体探针，其特征在于：所述环形金属块(11)的外壁上固定设置有线圈(12)，所述线圈(12)的两端均固定设置有第二线管(15)。

4.根据权利要求1所述的一种半导体探针，其特征在于：所述滑动限位环(9)和连接环(10)之间固定设置有弹簧(13)。

5.根据权利要求1所述的一种半导体探针，其特征在于：所述第一线管(14)包括抗干扰层(16)，所述抗干扰层(16)位于第一线管(14)的最外层，所述抗干扰层(16)的内部固定设置有光纤管(17)。

6.根据权利要求1所述的一种半导体探针，其特征在于：所述第一线管(14)远离探头(5)的一端穿过针管(3)的侧壁和环形金属块(11)的中空处。

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